JP2002014047A - 表示用パネルの検査装置 - Google Patents

表示用パネルの検査装置

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JP2002014047A
JP2002014047A JP2000194613A JP2000194613A JP2002014047A JP 2002014047 A JP2002014047 A JP 2002014047A JP 2000194613 A JP2000194613 A JP 2000194613A JP 2000194613 A JP2000194613 A JP 2000194613A JP 2002014047 A JP2002014047 A JP 2002014047A
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裕 小坂
Shinji Fujiwara
慎治 藤原
Isao Ueki
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 表示用パネルと直交する方向における検
査ステージの高さ寸法を可能な限り小さくすること 【解決手段】 検査装置は、本体と、仮想的な四角形の
少なくとも2つの辺に個々に対応された少なくとも2つ
のプローブユニットであって対応する辺に沿って伸びる
板状のプローブベース及び該プローブベースに配置され
た複数のプローブブロックをそれぞれ備えるプローブユ
ニットと、該プローブユニットに個々に対応され、対応
するプローブユニットを検査すべき表示用パネルと交差
する第1の方向へ移動させる少なくとも2つの移動装置
とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルの
ような表示用パネルの通電試験を行う検査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】四角形の隣り合う2つの辺に対応する縁
部のそれぞれに複数の電極を配置した液晶表示パネルの
ような表示用パネルは、一般に、仕様書通りに製造され
たか否かの通電試験をされる。この種の通電試験は、一
般に、表示用パネルの電極に押圧される接触子を有する
複数のプローブを備えた1以上のプローブユニットと、
検査すべき表示用パネルを受ける検査ステージ(測定ス
テージ)とを本体に配置した検査装置(プローバ)を用
いて行われる。
【0003】プローブユニットは、先端を接触子とする
ポゴピンタイプのプローブ、針先を接触子とするニード
ルタイプ又はブレードタイプのプローブ(プローブ
針)、若しくは、電気絶縁性のフィルムの一方の面に形
成された複数の配線の先端部又はこの先端部に形成され
た突起電極を接触子とするフィルムタイプのプローブ
(プローブ要素)をプローブとして用いている。
【0004】本体は、表示用パネルの検査(測定)をす
る検査部(測定部)と、検査ステージに対する前記表示
用パネルの受け渡しをするローダ部とを備える。検査ス
テージは、検査部とローダ部とに移動可能である。プロ
ーブユニットは、検査部に配置されて、複数のねじ部材
により本体に移動不能に装着されている。
【0005】検査ステージは、受けた表示用パネルをこ
れと平行の面内で二次元的(X及びY方向)に移動させ
ると共に、表示用パネルと直交する方向(Z方向)へ伸
びる軸線の周りに角度的に回転させる。これにより、表
示用パネルは、その電極をプローブの接触部に正しく位
置決められる。
【0006】検査ステージは、また、受けた表示用パネ
ルをこれと直交する方向へ移動させる。これにより、表
示用パネルは、その電極をプローブの接触子に押圧され
ることにより、プローブにオーバードライブを作用さ
せ、その状態で通電試験をされ、その後電極をプローブ
から離される。
【0007】
【解決しようとする課題】しかし、従来の検査装置で
は、表示用パネルとプローブユニットとを表示用パネル
と直交する方向へ相対的に移動させる機構を検査ステー
ジに設けているから、表示用パネルと直交する方向にお
ける検査ステージの高さ寸法が大きく、その結果プロー
ブユニットに対する表示用パネルの位置が不安定であ
る。
【0008】それゆえに、表示用パネルの検査装置にお
いては、表示用パネルと直交する方向における検査ステ
ージの高さ寸法を可能な限り小さくすることが望まし
い。
【0009】
【解決手段、作用及び効果】本発明に係る検査装置は、
本体と、仮想的な四角形の少なくとも2つの辺に個々に
対応された少なくとも2つのプローブユニットであって
対応する辺に沿って伸びる板状のプローブベース及び該
プローブベースに配置された複数のプローブブロックを
それぞれ備えるプローブユニットと、該プローブユニッ
トに個々に対応され、対応するプローブユニットを検査
すべき表示用パネルと交差する第1の方向へ移動させる
少なくとも2つの移動装置とを含む。
【0010】通電試験時、表示用パネルの電極がプロー
ブユニットに設けられたプローブの接触子に対し所定の
状態に位置決められた状態において、各プローブユニッ
トが第1の方向に移動されて、表示用パネルの電極とプ
ローブの接触子とが相互に押圧される。この状態で検査
が行われる。検査が終了すると、各プローブユニットが
前記と逆の方向に個々に移動されて、表示用パネルの電
極とプローブの接触子とが相互に離される。
【0011】プローブユニットを表示用パネルに対し第
1の方向に個々に移動させる検査装置は、表示用パネル
とプローブユニットとを第1の方向へ相対的に移動させ
る移動機構を検査ステージに設ける必要がない。これに
より、第1の方向における検査ステージの高さ寸法が小
さくなり、プローブユニットに対する表示用パネルの位
置が安定する。
【0012】また、各プローブユニットが対応する移動
装置により表示用パネルに対し第1の方向に移動される
検査装置は、移動装置による第1の方向へのプローブユ
ニットの移動量をプローブユニット毎に設定することが
できる。これにより、全てのプローブを共通のプローブ
ベースに配置した場合に比べ、プローブ相互間のオーバ
ードライブ量及び針圧の差を小さくすることができる。
【0013】さらに、各プローブユニットが複数のプロ
ーブブロックをプローブベースに配置していると、オー
バードライブ及び針圧をプローブブロック毎に設定する
場合に比べ、オーバードライブ及び針圧の設定作業が容
易になる。
【0014】各移動装置は、対応するプローブユニット
を受ける可動テーブルであって前記対応する辺の方向に
伸びる可動テーブルと、該可動テーブルを前記本体に装
着している1以上のリニアガイドと、前記可動テーブル
を前記第1の方向へ移動させる移動機構とを備えること
ができる。
【0015】前記リニアガイドは、前記第1の方向へ伸
びるガイドレールであって前記本体及び前記可動テーブ
ルのいずれか一方に組み付けられたガイドレールと、該
ガイドレールに前記第1の方向へ移動可能に嵌合された
ガイドであって前記本体及び前記可動テーブルの他方に
組み付けられたガイドとを含むことができる。
【0016】検査装置は、さらに、前記表示用パネルを
受ける検査ステージを含み、該検査ステージは、前記表
示用パネルを受けるチャックトップと、該チャックトッ
プが組み付けられたバックライトユニットと、前記チャ
ックトップ及び前記バックライトユニットを前記パネル
と平行の面内で二次元的に移動させると共に前記第1の
方向へ伸びる軸線の周りに角度的に回転させるアライメ
ントステージとを備えることができる。そのようにすれ
ば、バックライトユニットを備えた点灯検査装置として
用いることができるにも関わらず、第1の方向における
検査ステージの高さ寸法をより小さくすることができ
る。
【0017】前記本体は、前記表示用パネルの検査をす
る検査部と、前記検査ステージに対する前記表示用パネ
ルの受け渡しをするローダ部とを備え、前記検査ステー
ジは前記検査部と前記ローダ部とに移動可能であり、前
記プローブユニットは前記検査部に配置されていてもよ
い。
【0018】少なくとも一方のプローブユニットは、さ
らに、そのプローブベースを前記本体に対し前記プロー
ブベースの長手方向へ移動させる第2の移動機構を備え
ることができる。そのようにすれば、第2の移動機構を
備えるプローブベースの長手方向における他方のプロー
ブユニットの接触子に対する一方のプローブユニットの
接触子の位置を調整することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】図1から図7を参照するに、検査
装置10は、液晶を封入した液晶表示パネルを検査すべ
き表示用パネル12とする目視点灯検査装置として用い
られる。表示用パネル12は、長方形の平面形状を有し
ており、また図示してはいないが長方形の対向する2つ
の長辺(X辺)とそれら両辺の間の1つの短辺(Y辺)
とにそれぞれ複数の電極を有する。しかし、表示用パネ
ルの電極が形成される辺は、表示用パネルの種類により
異なる。
【0020】検査装置10は、長尺の複数のチャンネル
部材を組み立てた本体フレームと、該本体フレームに取
り外し可能に取り付けられた複数のパネルとにより、筐
体の形に形成された本体14を含む。本体12の前面上
部は、斜め上向きの傾斜面部16とされている。
【0021】図1に示すように、本体14は、表示用パ
ネル12の検査部(すなわち、測定部)20とされた左
側領域と、表示用パネル12の受け渡しのためのローダ
部22とされた右側領域とに分けられている。本体14
は、表示用パネル12の形状に類似した長方形の開口2
4及び26を傾斜面部16にあって検査部20及びロー
ダ部22にそれぞれ有し、また後に詳細に説明する遮光
板28をローダ部22に有する。
【0022】図3から図8に示すように、本体12内に
は、検査ステージ(測定ステージ)30が配置されてい
る。検査ステージ30は、表示用パネル12を本体14
の傾斜面部16とほぼ平行の斜め上向きの状態に受けた
状態で、搬送ステージ32により検査部20とローダ部
22とに選択的に移動される。表示用パネル12は、そ
の長手方向を左右方向とした状態に、検査ステージ30
に受けられる。検査ステージ30への表示用パネル12
の受け渡しは、作業者によりローダ部22において行わ
れる。
【0023】以下、説明を簡略にし、かつ、容易に理解
し得るようにするために、検査ステージ30に受けられ
た表示用パネル12と平行の面内における左右方向及び
斜め上下の方向(斜め前後方向)をそれぞれX方向及び
Y方向といい、その表示用パネル12に垂直の方向をZ
方向という。また、X方向、Y方向及びZ方向へ伸びる
軸線を、それぞれ、X軸線、Y軸線及びZ軸線という。
【0024】検査ステージ30は、表示用パネル12を
受けるチャックトップ34と、チャックトップ34が組
み付けられたバックライトユニット36と、チャックト
ップ34及びバックライトユニット36を表示用パネル
12と平行の面内で二次元的に移動させると共にZ軸線
の周りに角度的に回転させるアライメントステージ38
とを備える。検査ステージ30及び搬送ステージ32に
ついては、後に詳細に説明する。
【0025】図1から図4に示すように、検査部20に
は、複数の検査(測定)用プローブユニット40と、各
プローブユニット40に個々に対応されて対応するプロ
ーブユニット40をZ方向に移動させるZ移動装置42
とが傾斜面部16の開口24に配置されている。プロー
ブユニット40は、表示用パネル12の辺のうち、電極
が設けられた辺に対応する箇所のそれぞれに配置されて
いる。
【0026】図示の例では、プローブユニット40及び
Z移動装置42は、長方形の対向する2つの長辺(X
辺)及び1つの短辺(Y辺)に配置されている。また、
他の短辺(Y辺)にもZ移動装置42が配置されてい
る。しかし、プローブユニット40及びZ移動装置42
は、検査すべき表示用パネル12の電極の配置位置及び
検査の種類に応じて、1つの辺、隣り合う2つの辺又は
3つの辺に配置される。
【0027】各プローブユニット40は、複数のプロー
ブブロック44を矩形の板状プローブベース46に取り
付け、プローブベース46を移動装置42に備えられた
板状の可動テーブル(ベースプレート)48の上に配置
している。可動テーブル48については、移動装置42
と共に、後に詳細に説明する。
【0028】各プローブブロック44は、その下側に並
列的に組み付けられた複数のプローブを有する。各プロ
ーブは、先端を接触子とするポゴピンタイプのプロー
ブ、針先を接触子とするニードルタイプ又はブレードタ
イプのプローブ(プローブ針)、若しくは、電気絶縁性
のフィルムの一方の面に形成された複数の配線の先端部
又はこの先端部に形成された突起電極を接触子とするフ
ィルム状プローブ(プローブ要素)である。そのような
各プローブブロックの1つとして、特開平10−132
853号公報に記載されている公知のものを用いること
ができる。
【0029】X辺に配置されたプローブユニット40の
各プローブベース46は、少なくともプローブブロック
44が可動テーブル48から本体14内に突出するよう
に、X方向へ伸びるリニアガイド50によりX方向へ移
動可能に可動テーブル48に組み付けられていると共
に、X駆動機構52によりX方向における位置を調整さ
れる。
【0030】各リニアガイド50は、X方向へ伸びるガ
イドレールと、該ガイドレールにこれの長手方向へ移動
可能に嵌合されたスライドガイドとを備える市販されて
いる一般的なリニアガイドである。図示の例では、ガイ
ドレールは可動テーブル48に組み付けられており、ス
ライドガイドはプローブベース46に組み付けられてい
る。しかし、ガイドレールをプローブベース46に組み
付け、スライドガイドを可動テーブル48に組み付けて
もよい。
【0031】Y辺に配置された各プローブユニット40
は、少なくともプローブブロック44が可動テーブル4
8から本体14内に突出するように、プローブベース4
6においてスペーサ46aにより可動テーブル48に組
み付けられている。
【0032】各X駆動機構52は、X軸モータ54を可
動テーブル48に組み付け、X方向へ伸びるリードスク
リュー56をX軸モータ54に結合させ、リードナット
58をプローブベース46に組み付けると共に、リード
スクリュー56に螺合させている。
【0033】各X駆動機構52は、リードスクリュー5
6をX軸モータ54により回転させて、リードスナット
58をX方向へ移動させることにより、プローブベース
46を可動テーブル48に対してX方向へ変位させる。
これにより、長方形の短辺に配置されたプローブユニッ
ト40の接触子に対する長辺に配置されたプローブユニ
ット40の接触子の位置を調整することができる。
【0034】Y辺に配置されたプローブユニット40
は、その長手方向の各端部にテレビカメラ60を有して
おり、またX辺に配置された各プローブユニット40
は、Y辺に配置されたプローブユニット40の側と反対
の側の端部にテレビカメラ60を有している。
【0035】各テレビカメラ60は、表示用パネル12
に形成されているアライメントマークを撮影するよう
に、プローブベース46に配置されている。テレビカメ
ラ60の出力信号は、表示用パネル12とプローブユニ
ット40との相対的な位置決め(アライメント)に用い
られる。位置決めは、表示用パネル12のアライメント
マークがテレビカメラ60の視野内の所定の座標位置に
なるように、表示用パネル12を検査ステージ30のア
ライメントステージ38により移動させることにより行
われる。
【0036】各Z移動装置42は、前記した可動テーブ
ル48のほかに、さらに、可動テーブル48を本体14
に装着している一対のリニアガイド62と、可動テーブ
ル48を第1の方向へ移動させるZ移動機構64とを備
える。
【0037】各可動テーブル48は、長方形の対応する
辺の方向に伸びる板状部材から形成されており、またリ
ニアガイド62及びZ移動機構64により本体14の傾
斜面部16と平行に支持されている。
【0038】各リニアガイド62は、Z方向へ伸びるガ
イドレール66と、ガイドレール66にZ方向へ移動可
能に嵌合されたスライドガイド68とを含む一般的なリ
ニアガイドである。ガイドレール66は開口24を形成
する面に組み付けられており、スライドガイド68は可
動テーブル48に組み付けられている。
【0039】各Z移動機構64は、開口24を形成する
面に配置された中空モータ70と、中空モータ70の中
空部に螺合されたリードスクリュー72とにより形成す
ることができる。中空モータ70はその回転軸線がZ方
向へ伸びるように傾斜面部16に組み付けられており、
リードスクリュー72はZ方向へ伸びるように可動テー
ブル48に回転可能に組み付けられている。
【0040】待機時、検査ステージ30の移動時及び検
査ステージ30への表示用パネル12の受け渡し時、Z
移動機構64は、各プローブユニット40を検査ステー
ジ30及びそれに受けられた表示用パネル12から離し
ている。
【0041】しかし、検査ステージ30が表示用パネル
12を受けた状態で、検査部20に移動され、その状態
で表示用パネル12とプローブユニット40との位置決
めをするとき、Z移動機構64はプローブユニット40
を1回以上検査ステージ30に接近させる。
【0042】また、上記位置決めが終了すると、Z移動
機構64は、プローブユニット40を検査ステージ30
に向けて移動させて、プローブの接触子を表示用パネル
12の電極に押圧する。この状態で通電試験が行われ
る。
【0043】通電試験が終了すると、Z移動機構64
は、プローブユニット40を検査ステージ30に対して
Z方向へ移動させて、待機位置に待避させる。
【0044】図1に示すように、操作盤74が本体14
の近傍に配置されており、また目視検査の補助装置とし
て用いる光学顕微鏡76と、自動点灯検査装置の場合に
テレビカメラのような撮像装置により撮影した表示用パ
ネル12の画像を映し出すために用いられるテレビジョ
ン受像機(モニタ)78とが配置されている。
【0045】操作盤74は、作業者が、プローブのオー
バードライブ量、電極と接触子との接触圧等の検査条件
の設定、検査ステージ及びプローブユニットの作動開始
指令、表示用パネルの電極とプローブの接触子との相対
的な位置決め指令等の制御指令の入力をし、それにより
検査装置10を作動させるためのものである。
【0046】図1及び図11に示すように、検査部20
には、また、少なくとも電極と接触子とを再度接触させ
て再度検査をする再接触指令を発生する複数の再接触指
令スイッチ80,82,84,86が開口24の近傍に
設けられている。
【0047】再接触指令スイッチ80は、電極と接触子
との相対的な位置決めを再度行わせた後に、再度接触指
令を発生する。スイッチ80が操作されると、検査装置
10は、電極と接触子を再度接触させて、再度通電試験
を行う。したがって、その表示用パネルが良品と判定さ
れる可能性が高くなり、良品を不良品と判定される可能
性が低くなる。
【0048】再接触指令スイッチ82は、電極と接触子
との相対的な位置決めを再度行わせかつ電極と接触子と
の相対的な接触圧を増加した後に、電極と再度接触指令
を発生する。スイッチ82が操作されると、検査装置1
0は、電極と接触子との相対的な位置決めを再度行った
後に、電極と接触子を再度接触させて、再度通電試験を
行う。したがって、その表示用パネルが良品と判定され
る可能性がより高くなり、良品を不良品と判定される可
能性がより低くなる。
【0049】再接触指令スイッチ84は、第2のスイッ
チと、電極と接触子との相対的な位置決めを再度行わせ
かつ表示用パネル12をプローブユニット40に対しX
方向に変位させた後に、再度接触指令を発生する。スイ
ッチ84が操作されると、検査装置10は、電極と接触
子との相対的な位置決めを再度行い、表示用パネル12
をプローブユニット40に対しX方向に所定量変位させ
た後に、電極と接触子を再度接触させて、再度通電試験
を行う。したがって、その表示用パネルが良品と判定さ
れる可能性がより高くなり、良品を不良品と判定される
可能性がより低くなる。
【0050】再接触指令スイッチ86は、電極と接触子
との相対的な位置決めを再度行わせかつ表示用パネルを
プローブユニットに対しY方向に変位させた後に、再度
接触指令を発生する。スイッチ86が操作されると、検
査装置10は、電極と接触子との相対的な位置決めを再
度行い、表示用パネル12をプローブユニット40に対
しY方向に所定量変位させた後に、電極と接触子を再度
接触させて、再度通電試験を行う。したがって、その表
示用パネルが良品と判定される可能性がより高くなり、
良品を不良品と判定される可能性がより低くなる。
【0051】スイッチ80,82,84,86の操作
は、これらのスイッチが本体の検査部近傍に設けられて
いるから、制御盤74を操作して上記のような指令を発
生する場合に比べ、極めて容易である。したがって、再
接触指令を容易に入力可能とすることができる。
【0052】再接触指令スイッチによる上記動作を実行
するために、検査装置10は、例えば、プローブユニッ
ト40がZ移動装置42により検査ステージ30から離
された後に、スイッチ80,82,84,86のいずれ
が圧下されたを確認し、圧下されたスイッチに応じて上
記動作を実行する。
【0053】図3から図9に示すように、チャックトッ
プ34は、表示用パネル12を解除可能に真空吸着する
ワークテーブル(すなわち、真空チャック)である。チ
ャックトップ34は、バックライトユニット36からの
光が表示用パネル12に達することを許す矩形の開口9
0を有すると共に、表示用パネル12を真空的に吸着す
る複数の吸着溝92を開口90の周りに有する。
【0054】開口90の上端は、ガラス板のような透明
板94により閉塞されている(図9参照)。透明板94
は、チャックトップ34自体の上端面と共に、表示パネ
ル12を受けるパネル受け面96とされている。各吸着
溝92は、パネル受け面96に開放されている。図示の
例では、チャックトップ34は、仮想的な矩形の隣り合
う2つの辺に個々に対応されて対応する辺に沿って伸び
る2つの吸着溝92を有している。
【0055】しかし、仮想的な矩形の、1つ、3つ又は
4つの辺に個々に対応されて対応する辺に沿って伸び
る、1つ、3つ又は4つの吸着溝92を有していてもよ
い。また、各辺の吸着溝は、その辺の方向に連続してい
てもよいし、複数に分割されていてもよい。さらに、複
数の吸着溝を各辺に複数列に設けていてもよい。
【0056】バックライトユニット36は、チャックト
ップ34に受けられた表示用パネル12をその背後から
照明する機能を有しており、したがって箱状のケース内
に白色ランプのような1以上の光源を収容している。
【0057】図6及び図7に示すように、チャックトッ
プ34とバックライトユニット36とは、複数の支柱9
8によりZ方向に隔てられて、両者の間に空間100を
形成している。遮光板28は、組み付け具102(図7
参照)により本体14の内側に片持ち梁状に組み付けら
れており、またZ方向における空間100の位置にあっ
て表示用パネル12と平行に維持されている。
【0058】遮光板28は、検査ステージ30がローダ
部22に移動されるときローダ部22近傍において空間
100に受け入れられ始め、検査ステージ30がローダ
部22に完全に位置されたとき図6から図8に示すよう
に空間100に完全に受け入れられる。
【0059】また、遮光板28は、検査ステージ30が
ローダ部22から離され始めるとき空間100から離さ
れ始め、検査ステージ30がローダ部22から完全に離
されることにより空間100から完全に離される。
【0060】これにより、検査ステージ30がローダ部
22に移動されていると、バックライトユニット36か
らチャックトップ34に向かう光は遮光板28により遮
断される。これに対し、検査ステージ30がローダ部2
2から完全に離されると、バックライトユニット36か
らの光は遮光板28により遮断されることなく、チャッ
クトップ34に向かう。このため、チャックトップ34
に対する表示用パネル12の着脱時に、バックライトユ
ニット36を消灯させなくても、バックライトユニット
36からの光は本体14の外に指向されることを防止さ
れて、作業者はバックライトユニット36からの強い光
にさらされることを防止される。
【0061】アライメントステージ38は、X,Y,Z
の3つの軸線のうち、2つの軸線(X,Y軸線)の方向
への平行移動と、残りの1つの軸線(Z軸線)の周りの
角度的回転を回転移動テーブルに与える2軸平行・1軸
旋回テーブル装置である。そのような装置は、例えば、
特開平11−245128号公報に記載されている。
【0062】2軸平行・1軸旋回テーブル装置をアライ
メントテーブル38として検査ステージ30に用いる
と、回転移動テーブルをZ軸線の周りに角度的に回転さ
せるθステージと、回転移動テーブルをY軸線の方向へ
移動させるYステージと、回転移動テーブルをX軸線の
方向へ移動させるXステージとをアライメントステージ
として用いた検査ステージに比べ、Z軸線方向における
検査ステージの高さ寸法が著しく小さくなる。
【0063】搬送ステージ32は、本体14内に斜め上
向きに配置された支持板104に配置されており、また
アライメントステージ38を支持している。
【0064】図5,図8及び図9に示すように、検査ス
テージ30は、また、表示用パネル12をチャックトッ
プ34に対して位置決める2組のストッパ106と、表
示用パネル12をストッパ106に押圧する複数の第1
のプッシャー機構108と、表示用パネル12の縁部を
パネル受け面96に解除可能に押圧する複数の第2のプ
ッシャー機構110とを有する。ストッパ106並びに
第1及び第2のプッシャー機構108及び110は、い
ずれも、チャックトップ34に配置されている。
【0065】一方の組のストッパ106は、表示用パネ
ル12の下端面を受けるようにY方向に間隔をおいて、
パネル受け面96にねじ部材により取り付けられてい
る。このため、チャックトップ34に載置された表示用
パネル12は、パネル受け面96が傾斜していても、下
端面が一方のストッパ106に当接し、それによりチャ
ックトップ34から落下することを防止される。
【0066】これに対し、他方の組のストッパ106
は、表示用パネル12の左右方向における一方の端面を
受けるようにX方向に間隔をおいて、パネル受け面96
にねじ部材により取り付けられている。
【0067】図示の例では、X辺及びY辺のそれぞれに
1つの第1のプッシャー機構108が設けられている。
X辺の第1のプッシャー機構108は、X方向におい
て、一方の組のストッパ106と反対側(上方側)に配
置されている。Y辺の第1のプッシャー機構108は、
X方向において、他方の組のストッパ106と反対側に
配置されている。
【0068】図5及び図10に示すように、各第1のプ
ッシャー機構108は、チャックトップ34に支持され
た逆転可能の回転機構112と、回転機構112により
表示用パネル12に垂直の方向(Z方向)へ伸びる軸線
の周りに角度的に回転されて表示用パネル12を押す揺
動体114とを備える。
【0069】各回転機構112は、その出力回転軸がZ
方向へ伸びるように、チャックトップ34に支持されて
いる。各回転機構112として、回転式のシリンダ機
構、回転式のソレノイド機構、電動機等を用いることが
できる。
【0070】各揺動体114は、一端部において回転機
構112の出力回転軸に取り付けられたアーム116
と、アーム116の他端部にチャックトップ34のパネ
ル受け面からZ方向へわずかに突出する状態に取り付け
られたピン118とで構成することができる。
【0071】各第1のプッシャー機構108は、回転機
構112が一方向へ所定の角度回転することにより、揺
動体114が一方向に所定角度回転されて、表示用パネ
ル12を対応するストッパ106に押す。これにより、
表示用パネル12は、検査ステージ30に対して位置決
められて、その状態に維持される。
【0072】回転機構112が所定の角度逆転される
と、各第1のプッシャー機構108は、揺動体114が
所定角度逆回転されて、対応するストッパ106への表
示用パネル12の押圧を解除する。
【0073】図5及び図9に示すように、各第2のプッ
シャー機構110は、パネル受け面96と交差する方向
へ伸びる軸線(Z軸線)を有するシリンダ126及びこ
れに受け入れられたピストン128を有するシリンダ機
構120と、シリンダ機構120のピストン128に先
端部に組み付けられた板状アーム122と、板状アーム
122の先端部に配置されたゴム板124とを備える。
【0074】シリンダ機構120は、そのピストン12
8が流体によりシリンダ126に対し軸線の周りに角度
的に回転しつつその軸線の方向へ移動するスイングシリ
ンダ機構である。図示の例では、X方向における両端部
のそれぞれに2つのシリンダ機構120がY方向に間隔
をおいて配置されている。
【0075】板状アーム122は、弾性変形可能の板バ
ネから製作されており、また一端においてピストン12
8の上端部に装着されている。ゴム板124は、シリコ
ーンゴムのように弾性変形可能の材料から製作されてお
り、また表示パネル12の縁部に当接可能に板状アーム
122の他端部下面に装着されている。
【0076】図9(A)に示すように、ピストン128
がシリンダ126から突出していると、板状アーム12
2が表示用パネル12からX方向及びZ方向に離されて
いる。
【0077】図9(A)に示す状態において、ピストン
128がシリンダ126内に後退されると、ピストン1
28が下降されつつその軸線の周りに角度的に回転され
るから、板状アーム122が図9(B)に示すように回
転されつつ下降されて、ゴム板124が表示用パネル1
2の縁部の上方に移動される。
【0078】ピストン128がシリンダ126内にさら
に後退されると、板状アーム122が図9(C)に示す
ようにさらに下降されて、ゴム板124が表示用パネル
12の縁部に当接する。
【0079】ピストン128がシリンダ126内にさら
に後退されると、板状アーム122が図9(D)に示す
ようにさらに下降されるから、ゴム板124が表示用パ
ネル12の縁部をパネル受け面96に押圧する。この状
態において、板状アーム122は弾性変形によりわずか
に撓み、ゴム板124は弾性変形する。
【0080】上記の結果、表示用パネル12の縁部がX
方向一端部に位置する吸着溝92の開放部に押圧されて
密着するから、その吸着溝92又は全ての吸着溝92が
吸引源に接続されることにより、表示用パネル12の縁
部はその吸着溝92又は全ての吸着溝92に吸着され、
その状態に安定に維持される。
【0081】表示用パネル12の縁部の押圧を解除する
とき、各第2のプッシャー機構110は、ピストン12
8がシリンダ126から突出されることにより、上記と
逆に作動される。
【0082】吸着溝92は、検査ステージ30が表示用
パネルを受けたときから、検査が終了して、検査ステー
ジ30がローダ部22に達するまでの間は、吸引源に接
続される。しかし、検査ステージ30に対する表示用パ
ネルの着脱時には、吸着溝92は、吸引源から切り離さ
れる。
【0083】第1のプッシャー機構108は、表示用パ
ネル12と検査ステージの相対的な位置決めを行うとき
だけ、表示用パネル12をストッパ106に押する。ま
た、第2のプッシャー機構110は、表示用パネル12
を吸着溝92に吸着させるときだけ、表示用パネル12
の縁部をパネル受け面96に押圧する。しかし、第1及
び第2のプッシャー機構108及び110のいずれも、
それ以外のときにも表示用パネルを押圧するようにして
もよい。
【0084】しかし、検査ステージ30に対する表示用
パネルの着脱時には、全ての吸着溝92は吸引源から切
り離され、全ての第1のプッシャー機構108はストッ
パ106への表示用パネル12の押圧を解除し、全ての
各第2のプッシャー機構110はパネル受け面96への
表示用パネル12の押圧を解除する。
【0085】検査装置10において、検査ステージ30
がローダ部22に位置するとき、検査済みの表示用パネ
ル12が検査ステージ30から除去され、未検査の表示
用パネル12が検査ステージ30に配置される。この受
け渡し作業は、人手により行われる。
【0086】表示用パネル12の受け渡し作業が終了す
ると、検査装置10は、本体12の検査部20に備えら
れた開始スイッチ(図示せず)が操作されることによ
り、以下の動作を開始する。
【0087】先ず、表示用パネル12が第1のプッシャ
ー機構108によりストッパ96に押圧されて、検査ス
テージ30に対する表示用パネルの位置決めが行われ
る。
【0088】次いで、表示用パネル12の縁部が第2の
プッシャー機構110によりパネル受け面96に押圧さ
れると共に、全ての吸着溝92が吸引源に接続される。
これにより、表示用パネル12は検査ステージ30に保
持される。
【0089】次いで、検査ステージ30が検査部20に
移動され、検査部20においてプローブユニット40に
対して位置決められる。このアライメントのとき、表示
用パネル12は、チャックトップ34及びバックライト
ユニット36がアライメントステージ38により移動さ
れることにより、プローブユニット40に対して移動さ
れる。また、各プローブユニット40がZ移動装置42
により検査ステージ30に対し1回以上移動される。
【0090】次いで、各プローブユニット40がZ移動
装置42により検査ステージ30に向けて移動されて、
プローブの接触子が表示用パネル12の電極に押圧され
る。この状態で、表示用パネルに通電されて、作業者に
よる目視点灯検査が行われる。
【0091】検査の結果、不良であると、いずれかの再
接触指令スイッチが圧下されることにより、少なくとも
アライメントが再度行われた後、接触子と電極とが再接
触されて再検査が行われる。
【0092】検査が終了すると、各プローブユニット4
0がZ移動装置42により検査ステージ30から離され
た後、検査ステージ30がローダ部22に向けて移動さ
れる。
【0093】上記工程は、表示用パネル12毎に繰り返
される。
【0094】検査装置10は、プローブユニット40を
表示用パネル12に対しZ方向に個々に移動させるか
ら、表示用パネル12とプローブユニット40とをZ方
向へ相対的に移動させる移動機構を検査ステージ30に
設ける必要がなく、したがってZ方向における検査ステ
ージ30の高さ寸法が小さくなり、プローブユニット3
0に対する表示用パネル12の位置が安定する。
【0095】また、各プローブユニット40が対応する
移動装置42により表示用パネル12に対しZ方向に移
動されるから、移動装置42によるZ方向へのプローブ
ユニット40の移動量をプローブユニット40毎に設定
することができ、したがって、全てのプローブを共通の
プローブベース46に配置した場合に比べ、プローブ相
互間のオーバードライブ量及び針圧の差を小さくするこ
とができる。
【0096】さらに、各プローブユニット40が複数の
プローブブロック40をプローブベース46に配置し
て、オーバードライブ及び針圧をプローブプローブベー
ス46毎に設定すると、オーバードライブ及び針圧をプ
ローブブロック44毎に設定する場合に比べ、オーバー
ドライブ及び針圧の設定作業が容易になる。
【0097】これに対し、表示用パネルの電極を検査ス
テージによりプローブの接触子に押圧する従来の検査装
置では、プローブの接触子の高さ位置が正確に一致して
いないと、オーバードライブが不足するプローブが存在
することになる。その結果、そのプローブの接触子と表
示用パネルの電極との接触圧(針圧)が不足し、正確な
試験結果を得ることができない。
【0098】これを防止すべく全てのプローブが所定の
値以上のオーバードライブを受けるようにすると、大き
な押圧力が必要になるし、オーバードライブが過剰にな
るプローブが存在することになる。その結果、プローブ
が短命になるし、表示用パネルの電極を損傷するおそれ
がある。
【0099】検査装置10によれば、Z移動装置42を
プローブユニット40側に配置しているのみならず、プ
ローブユニット40毎に配置しているから、従来の検査
装置による上記の問題が解決される。
【0100】本発明は、表示用パネルの受け渡しを人手
により行う装置のみならず、搬送ロボットのような自動
化装置を用いて行う装置にも適用することができる。ま
た、本発明は、目視検査を人の肉眼により行う目視点灯
装置のみならず、撮像装置、画像処理装置等を用いて自
動的に行う自動点灯検査装置にも適用することができる
し、自動検査及び目視検査の両者を選択的に行うことが
できる装置にも適用することができる。さらに、本発明
は、表示用パネルを斜めにした状態で検査する装置のみ
ならず、表示用パネルをほぼ水平にした状態で検査する
装置のような他の形式の装置にも適用することができ
る。
【0101】本発明は、液晶を封入した液晶表示パネル
のみならず、薄膜トランジスタを形成したガラス基板、
プラスマ表示パネルのように、液晶表示パネル以外の表
示パネル等、他の表示用パネルの検査装置にも適用する
ことができる。
【0102】本発明は、上記実施例に限定されない。本
発明は、その趣旨を逸脱しない限り、種々変更すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る検査装置の一実施例を示す正面図
【図2】図1に示す検査装置の検査部の詳細を示す図
【図3】図2における3−3線に沿って得た断面図
【図4】図2における4−4線に沿って得た断面図
【図5】図1に示す検査装置の検査ステージの詳細を示
す図
【図6】検査ステージの配置状態を示す概略的な断面図
【図7】図6における7−7線に沿って得た断面図
【図8】図7に示す状態における検査ステージの図
【図9】第2のプッシャー機構の動作を説明するための
【図10】第1のプッシャー機構の一実施例を示す図
【図11】再接触指令スイッチを示す図
【符号の説明】
10 検査装置 12 表示用パネル 14 本体 16 傾斜面部 20 検査部 22 ローダ部 24,26 本体の開口 30 検査ステージ 32 搬送ステージ 34 チャックトップ 36 バックライトユニット 38 アライメントステージ 40 プローブユニット 42 Z移動装置 44 プローブブロック 46 プローブベース 48 可動テーブル 62 リニアガイド 64 Z移動機構 70 中空モータ 72 リードスクリュー
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成12年6月29日(2000.6.2
9)
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図9
【補正方法】変更
【補正内容】
【図9】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤原 慎治 東京都武蔵野市吉祥寺本町2丁目6番8号 株式会社日本マイクロニクス内 (72)発明者 植木 勲 東京都武蔵野市吉祥寺本町2丁目6番8号 株式会社日本マイクロニクス内 Fターム(参考) 2G014 AA14 AB21 AC06 2G051 AA90 AB02 CA11 DA01 DA07 2H088 FA13 FA30 MA20 5G435 AA17 BB12 KK05 KK10

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 本体と、仮想的な四角形の少なくとも2
    つの辺に個々に対応された少なくとも2つのプローブユ
    ニットであって対応する辺に沿って伸びる板状のプロー
    ブベース及び該プローブベースに配置された複数のプロ
    ーブブロックをそれぞれ備えるプローブユニットと、該
    プローブユニットに個々に対応され、対応するプローブ
    ユニットを検査すべき表示用パネルと交差する第1の方
    向へ移動させる少なくとも2つの移動装置とを含む、表
    示用パネルの検査装置。
  2. 【請求項2】 各移動装置は、対応するプローブユニッ
    トを受ける可動テーブルであって前記対応する辺の方向
    に伸びる可動テーブルと、該可動テーブルを前記本体に
    装着している1以上のリニアガイドと、前記可動テーブ
    ルを前記第1の方向へ移動させる移動機構とを備える、
    請求項1に記載の検査装置。
  3. 【請求項3】 前記リニアガイドは、前記第1の方向へ
    伸びるガイドレールであって前記本体及び前記可動テー
    ブルのいずれか一方に組み付けられたガイドレールと、
    該ガイドレールに前記第1の方向へ移動可能に嵌合され
    たガイドであって前記本体及び前記可動テーブルの他方
    に組み付けられたガイドとを含む、請求項3に記載の検
    査装置。
  4. 【請求項4】 さらに、前記表示用パネルを受ける検査
    ステージを含み、該検査ステージは、前記表示用パネル
    を受けるチャックトップと、該チャックトップが組み付
    けられたバックライトユニットと、前記チャックトップ
    及び前記バックライトユニットを前記パネルと平行の面
    内で二次元的に移動させると共に前記第1の方向へ伸び
    る軸線の周りに角度的に回転させるアライメントステー
    ジとを備える、請求項1,2又は3に記載の検査装置。
  5. 【請求項5】 前記本体は、前記表示用パネルの検査を
    する検査部と、前記検査ステージに対する前記表示用パ
    ネルの受け渡しをするローダ部とを備え、前記検査ステ
    ージは前記検査部と前記ローダ部とに移動可能であり、
    前記プローブユニットは前記検査部に配置されている、
    請求項3又は4に記載の検査装置。
  6. 【請求項6】 少なくとも一方のプローブユニットは、
    さらに、そのプローブベースを前記本体に対し前記プロ
    ーブベースをこれの長手方向へ移動させる第2の移動機
    構を備える、請求項1から5のいずれか1項に記載の検
    査装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004094245A (ja) * 2002-08-19 2004-03-25 Photon Dynamics Inc 視覚画像形成および電子感知による総合検査システム
JP2006003588A (ja) * 2004-06-17 2006-01-05 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル点灯検査装置のアライメント方法及び液晶パネル点灯検査装置
JP2006170733A (ja) * 2004-12-15 2006-06-29 Sharp Corp 基板位置決め保持方法及び装置
JP2006292484A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Micronics Japan Co Ltd 検査装置
JP2006301633A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Samsung Electronics Co Ltd 液晶表示パネルとその検査装置及び検査方法
JP2011175298A (ja) * 2011-06-02 2011-09-08 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル点灯検査装置
US8299812B2 (en) 2008-12-24 2012-10-30 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Probe card
US8680880B2 (en) 2008-12-26 2014-03-25 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Method and apparatus for testing integrated circuit

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004094245A (ja) * 2002-08-19 2004-03-25 Photon Dynamics Inc 視覚画像形成および電子感知による総合検査システム
JP2006003588A (ja) * 2004-06-17 2006-01-05 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル点灯検査装置のアライメント方法及び液晶パネル点灯検査装置
JP2006170733A (ja) * 2004-12-15 2006-06-29 Sharp Corp 基板位置決め保持方法及び装置
JP2006292484A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Micronics Japan Co Ltd 検査装置
JP2006301633A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Samsung Electronics Co Ltd 液晶表示パネルとその検査装置及び検査方法
US8299812B2 (en) 2008-12-24 2012-10-30 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Probe card
US8680880B2 (en) 2008-12-26 2014-03-25 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Method and apparatus for testing integrated circuit
JP2011175298A (ja) * 2011-06-02 2011-09-08 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル点灯検査装置

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