JP2001074599A - フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体 - Google Patents

フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体

Info

Publication number
JP2001074599A
JP2001074599A JP24510499A JP24510499A JP2001074599A JP 2001074599 A JP2001074599 A JP 2001074599A JP 24510499 A JP24510499 A JP 24510499A JP 24510499 A JP24510499 A JP 24510499A JP 2001074599 A JP2001074599 A JP 2001074599A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frame plate
vertical frame
right vertical
horizontal frame
flat panel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP24510499A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3350899B2 (ja
Inventor
Toshio Okuno
敏雄 奥野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SOUSHIYOU TEC KK
Adtec Engineering Co Ltd
Original Assignee
SOUSHIYOU TEC KK
Adtec Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SOUSHIYOU TEC KK, Adtec Engineering Co Ltd filed Critical SOUSHIYOU TEC KK
Priority to JP24510499A priority Critical patent/JP3350899B2/ja
Priority to TW089107918A priority patent/TW459140B/zh
Priority to US09/566,010 priority patent/US6450469B1/en
Priority to EP00303804A priority patent/EP1081497A3/en
Priority to KR1020000024824A priority patent/KR20010020825A/ko
Priority to CNB001179705A priority patent/CN1145066C/zh
Priority to IT2000TO000817A priority patent/IT1320603B1/it
Publication of JP2001074599A publication Critical patent/JP2001074599A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3350899B2 publication Critical patent/JP3350899B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/88—Mounting, supporting, spacing, or insulating of electrodes or of electrode assemblies
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Automatic Cycles, And Cycles In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】検査装置において大きさの異なるフラットパネ
ルディスプレイに適切に対応し得るフラットパネルディ
スプレイの支持枠体、又はプローブフロックの支持枠体
を提供する。 【解決手段】フラットパネルディスプレイ７又はプロー
ブブロックの支持枠体１を形成する上下横枠板２，３と
左右縦枠板４，５とが各枠板２，３，４，５の一端の枠
板に対して単独で夫々縦移動又は横移動でき、且つ一緒
に横移動又は縦移動できるように組み立てて、各枠板
２，３，４，５で形成する窓６の拡大又は縮小を図る構
成にすると共に、該拡大又は縮小された窓６に面する上
下横枠板２，３部と左右縦枠板４，５部とに上記フラッ
トパネルディスプレイ７又は該フラットパネルディスプ
レイ７の辺縁部に配された電極パッドに加圧接触するプ
ローブブロックを支持する構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は検査対象である液晶
パネルに代表されるフラットパネルディスプレイの支持
枠、又は該フラットパネルディスプレイの辺縁部に配置
された電極パッドに加圧接触する検査用プローブブロッ
クの支持枠に関する。
【０００２】
【従来の技術】上記フラットパネルディスプレイの支持
枠及び検査用プローブブロックの支持枠は、何れも方形
枠体によって構成されており、図６Ａ，Ｂに示すよう
に、液晶パネルに代表されるフラットパネルディスプレ
イ７を支持した後方方形枠体１の前面側に検査用プロー
ブブロック８を支持した前方方形枠体１を配置し、後方
方形枠体１を前方方形枠体１に進退可に設け、同前進に
よってフラットパネルディスプレイ７の辺縁部に配置さ
れた電極パッド１０に検査用プローブブロック８の検査
プローブ９を加圧接触せしめ、又後方方形枠体１の後退
時にフラットパネルディスプレイ７の交換を行うように
している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】然るに従来は大きさの
異なるフラットパネルディスプレイ毎に専用の後方枠体
を用意し、同様にフラットパネルディスプレイの大きさ
に応じた専用の前方枠体を用意して検査用のプローブブ
ロックを支持せしめるようにしている。
【０００４】従って従来は大きさの異なるフラットパネ
ルディスプレイ毎にこれに適合する前後枠体を持った検
査装置を設備せねばならないか、又は前後枠体のみをフ
ラットパネルディスプレイの大きさに応じ交換できるよ
うに互換性を持たせた構造にせねばならず、多大な設備
負担と高重量の枠体を交換する作業負担と検査作業の効
率悪化を招来していた。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題を適切
に解決し、１台の検査装置において大きさの異なるフラ
ットパネルディスプレイに適切に対応し得るフラットパ
ネルディスプレイの支持枠体、又はプローブフロックの
支持枠体を提供するものである。
【０００６】本発明はフラットパネルディスプレイ又は
プローブブロックの支持枠体を形成する上下横枠板と左
右縦枠板とが各枠板一端の枠板に対して単独で夫々縦移
動又は横移動でき、且つ一緒に横移動又は縦移動できる
ように組み立てて、各枠板で形成する窓の拡大又は縮小
を図る構成にすると共に、該拡大又は縮小された窓に面
する上下横枠板部と左右縦枠板部とに上記フラットパネ
ルディスプレイ又は該フラットパネルディスプレイの辺
縁部に配された電極パッドに加圧接触するプローブブロ
ックを支持する構成とする。
【０００７】上記上下横枠板と左右縦枠板の縦移動と横
移動とによって、各種大きさのフラットパネルディスプ
レイに対応した大きさの支持枠体を容易に形成でき、同
様に該フラットパネルディスプレイの大きさに対応した
検査用プローブ支持枠体を容易に形成でき、これにより
１台の検査装置を大きさの異なる各種フラットパネルデ
ィスプレイに適合させることができ、極めて経済的であ
って、検査作業の効率を向上する検査装置を提供でき
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下本発明の各実施形態例を図１
乃至図７に基づいて説明する。
【０００９】＜第１実施形態例＞（図１Ａ，Ｂ及び図
６，図７参照）
【００１０】１は検査対象である液晶パネルに代表され
るフラットパネルディスプレイ７を支持する方形支持枠
体である。
【００１１】上記方形支持枠体１は右縦枠板５に対して
単独で縦移動し且つ左縦枠板４の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板２と、左縦枠板４に対し単独で縦移動し且
つ右縦枠板５の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板３
と、上横枠板２に対して単独で横移動し且つ下横枠板３
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板４と、下横枠板３
に対して単独で横移動し且つ上横枠板２の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板５とから組み立てられている。
【００１２】上記上下横枠板２，３と左右縦枠板４，５
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板２，３と
左右縦枠板４，５で画成される窓６を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓６に面する上下横枠板２，３部
と左右縦枠板４，５部とに上記フラットパネルディスプ
レイ７を支持する。
【００１３】上記上横枠板２と右縦枠板５間は上横枠板
２の単独縦移動を案内し且つ上横枠板２と右縦枠板５と
を追随して横移動せしめるように連結する。
【００１４】以下同様に、上記左縦枠板４と上横枠板２
間は左縦枠板４の単独横移動を案内し且つ左縦枠板４と
上横枠板２とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板３と左縦枠板４間は下横枠板３の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板３と左縦枠板４とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記右縦枠板５と下横枠板
３間は右縦枠板５の単独横移動を案内し且つ右縦枠板５
と下横枠板３とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
【００１５】上記連結機構は例えば図７に示される。図
示のように、上横枠板２の一端を右縦枠板５の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板４の一端を上横枠板２の内面
に当接し、下横枠板３の一端を左縦枠板４の内面に当接
し、右縦枠板５の一端を下横枠板３の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
【００１６】上記連結機構の具体例として、上下横枠板
２，３と左右縦枠板４，５の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝１１を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板２，３，４，５の端部に上記各ガイド溝１
１にキー結合する突起１２を形成し、該各突起１２を各
ガイド溝１１に滑合する（キー結合する）。
【００１７】これによって上横枠板２は右縦枠板５に対
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板５と一緒に横移動可能
である。
【００１８】同様に左縦枠板４は上横枠板２に対し単独
で横移動し、且つ上横枠板２と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板３は左縦枠板４に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板４と一緒に横移動可能であり、右縦枠板５は
下横枠板３に対し単独で横移動し、且つ下横枠板３と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓６を拡大又は縮小
する。
【００１９】上記各枠板２，３，４，５の表面にはその
略全長に亘りサクション装置に接続される吸引孔１３を
設け、上記拡大又は縮小された窓６に面する上下横枠板
２，３部表面と左右縦枠板４，５部表面に上記吸引孔１
３によりフラットパネルディスプレイ７の周縁部を吸着
支持する。
【００２０】図６Ａ，Ｂに示すように、各プローブブロ
ック８は多数のプローブ９を有し、各プローブ９の先端
を各電極パッド１０の表面に加圧接触する。
【００２１】上記フラットパネルディスプレイ７の支持
枠体１及び検査用プローブブロックの支持枠体１は、何
れも方形枠体によって構成されており、液晶パネルに代
表されるフラットパネルディスプレイ７を支持した後方
方形枠体１の前面側に検査用プローブブロック８を支持
した前方方形枠体１を配置し、後方方形枠体１を前方方
形枠体１に進退可に設け、同前進によってフラットパネ
ルディスプレイ７の辺縁部に配置された電極パッド１０
に検査用プローブブロック８の検査プローブ９を加圧接
触せしめ、又後方方形枠体１の後退時にフラットパネル
ディスプレイ７の交換を行うようにしている。
【００２２】又は前方方形枠体１の窓６を拡大して、前
方方形枠体１の前方から該拡大窓６を通して後方方形枠
体１上へのフラットパネルディスプレイ７の交換を行
う。この場合は後方方形枠体１を進退可に設けなくても
良い。
【００２３】＜第２実施形態例＞（図２Ａ，Ｂ及び図５
乃至図７参照）
【００２４】１は検査用プローブブロック８を支持する
方形支持枠体である。
【００２５】上記方形支持枠体１は右縦枠板５に対して
単独で縦移動し且つ左縦枠板４の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板２と、左縦枠板４に対し単独で縦移動し且
つ右縦枠板５の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板３
と、上横枠板２に対して単独で横移動し且つ下横枠板３
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板４と、下横枠板３
に対して単独で横移動し且つ上横枠板２の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板５とから組み立てられている。
【００２６】上記上下横枠板２，３と左右縦枠板４，５
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板２，３と
左右縦枠板４，５で画成される窓６を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓６に面する上下横枠板２，３部
と左右縦枠板４，５部とにフラットパネルディスプレイ
７の周縁部に配された多数の電極パッド１０に加圧接触
するプローブブロック８を支持する。
【００２７】図６に示すように、各プローブブロック８
は多数のプローブ９を有し、各プローブ９の先端を各電
極パッド１０の表面に加圧接触する。
【００２８】上記上横枠板２と右縦枠板５間は上横枠板
２の単独縦移動を案内し且つ上横枠板２と右縦枠板５と
を追随して横移動せしめるように連結する。
【００２９】以下同様に、上記左縦枠板４と上横枠板２
間は左縦枠板４の単独横移動を案内し且つ左縦枠板４と
上横枠板２とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板３と左縦枠板４間は下横枠板３の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板３と左縦枠板４とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記右縦枠板５と下横枠板
３間は右縦枠板５の単独横移動を案内し且つ右縦枠板５
と下横枠板３とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
【００３０】上記連結機構は例えば図７に示される。図
示のように、上横枠板２の一端を右縦枠板５の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板４の一端を上横枠板２の内面
に当接し、下横枠板３の一端を左縦枠板４の内面に当接
し、右縦枠板５の一端を下横枠板３の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
【００３１】上記連結機構の具体例として、上下横枠板
２，３と左右縦枠板４，５の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝１１を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板２，３，４，５の端部に上記各ガイド溝１
１にキー結合する突起１２を形成し、該各突起１２を各
ガイド溝１１に滑合する（キー結合する）。
【００３２】これによって上横枠板２は右縦枠板５に対
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板５と一緒に横移動可能
である。
【００３３】同様に左縦枠板４は上横枠板２に対し単独
で横移動し、且つ上横枠板２と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板３は左縦枠板４に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板４と一緒に横移動可能であり、右縦枠板５は
下横枠板３に対し単独で横移動し、且つ下横枠板３と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓６を拡大又は縮小
する。
【００３４】上記各枠板２，３，４，５は互いに等長に
し、該等長の各枠板２，３，４，５の表面にはその両端
に位置決めピン又は位置決め孔１４を夫々各枠板毎に互
いに等間隔で立設する。
【００３５】他方図５に示すように、プローブブロック
８のホルダーとして、等長の長さを有する複数のベース
１５を形成し、各ベース１５に上記拡大窓６の辺又は縮
小窓６の辺と対応する位置に複数のプローブブロック８
を着脱可に取り付けたプローブユニット１６Ａ，Ｂ，Ｃ
を準備する。
【００３６】これらのプローブユニット１６Ａ，Ｂ，Ｃ
を上記拡大窓６又は縮小窓６に応じて選択し、上記各枠
板２，３，４，５の位置決めピン又は位置決め孔１４に
挿入し、一体に且つ着脱可に取り付ける。よってプロー
ブブロック８はホルダーたるベース１５を介して各枠板
２，３，４，５に取り付け支持される。
【００３７】図６Ａ，Ｂに示すように、上記フラットパ
ネルディスプレイ７の支持枠体１及び検査用プローブブ
ロックの支持枠体１は、何れも方形枠体によって構成さ
れており、液晶パネルに代表されるフラットパネルディ
スプレイ７を支持した後方方形枠体１の前面側に検査用
プローブブロック８を支持した前方方形枠体１を配置
し、後方方形枠体１を前方方形枠体１に進退可に設け、
同前進によってフラットパネルディスプレイ７の辺縁部
に配置された電極パッド１０に検査用プローブブロック
８の検査プローブ９を加圧接触せしめ、又後方方形枠体
１の後退時にフラットパネルディスプレイ７の交換を行
うようにしている。
【００３８】又は前方方形枠体１の窓６を拡大して、前
方方形枠体１の前方から該拡大窓６を通して後方方形枠
体１上へのフラットパネルディスプレイ７の交換を行
う。この場合は後方方形枠体１を進退可に設けなくても
良い。
【００３９】＜第３実施形態例＞（図３Ａ，Ｂ及び図
６，図７参照）
【００４０】１は検査対象である液晶パネルに代表され
るフラットパネルディスプレイ７を支持する方形支持枠
体である。
【００４１】上記方形支持枠体１が左縦枠板４に対して
単独で縦移動し且つ右縦枠板５の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板２と、右縦枠板５に対し単独で縦移動し且
つ左縦枠板４の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板３
と、下横枠板３に対して単独で横移動し且つ上横枠板２
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板４と、上横枠板２
に対して単独で横移動し且つ下横枠板３の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板５とから組み立てられている。
【００４２】上記上下横枠板２，３と左右縦枠板４，５
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板２，３と
左右縦枠板４，５で画成される窓６を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓６に面する上下横枠板２，３部
と左右縦枠板４，５部とに上記フラットパネルディスプ
レイ７を支持する。
【００４３】上記上横枠板２と左縦枠板４間は上横枠板
２の単独縦移動を案内し且つ上横枠板２と左縦枠板４と
を追随して横移動せしめるように連結する。
【００４４】以下同様に、上記右縦枠板５と上横枠板２
間は右縦枠板５の単独横移動を案内し且つ右縦枠板５と
上横枠板２とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板３と右縦枠板５間は下横枠板３の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板３と右縦枠板５とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記左縦枠板４と下横枠板
３間は左縦枠板４の単独横移動を案内し且つ左縦枠板４
と下横枠板３とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
【００４５】上記連結機構は例えば図７に示される。図
示のように、上横枠板２の一端を右縦枠板５の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板４の一端を上横枠板２の内面
に当接し、下横枠板３の一端を左縦枠板４の内面に当接
し、右縦枠板５の一端を下横枠板３の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
【００４６】上記連結機構の具体例として、上下横枠板
２，３と左右縦枠板４，５の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝１１を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板２，３，４，５の端部に上記各ガイド溝１
１にキー結合する突起１２を形成し、該各突起１２を各
ガイド溝１１に滑合する（キー結合する）。
【００４７】これによって上横枠板２は右縦枠板５に対
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板５と一緒に横移動可能
である。
【００４８】同様に左縦枠板４は上横枠板２に対し単独
で横移動し、且つ上横枠板２と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板３は左縦枠板４に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板４と一緒に横移動可能であり、右縦枠板５は
下横枠板３に対し単独で横移動し、且つ下横枠板３と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓６を拡大又は縮小
する。
【００４９】上記各枠板２，３，４，５の表面にはその
略全長に亘りサクション装置に接続される吸引孔１３を
設け、上記拡大又は縮小された窓６に面する上下横枠板
２，３部表面と左右縦枠板４，５部表面に上記吸引孔１
３によりフラットパネルディスプレイ７の周縁部を吸着
支持する。
【００５０】図６Ａ，Ｂに示すように、各プローブブロ
ック８は多数のプローブ９を有し、各プローブ９の先端
を各電極パッド１０の表面に加圧接触する。
【００５１】上記フラットパネルディスプレイ７の支持
枠体１及び検査用プローブブロックの支持枠体１は、何
れも方形枠体によって構成されており、液晶パネルに代
表されるフラットパネルディスプレイ７を支持した後方
方形枠体１の前面側に検査用プローブブロック８を支持
した前方方形枠体１を配置し、後方方形枠体１を前方方
形枠体１に進退可に設け、同前進によってフラットパネ
ルディスプレイ７の辺縁部に配置された電極パッド１０
に検査用プローブブロック８の検査プローブ９を加圧接
触せしめ、又後方方形枠体１の後退時にフラットパネル
ディスプレイ７の交換を行うようにしている。
【００５２】又は前方方形枠体１の窓６を拡大して、前
方方形枠体１の前方から該拡大窓６を通して後方方形枠
体１上へのフラットパネルディスプレイ７の交換を行
う。この場合は後方方形枠体１を進退可に設けなくても
良い。
【００５３】＜第４実施形態例＞（図４Ａ，Ｂ及び図５
乃至図７参照）
【００５４】１は検査用プローブブロック８を支持する
方形支持枠体である。
【００５５】上記方形支持枠体１が左縦枠板４に対して
単独で縦移動し且つ右縦枠板５の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板２と、右縦枠板５に対し単独で縦移動し且
つ左縦枠板４の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板３
と、下横枠板３に対して単独で横移動し且つ上横枠板２
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板４と、上横枠板２
に対して単独で横移動し且つ下横枠板３の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板５とから組み立てられている。
【００５６】上記上下横枠板２，３と左右縦枠板４，５
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板２，３と
左右縦枠板４，５で画成される窓６を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓６に面する上下横枠板２，３部
と左右縦枠板４，５部とにフラットパネルディスプレイ
７の周縁部に配された多数の電極パッド１０に加圧接触
するプローブブロック８を支持する。
【００５７】図６に示すように、各プローブブロック８
は多数のプローブ９を有し、各プローブ９の先端を各電
極パッド１０の表面に加圧接触する。
【００５８】上記上横枠板２と左縦枠板４間は上横枠板
２の単独縦移動を案内し且つ上横枠板２と左縦枠板４と
を追随して横移動せしめるように連結する。
【００５９】以下同様に、上記右縦枠板５と上横枠板２
間は右縦枠板５の単独横移動を案内し且つ右縦枠板５と
上横枠板２とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板３と右縦枠板５間は下横枠板３の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板３と右縦枠板５とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記左縦枠板４と下横枠板
３間は左縦枠板４の単独横移動を案内し且つ左縦枠板４
と下横枠板３とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
【００６０】上記連結機構は例えば図７に示される。図
示のように、上横枠板２の一端を右縦枠板５の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板４の一端を上横枠板２の内面
に当接し、下横枠板３の一端を左縦枠板４の内面に当接
し、右縦枠板５の一端を下横枠板３の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
【００６１】上記連結機構の具体例として、上下横枠板
２，３と左右縦枠板４，５の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝１１を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板２，３，４，５の端部に上記各ガイド溝１
１にキー結合する突起１２を形成し、該各突起１２を各
ガイド溝１１に滑合する（キー結合する）。
【００６２】これによって上横枠板２は右縦枠板５に対
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板５と一緒に横移動可能
である。
【００６３】同様に左縦枠板４は上横枠板２に対し単独
で横移動し、且つ上横枠板２と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板３は左縦枠板４に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板４と一緒に横移動可能であり、右縦枠板５は
下横枠板３に対し単独で横移動し、且つ下横枠板３と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓６を拡大又は縮小
する。
【００６４】上記各枠板２，３，４，５は互いに等長に
し、該等長の各枠板２，３，４，５の表面にはその両端
に位置決めピン又は位置決め孔１４を夫々各枠板毎に互
いに等間隔で立設する。
【００６５】他方図５に示すように、プローブブロック
８のホルダーとして、等長の長さを有する複数のベース
１５を形成し、各ベース１５に上記拡大窓６の辺又は縮
小窓６の辺と対応する位置に複数のプローブブロック８
を着脱可に取り付けたプローブユニット１６Ａ，Ｂ，Ｃ
を準備する。
【００６６】これらのプローブユニット１６Ａ，Ｂ，Ｃ
を上記拡大窓６又は縮小窓６に応じて選択し、上記各枠
板２，３，４，５の位置決めピン又は位置決め孔１４に
挿入し、一体に且つ着脱可に取り付ける。よってプロー
ブブロック８はホルダーたるベース１５を介して各枠板
２，３，４，５に取り付け支持される。
【００６７】図６Ａ，Ｂに示すように、上記フラットパ
ネルディスプレイ７の支持枠体１及び検査用プローブブ
ロックの支持枠体１は、何れも方形枠体によって構成さ
れており、液晶パネルに代表されるフラットパネルディ
スプレイ７を支持した後方方形枠体１の前面側に検査用
プローブブロック８を支持した前方方形枠体１を配置
し、後方方形枠体１を前方方形枠体１に進退可に設け、
同前進によってフラットパネルディスプレイ７の辺縁部
に配置された電極パッド１０に検査用プローブブロック
８の検査プローブ９を加圧接触せしめ、又後方方形枠体
１の後退時にフラットパネルディスプレイ７の交換を行
うようにしている。
【００６８】又は前方方形枠体１の窓６を拡大して、前
方方形枠体１の前方から該拡大窓６を通して後方方形枠
体１上へのフラットパネルディスプレイ７の交換を行
う。この場合は後方方形枠体１を進退可に設けなくても
良い。
【００６９】即ち上記第１乃至第４実施形態例において
は、検査用プローブブロック８を支持する枠板２，３，
４，５から成る方形支持枠体１の背面側に、フラットパ
ネルディスプレイ７を支持する枠板２，３，４，５から
成る方形支持枠体１を配し、フラットパネルディスプレ
イ７を支持する背面側の方形支持枠体１の窓６の背後に
照光手段を設け、該照光手段により窓６を通してフラッ
トパネルディスプレイ７を照光し、これにより前面の方
形支持枠体１の窓６を通して電極パッド１０とプローブ
９の接触状態を照光観察しつつ検査を実行する。
【００７０】本発明は上記フラットパネルディスプレイ
７を支持する方形支持枠体１又は検査用プローブブロッ
ク８を支持する方形支持枠体１の何れかに実施する。
【００７１】
【発明の効果】本発明によれば、上記上下横枠板と左右
縦枠板の縦移動と横移動とによって、各種大きさのフラ
ットパネルディスプレイに対応した大きさの支持枠体を
容易に形成でき、同様に該フラットパネルディスプレイ
の大きさに対応した検査用プローブ支持枠体を容易に形
成でき、これにより１台の検査装置を大きさの異なる各
種フラットパネルディスプレイに適合させることがで
き、極めて経済的であって、検査作業の効率を向上する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】Ａ，Ｂはフラットパネルディスプレイの支持枠
体の拡大と縮小状態を示す正面図。
【図２】Ａ，Ｂはプローブブロックの支持枠体の拡大と
縮小状態を示す正面図。
【図３】Ａ，Ｂはフラットパネルディスプレイの支持枠
体の他例を拡大と縮小状態を以って示す正面図。
【図４】Ａ，Ｂはプローブブロックの支持枠体の他例を
拡大と縮小状態を以って示す正面図。
【図５】プローブユニットの各例を示す平面図。
【図６】プローブブロックを支持する方形枠体とフラッ
トパネルディスプレイを支持する方形枠体とによって形
成される検査装置を接触前（Ａ図）と接触後（Ｂ図）を
以って示す断面図。
【図７】各枠板相互の連結機構を示す拡大断面図。
【符号の説明】
１ 支持枠体 ２ 上横枠板 ３ 下横枠板 ４ 左縦枠板 ５ 右縦枠板 ６ 窓 ７ フラットパネルディスプレイ ８ プローブブロック ９ プローブ １０ 電極パッド １１ ガイド溝 １２ 突起 １３ 吸引孔 １４ 位置決めピン又は位置決め孔 １５ ベース １６Ａ プローブユニット １６Ｂ プローブユニット １６Ｃ プローブユニット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G011 AA02 AA15 AB06 AB07 AC02 AC06 AE01 AF07 2G032 AE03 AE04 AF02 AF03 AF04 AK04 2G086 EE10 5G435 AA17 KK05 KK10

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】検査対象であるフラットパネルディスプレ
    イ又は検査用のプローブロックを支持する方形支持枠体
    であって、該方形支持枠体が右縦枠板に対して単独で縦
    移動し且つ左縦枠板の縦移動と一緒に縦移動する上横枠
    板と、左縦枠板に対し単独で縦移動し且つ右縦枠板の縦
    移動と一緒に縦移動する下横枠板と、上横枠板に対して
    単独で横移動し且つ下横枠板の横移動と一緒に横移動す
    る左縦枠板と、下横枠板に対して単独で横移動し且つ上
    横枠板の横移動と一緒に横移動する右縦枠板とから組み
    立てられ、上記上下横枠板と左右縦枠板の上記縦移動と
    横移動とにより上記上下横枠板と左右縦枠板で画成され
    る窓を拡大又は縮小し、該拡大又は縮小された窓に面す
    る上下横枠板部と左右縦枠板部とに上記フラットパネル
    ディスプレイ又は該フラットパネルディスプレイの辺縁
    部に配された電極パッドに加圧接触するプローブブロッ
    クを支持する構成としたことを特徴とするフラットパネ
    ルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体。
  2. 【請求項２】上記上横枠板と右縦枠板間は上横枠板の単
    独縦移動を案内し且つ上横枠板と右縦枠板とを追随して
    横移動せしめるように連結し、上記左縦枠板と上横枠板
    間は左縦枠板の単独横移動を案内し且つ左縦枠板と上横
    枠板とを追随して縦移動せしめるように連結し、上記下
    横枠板と左縦枠板間は下横枠板の単独縦移動を案内し且
    つ下横枠板と左縦枠板とを追随して横移動せしめるよう
    に連結し、上記右縦枠板と下横枠板間は右縦枠板の単独
    横移動を案内し且つ右縦枠板と下横枠板とを追随して縦
    移動せしめるように連結したことを特徴とする請求項１
    記載のフラットパネルディスプレイ又はプローブブロッ
    クの支持枠体。
  3. 【請求項３】検査対象であるフラットパネルディスプレ
    イ又は検査用のプローブロックを支持する方形支持枠体
    であって、該方形支持枠体が左縦枠板に対して単独で縦
    移動し且つ右縦枠板の縦移動と一緒に縦移動する上横枠
    板と、右縦枠板に対し単独で縦移動し且つ左縦枠板の縦
    移動と一緒に縦移動する下横枠板と、下横枠板に対して
    単独で横移動し且つ上横枠板の横移動と一緒に横移動す
    る左縦枠板と、上横枠板に対して単独で横移動し且つ下
    横枠板の横移動と一緒に横移動する右縦枠板とから組み
    立てられ、上記上下横枠板と左右縦枠板の上記縦移動と
    横移動とにより上記上下横枠板と左右縦枠板で画成され
    る窓を拡大又は縮小し、該拡大又は縮小された窓に面す
    る上下横枠板部と左右縦枠板部とに上記フラットパネル
    ディスプレイ又は該フラットパネルディスプレイの辺縁
    部に配された電極パッドに加圧接触するプローブブロッ
    クを支持する構成としたことを特徴とするフラットパネ
    ルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体。
  4. 【請求項４】上記上横枠板と左縦枠板間は上横枠板の単
    独縦移動を案内し且つ上横枠板と左縦枠板とを追随して
    横移動せしめるように連結し、上記右縦枠板と上横枠板
    間は右縦枠板の単独横移動を案内し且つ右縦枠板と上横
    枠板とを追随して縦移動せしめるように連結し、上記下
    横枠板と右縦枠板間は下横枠板の単独縦移動を案内し且
    つ下横枠板と右縦枠板とを追随して横移動せしめるよう
    に連結し、上記左縦枠板と下横枠板間は左縦枠板の単独
    横移動を案内し且つ左縦枠板と下横枠板とを追随して縦
    移動せしめるように連結したことを特徴とする請求項３
    記載のフラットパネルディスプレイ又はプローブブロッ
    クの支持枠体。
JP24510499A 1999-08-31 1999-08-31 プローブブロックの支持枠体 Expired - Lifetime JP3350899B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24510499A JP3350899B2 (ja) 1999-08-31 1999-08-31 プローブブロックの支持枠体
TW089107918A TW459140B (en) 1999-08-31 2000-04-26 Flat panel display or probe block support framework
EP00303804A EP1081497A3 (en) 1999-08-31 2000-05-05 Flat panel display support framework
US09/566,010 US6450469B1 (en) 1999-08-31 2000-05-05 Flat panel display or probe block support framework
KR1020000024824A KR20010020825A (ko) 1999-08-31 2000-05-10 평판 디스플레이 또는 프로브 블록의 지지틀
CNB001179705A CN1145066C (zh) 1999-08-31 2000-06-06 平板显示器或探针块的支撑框架
IT2000TO000817A IT1320603B1 (it) 1999-08-31 2000-08-25 Motociclo.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24510499A JP3350899B2 (ja) 1999-08-31 1999-08-31 プローブブロックの支持枠体

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002196452A Division JP3816031B2 (ja) 2002-07-04 2002-07-04 フラットパネルディスプレイの検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001074599A true JP2001074599A (ja) 2001-03-23
JP3350899B2 JP3350899B2 (ja) 2002-11-25

Family

ID=17128684

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24510499A Expired - Lifetime JP3350899B2 (ja) 1999-08-31 1999-08-31 プローブブロックの支持枠体

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6450469B1 (ja)
EP (1) EP1081497A3 (ja)
JP (1) JP3350899B2 (ja)
KR (1) KR20010020825A (ja)
CN (1) CN1145066C (ja)
IT (1) IT1320603B1 (ja)
TW (1) TW459140B (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020091691A (ko) * 2001-05-31 2002-12-06 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 액정표시장치 테스트 프레임
JP2005274487A (ja) * 2004-03-26 2005-10-06 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置
JP2006119031A (ja) * 2004-10-22 2006-05-11 Micronics Japan Co Ltd パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置
JP2007163426A (ja) * 2005-12-16 2007-06-28 Micronics Japan Co Ltd 表示パネル検査装置
KR100748072B1 (ko) * 2005-08-01 2007-08-09 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시패널의 전기검사장치
JP2008046085A (ja) * 2006-08-21 2008-02-28 Micronics Japan Co Ltd パネル支持機構及び検査装置
JP2009168565A (ja) * 2008-01-15 2009-07-30 Toshiba Corp サンプルステージ
KR100911236B1 (ko) * 2007-08-22 2009-08-06 주식회사 플라켐 블록형 엘이디 조명장치
WO2011158902A1 (ja) * 2010-06-17 2011-12-22 シャープ株式会社 点灯検査装置
KR101102556B1 (ko) 2010-06-30 2012-01-03 (주)이노셈코리아 맞춤형 소비전력 및 멀티형성을 갖는 탈·부착식 ｌｅｄ 모듈
JP2022539083A (ja) * 2019-07-01 2022-09-07 メガセン・カンパニー・リミテッド ディスプレイパネル検査のためのプローブブロック組立体、この制御方法およびディスプレイパネル検査装置

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7073768B2 (en) * 2002-07-12 2006-07-11 John Piscovich Device and method for setting a frame
JP3457938B2 (ja) * 2000-10-16 2003-10-20 株式会社双晶テック 表示基板又は回路基板の検査装置における表示基板又は回路基板の交換方法
TW509329U (en) * 2001-04-19 2002-11-01 Hannstar Display Corp Electrified rack
CN1309248C (zh) * 2002-08-02 2007-04-04 Nec液晶技术株式会社 显示器和显示板的支撑框架及其制造方法
US20040051693A1 (en) * 2002-09-12 2004-03-18 Ming-Jian Chen Electronic screen having display panel displayed in changeable length-width ratio
US7012583B2 (en) * 2003-02-07 2006-03-14 Shimadzu Corporation Apparatus and method for testing pixels of flat panel display
US7319335B2 (en) 2004-02-12 2008-01-15 Applied Materials, Inc. Configurable prober for TFT LCD array testing
US6833717B1 (en) 2004-02-12 2004-12-21 Applied Materials, Inc. Electron beam test system with integrated substrate transfer module
US7355418B2 (en) * 2004-02-12 2008-04-08 Applied Materials, Inc. Configurable prober for TFT LCD array test
KR100776177B1 (ko) * 2004-12-17 2007-11-16 주식회사 디이엔티 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블
US7535238B2 (en) * 2005-04-29 2009-05-19 Applied Materials, Inc. In-line electron beam test system
US20070018062A1 (en) * 2005-07-20 2007-01-25 Theodor Calinescu Universal wall mount bracket for displays
JP5829376B2 (ja) * 2006-03-14 2015-12-09 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドＡｐｐｌｉｅｄ Ｍａｔｅｒｉａｌｓ，Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄ マルチカラム電子ビーム検査システムにおけるクロストークの軽減方法
US7786742B2 (en) 2006-05-31 2010-08-31 Applied Materials, Inc. Prober for electronic device testing on large area substrates
US7602199B2 (en) 2006-05-31 2009-10-13 Applied Materials, Inc. Mini-prober for TFT-LCD testing
GB0711626D0 (en) * 2007-06-18 2007-07-25 Barco Nv Support for direct light displays
KR100920383B1 (ko) * 2009-01-29 2009-10-07 주식회사 에이디피엔지니어링 평판표시소자 제조장치
CN102455528B (zh) * 2010-10-27 2015-01-07 纬创资通股份有限公司 结合上下盖外观件的平面显示器
TWI435294B (zh) * 2010-12-03 2014-04-21 Wistron Corp 無膠框結構的平面顯示器
US20130128513A1 (en) * 2011-11-18 2013-05-23 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Mold for Back Frame and Bracing Piece, Method for Manufacturing Back Frame, and Backlight System
CN102830517B (zh) * 2012-08-28 2015-02-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种背框和液晶显示装置
US8850992B1 (en) * 2013-05-22 2014-10-07 Itoro Akpaffiong Portable articulated support frame for supporting objects on a user's lap
KR102242643B1 (ko) * 2014-10-30 2021-04-22 주성엔지니어링(주) 유기 발광 장치
CN104360510B (zh) * 2014-11-24 2018-02-16 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种检测用探针块及其检测装置
KR102608599B1 (ko) * 2018-08-16 2023-12-01 삼성디스플레이 주식회사 압력 센서를 테스트하는 장치 및 방법 그리고 이를 이용한 표시 장치
KR102081610B1 (ko) * 2019-04-17 2020-02-26 우리마이크론(주) 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비
WO2020213901A1 (ko) * 2019-04-17 2020-10-22 우리마이크론(주) 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비
KR102097456B1 (ko) * 2019-07-01 2020-04-07 우리마이크론(주) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치
KR102097455B1 (ko) * 2019-07-01 2020-04-07 우리마이크론(주) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치
KR102154758B1 (ko) * 2020-03-30 2020-09-10 우리마이크론(주) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치
KR102154760B1 (ko) * 2020-03-30 2020-09-10 우리마이크론(주) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3612508A (en) * 1970-04-08 1971-10-12 Gen Motors Corp Heater core fixture for face soldering
JPS5391376A (en) * 1977-01-24 1978-08-11 Hirohide Yano Device for inspecting printed board
US5003254A (en) * 1989-11-02 1991-03-26 Huntron, Inc. Multi-axis universal circuit board test fixture
JPH0996802A (ja) * 1995-10-03 1997-04-08 Sharp Corp 液晶パネル製造用治具
JP3592831B2 (ja) * 1996-02-26 2004-11-24 株式会社日本マイクロニクス プローブユニット及びその調節方法
US5954106A (en) * 1998-05-18 1999-09-21 Huang; Jin Lai Work bench having an adjustable guide
US6150833A (en) * 1999-02-03 2000-11-21 Industrial Technology Research Institute LCD panel power-up test fixture and method of using

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020091691A (ko) * 2001-05-31 2002-12-06 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 액정표시장치 테스트 프레임
JP2005274487A (ja) * 2004-03-26 2005-10-06 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置
JP4570930B2 (ja) * 2004-10-22 2010-10-27 株式会社日本マイクロニクス パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置
JP2006119031A (ja) * 2004-10-22 2006-05-11 Micronics Japan Co Ltd パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置
KR100748072B1 (ko) * 2005-08-01 2007-08-09 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시패널의 전기검사장치
JP2007163426A (ja) * 2005-12-16 2007-06-28 Micronics Japan Co Ltd 表示パネル検査装置
KR100766492B1 (ko) * 2005-12-16 2007-10-15 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시패널 검사장치
JP2008046085A (ja) * 2006-08-21 2008-02-28 Micronics Japan Co Ltd パネル支持機構及び検査装置
KR100911236B1 (ko) * 2007-08-22 2009-08-06 주식회사 플라켐 블록형 엘이디 조명장치
JP2009168565A (ja) * 2008-01-15 2009-07-30 Toshiba Corp サンプルステージ
WO2011158902A1 (ja) * 2010-06-17 2011-12-22 シャープ株式会社 点灯検査装置
JP5470456B2 (ja) * 2010-06-17 2014-04-16 シャープ株式会社 点灯検査装置
KR101102556B1 (ko) 2010-06-30 2012-01-03 (주)이노셈코리아 맞춤형 소비전력 및 멀티형성을 갖는 탈·부착식 ｌｅｄ 모듈
JP2022539083A (ja) * 2019-07-01 2022-09-07 メガセン・カンパニー・リミテッド ディスプレイパネル検査のためのプローブブロック組立体、この制御方法およびディスプレイパネル検査装置
JP7250182B2 (ja) 2019-07-01 2023-03-31 メガセン・カンパニー・リミテッド ディスプレイパネル検査のためのプローブブロック組立体、この制御方法およびディスプレイパネル検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
US6450469B1 (en) 2002-09-17
ITTO20000817A0 (it) 2000-08-25
EP1081497A2 (en) 2001-03-07
KR20010020825A (ko) 2001-03-15
TW459140B (en) 2001-10-11
CN1291728A (zh) 2001-04-18
JP3350899B2 (ja) 2002-11-25
CN1145066C (zh) 2004-04-07
ITTO20000817A1 (it) 2002-02-25
EP1081497A3 (en) 2004-05-12
IT1320603B1 (it) 2003-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001074599A (ja) フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体
KR100786631B1 (ko) 디스플레이 패널 또는 프로브 블록의 지지틀
ATE7350T1 (de) Datensichtgeraet.
JP2000007146A (ja) ガラス基板保持具
JP4570930B2 (ja) パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置
JP3816031B2 (ja) フラットパネルディスプレイの検査装置
CN109510741A (zh) 交换机测试治具
KR100653746B1 (ko) 디스플레이 패널의 검사 장비
JP2007040747A (ja) 表示パネルの電気検査装置
KR20020030253A (ko) 표시기판 또는 회로기판의 검사장치
CN213656132U (zh) 一种连接稳定的卡接式拼接显示屏
CN209826711U (zh) 医疗设备
CN216526602U (zh) 一种液晶显示模组触控划线测试机构
JP2000180807A (ja) 液晶基板の検査装置
JP4031491B2 (ja) パネル検査装置
TWI233994B (en) Inspection device for substrate to be inspected
CN215348123U (zh) 一种可更换展示卡的亚克力展台
CN214375663U (zh) 一种液晶面板平稳夹持翻转机构
JPH09257834A (ja) コンタクトユニット
JP3956219B2 (ja) 基板洗浄用ラック
CN213250693U (zh) 一种泌尿外科检查用移动式隔离装置
JP2001135172A (ja) 導通検査ユニットのレイアウト検討方法並びに擬似ユニット及びレイアウト検討台
TWM247359U (en) Processing clamping jig for display panel
JP4196082B2 (ja) ディスプレイパネルの点灯検査装置
KR100515081B1 (ko) 자수기의 보더 프레임용 모자고정 클램프

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3350899

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070920

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100920

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100920

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110920

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140920

Year of fee payment: 12

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term