JP2005274487A - プローブ装置 - Google Patents
プローブ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005274487A JP2005274487A JP2004091046A JP2004091046A JP2005274487A JP 2005274487 A JP2005274487 A JP 2005274487A JP 2004091046 A JP2004091046 A JP 2004091046A JP 2004091046 A JP2004091046 A JP 2004091046A JP 2005274487 A JP2005274487 A JP 2005274487A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- positioning
- frame
- block
- movable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
Abstract
【解決手段】 プローブ装置は、開口を形成するフレームと、開口と平行の面内を伸びる第1の方向へ移動可能に前記フレームに配置された複数のプローブ組立体と、第1の方向における複数のプローブ組立体の位置を解除可能に維持する位置決め具とを含む。位置決め具は、第1の方向に間隔をおいた複数の位置決め部材であって前記面内を第1の方向と交差する第2の方向へ伸びる軸線を有する複数の位置決め部材と、複数の位置決め部材を個々に受け入れるべく第2の方向に開放すると共に前記面と交差する第3の方向に開放する複数の凹所とのいずれか一方を含み、各プローブ組立体は、位置決め部材及び凹所の他方を含む。
【選択図】 図1
Description
12 表示用基板
14a,14b 被検査領域
16a,16b 電極群
20 フレーム
22 開口
24 フレーム本体
26 可動フレーム
26a 可動フレームの中間領域
28,40,44 ガイドレール
30,42,46 ガイド部材
32,34 プローブ取付板
36,38 プローブ組立体
50 プローブブロック
52 フラットケーブル
54 接続ブロック
56 支持ブロック
58 取付ブロック
62 位置決め具
64 ガイドブロック
66 プローブ
68 電気絶縁性ブロック
70 側板
72 取付バー
74 スリットバー
76 ガイドフィルム
78 コネクタ
79 位置決め穴
80 位置決めピン
81 ねじ穴
82,90,104,106 ねじ部材
84 突出部
86 ガイド部
88 ストッパピン
92 プッシャー
94 調整ねじ
98 リニアガイド
100 L型部材
102 板状ベース
110,112 第1及び第2の部材
116 結合ピン
118 弾性体
120 長尺部材
122 位置決め部材
124 位置決めピン
126 セッティングピン
128 貫通穴
130 セッティング穴
132 プランジャー
134 偏心カム
136 カムフォロワ
138 締め付けナット
140 原点マークホルダ
142,144 位置調整機構
146 透明ガラス板
148 原点マーク
150,160 ブロック
152,162 結合ねじ
154,164 補助部材
156,166 調整ボルト
158,168 止めナット
170 圧縮コイルばね
180 ブラケット
182 位置決めピン
184 調整ねじ
158,168,186 止めナット
188 クランプ
Claims (12)
- 開口を形成するフレームと、前記開口と平行の面内を伸びる第1の方向へ移動可能に前記フレームに配置された複数のプローブ組立体と、前記第1の方向における前記複数のプローブ組立体の位置を解除可能に維持する位置決め具とを含み、
前記位置決め具は、前記第1の方向に間隔をおいた複数の位置決め部材であって前記面内を前記第1の方向と交差する第2の方向へ伸びる軸線を有する複数の位置決め部材と、前記複数の位置決め部材を個々に受け入れるべく前記第2の方向に開放すると共に前記面と交差する第3の方向に開放する複数の凹所とのいずれか一方を含み、各プローブ組立体は、前記位置決め部材及び前記凹所の他方を含む、プローブ装置。 - 前記位置決め具は、前記第1の方向へ伸びる状態に前記フレームに取り外し可能に取り付けられた長尺部材と、それぞれが前記位置決め部材として作用する複数のローラであって前記長尺部材に前記第1の方向に間隔をおいた状態に取り付けられた、前記第2の方向へ伸びる回転軸線を有するローラとを含み、
各プローブ組立体は、前記凹所を有するガイドブロックを含む、請求項1に記載のプローブ装置。 - 前記ローラは、前記回転軸線の周りの位置を変更可能に前記長尺部材に取り付けられた円形の偏心カムと、該偏心カムにこれの周りに変位可能に配置された円形のカムフォロワとを備える、請求項2に記載のプローブ装置。
- 前記ガイドブロックは、一端部にL状の切り欠き部を有する第1の部材と、前記切り欠き部を前記凹所として作用させるべく前記第1の方向における前記第1の部材の箇所に配置された第2の部材と、該第2の部材を前記第1の部材に前記第2の方向へ伸びる軸線の周りに角度的に回転可能に結合させる結合ピンと、前記第2の部材が前記第1の部材に接近する方向へ前記結合ピンを付勢する弾性体とを備える、請求項2及び3のいずれか1項に記載のプローブ装置。
- 前記位置決め具は、さらに、前記長尺部材を前記第3の方向に貫通して前記フレームに向けて伸びるセッティングピンと、前記セッティングピンに係止可能に前記長尺部材に配置されたプランジャーと、前記長尺部材を貫通して前記フレームに螺合された取り付けねじとを含む、請求項2から4のいずれか1項に記載のプローブ装置。
- 前記位置決め具は、さらに、前記第1の方向に間隔をおいた前記フレームの2カ所から前記第3の方向へ伸びて前記長尺部材を貫通する一対の位置決めピンと、
前記長尺部材に配置された一対のブロックであって前記位置決めピンの前記第1の方向における中央側の箇所及び端部側の箇所のいずれか一方に当接可能の一対のブロックと、
前記ブロックを前記長尺部材に取り付ける結合ねじと、
前記第1の方向に伸びて一方の前記ブロックの前記位置決めピンと反対側の箇所に当接可能に前記長尺部材に螺合された一対の調整ねじと、
前記一方のブロックと前記調整ねじとを接触させるべく他方の前記ブロックを付勢するばねとを含む、請求項2から5のいずれか1項に記載のプローブ装置。 - 前記フレームは、前記開口を有するフレーム本体と、前記第2の方向へ移動可能に前記フレーム本体に支持された可動フレームとを含み、
前記プローブ組立体と前記位置決め具とは、前記可動フレームに配置されている、請求項1から6のいずれか1項に記載のプローブ装置。 - 複数の前記可動フレームが前記第2の方向に間隔をおいて前記フレーム本体に支持されており、それぞれが前記複数のプローブ組立体を含む複数のプローブグループが前記可動フレームに個々に支持されており、複数の前記位置決め具が前記可動フレームに個々に備えられている、請求項7に記載のプローブ装置。
- さらに、前記第1の方向における前記開口の一端部側にあって、前記第2の方向に間隔をおいて及び前記第2の方向に移動可能に前記フレームに配置された複数の第2のプローブ組立体と、前記第2の方向における前記第2のプローブ組立体の位置を解除可能に決める複数の第2の位置決め具とを含み、
前記第2の位置決め具は、前記第2の方向に間隔をおいた状態に取り付けられた複数の第2の位置決め部材であってそれぞれが前記第1の方向へ伸びる軸線を有する複数の第2の位置決め部材と、前記複数の第2の位置決め部材を個々に受け入れるべく前記第1の方向と前記第3の方向とに開放する複数の第2の凹所とのいずれか一方を含み、
各第2のプローブ組立体は、前記第2の位置決め部材及び前記第2の凹所の他方を含む、請求項7に記載のプローブ装置。 - それぞれが前記複数の第2のプローブ組立体を含む複数のプローブグループが前記第2の方向に間隔をおいて及び前記第2の方向に移動可能に前記フレームに配置されており、前記第2の位置決め具が前記プローブグループ毎に備えられている、請求項9に記載のプローブ装置。
- 前記第2の位置決め具は、前記第2の方向へ伸びる状態に前記可動フレームに取り外し可能に取り付けられた第2の長尺部材と、
該第2の長尺部材に取り付けられたブラケットと、
前記可動フレーム及び前記ブラケットのいずれか一方に前記第2の方向に伸びる状態に支持されて前記可動フレーム及び前記ブラケットの他方に向けて伸びる位置決めピンと、
該位置決めピンを前記可動フレーム及び前記ブラケットの他方に当接させた状態に前記可動フレームを前記フレームに解除可能に維持するクランプとを含む、請求項9及び10のいずれか1項に記載のプローブ装置。 - 前記ブラケットは、これを前記第2の方向に貫通するねじ穴と、該ねじ穴に螺合されて前記位置決めピンに当接する調整ねじとを有する、請求項11に記載のプローブ装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004091046A JP4790997B2 (ja) | 2004-03-26 | 2004-03-26 | プローブ装置 |
TW093137277A TWI255344B (en) | 2004-03-26 | 2004-12-03 | Probe system |
KR1020040110241A KR100673717B1 (ko) | 2004-03-26 | 2004-12-22 | 프로브장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004091046A JP4790997B2 (ja) | 2004-03-26 | 2004-03-26 | プローブ装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005274487A true JP2005274487A (ja) | 2005-10-06 |
JP2005274487A5 JP2005274487A5 (ja) | 2007-03-01 |
JP4790997B2 JP4790997B2 (ja) | 2011-10-12 |
Family
ID=35174303
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004091046A Expired - Lifetime JP4790997B2 (ja) | 2004-03-26 | 2004-03-26 | プローブ装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4790997B2 (ja) |
KR (1) | KR100673717B1 (ja) |
TW (1) | TWI255344B (ja) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006053133A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-23 | Applied Materials Inc | Tft−lcdアレイテスト用の変更可能なプローバ |
JP2007271572A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Micronics Japan Co Ltd | 可動式プローブユニット及び検査装置 |
JP2007322428A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Applied Materials Inc | 大面積基板上での電子デバイス検査のためのプローバ |
JP2008122145A (ja) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 |
JP2008175628A (ja) * | 2007-01-17 | 2008-07-31 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
JP2008267873A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
JP2008286757A (ja) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Toshiba Teli Corp | プローブユニット |
JP2008304398A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Shimadzu Corp | 基板検査装置 |
WO2011158902A1 (ja) * | 2010-06-17 | 2011-12-22 | シャープ株式会社 | 点灯検査装置 |
CN103235163A (zh) * | 2013-03-28 | 2013-08-07 | 顺德中山大学太阳能研究院 | 一种探针间距可调测试太阳能电池接触电阻用测试探头 |
CN104103957A (zh) * | 2013-04-05 | 2014-10-15 | 莫列斯公司 | 连接器对接装置及用于电子装置的检查方法 |
JP2016164491A (ja) * | 2015-03-06 | 2016-09-08 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置検査用治具 |
KR101732629B1 (ko) | 2016-03-04 | 2017-05-04 | 가온솔루션 주식회사 | 멀티 프로브 검사기용 정렬장치 |
CN106771417A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-05-31 | 厦门宏发工业机器人有限公司 | 一种电子器件引脚的探针检测机构 |
CN109270421A (zh) * | 2017-07-17 | 2019-01-25 | 深圳市炫硕智造技术有限公司 | Led测试装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5491790B2 (ja) * | 2009-07-27 | 2014-05-14 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ装置 |
CN104102031A (zh) * | 2014-06-17 | 2014-10-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种探针器件和检测装置 |
KR102121887B1 (ko) * | 2020-04-03 | 2020-06-11 | 주식회사 케이에스디 | 유기발광 다이오드(oled) 패널 테스트용 가변 프로브 유닛 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08110363A (ja) * | 1994-10-11 | 1996-04-30 | Kobe Steel Ltd | フラットパネルの検査装置 |
JPH09251033A (ja) * | 1996-03-15 | 1997-09-22 | Sharp Corp | 液晶表示パネルの検査装置 |
JPH10160631A (ja) * | 1996-11-29 | 1998-06-19 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶パネルのアライメント装置 |
JPH10185956A (ja) * | 1996-12-25 | 1998-07-14 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット |
JPH1165475A (ja) * | 1997-08-22 | 1999-03-05 | Nec Corp | 表示パネル用プローブ装置およびプローブ位置決め方法 |
JPH1194906A (ja) * | 1997-09-19 | 1999-04-09 | Chuo Denshi System Kk | インサーキットテスタ |
JP2000180807A (ja) * | 1998-12-15 | 2000-06-30 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶基板の検査装置 |
JP2001074599A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-03-23 | Soushiyou Tec:Kk | フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体 |
JP2001074778A (ja) * | 1999-09-08 | 2001-03-23 | Micronics Japan Co Ltd | 電気接続装置 |
JP2002148280A (ja) * | 2000-11-08 | 2002-05-22 | Soushiyou Tec:Kk | 検査用プローブブロックの並列搭載ユニット |
JP2003255004A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Micronics Japan Co Ltd | 表示用基板検査用ソケット |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0782032B2 (ja) * | 1990-01-23 | 1995-09-06 | 株式会社日本マイクロニクス | 表示パネル用プローブとその組み立て方法 |
-
2004
- 2004-03-26 JP JP2004091046A patent/JP4790997B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2004-12-03 TW TW093137277A patent/TWI255344B/zh active
- 2004-12-22 KR KR1020040110241A patent/KR100673717B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08110363A (ja) * | 1994-10-11 | 1996-04-30 | Kobe Steel Ltd | フラットパネルの検査装置 |
JPH09251033A (ja) * | 1996-03-15 | 1997-09-22 | Sharp Corp | 液晶表示パネルの検査装置 |
JPH10160631A (ja) * | 1996-11-29 | 1998-06-19 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶パネルのアライメント装置 |
JPH10185956A (ja) * | 1996-12-25 | 1998-07-14 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット |
JPH1165475A (ja) * | 1997-08-22 | 1999-03-05 | Nec Corp | 表示パネル用プローブ装置およびプローブ位置決め方法 |
JPH1194906A (ja) * | 1997-09-19 | 1999-04-09 | Chuo Denshi System Kk | インサーキットテスタ |
JP2000180807A (ja) * | 1998-12-15 | 2000-06-30 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶基板の検査装置 |
JP2001074599A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-03-23 | Soushiyou Tec:Kk | フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体 |
JP2001074778A (ja) * | 1999-09-08 | 2001-03-23 | Micronics Japan Co Ltd | 電気接続装置 |
JP2002148280A (ja) * | 2000-11-08 | 2002-05-22 | Soushiyou Tec:Kk | 検査用プローブブロックの並列搭載ユニット |
JP2003255004A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Micronics Japan Co Ltd | 表示用基板検査用ソケット |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006053133A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-23 | Applied Materials Inc | Tft−lcdアレイテスト用の変更可能なプローバ |
JP2013210635A (ja) * | 2004-07-12 | 2013-10-10 | Applied Materials Inc | Tft−lcdアレイテスト用の変更可能なプローバ |
JP2007271572A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Micronics Japan Co Ltd | 可動式プローブユニット及び検査装置 |
JP2007322428A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Applied Materials Inc | 大面積基板上での電子デバイス検査のためのプローバ |
JP2008122145A (ja) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 |
JP2008175628A (ja) * | 2007-01-17 | 2008-07-31 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
JP2008267873A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
JP2008286757A (ja) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Toshiba Teli Corp | プローブユニット |
JP4625826B2 (ja) * | 2007-05-21 | 2011-02-02 | 東芝テリー株式会社 | プローブユニット |
JP2008304398A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Shimadzu Corp | 基板検査装置 |
JP5470456B2 (ja) * | 2010-06-17 | 2014-04-16 | シャープ株式会社 | 点灯検査装置 |
WO2011158902A1 (ja) * | 2010-06-17 | 2011-12-22 | シャープ株式会社 | 点灯検査装置 |
CN103235163A (zh) * | 2013-03-28 | 2013-08-07 | 顺德中山大学太阳能研究院 | 一种探针间距可调测试太阳能电池接触电阻用测试探头 |
CN104103957A (zh) * | 2013-04-05 | 2014-10-15 | 莫列斯公司 | 连接器对接装置及用于电子装置的检查方法 |
CN104103957B (zh) * | 2013-04-05 | 2017-06-16 | 莫列斯公司 | 连接器对接装置及用于电子装置的检查方法 |
JP2016164491A (ja) * | 2015-03-06 | 2016-09-08 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置検査用治具 |
KR101732629B1 (ko) | 2016-03-04 | 2017-05-04 | 가온솔루션 주식회사 | 멀티 프로브 검사기용 정렬장치 |
CN106771417A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-05-31 | 厦门宏发工业机器人有限公司 | 一种电子器件引脚的探针检测机构 |
CN106771417B (zh) * | 2017-02-28 | 2023-08-08 | 厦门宏发工业机器人有限公司 | 一种电子器件引脚的探针检测机构 |
CN109270421A (zh) * | 2017-07-17 | 2019-01-25 | 深圳市炫硕智造技术有限公司 | Led测试装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4790997B2 (ja) | 2011-10-12 |
KR100673717B1 (ko) | 2007-01-24 |
KR20050095539A (ko) | 2005-09-29 |
TW200532208A (en) | 2005-10-01 |
TWI255344B (en) | 2006-05-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4790997B2 (ja) | プローブ装置 | |
KR100707686B1 (ko) | 패널의 검사장치 | |
JP4634059B2 (ja) | プローブ組立体 | |
KR20010020825A (ko) | 평판 디스플레이 또는 프로브 블록의 지지틀 | |
KR20070087420A (ko) | 프로브 블록 및 그것을 갖는 프로브 어셈블리 | |
JP2006343269A (ja) | 検査装置 | |
US6577145B2 (en) | Unit with inspection probe blocks mounted thereon in parallel | |
JP4313565B2 (ja) | プローブ装置 | |
KR100340466B1 (ko) | 프로브 장치 | |
KR20100051269A (ko) | 탐침의 미세 위치 조정이 가능한 프로브 유닛 | |
JP4171148B2 (ja) | プローブ装置 | |
KR101168953B1 (ko) | 프로브 유닛 및 이것을 이용한 시험장치 | |
JP2008101938A (ja) | 検査装置 | |
JP4369201B2 (ja) | プローブ組立体 | |
JP5406790B2 (ja) | プローブユニット及びこれを用いる試験装置 | |
JP4443916B2 (ja) | プローブ装置 | |
JP2001074778A (ja) | 電気接続装置 | |
JP2002014047A (ja) | 表示用パネルの検査装置 | |
KR101123649B1 (ko) | 프로브 장치 | |
JP2008304257A (ja) | プローブユニット及び検査装置 | |
JP4053790B2 (ja) | 表示用基板検査用ソケット | |
JPH10333597A (ja) | 表示パネル検査装置 | |
CN220542964U (zh) | 点灯装置及全自动液晶屏幕检测设备 | |
JPH09127156A (ja) | 液晶表示体用プローブカード | |
JP2006138634A (ja) | 表示用パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070111 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070111 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090401 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091117 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091217 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101019 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101112 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110628 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110721 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140729 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4790997 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |