JP2001337111A - プローブシート及びこれを用いたプローブ装置 - Google Patents
プローブシート及びこれを用いたプローブ装置Info
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Abstract
調整し得ること 【解決手段】 プローブシートは、ガラス板に、複数の
配線を第1の方向に間隔をおいて第1の方向と交差する
第2の方向へ伸びる状態に形成すると共に、複数のアラ
イメントマークを第1の方向に間隔をおいて形成し、各
配線に被検査体の電極に接触される接触部を形成してい
る。
Description
回路等の平板状被検査体の検査に用いるプローブシート
及びプローブ装置に関し、特に液晶パネルの検査に好適
なプローブシート及びプローブ装置に関する。
体は、一般に、プローブカードのようなプローブ装置を
用いて検査される。この種のプローブ装置の1つとし
て、互いに平行に伸びる複数の配線を電気絶縁性のフィ
ルム又はガラス板の一方の面に形成し、各配線の一部を
被検査体の電極への接触部として利用するプローブシー
トを用いるものがある。そのようなプローブシートは、
平坦であることから、面プローブとも称されている。
金属細線から形成されたプローブを用いたニードルタイ
プのプローブ装置や、ブレード状のプローブを用いたブ
レードタイプのプローブ装置に比べ、針立て作業が不要
であることから、製作が容易で、廉価になる。
種々提案され、実用に供されている。そのようなプロー
ブ装置は、一般に、1以上のプローブシートを基板に組
み付けている。また、被検査体の大きさ、被検査体の電
極数、電極の配置ピッチ等は被検査体の種類に応じて異
なることから、被検査体の種類に応じたプローブ装置が
検査装置に組み付けられる。
では、プローブ装置が検査装置に正しく組み付けられて
いない場合や、プローブ装置又はプローブシートが熱伸
縮をした場合に、検査装置に対するプローブ要素(特
に、接触部)の座標位置が不正確になり、その結果プロ
ーブ要素が被検査体の電極に正しく接触せず、正しい検
査(試験)をすることができない。
装置においては、検査装置に対する接触部の位置を容易
に調整し得ることが重要である。
トは、ガラス板と、該ガラス板に第1の方向に間隔をお
いて該第1の方向と交差する第2の方向へ伸びる状態に
形成された複数の配線であって被検査体の電極に接触さ
れる接触部を備える配線と、前記第1の方向に間隔をお
いて前記ガラス板に形成された複数のアライメントマー
クとを含む。
ートと、該プローブシートが装着された下面を有する取
付部を備えるプローブホルダと、複数のテレビカメラと
を含む。前記プローブシートは、ガラス板と、該ガラス
板に第1の方向に間隔をおいて該第1の方向と交差する
第2の方向へ伸びる状態に形成された複数の配線であっ
て被検査体の電極に接触される接触部を備える配線と、
前記第1の方向に間隔をおいて前記ガラス板に形成され
た複数のアライメントマークであって前記テレビカメラ
により撮影されるアライメントマークとを含む。
用いたプローブ装置が検査装置に組み付けられた状態に
おいて、プローブ装置のテレビカメラにより撮影され
る。検査装置上におけるアライメントマークの座標位置
は、テレビカメラの出力信号を用いて求められる。求め
た座標位置は、検査用ソフトウエアにおける座標位置の
調整に用いられる。これにより、検査装置に対する接触
部の位置が調整される。
部材としてガラス板を用い、複数のアライメントマーク
をガラス板に第1の方向に間隔をおいて形成したから、
検査装置に対する接触部の位置を容易に調整することが
できる。
の突起電極を含むことができる。そのようにすれば、配
線を被検査体の電極に接触させることなく、突起電極を
被検査体の電極に確実に接触させることができる。
の突起電極であって前記配線からの突出量が異なる複数
の突起電極を含むことができる。そのようにすれば、突
出量の大きい突起電極に摩耗が生じると、突出量の小さ
い突起電極が被検査体の電極に接触するようになるか
ら、プローブシートの寿命が長くなる。
手方向に間隔をおいていることができる。そのようにす
れば、突出量の大きい突起電極に摩耗が生じると、突出
量の小さい突起電極が被検査体の電極に確実に接触す
る。
成されており、プローブシートは、さらに、前記ガラス
板の他方の面を覆う樹脂層を含むことができる。そのよ
うにすれば、ガラス板が樹脂層により補強される。
り、前記配線が前記矩形の対向する一対の縁部の一方か
ら他方へ伸びており、前記接触部は前記配線の一端部に
形成されており、前記プローブシートは前記接触部の部
位を前記第2の方向における前記プローブホルダの一端
部から突出させており、前記ガラス板及び前記配線を透
明とすることができる。そのようにすれば、プローブホ
ルダからのプローブシートの突出領域を介してプローブ
シートの配線と被検査体の電極との位置関係を確認する
ことができる。
置箇所を被検査体の電極に向けて変位させる力を前記プ
ローブシートに作用させる押圧機構を備えることができ
る。そのようにすれば、プローブシートの接触部と被検
査体の電極とが相対的に押圧されたとき、プローブシー
トの接触部の配置領域がその後方の領域に対し大きく曲
げられることが防止される。
ルダが着脱可能に配置されたプローブベースと、前記第
2の方向における一端部及び他端部を有するアームであ
って前記他端部が前記プローブベースの上側となる状態
に及び前記第1の方向へ伸びる軸線の周りに枢軸運動可
能に前記他端部において前記プローブベースに結合され
たアームを含み、前記押圧機構は前記アームの一端部に
配置されていることができる。そのようにすれば、プロ
ーブベースに対するプローブホルダの着脱時、アームを
プローブホルダの着脱の妨げにならない位置に変位させ
ることができる。
ルダに配置されたタブであって前記プローブシートの配
線に接続された集積回路を備えるタブと、前記集積回路
を介して前記プローブシートの配線に接続された複数の
第2の配線を備えるフラットケーブルとを含むことがで
きる。そのようにすれば、プローブシートが配線をガラ
ス板に形成していることとあいまって、タブとフラット
ケーブルとを熱圧着することができるのみならず、プロ
ーブシートとタブとを熱圧着することができる。
ーブ装置10は、一部を図3及び図4に示す液晶パネル
12の検査装置、特に点灯すなわち通電検査装置にプロ
ーブユニットとして用いられる。本発明においては、液
晶パネル12側を前方といい、それと反対側を後方とい
う。
り、また帯状をした複数の電極14(図3及び図6参
照)を長方形の1以上の辺に対応する縁部に所定のピッ
チで形成している。このため、検査装置は、電極が設け
られた液晶パネル12の縁部毎に図示のような1以上の
プローブ装置10を備えている。液晶パネル12は、ま
た、十字状のアライメントマーク16(図5参照)を電
極の配列方向(第1の方向)における各端部に有する。
0を含む。プローブブロック20は、図示の例では、プ
ローブシート22と、プローブシート22に接続された
複数の第1の接続シート24と、各第1の接続シート2
4に接続された第2の接続シート26と、それらシート
22,24及び26が装着されたプローブホルダ28と
により形成されている。
方向)に間隔をおいて前後方向(第2の方向)へ伸びる
複数の配線30を印刷配線技術によりガラス板32の一
方の面に形成したフィルム状プローブユニット(面プロ
ーブ)である。プローブシート22は、平面的にみて配
線30の配列方向(第1の方向)に長い長方形の形状を
有する。図示の例では、液晶パネル12の1つの縁部に
設けられた電極の数と同数の配線30がガラス板32に
形成されている。
ガラス板32の幅方向(前後方向=第2の方向)におけ
る一端(前端)から他端(後端)まで伸びている。配線
30の配列ピッチは、液晶パネル12の電極の配列ピッ
チと同じである。各配線30は、インジウムとすずとの
合金酸化膜(ITO)のような透明電極とすることがで
きる。配線30は、第1の接続シート24に対応された
複数の配線群に分けられており、配線群毎に対応する第
1の接続シート24に接続されている。
に間隔をおいた複数の接触子34を各配線30の前端部
に有する。各接触子34は、ニッケルのような導電性金
属材料から形成されており、また図示の例では角錐状の
突起電極である。各配線30からの接触子34の突出高
さは、図6に示すように互いに異なる。
基板と同様に、透明な強化ガラスから形成されており、
また他方の面をポリイミドのような透明の樹脂層36に
より覆われている。この樹脂層36により、ガラス板3
2の破損が防止され、プローブシート22が補強されて
いる。
トマーク38を長手方向(第1の方向)の各端部に有す
る。アライメントマーク38は、後に説明するテレビカ
メラ40(図5参照)により撮影可能である。液晶パネ
ル12に設けられたアライメントマーク16も、テレビ
カメラ40により撮影可能である。
の配線42及び44を印刷配線技術によりポリイミドの
ような電気絶縁性フィルム46の一方の面に形成したタ
ブ(TAB=テープ自動化実装)であり、また配線4
2,44に電気的に接続された駆動用集積回路48を一
方の面に有する。
プローブシート22の配線30に一対一の形に対応され
ており、対応する配線30の後端部に電気的に接続され
ている。集積回路48は、液晶パネル12の駆動に用い
られ、駆動用制御信号を配線44から受けて、駆動信号
を配線42に出力する。プローブシート22と第1の接
続シート24とは、加熱圧着、接着等の適宜な手法によ
り接合することができる。
の配線50を印刷配線技術によりポリイミドのような電
気絶縁性フィルム52の一方の面に形成したフレキシブ
ル印刷配線板(FPC)又はフラットケーブル(FF
C)である。各第2の接続シート26の各配線50は、
第1の接続シート24の配線44に一対一の形に対応さ
れており、対応する配線44の後端部に電気的に接続さ
れている。第1及び第2の接続シート24及び26も、
加熱圧着、接着等の適宜な手法により接合することがで
きる。
2の長手方向(第1の方向)に長い厚板状のブロックで
あり、電気絶縁材料から形成されている。シート22,
24,26は、プローブホルダ28の下面に配置され
て、接着、ねじ止め等の適宜な手法によりプローブホル
ダ28に装着されている。
領域がプローブホルダ28から液晶パネル12側(前
方)に突出し、アライメントマーク38の形成箇所がプ
ローブホルダ28から第1の方向に突出し、樹脂層36
がプローブホルダ28側となる状態に、プローブホルダ
28に装着されている。
及び集積回路48がプローブホルダ28側下側となる状
態に、フィルム46においてプローブホルダ28に装着
されている。第2の接続シート26は、フィルム52が
プローブホルダ28側となる状態に、フィルム52にお
いてプローブホルダ28に装着されている。配線30,
42の電気的接続及び配線44,50の電気的接続は、
配線同士を直接接触させることにより行ってもよいし、
導電性部材を介して行ってもよい。
るガラス板32の部位及び接触子34は、プローブ要素
として作用する。したがって、プローブシート22の前
端部、特に接触子34が形成された領域は、プローブ領
域として作用し、またプローブホルダ28から前方へ突
出されている。
4(図3参照)により板状のプローブベース56の下面
に組み付けられている。プローブベース56は、検査装
置のフレーム(図示せず)に組み付けられる。
ス56に連結されたアーム58と、アーム58の前端部
に配置されてプローブシート22の前端部を下方へ押す
る押圧機構60と、押圧機構60がプローブシート22
を押圧している状態に解除可能にアーム58を維持する
複数のねじ部材62とを含む。プローブシート22の前
端部は押圧機構60からさらに前方へ突出されている。
向(第2の方向)における一端部(前部)及び他端部
(後部)によりほぼへ字状の形をしており、また第1の
方向へ伸びる枢軸64と第1の方向へ間隔をおいた一対
のブラケット66とにより他端部においてプローブベー
ス56に結合されている。
及びプローブベース56の前側を斜め上下方向へ伸びて
おり、またアーム58の他端部はプローブベース56の
上側に位置している。ブラケット66は、プローブベー
ス56に設けられている。ねじ部材62は、プローブベ
ース56に形成されたねじ穴に螺合されている。
は、アーム58の前端部下側に配置された角柱状のベー
ス部材68と、アーム58の前端部を上下方向に貫通し
てベース部材68に螺合する1以上の調整ねじ70と、
アーム58とベース部材68との間に配置されてベース
部材68をアーム58に対し下方へ付勢する一対以上の
第1の弾性体72と、ベース部材68の下面に配置され
てプローブシート22の前端部上面に接触する第2の弾
性体74と、調整ねじ70を間にして左右方向に間隔を
おいて上下方向へ伸びる一対以上のガイドピン76とを
備える。
対の第1の弾性体72と、三対のガイドピン76とが備
えられている。第1の弾性体72は、ガイドピン76毎
に備えられている。調整ねじ70は、接触子34が電極
14に押圧されない状態において、プローブシート22
を変形させないように、調整されている。
り、また調整ねじ70及びガイドピン76によりアーム
58に上下方向へ移動可能に組み付けられている。ガイ
ドピン76は、アーム58及びベース部材68のいずれ
か一方に支持されていると共にアーム58及びベース部
材68の他方に上下方向へ相対的移動可能に受け入れら
れており、また第1の弾性体72を貫通して伸びてい
る。
イルばねであるが、ゴムのような他の部材であってもよ
い。第2の弾性体74は、シリコーンゴムのような弾性
材料により厚い板状に形成されており、またベース部材
68に第1の方向へ伸びる状態に組み付けられている。
6,38は、プローブ装置10と液晶基板12との位置
関係が正し場合に一致する位置に形成されている。アラ
イメントマーク16と電極14とは、それらが所定の位
置関係を有するように、形成されている。同様に、アラ
イメントマーク38と配線30(特に、接触子34)と
は、それらが所定の位置関係を有するように、形成され
ている。
アライメントマーク16,38の対毎に備えられてお
り、また鏡筒80を介してアライメントマーク16,3
8を選択的に又は同時に撮影するように、プローブベー
ス56に配置されている。
8に装着された状態において、アライメントマーク38
がプローブホルダ28及び押圧機構60により隠蔽され
ないように、アライメントマーク38の位置をプローブ
ホルダ28及び押圧機構60から第1の方向に突出させ
ており、また前端部を押圧機構60から前方に突出させ
ている。
を用いる検査装置とのアライメントが行われる。このア
ライメントは、例えば、先ずプローブ装置10が検査装
置に組み付けられた状態において、プローブシート22
のアライメントマーク38をテレビカメラ40により撮
影し、次いでテレビカメラ40の出力信号を基に検査装
置上におけるアライメントマーク38の座標位置を求
め、次いで求めた座標位置を基に検査用ソフトウエアに
おけるアライメントマーク38の座標位置調整又は変更
することにより、行うことができる。これにより、検査
用ソフトウエアにおける検査装置に対する接触子34の
座標位置が見かけ上修正される。
アライメントは、検査装置に組み付けるプローブ装置1
0を交換したとき、一定期間毎、液晶パネルの検査毎
等、所定の機会に行われる。しかし、検査装置に対する
接触子34の位置は、上記のようにアライメントマーク
38を利用して、容易に調整することができる。
って、プローブ装置10に対する液晶パネル12のアラ
イメントが行われる。このアライメントは、アライメン
トマーク16,38を交互に撮影しつつ、アライメント
マーク16,38の位置がテレビカメラ40により撮影
した画像内において一致するように、液晶パネル12を
プローブシート22に対して二次元的に移動させことに
より、行うことができる。このアライメントは、液晶基
板12を交換するたびに行われる。
ル12とが相寄る方向へ相対的に移動される。これによ
り、図6(A)に示すように、1以上の接触子34が液
晶パネル12の電極14に接触される。この時点におい
ては、プローブシート22は液晶パネル12に対しわず
かに傾いており、1又はそれ以上の接触子34は電極に
接触していない。しかし、接触子34が配線30の下方
から突出しているから、接触子34は電極14に接触す
るが,配線30は電極に接触しない。
2とがさらに相寄る方向へ相対的に移動される。これに
より、図6(B)に示すように、プローブシート22の
上方への湾曲が押圧機構60により阻止された状態で、
オーバードライブがプローブシート22の先端部すなわ
ちプローブ領域に作用するから、プローブシート22が
弾性体72の力に抗してわずかに弾性変形し、1以上の
接触子34が電極14に押圧される。
ネル12の電極14に押圧されたとき、アーム58及び
押圧機構60は、プローブシート22の前端部(接触子
34の配置領域)がその後方の領域に対し大きく曲げら
れることを防止する。また、プローブシート22の接触
子34が液晶パネル12の電極14に押圧されたとき、
弾性体74が弾性変形するから、接触子34と電極14
との間の接触圧(針圧)が大きくなる。
より湾曲されると、1以上の接触子34は電極14に接
触している状態で電極14に対し滑る。これにより、電
極14の表面の酸化膜が掻き取られ、電極14と接触子
34との間の電気的接続状態が良好になる。
寄る方向へ相対的に移動させるとき、プローブシート2
2の突出領域を介してプローブシート22の配線30と
液晶パネル12の電極14との位置関係を肉眼で又は適
宜なテレビカメラを用いて確認することができる。
晶パネル12の検査が行われる。検査が終了すると、プ
ローブ装置10と液晶パネル12との相対的な押圧が解
除され、これによりプローブシート22の前端部は元の
形状に戻る。
(C)に示すように、配線30からの突出量の大きい接
触子34が摩耗し、配線30からの突出量の小さい接触
子34が配線30に接触し始める。このため、いずれか
の接触子34が電極14に確実に接触し、プローブシー
ト22の寿命が長くなる。
透明であると、液晶パネル12をプローブシート22に
対し位置決めるとき、プローブシート22の配線30と
液晶パネル12の電極14との位置関係を、プローブホ
ルダ28及び押圧機構60から前方へ突出するプローブ
シート22の前端部を通して確認することができる。ま
た、液晶パネル12のアライメントマーク16を、プロ
ーブホルダ28及び押圧機構60から第1の方向へ突出
するプローブシート22の領域を通して確認することが
できるし、テレビカメラ40により撮影することができ
る。
6から外すときは、先ずねじ部材62がプローブベース
56から外され、次いでねじ部材54の頭部が上方に露
出する位置までアーム58が立ち上げられ、次いで、プ
ローブブロック20がプローブブロック20から取り去
られる。
6に装着するときは、プローブブロック20が上記のよ
うにプローブベース56から外され、次いでねじ部材5
4が新たなプローブブロック20にねじ込まれ、次いで
アーム58が下げられ、ねじ部材62がプローブベース
56にねじ込まれる。
ース56に装着された状態において、押圧機構60の弾
性体74は、プローブシート22の先端部に当接してお
り、また押圧機構60によるプローブシート22の押圧
力が調整ねじ70により調整調整される。その後、新た
なプローブブロック20のアライメントマーク38を利
用するアライメントが行われる。
めをすることにより、プローブブロック20をプローブ
ベース56に対し着脱することができると、プローブベ
ース56へのプローブブロック20の着脱作業が容易に
なる。また、アーム58を上げた状態で、プローブベー
ス56に対するプローブブロック20の着脱作業を行う
ことができると、アーム58及び押圧機構60はプロー
ブブロック20の着脱の妨げにならない。
らなるプローブ要素群(プローブ領域)を区画するスリ
ット78をガラス板32及び樹脂層36に形成してもよ
い。また、接触子34は、半球状、短い円柱状、短い多
角柱状、直方体状、リング状等、他の形状を有する電極
であってもよい。
ート22は、隣り合うプローブ要素が分離されていない
から、プローブ領域が変形する際、プローブ要素の左右
方向への変位を弾性体74により阻止される。
は、隣り合うプローブ領域がスリット78により分離さ
れているから、プローブシート22のプローブ領域が弾
性変形するとき、隣り合うプローブ領域が独立して変形
する。この際、各プローブ要素は、弾性体74の対応す
る箇所を圧縮変形させつつ、弾性変形するから、プロー
ブ要素の第1の方向への変位を、隣り合うプローブ要素
の先端が切り離されていないことと相まって、弾性体7
4により阻止される。
22が液晶パネル12の1つの縁部に形成された電極1
4と同数の配線30を有するから、検査装置は、電極1
4が設けられた液晶パネル12の各縁部に1つのプロー
ブ装置10が配置される。
成された電極14の数より少ない複数の配線(例えば、
1つの第1の接続シート24に接続された配線)を備え
るプローブシートとし、そのようなプローブシートを用
いた複数のプローブ装置10を電極14が設けられた液
晶パネル12の縁部に配置してもよい。この場合、複数
のプローブ装置10は、図8に示すように、共通のプロ
ーブベース56に装着することができる。
ック20とプローブベース56とを機械的に位置決める
ストッパ及びこれが当接するストッパ面をプローブブロ
ック20及びプローブベース56に設けておくことが好
ましい。
実施例のように押圧機構60から前方へ突出させるなら
ば、上記したように、プローブシート22の配線30と
液晶パネル12の電極14との位置関係をプローブシー
ト22の前端部を通して確認することができる、という
利点を得ることができる。しかし、プローブシート22
の前端部をそのように突出させなくてもよい。
のフィルムに比べ、温度変化、経時変化、環境変化等に
よる寸法変化が著しく小さい。そのようなガラス板32
を用いたプローブシート22は、配線の配列ピッチ、ア
ライメントマークと配線との相対的位置関係等、各種の
寸法が長期間安定である。また、プローブシート22と
接続シート24とを加熱圧着により接合しても、それに
よる寸法変化はほとんど生じない。
プローブシート及びプローブ装置に適用すると、ガラス
板32として、液晶パネル12のガラス基板と同じ材質
で同じ性状を有するガラス板とすることにより、温度変
化のような環境変化に対する変形量が液晶パネル12の
ガラス基板とガラス板32とで同じになる、という利点
を有し、好適である。しかし、本発明は、集積回路のよ
うな他の平板状被検査体の検査に用いるプローブシート
及びプローブ装置にも適用することができる。
プローブシート及びプローブ装置のみならず、斜めに傾
斜された被検査体用のプローブシート及びプローブ装置
にも適用することができる。後者の場合、上下方向は斜
めの方向となる。
発明は、その趣旨を逸脱しない限り、種々変更すること
ができる。
斜視図
平面図
面図
視図
Claims (12)
- 【請求項1】 ガラス板と、該ガラス板に第1の方向に
間隔をおいて該第1の方向と交差する第2の方向へ伸び
る状態に形成された複数の配線であって被検査体の電極
に接触される接触部を備える配線と、前記第1の方向に
間隔をおいて前記ガラス板に形成された複数のアライメ
ントマークとを含む、プローブシート。 - 【請求項2】 前記接触部は前記配線から突出する1以
上の突起電極を含む、請求項1に記載のプローブシー
ト。 - 【請求項3】 前記接触部は、前記配線から突出する複
数の突起電極であって前記配線からの突出量が異なる複
数の突起電極を含む、請求項1又は2に記載のプローブ
シート。 - 【請求項4】 各配線の前記突起電極は対応する配線の
長手方向に間隔をおいている、請求項3に記載のプロー
ブシート。 - 【請求項5】 前記ガラス板は矩形の平面形状を有して
おり、 前記配線は前記矩形の対向する一対の縁部の一方から他
方へ伸びており、 前記接触部は前記配線の一端部に形成されている、請求
項1から4のいずれか1項に記載のプローブシート。 - 【請求項6】 前記ガラス板及び前記配線は透明であ
る、請求項5に記載のプローブシート。 - 【請求項7】 前記接触部は前記ガラス板の一方の面に
形成されており、 プローブシートは、さらに、前記ガラス板の他方の面を
覆う樹脂層を含む、請求項1から5のいずれか1項に記
載のプローブシート。 - 【請求項8】 プローブシートと、該プローブシートが
装着されたプローブホルダと、複数のテレビカメラとを
含み、 前記プローブシートは、ガラス板と、該ガラス板に第1
の方向に間隔をおいて該第1の方向と交差する第2の方
向へ伸びる状態に形成された複数の配線であって被検査
体の電極に接触される接触部を備える配線と、前記第1
の方向に間隔をおいて前記ガラス板に形成された複数の
アライメントマークであって前記テレビカメラにより撮
影されるアライメントマークとを含む、プローブ装置。 - 【請求項9】 前記ガラス板は矩形の平面形状を有して
おり、 前記配線は前記矩形の対向する一対の縁部の一方から他
方へ伸びており、 前記接触部は前記配線の一端部に形成されており、 前記プローブシートは前記接触部の部位を前記第2の方
向における前記プローブホルダの一端部から突出させて
おり、 前記ガラス板及び前記配線は透明である、請求項8に記
載のプローブ装置。 - 【請求項10】 前記プローブ装置は、さらに、前記接
触部の配置箇所を被検査体の電極に向けて変位させる力
を前記プローブシートに作用させる押圧機構を備える、
請求項8又は9に記載のプローブ装置。 - 【請求項11】 さらに、前記プローブホルダが着脱可
能に配置されたプローブベースと、前記第2の方向にお
ける一端部及び他端部を有するアームであって前記他端
部が前記プローブベースの上側となる状態に及び前記第
1の方向へ伸びる軸線の周りに枢軸運動可能に前記他端
部において前記プローブベースに結合されたアームとを
含み、前記押圧機構は前記アームの一端部に配置されて
いる、請求項10に記載のプローブ装置。 - 【請求項12】 さらに、前記プローブホルダに配置さ
れたタブであって前記プローブシートの配線に接続され
た集積回路を備えるタブと、前記集積回路を介して前記
プローブシートの配線に接続された複数の第2の配線を
備えるフラットケーブルとを含む、請求項8から11の
いずれか1項に記載のプローブ装置。
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005189026A (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
JP2005274488A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
US7145171B2 (en) | 2003-05-01 | 2006-12-05 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | Probe unit and its manufacturing method |
JP2007010671A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Feinmetall Gmbh | 被験体を電気的に検査する方法および装置ならびに検査時に使用される接触装置の製造方法 |
JP2007205731A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Optnics Precision Co Ltd | 検査、測定用プローブ |
WO2011129557A2 (ko) * | 2010-04-14 | 2011-10-20 | 주식회사 프로이천 | 엘씨디 패널 검사용 프로브 시트 및 이를 갖는 프로브 유닛, 엘씨디 패널 검사용 프로브 시트 제조 방법 |
KR200456800Y1 (ko) | 2010-09-13 | 2011-11-21 | 주식회사 프로이천 | 과전류차단용 서브피씨비를 가지는 프로브 장치 |
JP2011237405A (ja) * | 2010-05-06 | 2011-11-24 | Di Probe Co Ltd | ディスプレーパネル検査用プローブブロック及びプローブユニット |
JP2013200256A (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
KR101420076B1 (ko) | 2014-06-03 | 2014-08-14 | 김재길 | Pcb 직결식 프로브 카드 |
-
2000
- 2000-05-30 JP JP2000160284A patent/JP4455733B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7145171B2 (en) | 2003-05-01 | 2006-12-05 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | Probe unit and its manufacturing method |
JP2005189026A (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
JP2005274488A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
JP4634059B2 (ja) * | 2004-03-26 | 2011-02-16 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
JP2007010671A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Feinmetall Gmbh | 被験体を電気的に検査する方法および装置ならびに検査時に使用される接触装置の製造方法 |
JP2007205731A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Optnics Precision Co Ltd | 検査、測定用プローブ |
WO2011129557A2 (ko) * | 2010-04-14 | 2011-10-20 | 주식회사 프로이천 | 엘씨디 패널 검사용 프로브 시트 및 이를 갖는 프로브 유닛, 엘씨디 패널 검사용 프로브 시트 제조 방법 |
WO2011129557A3 (ko) * | 2010-04-14 | 2012-01-26 | 주식회사 프로이천 | 엘씨디 패널 검사용 프로브 시트 및 이를 갖는 프로브 유닛, 엘씨디 패널 검사용 프로브 시트 제조 방법 |
CN102859371A (zh) * | 2010-04-14 | 2013-01-02 | 普罗-2000有限公司 | 用于lcd面板检测的探针板、包括该探针板的探针单元、以及制造该用于lcd面板检测的探针板的方法 |
CN102859371B (zh) * | 2010-04-14 | 2014-12-17 | 普罗-2000有限公司 | 用于lcd面板检测的探针板、探针单元及制造探针板的方法 |
TWI513983B (zh) * | 2010-04-14 | 2015-12-21 | Pro 2000 Co Ltd | 用於測試lcd面板之探針片、具有該探針片之探針單元及該探針片之製造方法 |
JP2011237405A (ja) * | 2010-05-06 | 2011-11-24 | Di Probe Co Ltd | ディスプレーパネル検査用プローブブロック及びプローブユニット |
KR200456800Y1 (ko) | 2010-09-13 | 2011-11-21 | 주식회사 프로이천 | 과전류차단용 서브피씨비를 가지는 프로브 장치 |
JP2013200256A (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
KR101420076B1 (ko) | 2014-06-03 | 2014-08-14 | 김재길 | Pcb 직결식 프로브 카드 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP4455733B2 (ja) | 2010-04-21 |
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