KR101019912B1

KR101019912B1 - 고휘도 칩 ｌｅｄ 검사장치

Info

Publication number: KR101019912B1
Application number: KR1020090059650A
Authority: KR
Inventors: 나재희; 김흥일
Original assignee: 대호전자(주)
Priority date: 2008-07-04
Filing date: 2009-07-01
Publication date: 2011-03-08
Also published as: KR20100004872A

Abstract

본 발명은 고휘도 칩 LED 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 PCB에 실장된 다수의 칩 LED를 고속으로 그 양부를 검사하고, 양부 검사를 위해 테스트전원을 칩 LED에 인가하는 과정에서 LED에 역방향의 과전압이 인가되어 LED가 훼손되는 것을 방지할 수 있는 고휘도 칩 LED 검사장치에 관한 것이다. 또한, 양부회로검사부에 프로그램설치나 데이터통신 등과 같은 관리자의 외부 제어시에 관리자의 외부 제어가 간편하고 안정적이며 정확하게 이루어질 수 있도록 양부회로검사부에 구비되어 있는 PCI 슬롯에 데이터 인터페이스수단을 통해 연결되어 있는 ISA 슬롯을 갖는 슬롯박스를 구비한 고휘도 칩 LED 검사장치에 관한 것이다.

본 발명의 고휘도 칩 LED 검사장치는 다수의 고휘도 칩 LED가 실장되어 있는 PCB가 안착되는 안착부와, 승하강하여 상기 고휘도 칩 LED 각각에 접속되는 접속핀 다수를 구비하고 있는 승하강부를 포함하는 몸체;와, 상기 승하강부의 다수 접속핀에 순차적으로 테스트전원을 인가하여 상기 고휘도 칩 LED의 양부를 판정하는 양부검사회로부를 포함하여 이루어지는 고휘도 칩 LED 검사장치에 있어서, 상기 양부검사회로부는 테스트전원을 공급하는 테스트전원부와, 상기 테스트전원부에서 공급되는 테스트전원을 다수의 접속핀에 순차적으로 인가하는 절체부와, 상기 고휘도 칩 LED에 인가되는 테스트전원을 검출하여 피드백하는 피드백부와, 상기 피드백부로부터 피드백신호를 받고 상기 테스트전원부와 상기 절체부 사이에 구비되어, 상기 고휘도 칩 LED에 인가되는 테스트전원이 일정범위를 벗어나지 않도록 상 기 테스트전원에서 공급되는 테스트전원을 가감하는 보호부와, 인가되는 테스트전원에 따라 상기 고휘도 칩 LED 양단에 걸리는 전원의 크기를 검출하는 검출부와, 상기 검출부의 검출신호를 받아 해당하는 고휘도 칩 LED의 양부를 판정하는 양부판정부와, 상기 테스트전원부와 절체부를 제어하여 상기 다수의 고휘도 칩 LED에 소정크기의 테스트전원이 순차적으로 인가되도록 하는 제어부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.

고휘도, 칩 LED, 양부검사, 역방향, 과전압, 테스트전원, 가감, PCI, ISA

Description

고휘도 칩 ＬＥＤ 검사장치{Inspection device of chip type LED}

LED의 검사방법으로는 LED를 단품으로 사전에 검사하는 방법과, PCB에 조립(실장)이 완료된 상태에서 테스트전원을 인가하여 부품(LED)의 상태를 검사하는 방법이 있다. 단품 상태로 검사하는 것은 웨이퍼 상에서 검사를 하는 것으로서 반도체 생산업체에서 이미 테스트 공정을 거쳐서 양품만 출하 되었다고 봐야하고, 임가 공형태의 업체에서는 단품의 칩 LED를 PCB에 조립을 한 후에 조립 과정에서 불량품(LED)이 발생하였는지 검사하여 양품을 선별하는 것이 필요하다.

예전에는 PCB에 실장되어 있는 다수 LED의 양부판정을 위해 PCB에 테스트전원을 감사자가 소정 스텝식 변환시키면서 인가하여, 즉 실장된 LED 전부에 테스트전원을 인가하여 LED들의 점등 상태를 검사자가 육안으로 확인하여 그 양부를 판정하였다. 이와 같은 방식은 검사시간이 많이 소요될 뿐만 아니라 그 정확도도 떨어진다. 또한 테스트전원 인가시에 테스트전원의 불안정이나 서지전압의 유입 등이 원인이 되어 LED에 과전압(특히, 칩 LED에 역방향의 과전압 5V 이상 인가되는 경우 칩 LED는 쉽게 파손된다.)이 인가되어 LED가 파손되는 일이 종종 발생하였다. LED의 검사과정에서 어느 하나의 LED가 파손되더라도 그 PCB는 상품의 가치가 없게 된다. 따라서 LED 검사를 위해 테스트전원을 인가하는 과정에서 LED가 파손되지 않도록 하는 수단이 필요하다.

공개특허 제10-2004-86744호 "화상표시장치, 구동회로장치 및 발광다이오드의 불량검출방법"은 화상표시면에 소정의 배열로 배치된 복수의 LED에 테스트전원을 인가하여 그 불량여부를 검출하는 장치를 개시하고 있다. 상기 공개특허는 LED에 테스트전원을 인가함에 따라 LED 양단에 걸리는 전압을 검출하여 그 양부를 자동으로 검사하는 장치를 제안하고 있으나, 다수의 LED를 순차적으로 신속하게 검사 가능하게 하는 구체적인 수단을 제시하지 아니하고 있으며, 테스트전원 인가시 LED에 과전압의 테스트전원이 인가되어 LED가 파손되는 것을 방지할 수 있는 수단을 제시하지 아니하고 있다.

그리고 외부와의 데이터통신이나 슬롯에 삽입하는 보드를 제어하기 위하여 과거에는 ISA 슬롯이 주로 사용되었다. ISA 슬롯은 8bit 제어가 가능하여 일반 엔지니어가 제어용 보드를 제작하여 간단하게 컨트롤할 수 있는 장점을 갖지만, 현재 ISA 슬롯은 점차 없어지는 추세이며 일부 산업용 컴퓨터의 메인보드에서만 일부 사용되고 있고, 요즘 시중에 나와 있는 대부분의 컴퓨터(예, 본 발명과 같은 LED 검사장치)는 ISA 슬롯을 대신해 대부분 PCI 슬롯이 장착 되어 있어, PCI 슬롯을 이용하여 이곳에 삽입하는 보드를 제작할 경우 ISA 슬롯에 장착하는 보드보다 보드인식이 자동으로 되며 보다 빠른 데이터 전송을 할 수 있으나,

산업용 장비의 외부제어를 위해서는 초고속 제어보다는 안정적으로 정확한 제어가 이루어지고 적당한 속도를 갖는 것이 바람직하다. 즉, PCI 슬롯을 갖는 칩 LED 검사장치에서 엔지니어(관리자)가 간단하면서 안정적으로 외부제어할 수 있도록 ISA 슬롯을 더 구비하고, ISA와 PCI 간의 데이터 인터페이스수단을 구비하는 것이 필요하다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로서, PCB에 실장되어 있는 다수의 고휘도 칩 LED에 순차적으로 그리고 자동으로 테스트전원을 소 정 스텝식 변화시키면서 인가하고, 테스트전원 인가에 따른 칩 LED 양단의 전압을 검출하여 그 양부를 판정하되, 보다 신속한 검사가 이루어질 있도록 전계효과 트랜지트스터로 구성된 절체부를 구비하고, 칩 LED에 과전압이 인가되어 칩 LED가 검사과정에서 파손되지 않도록 하는 보호부를 구비한 고휘도 칩 LED 검사장치를 제공함을 목적으로 한다.

또한, 프로그램설치나 데이터통신 등과 같은 관리자의 외부 제어시에 관리자의 외부 제어가 간편하고 안정적이며 정확하게 이루어질 수 있도록 양부회로검사부에 구비되어 있는 PCI 슬롯에 데이터 인터페이스수단을 통해 연결되어 있는 ISA 슬롯을 갖는 슬롯박스를 구비한 고휘도 칩 LED 검사장치를 제공함을 또 다른 목적으로 한다.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 고휘도 칩 LED 검사장치는

다수의 고휘도 칩 LED가 실장되어 있는 PCB가 안착되는 안착부와, 승하강하여 상기 고휘도 칩 LED 각각에 접속되는 접속핀 다수를 구비하고 있는 승하강부를 포함하는 몸체;와,

상기 승하강부의 다수 접속핀에 순차적으로 테스트전원을 인가하여 상기 고휘도 칩 LED의 양부를 판정하는 양부검사회로부를 포함하여 이루어지는 고휘도 칩 LED 검사장치에 있어서,

상기 양부검사회로부는

테스트전원을 공급하는 테스트전원부와,

상기 테스트전원부에서 공급되는 테스트전원을 다수의 접속핀에 순차적으로 인가하는 절체부와,

상기 고휘도 칩 LED에 인가되는 테스트전원을 검출하여 피드백하는 피드백부와,

상기 피드백부로부터 피드백신호를 받고 상기 테스트전원부와 상기 절체부 사이에 구비되어, 상기 고휘도 칩 LED에 인가되는 테스트전원이 일정범위를 벗어나지 않도록 상기 테스트전원에서 공급되는 테스트전원을 가감하는 보호부와,

인가되는 테스트전원에 따라 상기 고휘도 칩 LED 양단에 걸리는 전원의 크기를 검출하는 검출부와,

상기 검출부의 검출신호를 받아 해당하는 고휘도 칩 LED의 양부를 판정하는 양부판정부와,

상기 테스트전원부와 절체부를 제어하여 상기 다수의 고휘도 칩 LED에 소정크기의 테스트전원이 순차적으로 인가되도록 하는 제어부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.

그리고 상기 보호부는

상기 피드백부에서 입력되는 피드백신호와 설정된 최저 기준값을 비교하여 상기 테스트전원부에서 공급되는 테스트전원을 가산(증가)하는 가산부와,

상기 피드백부에서 입력되는 피드백신호와 설정된 최고 기준값을 비교하여 상기 테스트전원부에서 공급되는 테스트전원을 감산(감소)하는 감산부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하고,

상기 절체부는 상기 다수의 접속핀 각각에 연결되고 상기 제어부에 의해 스위칭에 제어되는 다수의 전계효과트랜지스트(MOSFET)를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하고,

상기 양부검사회로부에는 PCI 슬롯이 구비되어 있고, 상기 PCI 슬롯은 데이터 인터페이스수단을 통해 ISA 슬롯을 갖는 슬롯박스와 전기적으로 연결되어 데이터통신이 가능하고,

상기 ISA와 PCI 간의 데이터 인터페이스수단은

회로기판과, 병렬케이블을 통하여 상기 양부검사회로부에 연결되어 있는 프린터포트와 접속시키기 위하여 상기 회로기판에 구비되는 병렬포트와, 데이터케이블을 통하여 상기 슬롯박스와 접속시키기 위하여 상기 회로기판에 구비되는 데이터포트와, 상기 슬롯박스의 ISA 슬롯과 상기 병렬포트 간에 입출력데이터의 스위칭을 위하여 상기 회로기판에 구비되는 입출력 컨트롤러와, 상기 입출력 컨트롤러와 상기 ISA 슬롯 간의 데이터와 어드레스를 버퍼링하기 위하여 상기 회로기판에 구비되는 데이터버퍼 및 어드레스버퍼와, 상기 입출력 컨트롤러와 상기 데이터버퍼 및 어 드레스버퍼를 제어하기 위하여 상기 회로기판에 구비되는 PLC를 포함하는 인터페이스모듈과,

상기 회로기판에 상기 병렬포트가 솔더링되기 위한 고정 가이드용 제1고정수단과,

상기 회로기판에 상기 데이터포트가 솔더링되기 위한 고정 가이드용 제2고정수단과,

상기 데이터포트와 상기 데이터케이블 간의 고정을 위한 탄성고정수단을 포함하여 이루어지되,

상기 제1고정수단은 상기 병렬포트의 저면 테두리에 복수의 제1가이드돌기가 형성되어 있고, 상기 회로기판에는 상기 제1가이드돌기와 대응되게 제1가이드홈이 형성되어 있어 상기 병렬포트의 접속핀이 상기 회로기판의 접속단자와의 안정된 솔더링이 이루어지도록 하는 것을 특징으로 하고,

상기 제2고정수단은 상기 데이터포트의 저면 테두리에 복수의 제2가이드돌기가 형성되어 있고, 상기 회로기판에는 상기 제2가이드돌기와 대응되게 제2가이드홈이 형성되어 있어 상기 데이터포트의 접속핀이 상기 회로기판의 접속단자와의 안정된 솔더링이 이루어지도록 하는 것을 특징으로 하고,

상기 탄성고정수단은 상기 데이터케이블에 구비된 접속부의 양측면에 두 걸림돌기가 형성되어 있고, 상기 데이터포트의 양측면에 상기 두 걸림돌기에 탄성끼움이 이루어지는 두 걸림홈이 형성되어 있는 것을 특징으로 하고,

상기 두 걸림돌기는 상방으로 경사진 경사부와, 상기 두 걸림홈이 상기 두 걸림돌기의 경사부를 타고 지나가 걸려 고정되도록 평탄부가 형성되어 이루어진 것을 특징으로 하고,

상기 인터페이스 모듈은 이에 연결된 상기 데이터케이블과 병렬케이블을 제외한 부분을 감싸면서 취출이 용이하도록 취출수단이 구비된 케이스를 더 포함하고, 상기 슬롯박스는 상기 케이스를 보관하기 위한 스토어를 더 포함하고,

상기 취출수단은 수평봉과, 상기 수평봉의 양단에 수직으로 나란히 형성되며 끝단에 멈춤돌기가 형성된 두 입출입봉을 갖는 'ㄷ'자 형상의 파지부가 구비되어 있고, 상기 케이스의 양측면에 상기 파지부의 두 입출입봉이 끼워져 드나들며 상기 입출입봉의 멈춤돌기가 걸리는 멈춤턱을 갖는 입출입홈이 형성되어 이루어진 것을 특징으로 한다.

상기한 바와 같은 구성을 갖는 본 발명은 PCB에 실장되어 있는 다수의 고휘도 칩 LED를 자동으로 고속 테스트하여 그 양부를 판정하고, 검사의 효율성 및 신뢰도가 높고, 검사과정에서 칩 LED에 역방향의 과전압이 인가되어 칩 LED가 파손되는 것을 예방하는 효과가 있다.

그리고 양부검사회로부의 PCI 슬롯에 데이터 인터페이스수단을 통해 연결되어 있는 ISA 슬롯을 갖는 슬롯박스를 구비하여 엔지니어(관리자)의 외부제어가 간단하고 안정적으로 수행될 수 있다.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명한다.

도1은 본 발명에 따른 고휘도 칩 LED 검사장치의 일례에 따른 사시도이고, 도는 양부검사회로부의 블록 구성도이고, 도3은 보호부의 회로도를 도시한 것으로서,

도면에서 보는 바와 같이 몸체(170)와, 케이스에 내장되어 있는 양부검사회로부(100)를 포함하여 이루어진다.

상기 몸체(170)는 다수의 고휘도 칩 LED(163)가 실장되어 있는 PCB(161)가 안착되는 안착부(171)와, 승하강하여 상기 고휘도 칩 LED(163) 각각에 접속되는 접속핀(175) 다수를 구비하고 있는 승하강부(173)를 포함하여 이루어진다.

그리고 상기 양부검사회로부는 테스트전원부(145)와, 절체부(130)와, 피드백부(135)와, 보호부(150)와, 검출부(125)와, 양부판정부(120)와, 제어부(140)를 포함하여 이루어진다. 그리고 상기 제어부(140)에는 사용자의 조작을 위한 입력부(105)와 표시부(110)가 연결되고, 상기 양부판정부(120)의 판정 결과와 기타 칩 LED(163)의 양부검사를 위해 필요한 데이터 들이 저장되는 메모리(115)가 연결된다.

상기 테스트전원부(145)는 상기 제어부(140)에 의해 제어되어 상기 칩 LED(163)에 테스트전원을 공급한다. 테스트전원부(145)는 정전압 또는 정전류를 공급하고, 공급하는 정전압 또는 정전류의 세기를 스텝적으로 변화시켜 공급하므로써 칩 LED(163)의 전기적 특성을 검출할 수 있도록 한다.

테스트전원의 세기를 스텝적으로 변화시키는 방식으로 일정 세기의 테스트전원을 모든 칩 LED(163)에 순차적으로 공급한 후에 다른 세기의 테스트 전원을 모든 칩 LED(163)에 공급하는 방법과, 하나의 칩 LED(163)에 테스트전원의 세기를 단계적으로 변화시켜 공급한 후에 다른 칩 LED(163)에 다시 테스트전원의 세기를 단계적으로 변화시키면서 공급하는 방법이 있다.

그리고 공급하는 테스트전원에는 칩 LED(163)에 걸리는 순방향 전압과 역방향 전압, 칩 LED(163)에 흐르는 순방향 전류와 역방향 전류를 검사하기 위한 테스트전원이 있다.

상기 절체부(130)는 상기 제어부(140)에 의해 그 온,오프가 제어되는 스위칭소자로 이루어진다. 스위칭소자로는 스위칭 속도가 빠르고 정확한 전계효과 트랜지스트(MOSFET)를 사용하였다. 다수의 절체부(130)는 각각 PCB(161)에 실장되어 있는 칩 LED(163)에 접속되는 다수의 접속핀 각각에 전기적으로 연결되고, 상기 제어부(140)에 의해 온/오프가 제어되어 다수의 칩 LED(163)에 순차적으로 테스트전원을 인가한다.

상기 피드백부(135)는 상기 칩 LED(163)에 인가되는 테스트전원의 크기를 감 지하여 상기 보호부(150)로 피드백하여 전송함으로서, 보호부(150)가 칩 LED(163)에 인가되는 테스트전원의 크기가 일정범위를 벗어나지 않도록 한다.

상기 검출부(125)는 테스트전원 인가에 따라 상기 칩 LED(163) 양단에 걸리는 전압 또는 칩 LED(163)에 흐는 전류의 세기를 검출하고, 상기 양부판정부(120)는 상기 검출부(125)가 검출한 칩 LED(163)의 전압 또는 전류 값을 전송받고 전송받은 칩 LED(163)의 전압 또는 전류 값이 정상 범위 내인지 판정하여 제어부(140)로 전송한다. 즉, 해당 칩 LED(163)의 양부를 판정하여 제어부(140)로 전송한다. 상기 양부판정부(120)로는 플립-플랍(flip-flop)을 사용하였다. 상기 플립플랍은 상기 검출부(125)에서 전송하는 값과 테스트전원에서 공급하는 테스트전원의 특성에 따라 상기 제어부(140)가 전송하는 값을 비교하여 해당 칩 LED(163)의 양부를 판정한다.

상기 보호부(150)는 상기 피드백부(135)가 전송하는 피드백신호를 전송받아 상기 테스트전원부(145)가 공급하는 테스트전원이 일정범위를 벗어나지 않도록 테스트전원을 가감한다. 즉, 테스트전원부(145)가 발생시켜 공급하는 테스트전원의 불안정이나 외부 노이즈 등에 의한 서지전압의 유입 등의 이유로 칩 LED(163)에 인가하고자 하는 테스트전원의 세기가 일정범위를 벗어나는 때에 테스트전원을 가산 또는 감사하여 칩 ELD에 인가되는 테스트전원의 세기가 일정범위 내에 있도록 한다.

상기 보호부(150)는 도3에 도시된 바와 같이 가산부(151)와 감산부(152), 그리고 피드백부(135)에서 피드백된 피드백신호를 증폭시켜 가산부(151)와 감산부(152)에 공급하는 제1증폭부(153)와, 제어부(140)에서 공급하는 기준값을 증폭하여 가산부(151)와 감산부(152)에 공급하는 제2증폭부(154)를 포함하여 이루어진다.

상기 가산부(151)와 감산부(152)는 각각 제1비교기(U1)와 제2비교기(U2)를 포함하고, 상기 제1비교기(U1)와 제2비교기(U2)는 각각 상기 제1증폭부가 전송하는 피득백신호를 -단자를 통해 입력받고, 상기 제2증폭부가 전송하는 기준치 값을 +단자로 입력받는다. 그리고 제2비교기(U2)는 제2증폭부가 전송하는 기준값을 증폭하는 제3증폭부(155)를 통해 입력받는다. 즉, 제1비교기(U1)의 +단자에는 최저 기준값이 입력되고, 제2비교기(U2)의 +단자에는 최고 기준값이 입력받는다.

그리하여 가산부(151)는 상기 피드백부(135)에서 입력되는 피드백신호와 설정된 최저 기준값을 비교하여 상기 테스트전원부(145)에서 공급되는 테스트전원의 세기가 일정범위 보다 낮을 경우(즉, 칩 LED(163)에 저전압이 인가되는 경우)에 가산(증가)하여 테스트전원의 세기가 일정범위내에 들도록 하고,

감산부(152)는 상기 피드백부(135)에서 입력되는 피드백신호와 설정된 최고 기준값을 비교하여 상기 테스트전원부(145)에서 공급되는 테스트전원의 세기가 일정범위 보다 클 경우(즉, 칩 LED(163)에 과전압이 인가되는 경우)에 감산(감소)하여 테스트전원의 세기가 일정범위 내에 들도록 한다.

도 4은 본 발명에 따른 ISA와 PCI 간의 데이터 인터페이스수단을 나타낸 도면이고, 도 5a 및 도 5b는 본 발명에 따른 인터페이스 수단에서 인터페이스 모듈의 전후면을 나타낸 도면이며, 도 6a 및 도 6b는 본 발명에 따른 인터페이스 수단에서 인터페이스 모듈의 각 포트와 케이블 간의 솔더링을 위한 고정수단을 나타낸 측면도이고, 도 7는 본 발명에 따른 인터페이스수단에서 인터페이스 모듈의 포트와 케이블 간의 탄성고정수단을 나타낸 측면도 및 확대도이며, 도 8a 및 도 8b는 본 발명에 따른 인터페이스 수단에서 인터페이스 모듈과 취출수단을 갖는 케이스 간의 결합관계를 나타낸 도면이다.

도 4 내지 도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 ISA와 PCI 간의 데이터 인터페이스 수단은,

PCI 슬롯(1a)을 갖는 양부검사회로부(1)와, ISA 슬롯(2a)을 갖는 슬롯박스(2)가 구비된다. 상기 PCI 슬롯(1a)에는 양부검사회로의 제어부가 장착된다. 그리고 상기 제어부는 보드에 실장된 각종 전자소자로 이루어진다.

그리고, 상기 양부검사회로부(1)와 상기 슬롯박스(2)의 ISA 슬롯(2a) 간의 인터페이싱을 위한 인터페이스 모듈(10)이 구비되는데,

상기 인터페이스 모듈(10)은,

회로기판(11)과,

병렬케이블(C1)을 통하여 상기 양부검사회로부(1)의 프린터포트(1b)와 접속시키기 위하여 상기 회로기판(11)에 구비되는 병렬포트(12)와,

데이터케이블(C2)을 통하여 상기 슬롯박스(2)와 접속시키기 위하여 상기 회로기판(11)에 구비되는 데이터포트(13)와,

상기 슬롯박스(2)의 ISA 슬롯(2a)과 상기 병렬포트(C1) 간에 입출력데이터의 스위칭을 위하여 상기 회로기판(11)에 구비되는 입출력 컨트롤러(14)와,

상기 입출력 컨트롤러(14)와 상기 ISA 슬롯(2a) 간의 데이터와 어드레스를 버퍼링하기 위하여 상기 회로기판(11)에 구비되는 데이터버퍼(15A) 및 어드레스버퍼(15B)와,

상기 입출력 컨트롤러(14)와 상기 데이터버퍼(15A) 및 어드레스버퍼(15B)를 제어하기 위하여 상기 회로기판(11)에 구비되는 PLC(16)를 포함하여 이루어진다.

이때, 상기 PLC(16)는, 프로그래머블 로직 컨트롤(Programmable Logic Control)은 '프로그래밍이 가능한 논리적인 제어기'로써, 각종 산업의 생산장비를 움직이도록 하는 프로그램을 제어하는 장치를 말한다.

기존에 사용하던 제어반 내의 릴레이, 타이머, 카운터 등의 기능을 집적회로나 트랜지스터 등의 반도체 소자로 대체시켜 기본적인 시퀸스 제어기능에 연산기능을 추가해 프로그램 제어가 가능하도록 한 범용 제어장치이다.

이때, 상기 PLC(16)는 GAL(Generic Array Logic) 또는 PAL(Programmable Array Logic)로 대체할 수 있으며,

상기 GAL은 일종으로 롬(ROM)과 같이 내부에 논리 게이트를 프로그램하여 사용할 수 있게 되어 한번 밖에 구워 넣을 수 없는 PAL과는 달리 여러 번 전기적으로 지웠다가 다시 쓸 수 있는 것이고,

상기 PAL은 PAL은 PLA 구조와 비슷하게 이루어져 있으나 PAL의 구조는 AND 배열 부분을 사용자가 프로그램할 수 있고, OR 배열은 고정되어 있다는 차이점을 가지고 있다. 이러한 구조는 생산의 비용이 비교적 적게 들고 속도의 성능이 빠른 편이다.

한편, 상기 회로기판(11)에 상기 병렬포트(12)가 솔더링되기 위한 고정 가이드용 제1고정수단(20)과, 상기 회로기판(11)에 상기 데이터포트(13)가 솔더링되기 위한 고정 가이드용 제2고정수단(30)과, 상기 데이터포트(13)와 상기 데이터케이블(C2) 간의 고정을 위한 탄성고정수단(40)이 구비된다.

이때, 상기 제1고정수단(20)은,

상기 병렬포트(12)의 저면 테두리에 복수의 제1가이드돌기(21)가 형성되어 있고,

상기 회로기판(11)에는 상기 제1가이드돌기(21)와 대응되게 제1가이드홈(11a)이 형성되어 있어 상기 병렬포트(12)의 접속핀이 상기 회로기판(11)의 접속단자와의 안정된 솔더링이 이루어지도록 한다.

도 6a를 참조하면, 상기 병렬포트(12)의 제1가이드돌기(21)를 상기 회로기판(11)의 제1가이드홈(11a)에 삽입하여 안정되도록 한 후 솔더링장치를 이용하여 정확하고 신속한 솔더링이 이루어지도록 한다.

그리고, 상기 제2고정수단(30)은,

상기 데이터포트(13)의 저면 테두리에 복수의 제2가이드돌기(31)가 형성되어 있고,

상기 회로기판(11)에는 상기 제2가이드돌기(31)와 대응되게 제2가이드홈(11b)이 형성되어 있어 상기 데이터포트(13)의 접속핀이 상기 회로기판(11)의 접속단자와의 안정된 솔더링이 이루어지도록 한다.

도 6b를 참조하면, 상기 데이터포트(13)의 제2가이드돌기(31)를 상기 회로기판(11)의 제2가이드홈(11b)에 삽입하여 안정되도록 한 후 솔더링장치를 이용하여 정확하고 신속한 솔더링이 이루어지도록 한다.

그리고, 상기 탄성고정수단(40)은,

상기 데이터케이블(C2)에 구비된 접속부(41)의 양측면에 두 걸림돌기(41a)가 형성되어 있고,

상기 데이터포트(13)의 양측면에 상기 두 걸림돌기(41a)에 탄성끼움이 이루어지는 두 걸림홈(13a)이 형성되어 있다.

이때, 상기 두 걸림돌기(41a)는 상방으로 경사진 경사부(41a-1)와, 상기 두 걸림홈(13a)이 상기 두 걸림돌기(41a)의 경사부(41a-1)를 타고 지나가 걸려 고정되도록 평탄부(41a-2)가 형성되어 이루어진다.

도 7를 참조하면, 상기 데이터케이블(C2)를 상기 데이터포트(13)에 연결할 때에 각각의 걸림돌기(41a)와 걸림홈(13a)에 의하여 손쉽게 이탈되는 것을 방지하여 안정된 데이터 전송이 이루어지도록 한다.

한편, 상기 인터페이스 모듈(10)은 이에 연결된 상기 데이터케이블(C2)과 병렬케이블(C1)을 제외한 부분을 감싸면서 취출이 용이하도록 취출수단(51)이 구비된 케이스(50)를 더 포함하고,

상기 슬롯박스(2)는 상기 케이스(50)를 보관하기 위한 스토어(2b)를 더 포함한다.

이때, 상기 취출수단(51)은,

수평봉(51a)과, 상기 수평봉(51a)의 양단에 수직으로 나란히 형성되며 끝단에 멈춤돌기(51b-1)가 형성된 두 입출입봉(51b)을 갖는 'ㄷ'자 형상의 파지부(51A)가 구비되어 있고,

상기 케이스(50)의 양측면에 상기 파지부(51A)의 두 입출입봉(51b)이 끼워져 드나들며 상기 입출입봉(51b)의 멈춤돌기(51b-1)가 걸리는 멈춤턱(52a)을 갖는 입출입홈(52)이 형성되어 이루어진다.

도 8a 및 도 8b를 참조하면, 상기 파지부(51A)의 수평봉(51a)를 손끝으로 살짝 꺼낸 후 어느 정도 빠져나오면 손가락을 집어넣어 잡아당기게 되면,

상기 입출입봉(51b)의 멈춤돌기(51b-1)가 입출입홈(52)을 따라 이동하다가 멈춤턱(52a)에 걸려 더 이상 진행하지 못하게 된다.

따라서, 상기 파지부(51A)를 이용하여 손쉽게 상기 케이스(50)의 스토어(2b)에서 빼내기가 쉽고 다시 끼워넣을 때는 상기 파지부(51A)를 밀어 상기 케이스(50)의 입출입홈(52) 끝단까지 밀어 넣으면 된다.

본 발명에 따른 ISA와 PCI 간의 데이터 인터페이스 수단에 대해 작동 상태를 살펴보면 다음과 같다.

인터페이스 모듈(10)의 회로기판(11)에 마련된 병렬포트(12)와 양부검사회로부(1)의 프린터포트(1b)를 병렬케이블(C1)로 접속시키고,

인터페이스 모듈(10)의 회로기판(11)에 마련된 데이터포트(13)와 슬롯박스(2)의 ISA 슬롯(2a)를 데이터케이블(C2)로 접속시킨다.

ISA 슬롯(2a)에 꽂힌 보드의 데이터는 데이터케이블(C2)를 지나 데이터포트(13)로, 그리고 어드레스버퍼(15B) 및 데이터버퍼(15A)를 거쳐 입출력 컨트롤러(14)를 통해 병렬포트(12)에서 병렬케이블(C1)로, 그리고 양부검사회로부(1)의 프린터포트(1b) 측으로 전송된다.

이러한 패스를 역으로 통하여 양부검사회로부(1)에서 출력되는 각종 데이터가 ISA 슬롯(2a)에 꽂힌 보드 측으로 전송된다.

PLC(16)는 상기 입출력 컨트롤러(14)와 데이터버퍼(15A) 및 어드레스버퍼(15B)를 제어하게 된다.

이상에서 본 발명을 설명함에 있어 첨부된 도면을 참조하여 특정 형상과 구조를 갖 는 고휘도 칩 LED 검사장치에 대해 설명하였으나 본 발명은 당업자에 의하여 다양한 변형 및 변경이 가능하고, 이러한 변형 및 변경은 본 발명의 보호범위에 속하는 것으로 해석되어야 한다.

도 1 은 본 발명에 따른 고휘도 칩 LED 검사장치의 사시도,

도 2 는 본 발명에 따른 양부검사회로부의 블록 구성도,

도 3 은 본 발명에 따른 보호부의 회로도,

도 4는 본 발명에 따른 인터페이스 수단을 나타낸 도면,

도 5a 및 도 5b는 본 발명에 따른 인터페이스 수단에서 인터페이스 모듈의 전후면을 나타낸 도면,

도 6a 및 도 6b는 본 발명에 따른 인터페이스 수단에서 인터페이스 모듈의 각 포트와 케이블 간의 솔더링을 위한 고정수단을 나타낸 측면도,

도 7은 본 발명에 따른 인터페이스 수단에서 인터페이스 모듈의 포트와 케이블 간의 탄성고정수단을 나타낸 측면도 및 확대도,

도 8a 및 도 8b는 본 발명에 따른 인터페이스 수단에서 인터페이스 모듈과 취출수단을 갖는 케이스 간의 결합관계를 나타낸 도면.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

1 : PC 2 : 슬롯박스

10 : 인터페이스 모듈

11 : 회로기판 12 : 병렬포트

13 : 데이터포트 14 : 입출력 컨트롤러

15A : 데이터버퍼 15B : 어드레스버퍼

16 : PLC

20, 30 : 제1,2고정수단 40 : 탄성고정수단

50 : 케이스 51 : 취출수단

100 : 양부검사회로부

105 : 입력부 110 : 표시부

115 : 메모리 120 : 양부판정부

125 : 검출부 130 : 절체부

135 : 피드백부 140 : 제어부

145 : 테스트전원부 150 : 보호부

163 : 칩 LED 175 : 접속핀

Claims

다수의 고휘도 칩 LED가 실장되어 있는 PCB가 안착되는 안착부와, 승하강하여 상기 고휘도 칩 LED 각각에 접속되는 접속핀 다수를 구비하고 있는 승하강부를 포함하는 몸체;와,

상기 승하강부의 다수 접속핀에 순차적으로 테스트전원을 인가하여 상기 고휘도 칩 LED의 양부를 판정하는 양부검사회로부를 포함하여 이루어지는 고휘도 칩 LED 검사장치에 있어서,

상기 양부검사회로부는

테스트전원을 공급하는 테스트전원부와,

상기 테스트전원부에서 공급되는 테스트전원을 다수의 접속핀에 순차적으로 인가하는 절체부와,

상기 고휘도 칩 LED에 인가되는 테스트전원을 검출하여 피드백하는 피드백부와,

상기 피드백부로부터 피드백신호를 받고 상기 테스트전원부와 상기 절체부 사이에 구비되어, 상기 고휘도 칩 LED에 인가되는 테스트전원이 일정범위를 벗어나지 않도록 상기 테스트전원에서 공급되는 테스트전원을 가감하는 보호부와,

인가되는 테스트전원에 따라 상기 고휘도 칩 LED 양단에 걸리는 전원의 크기를 검출하는 검출부와,

상기 검출부의 검출신호를 받아 해당하는 고휘도 칩 LED의 양부를 판정하는 양부판정부와,

상기 테스트전원부와 절체부를 제어하여 상기 다수의 고휘도 칩 LED에 소정크기의 테스트전원이 순차적으로 인가되도록 하는 제어부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 고휘도 칩 LED 검사장치.
제 1 항에 있어서, 상기 보호부는

상기 피드백부에서 입력되는 피드백신호와 설정된 최저 기준값을 비교하여 상기 테스트전원부에서 공급되는 테스트전원을 가산(증가)하는 가산부와,

상기 피드백부에서 입력되는 피드백신호와 설정된 최고 기준값을 비교하여 상기 테스트전원부에서 공급되는 테스트전원을 감산(감소)하는 감산부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 고휘도 칩 LED 검사장치.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

상기 절체부는 상기 다수의 접속핀 각각에 연결되고 상기 제어부에 의해 스위칭에 제어되는 다수의 전계효과트랜지스트(MOSFET)를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 고휘도 칩 LED 검사장치.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

상기 양부검사회로부에는 PCI 슬롯이 구비되어 있고, 상기 PCI 슬롯은 데이 터 인터페이스수단을 통해 ISA 슬롯을 갖는 슬롯박스와 전기적으로 연결되어 데이터통신이 가능하고,

상기 ISA와 PCI 간의 데이터 인터페이스수단은

회로기판과, 병렬케이블을 통하여 상기 양부검사회로부에 연결되어 있는 프린터포트와 접속시키기 위하여 상기 회로기판에 구비되는 병렬포트와, 데이터케이블을 통하여 상기 슬롯박스와 접속시키기 위하여 상기 회로기판에 구비되는 데이터포트와, 상기 슬롯박스의 ISA 슬롯과 상기 병렬포트 간에 입출력데이터의 스위칭을 위하여 상기 회로기판에 구비되는 입출력 컨트롤러와, 상기 입출력 컨트롤러와 상기 ISA 슬롯 간의 데이터와 어드레스를 버퍼링하기 위하여 상기 회로기판에 구비되는 데이터버퍼 및 어드레스버퍼와, 상기 입출력 컨트롤러와 상기 데이터버퍼 및 어드레스버퍼를 제어하기 위하여 상기 회로기판에 구비되는 PLC를 포함하는 인터페이스모듈과,

상기 회로기판에 상기 병렬포트가 솔더링되기 위한 고정 가이드용 제1고정수단과,

상기 회로기판에 상기 데이터포트가 솔더링되기 위한 고정 가이드용 제2고정수단과,

상기 데이터포트와 상기 데이터케이블 간의 고정을 위한 탄성고정수단을 포함하여 이루어지되,

상기 제1고정수단은 상기 병렬포트의 저면 테두리에 복수의 제1가이드돌기가 형성되어 있고, 상기 회로기판에는 상기 제1가이드돌기와 대응되게 제1가이드홈이 형성되어 있어 상기 병렬포트의 접속핀이 상기 회로기판의 접속단자와의 안정된 솔더링이 이루어지도록 하는 것을 특징으로 하고,

상기 제2고정수단은 상기 데이터포트의 저면 테두리에 복수의 제2가이드돌기가 형성되어 있고, 상기 회로기판에는 상기 제2가이드돌기와 대응되게 제2가이드홈이 형성되어 있어 상기 데이터포트의 접속핀이 상기 회로기판의 접속단자와의 안정된 솔더링이 이루어지도록 하는 것을 특징으로 하고,

상기 탄성고정수단은 상기 데이터케이블에 구비된 접속부의 양측면에 두 걸림돌기가 형성되어 있고, 상기 데이터포트의 양측면에 상기 두 걸림돌기에 탄성끼움이 이루어지는 두 걸림홈이 형성되어 있는 것을 특징으로 하고,

상기 두 걸림돌기는 상방으로 경사진 경사부와, 상기 두 걸림홈이 상기 두 걸림돌기의 경사부를 타고 지나가 걸려 고정되도록 평탄부가 형성되어 이루어진 것을 특징으로 하고,

상기 인터페이스 모듈은 이에 연결된 상기 데이터케이블과 병렬케이블을 제외한 부분을 감싸면서 취출이 용이하도록 취출수단이 구비된 케이스를 더 포함하고, 상기 슬롯박스는 상기 케이스를 보관하기 위한 스토어를 더 포함하고,

상기 취출수단은 수평봉과, 상기 수평봉의 양단에 수직으로 나란히 형성되며 끝단에 멈춤돌기가 형성된 두 입출입봉을 갖는 'ㄷ'자 형상의 파지부가 구비되어 있고, 상기 케이스의 양측면에 상기 파지부의 두 입출입봉이 끼워져 드나들며 상기 입출입봉의 멈춤돌기가 걸리는 멈춤턱을 갖는 입출입홈이 형성되어 이루어진 것을 특징으로 하는 고휘도 칩 LED 검사장치.