JP4634059B2 - プローブ組立体 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 195
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 17
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 17
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 17
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 18
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 11
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 11
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 10
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 8
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
12 表示用基板
14a,14b 被検査領域
16a,16b 電極群
20 フレーム
22 開口
24 フレーム本体
26 可動フレーム
26a 可動フレームの中間領域
32,34 プローブ取付板
36,38 プローブ組立体
50 プローブブロック
52 フラットケーブル
54 接続ブロック
56 支持ブロック
58 取付ブロック
62 位置決め具
64 ガイドブロック
66 プローブ
68 電気絶縁性ブロック
70 側板
72 取付バー
74 スリットバー
76 ガイドフィルム
78 コネクタ
79 位置決め穴
80 位置決めピン
81 ねじ穴
82,90,104,106 ねじ部材
84 突出部
86 ガイド部
88 ストッパピン
92 プッシャー
94 調整ねじ
98 リニアガイド
100 L型部材
102 板状ベース
110,112 第1及び第2の部材
116 結合ピン
118 弾性体
120 長尺部材
122 位置決め部材
Claims (6)
- 下方に突出する先端針先及び上方に突出する後端針先を有する複数のプローブを上下方向と交差する第1の方向に間隔をおいて前記上下方向及び前記第1の方向と交差する第2の方向へ伸びる状態に配置したプローブブロックと、
複数の配線を有するフラットケーブルと、
前記フラットケーブルの一端部が取り付けられた接続ブロックであって前記フラットケーブルをその前記配線が前記後端針先に接触した状態に前記プローブブロックに接続する接続ブロックと、
前記プローブブロックの上方にあって、該プローブブロックを支持する支持ブロックと、
前記プローブブロックを支持ブロックに取り付ける第1の結合部材と、
前記接続ブロックを前記プローブブロックの後端針先側の箇所に結合している第2の結合部材とを含み、
前記接続ブロックは、下方及び前方に向く逆L字状の段部を前端部に備え、前記プローブブロックは、上方及び後方に向くL字状の段部を後端部に備え、前記プローブブロック及び前記接続ブロックは両段部を対向させた状態に結合されている、プローブ組立体。 - さらに、前記プローブの配列方向に伸びる状態に前記プローブブロックの先端部及び後端部に配置された一対のガイドバーを含み、各ガイドバーは、下方に開放する複数の溝であって前記第1の方向に間隔をおいて前記第2の方向へ伸びる複数の溝を備え、前記プローブの先端針先及び後端針先は前記溝に配置されている、請求項1に記載のプローブ組立体。
- さらに、前記プローブブロック及び前記接続ブロックのいずれか一方に備えられた位置決めピンであって前記プローブブロック及び前記接続ブロックの他方に備えられた位置決め穴に嵌合された位置決めピンを含む、請求項1から2のいずれか1項に記載のプローブ組立体。
- さらに、前記フラットケーブルに取り付けられたガイドフィルムを含み、
前記ガイドフィルムは、前記後端針先を個々に受け入れて前記配線の一端部と前記後端針先とを接触させるべく前記第1の方向に間隔をおいた複数のガイド穴を備える、請求項1から3のいずれか1項に記載のプローブ組立体。 - 前記支持ブロック及び前記プローブブロックの一方は前記プローブの長手方向へ伸びる溝を備え、
前記支持ブロック及び前記プローブブロックの他方は前記溝に嵌合される凸部を備える、請求項1から4のいずれか1項に記載のプローブ組立体。 - さらに、前記支持ブロックを検査装置に取り付ける取付ブロックを含み、
前記取付ブロックと前記支持ブロックとは、前記上下方向に相対的移動可能に組み合わされていると共に、ねじにより結合されており、前記支持ブロックは、弾性部材により前記取付ブロックに対し、下方に付勢されている、請求項5に記載のプローブ組立体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004091047A JP4634059B2 (ja) | 2004-03-26 | 2004-03-26 | プローブ組立体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004091047A JP4634059B2 (ja) | 2004-03-26 | 2004-03-26 | プローブ組立体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005274488A JP2005274488A (ja) | 2005-10-06 |
JP4634059B2 true JP4634059B2 (ja) | 2011-02-16 |
Family
ID=35174304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004091047A Expired - Lifetime JP4634059B2 (ja) | 2004-03-26 | 2004-03-26 | プローブ組立体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4634059B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4989911B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2012-08-01 | 株式会社日本マイクロニクス | 可動式プローブユニット及び検査装置 |
JP4758826B2 (ja) * | 2006-05-30 | 2011-08-31 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブユニット及び検査装置 |
JP5209215B2 (ja) | 2007-01-17 | 2013-06-12 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブユニット及び検査装置 |
KR100833813B1 (ko) | 2007-04-13 | 2008-05-30 | 나노세미텍(주) | 이방성 실리콘커넥터와 탈부착식 조인트플레이트를 갖는일체형 프로브블록 |
JP5491790B2 (ja) * | 2009-07-27 | 2014-05-14 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ装置 |
JP5406790B2 (ja) * | 2009-08-04 | 2014-02-05 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブユニット及びこれを用いる試験装置 |
JP5690105B2 (ja) * | 2009-11-26 | 2015-03-25 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ装置 |
KR102127728B1 (ko) * | 2019-02-14 | 2020-06-29 | (주)티에스이 | 개선된 그립핑 구조를 가지는 프로브 핀 |
KR102081609B1 (ko) * | 2019-04-17 | 2020-02-26 | 우리마이크론(주) | 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비 |
WO2020213901A1 (ko) * | 2019-04-17 | 2020-10-22 | 우리마이크론(주) | 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH10132853A (ja) * | 1996-10-28 | 1998-05-22 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体およびプローブ |
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-
2004
- 2004-03-26 JP JP2004091047A patent/JP4634059B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005274488A (ja) | 2005-10-06 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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