JPH01287476A - 回路基板の電気検査装置 - Google Patents
回路基板の電気検査装置Info
- Publication number
- JPH01287476A JPH01287476A JP63118525A JP11852588A JPH01287476A JP H01287476 A JPH01287476 A JP H01287476A JP 63118525 A JP63118525 A JP 63118525A JP 11852588 A JP11852588 A JP 11852588A JP H01287476 A JPH01287476 A JP H01287476A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- contact
- contact pin
- electrical
- electric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 37
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000010301 surface-oxidation reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電子機器用回路基板の電気特性検査において、
電気的接続を良好にした回路基板の電気検査装置に関す
るものである。
電気的接続を良好にした回路基板の電気検査装置に関す
るものである。
従来の技術
印刷配線基板は、通常、部品を実装した後の回路基板に
おいて、電気検査が行なわれる。この電気検査は基板の
搭載部品が正しく動作していることや、回路の電気特性
が規格を満足しているかを判定するために必要であり、
必ず行なわれるものである。以下に従来の回路基板の電
気検査装置について説明する。
おいて、電気検査が行なわれる。この電気検査は基板の
搭載部品が正しく動作していることや、回路の電気特性
が規格を満足しているかを判定するために必要であり、
必ず行なわれるものである。以下に従来の回路基板の電
気検査装置について説明する。
゛第３図は従来の回路基板の電気検査装置の一部断面斜
視図である。■は電気検査をされる回路基板を支える回
路基板支持台、２は回路基板の電気特性を測定するに基
板と電気的接触を行うコンタクトピン、これらは、測定
器にそれぞれ接続される（図示せず）。３はコンタクト
ピン固定台、４は固定台をコンタクトピンを接触させる
ための駆動装置、５は回路基板、６は回路基板の電気検
査端子である。このような構成において、回路基板の搭
載部品が正しく搭載され、電気的に正しく動作をしてい
るか検査をするには、組立てられた回路基板５を電気検
査装置の回路基板支持台１に固定する。次に固定台駆動
装置４を駆動させ、コンタクトピン固定台３を回路基板
５側まで移動し、コンタクトピン２を、回路基板５の有
している電気検査端子６に接触さぜ、コンタクトピン２
により、回路基板５に電気的接続をはたし、回路基板５
の電気検査を行うものである。
視図である。■は電気検査をされる回路基板を支える回
路基板支持台、２は回路基板の電気特性を測定するに基
板と電気的接触を行うコンタクトピン、これらは、測定
器にそれぞれ接続される（図示せず）。３はコンタクト
ピン固定台、４は固定台をコンタクトピンを接触させる
ための駆動装置、５は回路基板、６は回路基板の電気検
査端子である。このような構成において、回路基板の搭
載部品が正しく搭載され、電気的に正しく動作をしてい
るか検査をするには、組立てられた回路基板５を電気検
査装置の回路基板支持台１に固定する。次に固定台駆動
装置４を駆動させ、コンタクトピン固定台３を回路基板
５側まで移動し、コンタクトピン２を、回路基板５の有
している電気検査端子６に接触さぜ、コンタクトピン２
により、回路基板５に電気的接続をはたし、回路基板５
の電気検査を行うものである。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記従来の構成では、コンタクトピン２が
回路基板の電気検査端子６の接触する際には、基板５の
垂直面からの加圧しか得られていない。また、従来の回
路基板の電気検査端子の表面には、表面の酸化防止と半
田付けを良くするための、保護膜が塗布されている。こ
の保護膜は電気的絶縁性を有しており、コンタクトピン
の電気的接触を低下させてしまう問題があった。この問
題はコンタクトピンの先端形状や、ピン接触時の加圧条
件を検討した中でも、完全に除去しきれず、回路基板の
電気検査を正確にかつ再現性のある条件でできないとい
う問題点を有していた。本発明は上記従来の問題点を解
決するもので、電気検査時のコンタクトピンと電気検査
端子部との電気的接触のよい回路基板の電気検査装置を
提供するものである。
回路基板の電気検査端子６の接触する際には、基板５の
垂直面からの加圧しか得られていない。また、従来の回
路基板の電気検査端子の表面には、表面の酸化防止と半
田付けを良くするための、保護膜が塗布されている。こ
の保護膜は電気的絶縁性を有しており、コンタクトピン
の電気的接触を低下させてしまう問題があった。この問
題はコンタクトピンの先端形状や、ピン接触時の加圧条
件を検討した中でも、完全に除去しきれず、回路基板の
電気検査を正確にかつ再現性のある条件でできないとい
う問題点を有していた。本発明は上記従来の問題点を解
決するもので、電気検査時のコンタクトピンと電気検査
端子部との電気的接触のよい回路基板の電気検査装置を
提供するものである。
課題を解決するための手段
この発明にかかる電気検査装置は上記問題を解決するた
め、コンタクトピンを回路基板の電気検査端子に接触さ
せる第１の駆動部にさらに、コンタクトピンが接触した
ままで、回路基板を基板支持台によって、同回路基板の
面方向に移動させるための第２の駆動部を有してコンタ
クトピンが接触した状態で回路基板を動かして、電気検
査を行うようにしている。
め、コンタクトピンを回路基板の電気検査端子に接触さ
せる第１の駆動部にさらに、コンタクトピンが接触した
ままで、回路基板を基板支持台によって、同回路基板の
面方向に移動させるための第２の駆動部を有してコンタ
クトピンが接触した状態で回路基板を動かして、電気検
査を行うようにしている。
作用
この構成により、コンタクトピンの接触後、検査端子部
の接触面において、基板が動くことで、コンタクトピン
が表面の保護膜をつきゃふり、回路基板の電気検査端子
部とコンタクトピンの電気的接続が良好になる。
の接触面において、基板が動くことで、コンタクトピン
が表面の保護膜をつきゃふり、回路基板の電気検査端子
部とコンタクトピンの電気的接続が良好になる。
実施例
以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。第１図は本発明の実施例における回路基板の電
気検査装置め一部断面斜視図を示すものである。第１図
において、１は回路基板を支える回路基板支持台、１ａ
は前記１と同じく回路基板支持台ではあるが、基板を上
方へ移動させるための回路基板支持台可動部である。２
はコンタクトピン、３はコンタクトピン固定台、４は固
定台駆動装置、５は回路基板、６は回路基板の電気検査
端子、７は回路基板支持台駆動装置である。つぎに、こ
の回路基板の電気検査装置についてその動作を説明する
。
明する。第１図は本発明の実施例における回路基板の電
気検査装置め一部断面斜視図を示すものである。第１図
において、１は回路基板を支える回路基板支持台、１ａ
は前記１と同じく回路基板支持台ではあるが、基板を上
方へ移動させるための回路基板支持台可動部である。２
はコンタクトピン、３はコンタクトピン固定台、４は固
定台駆動装置、５は回路基板、６は回路基板の電気検査
端子、７は回路基板支持台駆動装置である。つぎに、こ
の回路基板の電気検査装置についてその動作を説明する
。
まず回路基板５を電気検査装置の回路基板支持台１と１
ａに乗せて、固定台駆動装置４を動かせて、コンタクト
ピン固定台３を基板側へ移動させ、コンタクトピン２を
回路基板の電気検査端子６に接触させる。この接触した
状態を保持したまま、回路基板支持台可動部１ａを回路
基板支持台駆動装置７を使って縦方向、つまり上下の方
向へ移動させる。この時回路基板５はコンタクトピン２
が回路基板の電気検査端子６に接触したまま上方に動（
ため、コンタクトピン２の接触部において、回路基板の
電気検査端子の表面が削られた状態になる。削られるこ
とにより、表面の保護絶縁膜を破り、コンタクトピン２
の電気接触が良好になるものである。
ａに乗せて、固定台駆動装置４を動かせて、コンタクト
ピン固定台３を基板側へ移動させ、コンタクトピン２を
回路基板の電気検査端子６に接触させる。この接触した
状態を保持したまま、回路基板支持台可動部１ａを回路
基板支持台駆動装置７を使って縦方向、つまり上下の方
向へ移動させる。この時回路基板５はコンタクトピン２
が回路基板の電気検査端子６に接触したまま上方に動（
ため、コンタクトピン２の接触部において、回路基板の
電気検査端子の表面が削られた状態になる。削られるこ
とにより、表面の保護絶縁膜を破り、コンタクトピン２
の電気接触が良好になるものである。
第２図は本発明の他の実施例における回路基板の電気検
査装置の一部断面斜視図を示すものである。図において
１は回路基板を支える回路基板支持台、２はコンタクト
ピン、３はコンタクトピン固定台、４は固定台駆動装置
、５は回路基板、６は回路基板の電気検査端子、７は回
路基板を動かせる回路基板駆動装置である。
査装置の一部断面斜視図を示すものである。図において
１は回路基板を支える回路基板支持台、２はコンタクト
ピン、３はコンタクトピン固定台、４は固定台駆動装置
、５は回路基板、６は回路基板の電気検査端子、７は回
路基板を動かせる回路基板駆動装置である。
この実施例装置では、まず回路基板５を電気検査装置の
回路基板支持台１に乗せて、固定台駆動装置４を動かせ
て、コンタクトピン固定台３を回路基板５側へ移動させ
、コンタクトピン２を回路基板の電気検査端子６に接触
させる。この接触した状態を保持したまま、回路基板駆
動装置７を使って、回路基板５を横方向、つまり、左右
の方向に移動させる。この回路基板５はコンタクトピン
２が回路基板の電気検査端子６に接触したまま水平方向
に動くため、コンタクトピン２の接触部において、回路
基板の電気検査端子の表面が削られた状態になる。削ら
れることにより表面の保護絶縁膜を破りコンタクトピン
２の電気接触が良好になるものである。
回路基板支持台１に乗せて、固定台駆動装置４を動かせ
て、コンタクトピン固定台３を回路基板５側へ移動させ
、コンタクトピン２を回路基板の電気検査端子６に接触
させる。この接触した状態を保持したまま、回路基板駆
動装置７を使って、回路基板５を横方向、つまり、左右
の方向に移動させる。この回路基板５はコンタクトピン
２が回路基板の電気検査端子６に接触したまま水平方向
に動くため、コンタクトピン２の接触部において、回路
基板の電気検査端子の表面が削られた状態になる。削ら
れることにより表面の保護絶縁膜を破りコンタクトピン
２の電気接触が良好になるものである。
発明の効果
以上のように本発明によれば、回路基板の電気検査装置
において、基板の支持台を縦（上下）方向または横（左
右）方向に移動させる駆動装置を設けることにより、コ
ンタクトピンの接触部でコンタクトピンの先端部が、回
路基板を移動することに伴ない、電極端子面に付着した
絶縁膜をつきゃふり、電気的接続が良好になり、正確に
かつ再現性の良好な優れた検査が達成される。
において、基板の支持台を縦（上下）方向または横（左
右）方向に移動させる駆動装置を設けることにより、コ
ンタクトピンの接触部でコンタクトピンの先端部が、回
路基板を移動することに伴ない、電極端子面に付着した
絶縁膜をつきゃふり、電気的接続が良好になり、正確に
かつ再現性の良好な優れた検査が達成される。
第１図、第２図は本発明の各実施例の回路基板の電気検
査装置の一部断面斜視図、第３図は従来の回路基板の電
気検査装置の一部断面斜視図である。 １・・・・・・回路基板支持台、１ａ・・・・・・回路
基板支持台可動部、２・・・・・・コンタクトピン、３
・・・・・・コンタクトピン固定台、４・・・・・・固
定台駆動装置、５・・・・・・回路基板、６・・・・・
・回路基板の電気検査端子、７・・・・・・回路基板支
持台駆動装置。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか１名２−１＞９
７トぴン ３−−−］シダ７トし°ソ固定Ｖ ７−＠熟Ｉ１時台１駈動衷！ 、−七痣灯８も
査装置の一部断面斜視図、第３図は従来の回路基板の電
気検査装置の一部断面斜視図である。 １・・・・・・回路基板支持台、１ａ・・・・・・回路
基板支持台可動部、２・・・・・・コンタクトピン、３
・・・・・・コンタクトピン固定台、４・・・・・・固
定台駆動装置、５・・・・・・回路基板、６・・・・・
・回路基板の電気検査端子、７・・・・・・回路基板支
持台駆動装置。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか１名２−１＞９
７トぴン ３−−−］シダ７トし°ソ固定Ｖ ７−＠熟Ｉ１時台１駈動衷！ 、−七痣灯８も
Claims (1)
- コンタクトピンとそのコンタクトピンを固定するピン支
持台と、このピン支持台を回路基板面に対し垂直方向に
移動させ、前記コンタクトピンを前記回路基板面上の電
極端子に接触させる第１の駆動部と、前記回路基板を支
える基板支持台と前記コンタクトピンが前記回路基板面
上の電極端子に接触した状態のままの前記基板支持台を
前記回路基板の面方向に移動させるための第２の駆動部
を有することを特徴とする回路基板の電気検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63118525A JPH01287476A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 回路基板の電気検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63118525A JPH01287476A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 回路基板の電気検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01287476A true JPH01287476A (ja) | 1989-11-20 |
Family
ID=14738766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63118525A Pending JPH01287476A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 回路基板の電気検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01287476A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009004894A1 (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | 表示モジュール、液晶表示装置、及び表示モジュールの製造方法 |
-
1988
- 1988-05-16 JP JP63118525A patent/JPH01287476A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009004894A1 (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | 表示モジュール、液晶表示装置、及び表示モジュールの製造方法 |
| EP2164310A1 (en) * | 2007-07-04 | 2010-03-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display module, liquid crystal display device and method for manufacturing display module |
| JPWO2009004894A1 (ja) * | 2007-07-04 | 2010-08-26 | シャープ株式会社 | 表示モジュール、液晶表示装置、及び表示モジュールの製造方法 |
| EP2164310A4 (en) * | 2007-07-04 | 2011-01-05 | Sharp Kk | DISPLAY MODULE, LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THE DISPLAY MODULE |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH07191080A (ja) | 電気接続の完全性を測定するための装置と方法 | |
| JPH01287476A (ja) | 回路基板の電気検査装置 | |
| JPS62269075A (ja) | プリント基板検査装置 | |
| JP4097003B2 (ja) | 半導体チップ用パッケージの良否検査方法及びその装置 | |
| JPH0829475A (ja) | 実装基板検査装置のコンタクトプローブ | |
| JPH0815361A (ja) | プリント配線板の検査方法 | |
| JP3076424B2 (ja) | 回路基板検査方法と検査基板並びに回路基板検査装置 | |
| JP2000162237A (ja) | 基板検査装置 | |
| JPS59206776A (ja) | プリント配線板の検査装置 | |
| JPH0574901A (ja) | バーンインボード検査装置 | |
| JPH05347335A (ja) | プローブカード | |
| JPH10190181A (ja) | プリント基板及びその検査方法 | |
| JPH08178992A (ja) | 回路基板検査方法及びその装置 | |
| JPS6140041A (ja) | 電子部品の検査装置 | |
| JP2575640Y2 (ja) | 半導体素子の検査装置 | |
| JPH06294815A (ja) | 実装部品の検査方法 | |
| JPH08110362A (ja) | 微細パターンを含むプリント配線板の導通検査方法 | |
| JPH0452692Y2 (ja) | ||
| JP2591453B2 (ja) | バーンインボード検査装置およびバーンインボード検査方法 | |
| JPS63168579A (ja) | 電子回路の試験方法 | |
| JPH02295194A (ja) | パターンショート検査治具 | |
| JPH04236365A (ja) | 基板検査装置 | |
| JPH065243B2 (ja) | 基板検査装置 | |
| JPH08304486A (ja) | 四端子測定用接触子構造 | |
| JPH03229169A (ja) | プリント配線板の電気的検査方法 |