JP2001074599A - フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体 - Google Patents
フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体Info
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Abstract
ルディスプレイに適切に対応し得るフラットパネルディ
スプレイの支持枠体、又はプローブフロックの支持枠体
を提供する。 【解決手段】フラットパネルディスプレイ7又はプロー
ブブロックの支持枠体1を形成する上下横枠板2,3と
左右縦枠板4,5とが各枠板2,3,4,5の一端の枠
板に対して単独で夫々縦移動又は横移動でき、且つ一緒
に横移動又は縦移動できるように組み立てて、各枠板
2,3,4,5で形成する窓6の拡大又は縮小を図る構
成にすると共に、該拡大又は縮小された窓6に面する上
下横枠板2,3部と左右縦枠板4,5部とに上記フラッ
トパネルディスプレイ7又は該フラットパネルディスプ
レイ7の辺縁部に配された電極パッドに加圧接触するプ
ローブブロックを支持する構成とする。
Description
パネルに代表されるフラットパネルディスプレイの支持
枠、又は該フラットパネルディスプレイの辺縁部に配置
された電極パッドに加圧接触する検査用プローブブロッ
クの支持枠に関する。
枠及び検査用プローブブロックの支持枠は、何れも方形
枠体によって構成されており、図6A,Bに示すよう
に、液晶パネルに代表されるフラットパネルディスプレ
イ7を支持した後方方形枠体1の前面側に検査用プロー
ブブロック8を支持した前方方形枠体1を配置し、後方
方形枠体1を前方方形枠体1に進退可に設け、同前進に
よってフラットパネルディスプレイ7の辺縁部に配置さ
れた電極パッド10に検査用プローブブロック8の検査
プローブ9を加圧接触せしめ、又後方方形枠体1の後退
時にフラットパネルディスプレイ7の交換を行うように
している。
異なるフラットパネルディスプレイ毎に専用の後方枠体
を用意し、同様にフラットパネルディスプレイの大きさ
に応じた専用の前方枠体を用意して検査用のプローブブ
ロックを支持せしめるようにしている。
ルディスプレイ毎にこれに適合する前後枠体を持った検
査装置を設備せねばならないか、又は前後枠体のみをフ
ラットパネルディスプレイの大きさに応じ交換できるよ
うに互換性を持たせた構造にせねばならず、多大な設備
負担と高重量の枠体を交換する作業負担と検査作業の効
率悪化を招来していた。
に解決し、1台の検査装置において大きさの異なるフラ
ットパネルディスプレイに適切に対応し得るフラットパ
ネルディスプレイの支持枠体、又はプローブフロックの
支持枠体を提供するものである。
プローブブロックの支持枠体を形成する上下横枠板と左
右縦枠板とが各枠板一端の枠板に対して単独で夫々縦移
動又は横移動でき、且つ一緒に横移動又は縦移動できる
ように組み立てて、各枠板で形成する窓の拡大又は縮小
を図る構成にすると共に、該拡大又は縮小された窓に面
する上下横枠板部と左右縦枠板部とに上記フラットパネ
ルディスプレイ又は該フラットパネルディスプレイの辺
縁部に配された電極パッドに加圧接触するプローブブロ
ックを支持する構成とする。
移動とによって、各種大きさのフラットパネルディスプ
レイに対応した大きさの支持枠体を容易に形成でき、同
様に該フラットパネルディスプレイの大きさに対応した
検査用プローブ支持枠体を容易に形成でき、これにより
1台の検査装置を大きさの異なる各種フラットパネルデ
ィスプレイに適合させることができ、極めて経済的であ
って、検査作業の効率を向上する検査装置を提供でき
る。
乃至図7に基づいて説明する。
6,図7参照)
るフラットパネルディスプレイ7を支持する方形支持枠
体である。
単独で縦移動し且つ左縦枠板4の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板2と、左縦枠板4に対し単独で縦移動し且
つ右縦枠板5の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板3
と、上横枠板2に対して単独で横移動し且つ下横枠板3
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板4と、下横枠板3
に対して単独で横移動し且つ上横枠板2の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板5とから組み立てられている。
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板2,3と
左右縦枠板4,5で画成される窓6を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板2,3部
と左右縦枠板4,5部とに上記フラットパネルディスプ
レイ7を支持する。
2の単独縦移動を案内し且つ上横枠板2と右縦枠板5と
を追随して横移動せしめるように連結する。
間は左縦枠板4の単独横移動を案内し且つ左縦枠板4と
上横枠板2とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板3と左縦枠板4間は下横枠板3の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板3と左縦枠板4とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記右縦枠板5と下横枠板
3間は右縦枠板5の単独横移動を案内し且つ右縦枠板5
と下横枠板3とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
示のように、上横枠板2の一端を右縦枠板5の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板4の一端を上横枠板2の内面
に当接し、下横枠板3の一端を左縦枠板4の内面に当接
し、右縦枠板5の一端を下横枠板3の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
2,3と左右縦枠板4,5の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝11を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板2,3,4,5の端部に上記各ガイド溝1
1にキー結合する突起12を形成し、該各突起12を各
ガイド溝11に滑合する(キー結合する)。
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板5と一緒に横移動可能
である。
で横移動し、且つ上横枠板2と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板3は左縦枠板4に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板4と一緒に横移動可能であり、右縦枠板5は
下横枠板3に対し単独で横移動し、且つ下横枠板3と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓6を拡大又は縮小
する。
略全長に亘りサクション装置に接続される吸引孔13を
設け、上記拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板
2,3部表面と左右縦枠板4,5部表面に上記吸引孔1
3によりフラットパネルディスプレイ7の周縁部を吸着
支持する。
ック8は多数のプローブ9を有し、各プローブ9の先端
を各電極パッド10の表面に加圧接触する。
枠体1及び検査用プローブブロックの支持枠体1は、何
れも方形枠体によって構成されており、液晶パネルに代
表されるフラットパネルディスプレイ7を支持した後方
方形枠体1の前面側に検査用プローブブロック8を支持
した前方方形枠体1を配置し、後方方形枠体1を前方方
形枠体1に進退可に設け、同前進によってフラットパネ
ルディスプレイ7の辺縁部に配置された電極パッド10
に検査用プローブブロック8の検査プローブ9を加圧接
触せしめ、又後方方形枠体1の後退時にフラットパネル
ディスプレイ7の交換を行うようにしている。
方方形枠体1の前方から該拡大窓6を通して後方方形枠
体1上へのフラットパネルディスプレイ7の交換を行
う。この場合は後方方形枠体1を進退可に設けなくても
良い。
乃至図7参照)
方形支持枠体である。
単独で縦移動し且つ左縦枠板4の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板2と、左縦枠板4に対し単独で縦移動し且
つ右縦枠板5の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板3
と、上横枠板2に対して単独で横移動し且つ下横枠板3
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板4と、下横枠板3
に対して単独で横移動し且つ上横枠板2の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板5とから組み立てられている。
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板2,3と
左右縦枠板4,5で画成される窓6を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板2,3部
と左右縦枠板4,5部とにフラットパネルディスプレイ
7の周縁部に配された多数の電極パッド10に加圧接触
するプローブブロック8を支持する。
は多数のプローブ9を有し、各プローブ9の先端を各電
極パッド10の表面に加圧接触する。
2の単独縦移動を案内し且つ上横枠板2と右縦枠板5と
を追随して横移動せしめるように連結する。
間は左縦枠板4の単独横移動を案内し且つ左縦枠板4と
上横枠板2とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板3と左縦枠板4間は下横枠板3の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板3と左縦枠板4とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記右縦枠板5と下横枠板
3間は右縦枠板5の単独横移動を案内し且つ右縦枠板5
と下横枠板3とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
示のように、上横枠板2の一端を右縦枠板5の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板4の一端を上横枠板2の内面
に当接し、下横枠板3の一端を左縦枠板4の内面に当接
し、右縦枠板5の一端を下横枠板3の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
2,3と左右縦枠板4,5の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝11を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板2,3,4,5の端部に上記各ガイド溝1
1にキー結合する突起12を形成し、該各突起12を各
ガイド溝11に滑合する(キー結合する)。
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板5と一緒に横移動可能
である。
で横移動し、且つ上横枠板2と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板3は左縦枠板4に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板4と一緒に横移動可能であり、右縦枠板5は
下横枠板3に対し単独で横移動し、且つ下横枠板3と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓6を拡大又は縮小
する。
し、該等長の各枠板2,3,4,5の表面にはその両端
に位置決めピン又は位置決め孔14を夫々各枠板毎に互
いに等間隔で立設する。
8のホルダーとして、等長の長さを有する複数のベース
15を形成し、各ベース15に上記拡大窓6の辺又は縮
小窓6の辺と対応する位置に複数のプローブブロック8
を着脱可に取り付けたプローブユニット16A,B,C
を準備する。
を上記拡大窓6又は縮小窓6に応じて選択し、上記各枠
板2,3,4,5の位置決めピン又は位置決め孔14に
挿入し、一体に且つ着脱可に取り付ける。よってプロー
ブブロック8はホルダーたるベース15を介して各枠板
2,3,4,5に取り付け支持される。
ネルディスプレイ7の支持枠体1及び検査用プローブブ
ロックの支持枠体1は、何れも方形枠体によって構成さ
れており、液晶パネルに代表されるフラットパネルディ
スプレイ7を支持した後方方形枠体1の前面側に検査用
プローブブロック8を支持した前方方形枠体1を配置
し、後方方形枠体1を前方方形枠体1に進退可に設け、
同前進によってフラットパネルディスプレイ7の辺縁部
に配置された電極パッド10に検査用プローブブロック
8の検査プローブ9を加圧接触せしめ、又後方方形枠体
1の後退時にフラットパネルディスプレイ7の交換を行
うようにしている。
方方形枠体1の前方から該拡大窓6を通して後方方形枠
体1上へのフラットパネルディスプレイ7の交換を行
う。この場合は後方方形枠体1を進退可に設けなくても
良い。
6,図7参照)
るフラットパネルディスプレイ7を支持する方形支持枠
体である。
単独で縦移動し且つ右縦枠板5の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板2と、右縦枠板5に対し単独で縦移動し且
つ左縦枠板4の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板3
と、下横枠板3に対して単独で横移動し且つ上横枠板2
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板4と、上横枠板2
に対して単独で横移動し且つ下横枠板3の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板5とから組み立てられている。
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板2,3と
左右縦枠板4,5で画成される窓6を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板2,3部
と左右縦枠板4,5部とに上記フラットパネルディスプ
レイ7を支持する。
2の単独縦移動を案内し且つ上横枠板2と左縦枠板4と
を追随して横移動せしめるように連結する。
間は右縦枠板5の単独横移動を案内し且つ右縦枠板5と
上横枠板2とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板3と右縦枠板5間は下横枠板3の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板3と右縦枠板5とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記左縦枠板4と下横枠板
3間は左縦枠板4の単独横移動を案内し且つ左縦枠板4
と下横枠板3とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
示のように、上横枠板2の一端を右縦枠板5の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板4の一端を上横枠板2の内面
に当接し、下横枠板3の一端を左縦枠板4の内面に当接
し、右縦枠板5の一端を下横枠板3の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
2,3と左右縦枠板4,5の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝11を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板2,3,4,5の端部に上記各ガイド溝1
1にキー結合する突起12を形成し、該各突起12を各
ガイド溝11に滑合する(キー結合する)。
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板5と一緒に横移動可能
である。
で横移動し、且つ上横枠板2と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板3は左縦枠板4に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板4と一緒に横移動可能であり、右縦枠板5は
下横枠板3に対し単独で横移動し、且つ下横枠板3と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓6を拡大又は縮小
する。
略全長に亘りサクション装置に接続される吸引孔13を
設け、上記拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板
2,3部表面と左右縦枠板4,5部表面に上記吸引孔1
3によりフラットパネルディスプレイ7の周縁部を吸着
支持する。
ック8は多数のプローブ9を有し、各プローブ9の先端
を各電極パッド10の表面に加圧接触する。
枠体1及び検査用プローブブロックの支持枠体1は、何
れも方形枠体によって構成されており、液晶パネルに代
表されるフラットパネルディスプレイ7を支持した後方
方形枠体1の前面側に検査用プローブブロック8を支持
した前方方形枠体1を配置し、後方方形枠体1を前方方
形枠体1に進退可に設け、同前進によってフラットパネ
ルディスプレイ7の辺縁部に配置された電極パッド10
に検査用プローブブロック8の検査プローブ9を加圧接
触せしめ、又後方方形枠体1の後退時にフラットパネル
ディスプレイ7の交換を行うようにしている。
方方形枠体1の前方から該拡大窓6を通して後方方形枠
体1上へのフラットパネルディスプレイ7の交換を行
う。この場合は後方方形枠体1を進退可に設けなくても
良い。
乃至図7参照)
方形支持枠体である。
単独で縦移動し且つ右縦枠板5の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板2と、右縦枠板5に対し単独で縦移動し且
つ左縦枠板4の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板3
と、下横枠板3に対して単独で横移動し且つ上横枠板2
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板4と、上横枠板2
に対して単独で横移動し且つ下横枠板3の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板5とから組み立てられている。
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板2,3と
左右縦枠板4,5で画成される窓6を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板2,3部
と左右縦枠板4,5部とにフラットパネルディスプレイ
7の周縁部に配された多数の電極パッド10に加圧接触
するプローブブロック8を支持する。
は多数のプローブ9を有し、各プローブ9の先端を各電
極パッド10の表面に加圧接触する。
2の単独縦移動を案内し且つ上横枠板2と左縦枠板4と
を追随して横移動せしめるように連結する。
間は右縦枠板5の単独横移動を案内し且つ右縦枠板5と
上横枠板2とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板3と右縦枠板5間は下横枠板3の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板3と右縦枠板5とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記左縦枠板4と下横枠板
3間は左縦枠板4の単独横移動を案内し且つ左縦枠板4
と下横枠板3とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
示のように、上横枠板2の一端を右縦枠板5の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板4の一端を上横枠板2の内面
に当接し、下横枠板3の一端を左縦枠板4の内面に当接
し、右縦枠板5の一端を下横枠板3の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
2,3と左右縦枠板4,5の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝11を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板2,3,4,5の端部に上記各ガイド溝1
1にキー結合する突起12を形成し、該各突起12を各
ガイド溝11に滑合する(キー結合する)。
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板5と一緒に横移動可能
である。
で横移動し、且つ上横枠板2と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板3は左縦枠板4に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板4と一緒に横移動可能であり、右縦枠板5は
下横枠板3に対し単独で横移動し、且つ下横枠板3と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓6を拡大又は縮小
する。
し、該等長の各枠板2,3,4,5の表面にはその両端
に位置決めピン又は位置決め孔14を夫々各枠板毎に互
いに等間隔で立設する。
8のホルダーとして、等長の長さを有する複数のベース
15を形成し、各ベース15に上記拡大窓6の辺又は縮
小窓6の辺と対応する位置に複数のプローブブロック8
を着脱可に取り付けたプローブユニット16A,B,C
を準備する。
を上記拡大窓6又は縮小窓6に応じて選択し、上記各枠
板2,3,4,5の位置決めピン又は位置決め孔14に
挿入し、一体に且つ着脱可に取り付ける。よってプロー
ブブロック8はホルダーたるベース15を介して各枠板
2,3,4,5に取り付け支持される。
ネルディスプレイ7の支持枠体1及び検査用プローブブ
ロックの支持枠体1は、何れも方形枠体によって構成さ
れており、液晶パネルに代表されるフラットパネルディ
スプレイ7を支持した後方方形枠体1の前面側に検査用
プローブブロック8を支持した前方方形枠体1を配置
し、後方方形枠体1を前方方形枠体1に進退可に設け、
同前進によってフラットパネルディスプレイ7の辺縁部
に配置された電極パッド10に検査用プローブブロック
8の検査プローブ9を加圧接触せしめ、又後方方形枠体
1の後退時にフラットパネルディスプレイ7の交換を行
うようにしている。
方方形枠体1の前方から該拡大窓6を通して後方方形枠
体1上へのフラットパネルディスプレイ7の交換を行
う。この場合は後方方形枠体1を進退可に設けなくても
良い。
は、検査用プローブブロック8を支持する枠板2,3,
4,5から成る方形支持枠体1の背面側に、フラットパ
ネルディスプレイ7を支持する枠板2,3,4,5から
成る方形支持枠体1を配し、フラットパネルディスプレ
イ7を支持する背面側の方形支持枠体1の窓6の背後に
照光手段を設け、該照光手段により窓6を通してフラッ
トパネルディスプレイ7を照光し、これにより前面の方
形支持枠体1の窓6を通して電極パッド10とプローブ
9の接触状態を照光観察しつつ検査を実行する。
7を支持する方形支持枠体1又は検査用プローブブロッ
ク8を支持する方形支持枠体1の何れかに実施する。
縦枠板の縦移動と横移動とによって、各種大きさのフラ
ットパネルディスプレイに対応した大きさの支持枠体を
容易に形成でき、同様に該フラットパネルディスプレイ
の大きさに対応した検査用プローブ支持枠体を容易に形
成でき、これにより1台の検査装置を大きさの異なる各
種フラットパネルディスプレイに適合させることがで
き、極めて経済的であって、検査作業の効率を向上する
ことができる。
体の拡大と縮小状態を示す正面図。
縮小状態を示す正面図。
体の他例を拡大と縮小状態を以って示す正面図。
拡大と縮小状態を以って示す正面図。
トパネルディスプレイを支持する方形枠体とによって形
成される検査装置を接触前(A図)と接触後(B図)を
以って示す断面図。
Claims (4)
- 【請求項1】検査対象であるフラットパネルディスプレ
イ又は検査用のプローブロックを支持する方形支持枠体
であって、該方形支持枠体が右縦枠板に対して単独で縦
移動し且つ左縦枠板の縦移動と一緒に縦移動する上横枠
板と、左縦枠板に対し単独で縦移動し且つ右縦枠板の縦
移動と一緒に縦移動する下横枠板と、上横枠板に対して
単独で横移動し且つ下横枠板の横移動と一緒に横移動す
る左縦枠板と、下横枠板に対して単独で横移動し且つ上
横枠板の横移動と一緒に横移動する右縦枠板とから組み
立てられ、上記上下横枠板と左右縦枠板の上記縦移動と
横移動とにより上記上下横枠板と左右縦枠板で画成され
る窓を拡大又は縮小し、該拡大又は縮小された窓に面す
る上下横枠板部と左右縦枠板部とに上記フラットパネル
ディスプレイ又は該フラットパネルディスプレイの辺縁
部に配された電極パッドに加圧接触するプローブブロッ
クを支持する構成としたことを特徴とするフラットパネ
ルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体。 - 【請求項2】上記上横枠板と右縦枠板間は上横枠板の単
独縦移動を案内し且つ上横枠板と右縦枠板とを追随して
横移動せしめるように連結し、上記左縦枠板と上横枠板
間は左縦枠板の単独横移動を案内し且つ左縦枠板と上横
枠板とを追随して縦移動せしめるように連結し、上記下
横枠板と左縦枠板間は下横枠板の単独縦移動を案内し且
つ下横枠板と左縦枠板とを追随して横移動せしめるよう
に連結し、上記右縦枠板と下横枠板間は右縦枠板の単独
横移動を案内し且つ右縦枠板と下横枠板とを追随して縦
移動せしめるように連結したことを特徴とする請求項1
記載のフラットパネルディスプレイ又はプローブブロッ
クの支持枠体。 - 【請求項3】検査対象であるフラットパネルディスプレ
イ又は検査用のプローブロックを支持する方形支持枠体
であって、該方形支持枠体が左縦枠板に対して単独で縦
移動し且つ右縦枠板の縦移動と一緒に縦移動する上横枠
板と、右縦枠板に対し単独で縦移動し且つ左縦枠板の縦
移動と一緒に縦移動する下横枠板と、下横枠板に対して
単独で横移動し且つ上横枠板の横移動と一緒に横移動す
る左縦枠板と、上横枠板に対して単独で横移動し且つ下
横枠板の横移動と一緒に横移動する右縦枠板とから組み
立てられ、上記上下横枠板と左右縦枠板の上記縦移動と
横移動とにより上記上下横枠板と左右縦枠板で画成され
る窓を拡大又は縮小し、該拡大又は縮小された窓に面す
る上下横枠板部と左右縦枠板部とに上記フラットパネル
ディスプレイ又は該フラットパネルディスプレイの辺縁
部に配された電極パッドに加圧接触するプローブブロッ
クを支持する構成としたことを特徴とするフラットパネ
ルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体。 - 【請求項4】上記上横枠板と左縦枠板間は上横枠板の単
独縦移動を案内し且つ上横枠板と左縦枠板とを追随して
横移動せしめるように連結し、上記右縦枠板と上横枠板
間は右縦枠板の単独横移動を案内し且つ右縦枠板と上横
枠板とを追随して縦移動せしめるように連結し、上記下
横枠板と右縦枠板間は下横枠板の単独縦移動を案内し且
つ下横枠板と右縦枠板とを追随して横移動せしめるよう
に連結し、上記左縦枠板と下横枠板間は左縦枠板の単独
横移動を案内し且つ左縦枠板と下横枠板とを追随して縦
移動せしめるように連結したことを特徴とする請求項3
記載のフラットパネルディスプレイ又はプローブブロッ
クの支持枠体。
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Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020091691A (ko) * | 2001-05-31 | 2002-12-06 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | 액정표시장치 테스트 프레임 |
JP2005274487A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
JP2006119031A (ja) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Micronics Japan Co Ltd | パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置 |
JP2007163426A (ja) * | 2005-12-16 | 2007-06-28 | Micronics Japan Co Ltd | 表示パネル検査装置 |
KR100748072B1 (ko) * | 2005-08-01 | 2007-08-09 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 표시패널의 전기검사장치 |
JP2008046085A (ja) * | 2006-08-21 | 2008-02-28 | Micronics Japan Co Ltd | パネル支持機構及び検査装置 |
JP2009168565A (ja) * | 2008-01-15 | 2009-07-30 | Toshiba Corp | サンプルステージ |
KR100911236B1 (ko) * | 2007-08-22 | 2009-08-06 | 주식회사 플라켐 | 블록형 엘이디 조명장치 |
WO2011158902A1 (ja) * | 2010-06-17 | 2011-12-22 | シャープ株式会社 | 点灯検査装置 |
KR101102556B1 (ko) | 2010-06-30 | 2012-01-03 | (주)이노셈코리아 | 맞춤형 소비전력 및 멀티형성을 갖는 탈·부착식 led 모듈 |
JP2022539083A (ja) * | 2019-07-01 | 2022-09-07 | メガセン・カンパニー・リミテッド | ディスプレイパネル検査のためのプローブブロック組立体、この制御方法およびディスプレイパネル検査装置 |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7073768B2 (en) * | 2002-07-12 | 2006-07-11 | John Piscovich | Device and method for setting a frame |
JP3457938B2 (ja) * | 2000-10-16 | 2003-10-20 | 株式会社双晶テック | 表示基板又は回路基板の検査装置における表示基板又は回路基板の交換方法 |
TW509329U (en) * | 2001-04-19 | 2002-11-01 | Hannstar Display Corp | Electrified rack |
CN1309248C (zh) * | 2002-08-02 | 2007-04-04 | Nec液晶技术株式会社 | 显示器和显示板的支撑框架及其制造方法 |
US20040051693A1 (en) * | 2002-09-12 | 2004-03-18 | Ming-Jian Chen | Electronic screen having display panel displayed in changeable length-width ratio |
US7012583B2 (en) * | 2003-02-07 | 2006-03-14 | Shimadzu Corporation | Apparatus and method for testing pixels of flat panel display |
US7319335B2 (en) | 2004-02-12 | 2008-01-15 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array testing |
US6833717B1 (en) | 2004-02-12 | 2004-12-21 | Applied Materials, Inc. | Electron beam test system with integrated substrate transfer module |
US7355418B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-04-08 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array test |
KR100776177B1 (ko) * | 2004-12-17 | 2007-11-16 | 주식회사 디이엔티 | 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블 |
US7535238B2 (en) * | 2005-04-29 | 2009-05-19 | Applied Materials, Inc. | In-line electron beam test system |
US20070018062A1 (en) * | 2005-07-20 | 2007-01-25 | Theodor Calinescu | Universal wall mount bracket for displays |
JP5829376B2 (ja) * | 2006-03-14 | 2015-12-09 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | マルチカラム電子ビーム検査システムにおけるクロストークの軽減方法 |
US7786742B2 (en) | 2006-05-31 | 2010-08-31 | Applied Materials, Inc. | Prober for electronic device testing on large area substrates |
US7602199B2 (en) | 2006-05-31 | 2009-10-13 | Applied Materials, Inc. | Mini-prober for TFT-LCD testing |
GB0711626D0 (en) * | 2007-06-18 | 2007-07-25 | Barco Nv | Support for direct light displays |
KR100920383B1 (ko) * | 2009-01-29 | 2009-10-07 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | 평판표시소자 제조장치 |
CN102455528B (zh) * | 2010-10-27 | 2015-01-07 | 纬创资通股份有限公司 | 结合上下盖外观件的平面显示器 |
TWI435294B (zh) * | 2010-12-03 | 2014-04-21 | Wistron Corp | 無膠框結構的平面顯示器 |
US20130128513A1 (en) * | 2011-11-18 | 2013-05-23 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Mold for Back Frame and Bracing Piece, Method for Manufacturing Back Frame, and Backlight System |
CN102830517B (zh) * | 2012-08-28 | 2015-02-18 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种背框和液晶显示装置 |
US8850992B1 (en) * | 2013-05-22 | 2014-10-07 | Itoro Akpaffiong | Portable articulated support frame for supporting objects on a user's lap |
KR102242643B1 (ko) * | 2014-10-30 | 2021-04-22 | 주성엔지니어링(주) | 유기 발광 장치 |
CN104360510B (zh) * | 2014-11-24 | 2018-02-16 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 一种检测用探针块及其检测装置 |
KR102608599B1 (ko) * | 2018-08-16 | 2023-12-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 압력 센서를 테스트하는 장치 및 방법 그리고 이를 이용한 표시 장치 |
KR102081610B1 (ko) * | 2019-04-17 | 2020-02-26 | 우리마이크론(주) | 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비 |
WO2020213901A1 (ko) * | 2019-04-17 | 2020-10-22 | 우리마이크론(주) | 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비 |
KR102097456B1 (ko) * | 2019-07-01 | 2020-04-07 | 우리마이크론(주) | 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치 |
KR102097455B1 (ko) * | 2019-07-01 | 2020-04-07 | 우리마이크론(주) | 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치 |
KR102154758B1 (ko) * | 2020-03-30 | 2020-09-10 | 우리마이크론(주) | 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치 |
KR102154760B1 (ko) * | 2020-03-30 | 2020-09-10 | 우리마이크론(주) | 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3612508A (en) * | 1970-04-08 | 1971-10-12 | Gen Motors Corp | Heater core fixture for face soldering |
JPS5391376A (en) * | 1977-01-24 | 1978-08-11 | Hirohide Yano | Device for inspecting printed board |
US5003254A (en) * | 1989-11-02 | 1991-03-26 | Huntron, Inc. | Multi-axis universal circuit board test fixture |
JPH0996802A (ja) * | 1995-10-03 | 1997-04-08 | Sharp Corp | 液晶パネル製造用治具 |
JP3592831B2 (ja) * | 1996-02-26 | 2004-11-24 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブユニット及びその調節方法 |
US5954106A (en) * | 1998-05-18 | 1999-09-21 | Huang; Jin Lai | Work bench having an adjustable guide |
US6150833A (en) * | 1999-02-03 | 2000-11-21 | Industrial Technology Research Institute | LCD panel power-up test fixture and method of using |
-
1999
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- 2000-08-25 IT IT2000TO000817A patent/IT1320603B1/it active
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020091691A (ko) * | 2001-05-31 | 2002-12-06 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | 액정표시장치 테스트 프레임 |
JP2005274487A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
JP4570930B2 (ja) * | 2004-10-22 | 2010-10-27 | 株式会社日本マイクロニクス | パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置 |
JP2006119031A (ja) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Micronics Japan Co Ltd | パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置 |
KR100748072B1 (ko) * | 2005-08-01 | 2007-08-09 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 표시패널의 전기검사장치 |
JP2007163426A (ja) * | 2005-12-16 | 2007-06-28 | Micronics Japan Co Ltd | 表示パネル検査装置 |
KR100766492B1 (ko) * | 2005-12-16 | 2007-10-15 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 표시패널 검사장치 |
JP2008046085A (ja) * | 2006-08-21 | 2008-02-28 | Micronics Japan Co Ltd | パネル支持機構及び検査装置 |
KR100911236B1 (ko) * | 2007-08-22 | 2009-08-06 | 주식회사 플라켐 | 블록형 엘이디 조명장치 |
JP2009168565A (ja) * | 2008-01-15 | 2009-07-30 | Toshiba Corp | サンプルステージ |
WO2011158902A1 (ja) * | 2010-06-17 | 2011-12-22 | シャープ株式会社 | 点灯検査装置 |
JP5470456B2 (ja) * | 2010-06-17 | 2014-04-16 | シャープ株式会社 | 点灯検査装置 |
KR101102556B1 (ko) | 2010-06-30 | 2012-01-03 | (주)이노셈코리아 | 맞춤형 소비전력 및 멀티형성을 갖는 탈·부착식 led 모듈 |
JP2022539083A (ja) * | 2019-07-01 | 2022-09-07 | メガセン・カンパニー・リミテッド | ディスプレイパネル検査のためのプローブブロック組立体、この制御方法およびディスプレイパネル検査装置 |
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