WO2011158902A1 - 点灯検査装置 - Google Patents

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WO2011158902A1
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jig
inspection
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lighting jig
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直基 松本
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シャープ株式会社
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing

Definitions

  • the present invention relates to a lighting inspection apparatus.
  • the present invention relates to an apparatus for inspecting lighting of a liquid crystal panel.
  • a liquid crystal panel which is a component of a liquid crystal display device (LCD), has a structure in which a pair of glass substrates are opposed to each other with a predetermined gap secured.
  • the liquid crystal panel is a component that does not emit light, and is used in combination with a backlight device as an external light source.
  • the liquid crystal panel has a liquid crystal layer between a pair of glass substrates, and has a configuration in which switching elements and pixel electrodes are provided on opposite surfaces of both glass substrates.
  • a pair of polarizing plates is attached to the outer surface side of both glass substrates.
  • the backlight device When displaying an image on the liquid crystal display device, the backlight device is turned on, and the voltage is applied to each switching element to control the alignment of the liquid crystal, that is, the optical characteristics. Then, when the light emitted from the backlight device passes through the liquid crystal layer, the polarization state changes according to the alignment state, and thereby a predetermined image is displayed on the liquid crystal panel.
  • a predetermined switching element or pixel electrode is defective, a foreign substance is mixed in the liquid crystal layer, or a foreign substance is placed between the polarizing plate and the glass substrate. May cause problems such as intrusion. Due to these problems, there is a risk that defects such as a black spot defect in which a predetermined pixel always blocks light will occur in the liquid crystal panel. Therefore, a lighting inspection apparatus is used for the purpose of detecting these defects in the manufacturing process (for example, Patent Documents 1 and 2).
  • a lighting inspection apparatus 1000 shown in FIG. 1 includes an inspection unit 101 that inspects a liquid crystal panel (not shown), and a delivery unit 102 that delivers the liquid crystal panel to the inspection unit 101.
  • the inspection unit 101 and the delivery unit 102 are provided in the housing 105.
  • a probe unit 103 is disposed in the inspection unit 101. The probe of the probe unit 103 is brought into contact with the electrode of the liquid crystal panel and gives an electric signal, and thereby the liquid crystal panel is turned on for inspection.
  • the delivery unit 102 is provided with a liquid crystal panel transport device 104.
  • the liquid crystal panel moving on the production line is introduced into the inspection unit 101 by the transport device 104 of the delivery unit 102, and after the inspection, the transport device 104 removes the outside of the lighting inspection device 1000. Returned to On the other hand, there is also a lighting inspection device that arranges a lighting inspection device on a liquid crystal panel production line and inspects a liquid crystal panel moving on the production line. This inventor examined operation
  • the liquid crystal panel 110 moves on the production line 125 by the roller conveyor 120 (arrow 150) and reaches the lighting inspection device 2000.
  • the liquid crystal panel 110 is set on an inspection stage 130 including a plurality of electrode terminals 131, and a lighting inspection of the liquid crystal panel 110 is performed.
  • the inspection stage 130 can be modified so that the lighting inspection of the liquid crystal panels 110 of different sizes can be supported.
  • the stage upper unit 132 provided with the upper electrode terminal 131 can be moved in the vertical direction 155 with respect to the stage support unit 135, thereby corresponding to the desired panel size of the inspection stage 130. Can be deformed.
  • the liquid crystal panel 110 that has been inspected by the lighting inspection device 2000 moves to the downstream side of the production line 125 (arrow 151).
  • FIG. 3A shows a configuration of a lighting inspection apparatus 2000 including an inspection stage 130 that can be deformed according to the panel size.
  • the lighting jig 133 for inputting a drive signal to the liquid crystal panel 110 is replaced according to the panel model.
  • the stage upper unit 132 and the lighting jig 133 interfere with each other.
  • a sensor 160 is attached on the lower side to monitor whether or not the lighting jig 133 exists.
  • how the lighting jig 133 is divided is determined for each panel model, and therefore it is not uniquely determined where the sensor 160 should be attached. Many. Further, if the lighting jig 133 is made as a single unit without being divided, the sensor 160 can always detect the presence of the lighting jig 133. However, when the lighting jig 133 is manufactured as a single body, there is a disadvantage that the lighting jig 133 becomes heavy, and the processing accuracy also decreases. Therefore, when the inspection stage 130 is deformed due to such drawbacks, it is necessary to carefully remove the lighting jig 133 even if the interlock mechanism by the sensor 160 is present. Is one of the burdens.
  • the present invention has been made in view of such a point, and a main object thereof is to provide a lighting inspection apparatus that can easily perform a deformation operation of an inspection stage in a lighting inspection.
  • a lighting inspection apparatus is a lighting inspection apparatus that inspects lighting of a display panel, and an inspection stage on which the display panel is set, and a plurality of lighting jigs that are in contact with the display panel set on the inspection stage
  • the inspection stage includes a support unit and an upper unit connected to the support unit, and the upper unit is connected to the support unit to be movable so as to change the size of the inspection stage.
  • An upper lighting jig and a lower lighting jig are provided as the plurality of lighting jigs on the inner wall of the support unit below the upper unit.
  • a plate serving as a bridge to the lower lighting jig is attached.
  • the lighting inspection device includes a sensor that detects at least one of the upper lighting jig and the lower lighting jig, the display panel is a liquid crystal panel, and the liquid crystal panel is It is carried by the transfer line and set on the inspection stage.
  • the plate is fixed to a part of the upper lighting jig, and a part of the lower lighting jig is pressed by the plate.
  • the upper lighting jig and the lower lighting jig are attached to the inner wall of the column unit.
  • a plate serving as a bridge to the lower lighting jig is attached to the upper lighting jig. Therefore, since the plate is attached, the lower lighting jig cannot be removed unless the upper lighting jig is removed. Therefore, interference with the upper unit due to forgetting to remove the upper lighting jig can be avoided. As a result, it is possible to easily execute the deformation work of the inspection stage in the lighting inspection.
  • FIG. (A) is a perspective view which shows the structure of the lighting test
  • FIG. (B) is a perspective view which shows a mode that the stage upper unit and lighting jig
  • FIG. (B) is a perspective view which shows typically the structure of the lighting test
  • disassembled the connection of an upper side lighting jig and a lower side lighting jig. 2 is a cross-sectional view schematically showing a configuration of a liquid crystal panel 10.
  • FIG. 1 It is a figure for demonstrating operation
  • FIG. 4 schematically shows a configuration of a lighting inspection apparatus 100 that inspects lighting of the display panel.
  • the lighting inspection apparatus 100 includes an inspection stage 30 on which a display panel (not shown) is set, and a plurality of lighting jigs 33 that are in contact with the display panel set on the inspection stage 30.
  • the inspection stage 30 of the present embodiment includes a support unit 35 and an upper unit 32 connected to the support unit 35.
  • the column unit 35 of the illustrated example extends in the vertical direction 90, and the upper unit 32 extends from the column unit 35 in the vertical direction (that is, in the horizontal direction). Also, below the upper unit 32, a lower unit 34 extending in the vertical direction (horizontal direction) from the support unit 35 is provided.
  • the upper unit 32 is connected to the column unit 35 so as to be movable so as to change the size of the inspection stage 30. Specifically, the upper unit 32 can move along the vertical direction 55 according to the size of a display panel (for example, a liquid crystal panel) to be inspected. That is, by moving the upper unit 32, the size of the inspection stage 30 can be changed according to the size of the display panel.
  • a display panel for example, a liquid crystal panel
  • the lighting jig 33 is provided on the inner wall 35a of the column unit 35.
  • the upper lighting jig 33a and the lower lighting jig 33b are arranged in a region below the upper unit 32 in the inner wall 35a of the column unit 35.
  • the inner wall 35 a of the column unit 35 is a surface facing the display panel set on the inspection stage 30.
  • the upper lighting jig 33a and the lower lighting jig 33b arranged on the inner wall 35a of the column unit 35 are members that are brought into contact with the electrode terminals of the display panel.
  • the upper lighting jig 33a is provided with a plate 40 that serves as a bridge to the lower lighting jig 33b.
  • FIG. 5 is an exploded perspective view of the connection of the upper lighting jig 33a and the lower lighting jig 33b.
  • the plate 40 is fixed to a part of the upper lighting jig 33 a and a part of the lower lighting jig 33 b is pressed by the plate 40.
  • the lower lighting jig 33b cannot be removed unless the upper lighting jig 33a is removed.
  • a sensor 60 for detecting the lower lighting jig 33b is provided in the lighting inspection apparatus 100, and the presence of the upper lighting jig 33a is confirmed by detecting the presence of the lower lighting jig 33b by the sensor 60. be able to. Specifically, since the lower lighting jig 33b cannot be removed unless the upper lighting jig 33a is removed, if the sensor 60 confirms that the lower lighting jig 33b does not exist, Thereby, it can be confirmed that the upper lighting jig 33a does not exist.
  • a transmissive photosensor can be used as the sensor 60.
  • the upper lighting jig 33a and the upper unit 32 do not interfere with each other.
  • the size of the stage 30 can be changed.
  • the deformation work of the inspection stage 30 in the lighting inspection can be easily performed. That is, even when the lighting jig 33 is divided into two as shown in FIG. 4, the possibility of removing only the lower lighting jig 33b and forgetting to remove the upper lighting jig 33a is eliminated. Can do. Therefore, interference with the upper unit 32 due to forgetting to remove the upper lighting jig 33a can be avoided.
  • the plate 40 of the present embodiment is made of metal (for example, iron, aluminum, etc.), but if it can hold down the lower lighting jig 33b, it is made of a material other than metal (such as resin). It doesn't matter. Further, since the plate 40 holds the lower lighting jig 33b so that the lower lighting jig 33b is not removed before removing the upper lighting jig 33a, the lower lighting jig 33b is pressed by the plate 40. There is no need to hold down strongly. Specifically, the lower lighting jig 33b may be pressed to such an extent that the lower lighting jig 33b is not removed before the upper lighting jig 33a is removed.
  • the lower lighting jig 33b and the plate 40 are in contact with each other. There may be no need.
  • the upper lighting jig 33a includes a fixing portion 38a fixed to the support unit 35 and a contact portion 37a extending from the fixing portion 38a.
  • the lower lighting jig 33b includes a fixed portion 38b fixed to the column unit 35 and a contact portion 37b extending from the fixed portion 38b.
  • the contact portions 37a and 37b have probe portions connected to electrode terminals of a display panel (for example, a liquid crystal panel).
  • the plate 40 is fixed to the inner surface side (display panel side) region of the fixing portion 38a of the upper lighting jig 33a, and the inner surface side (display panel side) of the fixing portion 38b of the lower lighting jig 33b. It extends to the area.
  • the upper lighting jig 33a side of the plate 40 is fixed, but the lower lighting jig 33b side of the plate 40 is not fixed. Therefore, as shown in FIG. 5, the plate 40 and the lower lighting jig 33b can be separated.
  • FIG. 6 shows the display panel 10 to be inspected for lighting by the lighting inspection apparatus 100 of the present embodiment.
  • the display panel 10 shown in FIG. 6 is a liquid crystal panel.
  • the liquid crystal panel 10 generally has a rectangular shape as a whole, and is composed of a pair of translucent substrates (glass substrates) 11 and 12. Both the substrates 11 and 12 are arranged to face each other, and a liquid crystal layer 14 is provided between them.
  • the liquid crystal layer 14 is made of a liquid crystal material whose optical characteristics change with application of an electric field between the substrates 11 and 12.
  • a sealing agent 15 is provided on the outer edge portions of the substrates 11 and 12 to seal the liquid crystal layer 14.
  • polarizing plates 17 and 18 are attached to the outer surfaces of both the substrates 11 and 12, respectively.
  • the front side is the color filter substrate (CF substrate) 11, while the back side is the array substrate 12.
  • the liquid crystal panel 10 shown in FIG. 6 has electrode terminals (not shown), and the electrode terminals (probes) of the lighting inspection apparatus 100 are brought into contact with the electrode terminals for inspection.
  • the size of the liquid crystal panel 10 is, for example, 20 inches to 60 inches, but is not limited to these sizes.
  • the display panel 10 inspected by the lighting inspection apparatus 100 of the present embodiment is not limited to a liquid crystal panel, and may be another display panel such as a plasma display panel (PDP) or an organic EL panel.
  • PDP plasma display panel
  • organic EL panel organic EL panel
  • FIG. 7 is a diagram showing a state where the display panel 10 is inspected for lighting by the lighting inspection apparatus 100 of the present embodiment.
  • the display panel (liquid crystal panel) 10 moves along a production line (conveyance line) 25 by a conveyor (for example, a roller conveyor) 20 (arrow 50) and reaches the lighting inspection apparatus 100.
  • a conveyor for example, a roller conveyor
  • FIG. 7 it is preferable to provide the support part (not shown) which supports the display panel 10 in the manufacturing line 25.
  • the display panel 10 is set on the inspection stage 30 including a plurality of electrode terminals (probe units) 31 and a plurality of lighting jigs 33 (33a, 33b). Then, the lighting inspection of the liquid crystal panel 10 is performed in a state where the electrode terminal 31 and the lighting jig 33 are in contact with the electrode terminal (not shown) of the display panel.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state when the display panel 10 is introduced into the lighting inspection apparatus 100.
  • the display panel 10 and the lighting inspection device 100 are shown from the upstream side to the downstream side of the production line 25.
  • the lighting jig 33 (33a, 33b) is shown, the support unit 35 is not shown.
  • the upper unit 32 is lowered in the downward direction 57 and set on the inspection stage 30 of the lighting inspection device 100. To do.
  • the electrode terminal 31 and the lighting jig 33 (33a, 33b) are brought into contact with electrode terminals (not shown) of the display panel 10, and a lighting inspection of the display panel 10 is executed in this state.
  • the upper unit 32 includes a movable portion 32a and a fixed portion 32b, and a groove portion 32c is provided between the movable portion 32a and the fixed portion 32b.
  • the lower unit 34 includes a movable portion 34a and a fixed portion 34b, and a groove portion 34c is provided between the movable portion 34a and the fixed portion 34b.
  • the display panel 10 that has flowed through the production line 25 is inserted into the groove 34c, and then the movable part 34a is moved toward the fixed part 34b, thereby sandwiching the display panel 10 between the movable part 34a and the fixed part 34b.
  • the electrode terminal 31 of the movable portion 34a is brought into contact with the electrode terminal (not shown) of the display panel 10.
  • the lighting jig 33 (33a, 33b) is brought into contact with the electrode terminals of the display panel 10.
  • the contact portion 37 (probe portion) of the lighting jig 33 is brought into contact with the electrode terminal of the display panel 10.
  • the lighting inspection of the display panel 10 can be executed in a state where the electrode terminals 31 of the lighting inspection device 100 and the lighting jig 33 are in contact with the electrode terminals of the display panel 10.
  • the inspected display panel 10 moves downstream of the production line 25 as shown in FIG. 7 (arrow 51).
  • the lighting inspection device 100 includes a backlight unit (not shown) for lighting the display panel 10. Is provided.
  • the display panel 10 is a PDP or an organic EL panel
  • the lighting inspection of the display panel 10 can be executed without providing the backlight unit in the lighting inspection device 100.
  • the electrode terminal 31 can be provided in the fixed part (32b, 34b), or the electrode terminal 31 can be provided in both the movable part (32a, 34a) and the fixed part (32b, 34b). .
  • the lighting inspection apparatus 100 including the two lighting jigs 33a and 33b (that is, the upper lighting jig 33a and the lower lighting jig 33b) is illustrated. It is not limited to it.
  • the number of lighting jigs 33 can be three or more.
  • the configuration example shown in FIG. 9 shows a lighting inspection apparatus 100 having three lighting jigs 33, that is, an upper lighting jig 33a, a central lighting jig 33c, and a lower lighting jig 33b.
  • the plate 40 is fixed to the upper lighting jig 33a, and the plate 40 extends so as to press the center lighting jig 33c and the lower lighting jig 33b.
  • the plate 40 is fixed to the upper lighting jig 33a, but is not fixed to the central lighting jig 33c and the lower lighting jig 33b.
  • the center lighting jig 33c and the lower lighting jig 33b cannot be removed unless the upper lighting jig 33a is removed due to the presence of the plate 40. Therefore, if the lower lighting jig 33b is monitored by the sensor 60, it can be determined whether or not the upper unit 32 can be moved.
  • the support unit 35 is configured to extend in the vertical direction 90, but is not limited thereto.
  • the inspection stage 30 may be inclined from the vertical direction 90 so that the column unit 35 extends obliquely with respect to the vertical direction 90.
  • the column unit 35 is The inspection stage 30 may be configured in the horizontal direction so as to extend in the horizontal direction.
  • the upper lighting jig 33a may be expressed as the first lighting jig 33a with the upper unit 32 as a reference.
  • the present invention it is possible to provide a lighting inspection apparatus that can easily perform the deformation work of the inspection stage in the lighting inspection.

Abstract

 検査ステージの変形作業を簡便に実行できる点灯検査装置を提供することを課題とする。表示パネルがセットされる検査ステージ(30)と、検査ステージ(30)にセットされる表示パネルに接触する複数の点灯治具(33)とを備える点灯検査装置(100)であって、検査ステージ(30)は、支柱ユニット(35)と、上部ユニット(32)とを含み、上部ユニット(32)は、検査ステージ(30)のサイズを変化するように移動可能に支柱ユニット(35)に連結されており、上部ユニット(32)の下方における支柱ユニット(35)の内壁(35a)には、上側点灯治具(33a)と下側点灯治具(33b)とが設けられており、上側点灯治具(33a)には、下側点灯治具(33b)への橋渡しとなるプレート(40)が取り付けられている。

Description

点灯検査装置
 本発明は、点灯検査装置に関する。特に、液晶パネルの点灯を検査する装置に関する。
 なお、本出願は2010年6月17日に出願された日本国特許出願2010-138593号に基づく優先権を主張しており、その出願の全内容は本明細書中に参照として組み入れられている。
 液晶表示装置(LCD)の構成部品である液晶パネルは、一対のガラス基板を所定のギャップを確保した状態で対向させた構造を有している。液晶パネルは、自発光しない構成部品であり、外部光源としてのバックライト装置と組み合わせて使用される。また、液晶パネルは、一対のガラス基板間に液晶層を有するとともに、両ガラス基板の対向面にそれぞれスイッチング素子と画素電極とを設けた構成となっている。両ガラス基板の外面側には、一対の偏光板が貼り付けられるようになっている。
 液晶表示装置に画像を表示させる場合、バックライト装置を点灯させるとともに、各スイッチング素子に電圧を印可することによって液晶の配向を制御、すなわち、光学特性を制御する。すると、バックライト装置から照射された光は、液晶層を透過する際にその配向状態に応じて偏光状態が変化し、それによって、液晶パネルに所定の画像が表示される。
 液晶パネルを製造する過程では、例えば、所定のスイッチング素子または画素電極に欠陥があったり、液晶層中に異物が混入していたり、また、偏光板を貼り付ける際にガラス基板との間に異物が侵入するなどの問題が生じることがある。これらの問題に起因して、所定の画素が常時光を遮る黒点欠陥などの欠陥が液晶パネルに生じるおそれがある。したがって、これらの欠陥を製造過程で検出することを目的として、点灯検査装置が用いられている(例えば、特許文献1、2)。
 特許文献1に開示された点灯検査装置を図1に示す。図1に示した点灯検査装置1000は、液晶パネル(不図示)を検査する検査部101と、検査部101に液晶パネルを受け渡す受渡部102とから構成されている。検査部101および受渡部102は、筐体105内に設けられている。検査部101には、プローブユニット103が配置されている。プローブユニット103のプローブは、液晶パネルの電極に接触させ、電気信号を与えるものであり、それによって、液晶パネルを点灯させて検査を行う。受渡部102には、液晶パネルの搬送装置104が配置されている。
特開2009-251529号公報 特開2007-25132号公報
 図1に示した点灯検査装置1000では、製造ラインを移動する液晶パネルを、受渡部102の搬送装置104によって検査部101に導入し、そして、検査後は搬送装置104によって点灯検査装置1000の外に戻される。一方、液晶パネル製造ラインの上に点灯検査装置を配置して、製造ラインを移動する液晶パネルを検査する点灯検査装置も存在する。本願発明者は、図2に示すような点灯検査装置2000の動作を検討した。
 本願発明者が検討した図2に示した構成の場合、液晶パネル110はコロコンベア120によって製造ライン125上を移動して(矢印150)、点灯検査装置2000に到達する。次いで、液晶パネル110は、複数の電極端子131を備えた検査ステージ130にセットされて、液晶パネル110の点灯検査が実行される。点灯検査装置2000では、異なるサイズの液晶パネル110の点灯検査に対応できるように、検査ステージ130は変形することができる。具体的には、上側の電極端子131が設けられたステージ上部ユニット132は、ステージ支柱ユニット135に対して上下方向155に移動させることができ、それによって検査ステージ130を所望のパネルサイズに対応するように変形させることができる。点灯検査装置2000で検査が終わった液晶パネル110は、製造ライン125の下流側に移動していく(矢印151)。
 図3(a)は、パネルサイズに応じて変形可能な検査ステージ130を含む点灯検査装置2000の構成を示している。検査ステージ130を変形する場合、液晶パネル110に駆動信号を入力するための点灯治具133はパネル機種に応じて取り替える。ここで、点灯治具133をつけたまま、検査ステージ130を大きいサイズから小さいサイズに変形させてしまうと、ステージ上部ユニット132と点灯治具133とは干渉してしまう。その干渉を防ぐため、インターロック機構として、下側にセンサー160を取り付けて、点灯治具133が存在するか否かを監視している。
 しかしながら、点灯治具133が2個に分割されていた場合、下側の点灯治具133bのみを取り外し、上側の点灯治具133aの取り外しを忘れてしまう可能性がある。このとき、図3(b)に示すように、上側の点灯治具133aが付いた状態で検査ステージ130を変形させてしまうと(矢印157)、下側の点灯治具133bは取り外されているので、インターロック機構が作動しない。したがって、検査ステージ130のステージ上部ユニット132と点灯治具133aとが干渉(165)してしまう。
 ここで、点灯治具133がどのように分割されるかは、パネル機種ごとに決定されるものであり、それゆえに、センサー160をどの位置に付ければよいかは一義的には定まらないことが多い。また、点灯治具133を分割せずに全て一体物で作製すれば、常にセンサー160で点灯治具133の存在を検出させることができる。しかしながら、点灯治具133を一体物で作製すると重くなるという欠点が生じるとともに、加工精度も低下してしまう。したがって、このような欠点があるがゆえに、検査ステージ130を変形させる場合、センサー160によるインターロック機構が存在していても、点灯治具133の取り外しは慎重に行う必要があり、点灯検査における作業の負担の一つとなっている。
 本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その主な目的は、点灯検査における検査ステージの変形作業を簡便に実行することができる点灯検査装置を提供することにある。
 本発明に係る点灯検査装置は、表示パネルの点灯を検査する点灯検査装置であり、表示パネルがセットされる検査ステージと、前記検査ステージにセットされる前記表示パネルに接触する複数の点灯治具とを備え、前記検査ステージは、支柱ユニットと、前記支柱ユニットに連結された上部ユニットとを含み、前記上部ユニットは、前記検査ステージのサイズを変化するように移動可能に前記支柱ユニットに連結されており、前記上部ユニットの下方における前記支柱ユニットの内壁には、前記複数の点灯治具として上側点灯治具と下側点灯治具とが設けられており、前記上側点灯治具には、前記下側点灯治具への橋渡しとなるプレートが取り付けられている。
 ある好適な実施形態において、前記点灯検査装置は、前記上側点灯治具および前記下側点灯治具の少なくとも一方を検知するセンサーを備え、前記表示パネルは、液晶パネルであり、前記液晶パネルは、搬送ラインによって運ばれて前記検査ステージにセットされる。
 ある好適な実施形態において、前記プレートは、前記上側点灯治具の一部に固定されており、前記下側点灯治具の一部は、前記プレートによって押さえられている。
 本発明によれば、検査ステージの上部ユニットが検査ステージのサイズを変化するように移動可能に支柱ユニットに連結されている点灯検査装置において、支柱ユニットの内壁に上側点灯治具と下側点灯治具とが設けられ、上側点灯治具には、下側点灯治具への橋渡しとなるプレートが取り付けられている。したがって、プレートが取り付けられていることによって、上側点灯治具を取り外した後でないと、下側点灯治具を取り外すことができない。それゆえに、上側点灯治具の取り外し忘れによる上部ユニットとの干渉を回避することができる。その結果、点灯検査における検査ステージの変形作業を簡便に実行することが可能となる。
点灯検査装置1000の構成を示す斜視図である。 点灯検査装置2000の動作を説明するための図である。 (a)は、点灯検査装置2000の構成を示す斜視図である。(b)は、点灯検査装置2000のステージ上部ユニットと点灯治具とが干渉する様子を示す斜視図である。 本発明の実施形態に係る点灯検査装置100の構成を模式的に示す斜視図である。 上側点灯治具および下側点灯治具の接続を分解した斜視図である。 液晶パネル10の構成を模式的に示す断面図である。 点灯検査装置100の動作を説明するための図である。 表示パネル10がセットされた状態の点灯検査装置100の断面図である。 点灯検査装置100の改変例を模式的に示す斜視図である。
 以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。以下の図面においては、説明の簡潔化のために、実質的に同一の機能を有する構成要素を同一の参照符号で示す。なお、本発明は以下の実施形態に限定されない。
 図4は、表示パネルの点灯を検査する点灯検査装置100の構成を模式的に示している。本実施形態の点灯検査装置100は、表示パネル(不図示)がセットされる検査ステージ30と、検査ステージ30にセットされる表示パネルに接触する複数の点灯治具33とから構成されている。
 本実施形態の検査ステージ30は、支柱ユニット35と、支柱ユニット35に連結された上部ユニット32を含んでいる。図示した例の支柱ユニット35は、鉛直方向90に延びており、そして、上部ユニット32は、支柱ユニット35から垂直方向(すなわち、水平方向)に延びている。また、上部ユニット32の下方には、支柱ユニット35から垂直方向(水平方向)に延びた下部ユニット34が設けられている。
 上部ユニット32は、検査ステージ30のサイズを変化するように移動可能に支柱ユニット35に連結されている。具体的には、検査される表示パネル(例えば、液晶パネル)のサイズに応じて、上部ユニット32は、上下方向55に沿って移動することができる。すなわち、上部ユニット32を移動させることによって、表示パネルのサイズに合わせて、検査ステージ30のサイズを変化させることができる。
 本実施形態の構成では、支柱ユニット35の内壁35aに点灯治具33が設けられている。具体的には、支柱ユニット35の内壁35aのうち、上部ユニット32の下方における領域に、上側点灯治具33aと下側点灯治具33bとが配置されている。支柱ユニット35の内壁35aは、検査ステージ30にセットされる表示パネルの方を向いた面である。支柱ユニット35の内壁35aに配置された上側点灯治具33aと下側点灯治具33bとは、表示パネルの電極端子に接触させる部材である。
 上側点灯治具33aには、下側点灯治具33bへの橋渡しとなるプレート40が取り付けられている。図5は、上側点灯治具33aおよび下側点灯治具33bの接続を分解した斜視図である。この例では、プレート40は、上側点灯治具33aの一部に固定されており、下側点灯治具33bの一部は、プレート40によって押さえられている。このプレート40を設けた構成によって、上側点灯治具33aを取り外した後でないと、下側点灯治具33bを取り外すことができない。
 したがって、点灯検査装置100において下側点灯治具33bを検知するセンサー60を設けておき、センサー60によって下側点灯治具33bの存在を検知することによって、上側点灯治具33aの存在を確認することができる。具体的には、上側点灯治具33aを取り外さないと、下側点灯治具33bを取り外すことはできないので、センサー60によって下側点灯治具33bが存在していないことが確認されたならば、それによって、上側点灯治具33aが存在していないことを確認することができる。センサー60は、例えば、透過型フォトセンサーを用いることができる。
 上側点灯治具33aが存在していないことが確認できたら、上側点灯治具33aと上部ユニット32は互いに干渉することはないので、上下方向55に(特に、下方向に)移動させて、検査ステージ30のサイズを変化させることができる。その結果、本実施形態の点灯検査装置100によれば、点灯検査における検査ステージ30の変形作業を簡便に実行することができる。すなわち、点灯治具33が図4に示すように2個に分割されていた場合でも、下側点灯治具33bのみを取り外し、上側点灯治具33aの取り外しを忘れてしまう可能性を排除することができる。したがって、上側点灯治具33aの取り外し忘れによる上部ユニット32との干渉を回避することができる。
 本実施形態のプレート40は、金属(例えば、鉄、アルミニウムなど)から構成されているが、下側点灯治具33bを押さえることができるのであれば、金属以外の材料(樹脂など)であっても構わない。また、プレート40は、上側点灯治具33aを取り外す前に下側点灯治具33bが取り外されないように、下側点灯治具33bを押さえるものであるので、プレート40によって下側点灯治具33bを強く押さえる必要はない。具体的には、上側点灯治具33aを取り外す前に下側点灯治具33bが取り外されない程度に、下側点灯治具33bを押さえていればよい。あるいは、上側点灯治具33aを取り外す前に下側点灯治具33bを取り外すことができないようにプレート40を橋渡しして配置するのであれば、下側点灯治具33bとプレート40とは接触していなくてもよい場合もある。
 図4及び図5に示した例では、上側点灯治具33aは、支柱ユニット35に固定される固定部38aと、固定部38aから延びた接触部37aとを含んでいる。同様に、下側点灯治具33bは、支柱ユニット35に固定される固定部38bと、固定部38bから延びた接触部37bとを含んでいる。接触部37a、37bには、表示パネル(例えば、液晶パネル)の電極端子に接続されるプローブ部を有している。また、プレート40は、上側点灯治具33aの固定部38aの内面側(表示パネル側)の領域に固定されており、下側点灯治具33bの固定部38bの内面側(表示パネル側)の領域まで延びている。なお、プレート40の上側点灯治具33a側は固定されているが、プレート40の下側点灯治具33b側は固定されていない。したがって、図5に示すように、プレート40と下側点灯治具33bとは分離できるようになっている。
 図6は、本実施形態の点灯検査装置100で点灯検査される表示パネル10を示している。図6に示した表示パネル10は、液晶パネルである。液晶パネル10は、概して、全体として矩形の形状を有しており、一対の透光性基板(ガラス基板)11および12から構成されている。両基板11および12は、互いに対向して配置され、その間には液晶層14が設けられている。液晶層14は、基板11および12の間の電界印加に伴って光学特定が変化する液晶材料からなる。基板11および12の外縁部には、シール剤15が設けられて、液晶層14を封止している。また、両基板11および12の外面には、それぞれ偏光板17および18が貼り付けられている。本実施形態では、両基板11および12のうち、表側がカラーフィルタ基板(CF基板)11であり、一方、裏側がアレイ基板12である。
 図6に示した液晶パネル10には、電極端子(不図示)が形成されており、その電極端子に、点灯検査装置100の電極端子(プローブ)を接触させて検査する。液晶パネル10のサイズは、例えば20インチから60インチであるが、それらのサイズに限定されるものではない。また、本実施形態の点灯検査装置100で検査される表示パネル10は、液晶パネルに限らず、プラズマ・ディスプレイ・パネル(PDP)、有機ELパネルなどの他の表示パネルであっても構わない。
 図7は、本実施形態の点灯検査装置100によって表示パネル10を点灯検査する様子を示す図である。図7に示すように、表示パネル(液晶パネル)10はコンベア(例えば、コロコンベア)20によって製造ライン(搬送ライン)25を移動して(矢印50)、点灯検査装置100に到達する。なお、表示パネル10をコンベア20の上を移動させる場合、表示パネル10を支える支持部(不図示)を製造ライン25に設けておくことが好ましい。
 次いで、表示パネル10は、複数の電極端子(プローブ部)31および複数の点灯治具33(33a、33b)を備えた検査ステージ30にセットされる。そして、電極端子31及び点灯治具33を表示パネルの電極端子(不図示)に接触させた状態で、液晶パネル10の点灯検査を実行する。
 図8は、点灯検査装置100に表示パネル10が導入された際の様子を示す断面図である。この図では、製造ライン25の上流側から下流側に向けて表示パネル10および点灯検査装置100を表している。なお、点灯治具33(33a、33b)は表しているが、支柱ユニット35は表していない。図8に示した構成において、製造ライン25によって流れてきた表示パネル10が点灯検査装置100に導入されると、上部ユニット32を下方向57に下げて、点灯検査装置100の検査ステージ30にセットする。次いで、電極端子31および点灯治具33(33a、33b)を表示パネル10の電極端子(不図示)に接触させ、その状態で表示パネル10の点灯検査を実行する。
 図8に示した例では、上部ユニット32は、可動部32aと固定部32bとから構成されており、可動部32aと固定部32bとの間には溝部32cが設けられている。上部ユニット32を下方向57に下げて溝部32cに表示パネル10を挿入した後、可動部32aを固定部32bの方に移動させることによって、可動部32aと固定部32bとで表示パネル10を挟み込む。このようにして、可動部32aの電極端子31を表示パネル10の電極端子(不図示)に接触させる。
 また、下部ユニット34も同様に、可動部34aと固定部34bとから構成されており、可動部34aと固定部34bとの間には溝部34cが設けられている。製造ライン25を流れてきた表示パネル10は溝部34cに挿入され、次いで、可動部34aを固定部34bの方に移動させることによって、可動部34aと固定部34bとで表示パネル10を挟み込む。このようにして、可動部34aの電極端子31を表示パネル10の電極端子(不図示)に接触させる。さらに、表示パネル10が検査ステージ30にセットされた状態で、表示パネル10の電極端子に点灯治具33(33a、33b)を接触させる。具体的には、点灯治具33の接触部37(プローブ部)を、表示パネル10の電極端子に接触させる。このように、表示パネル10の電極端子に、点灯検査装置100の電極端子31および点灯治具33を接触させた状態で表示パネル10の点灯検査を実行することができる。検査された表示パネル10は、検査結果が記録された後、図7に示すように製造ライン25の下流に移動していく(矢印51)。
 なお、表示パネル10が液晶パネルの場合、表示パネル10を点灯させるには、バックライトが必要であるので、点灯検査装置100には、表示パネル10の点灯用のバックライトユニット(不図示)が設けられている。一方、表示パネル10がPDP、有機ELパネルの場合には、点灯検査装置100にバックライトユニットを設けなくても、表示パネル10の点灯検査を実行することができる。また、図8では、上部ユニット32の可動部32aおよび下部ユニット34の可動部34aに電極端子31を配置した例を示したが、電極端子31の配置例はそれに限らない。例えば、固定部(32b、34b)に電極端子31を設けることも可能であるし、可動部(32a、34a)と固定部(32b、34b)の両方に電極端子31を設けることも可能である。
 図4に示した構成例では、2つの点灯治具33a、33b(すなわち、上側点灯治具33a、下側点灯治具33b)を有する点灯検査装置100を示したが、本実施形態の構成はそれに限定されない。例えば、図9に示すように、点灯治具33は、3つ又はそれ以上にすることも可能である。図9に示した構成例では、上側点灯治具33a、中央点灯治具33c、下側点灯治具33bの3つの点灯治具33を有する点灯検査装置100を示している。プレート40は、上側点灯治具33aに固定されており、プレート40は、中央点灯治具33cおよび下側点灯治具33bを押さえるように延びている。プレート40は、上側点灯治具33aには固定されているが、中央点灯治具33cおよび下側点灯治具33bには固定されていない。検査ステージ30のサイズを変化する際には、プレート40の存在によって、上側点灯治具33aを取り外してからでないと、中央点灯治具33cおよび下側点灯治具33bを取り外すことができない。したがって、センサー60によって下側点灯治具33bを監視していれば、上部ユニット32を移動させてよいかどうか判断することができる。
 また、上述した実施形態の点灯検査装置100では、支柱ユニット35が鉛直方向90に延びるように構成したが、それに限定されない。例えば、支柱ユニット35が鉛直方向90に対して斜めに延びるようにして、検査ステージ30を鉛直方向90から傾斜させた構成にしても構わない。さらには、ここでの上側点灯治具33aおよび下側点灯治具33bの「上側」「下側」は、移動可能な上部ユニット32に対しての便宜的なものであるので、支柱ユニット35が水平方向に延びるように、検査ステージ30が水平方向にした構成にしても構わない。加えて、「上側」「下側」は便宜的なものであるので、上部ユニット32を基準にして、上側点灯治具33aを第1点灯治具33aのような表現にしても構わない。
 以上、本発明を好適な実施形態により説明してきたが、こうした記述は限定事項ではなく、勿論、種々の改変が可能である。
 本発明によれば、点灯検査における検査ステージの変形作業を簡便に実行することができる点灯検査装置を提供することができる。
 10 表示パネル(液晶パネル)
 11 CF基板
 12 アレイ基板
 14 液晶層
 15 シール剤
 17、18 偏光板
 25 製造ライン(搬送ライン)
 30 検査ステージ
 31 電極端子
 32 上部ユニット
 32a 可動部
 32b 固定部
 32c 溝部
 33 点灯治具
 33a 上側点灯治具
 33b 下側点灯治具
 33c 中央点灯治具
 34 下部ユニット
 34a 可動部
 34b 固定部
 34c 溝部
 35 支柱ユニット
 35a 支柱ユニットの内壁
 37 接触部
 38 固定部
 40 プレート
 60 センサー
100 点灯検査装置
101 検査部
102 受渡部
103 プローブユニット
104 搬送装置
105 筐体
110 液晶パネル
120 コロコンベア
125 製造ライン
130 検査ステージ
131 電極端子
132 ステージ上部ユニット
133 点灯治具
135 ステージ支柱ユニット
160 センサー
1000 点灯検査装置
2000 点灯検査装置

Claims (3)

  1.  表示パネルの点灯を検査する点灯検査装置であって、
     表示パネルがセットされる検査ステージと、
     前記検査ステージにセットされる前記表示パネルに接触する複数の点灯治具と
     を備え、
     前記検査ステージは、
           支柱ユニットと、
           前記支柱ユニットに連結された上部ユニットと
     を含み、
     前記上部ユニットは、前記検査ステージのサイズを変化するように移動可能に前記支柱ユニットに連結されており、
     前記上部ユニットの下方における前記支柱ユニットの内壁には、前記複数の点灯治具として上側点灯治具と下側点灯治具とが設けられており、
     前記上側点灯治具には、前記下側点灯治具への橋渡しとなるプレートが取り付けられている、点灯検査装置。
  2.  前記点灯検査装置は、前記下側点灯治具を検知するセンサーを備え、
     前記表示パネルは、液晶パネルであり、
     前記液晶パネルは、搬送ラインによって運ばれて前記検査ステージにセットされることを特徴とする、請求項1に記載の点灯検査装置。
  3.  前記プレートは、前記上側点灯治具の一部に固定されており、
     前記下側点灯治具の一部は、前記プレートによって押さえられている、請求項1または2に記載の点灯検査装置。
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