JP2009265139A - 液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法 - Google Patents

液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法 Download PDF

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Abstract

【課題】プローブユニットの交換作業を無くし、また異なるサイズ用のプローブユニットの保管を不要とする。
【解決手段】液晶パネル1aの電極に接触する複数のプローブピン48を有するプローブユニットを、液晶パネル1aの電極群毎に設け、各プローブユニットをガイド22に搭載し、液晶パネル1aの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイド22に沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めする。同じ複数のプローブユニットを用いて、多種のサイズの液晶パネルの点灯検査が行われる。
【選択図】図1

Description

本発明は、液晶ディスプレイ装置に用いられる液晶パネルの検査を行う液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法に係り、特に多種のサイズの液晶パネルの検査を行うのに好適な液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法に関する。
液晶ディスプレイ装置に用いられる液晶パネルは、TFT(Thin Film Transistor)基板とカラーフィルタ基板との間に液晶を封入して構成され、TFT基板の周辺部には各画素から電極が引き出されて配置されている。液晶パネルを点灯させるにはバックライトが必要であり、バックライトから液晶パネルの裏側へ光を照射しながら、液晶パネルの各画素の電極に駆動電圧を印加すると、各画素がバックライトの光を透過させて、液晶パネルが点灯する。
液晶パネルに画素欠陥が無いかどうかを検査する点灯検査は、通常、液晶パネルに駆動回路や入力制御回路基板等を取り付ける前に行われる。このため、液晶パネルの点灯検査を行う点灯検査装置は、液晶パネルの電極に接触する複数のプローブピンを有するプローブユニットを備え、バックライトから液晶パネルの裏側へ光を照射しながら、プローブユニットから各画素の電極へ駆動電圧を印加して、液晶パネルを点灯させる。各画素が正常に点灯しているかどうかは、検査者が目視で判定する。この様な液晶パネルの点灯検査装置として、例えば、特許文献1に記載のものがある。
特開平10−301076号公報
液晶パネルのTFT基板の周辺部には、複数の電極から成る電極群が、複数の箇所に配置されている。各電極群の位置は、液晶パネルのサイズ毎に異なる。従来の液晶パネルの点灯検査装置では、液晶パネルのサイズ毎に専用のプローブユニットを用意し、液晶パネルのサイズに応じて、プローブユニットを交換していた。このため、プローブユニットの交換に時間が掛かり、また異なるサイズ用のプローブユニットを保管しておく必要があった。さらに、交換時の作業ミスでプローブユニットが正しい位置に設置されずに、プローブピンが液晶パネルの電極から外れる恐れがあった。
本発明の課題は、プローブユニットの交換作業を無くし、また異なるサイズ用のプローブユニットの保管を不要とすることである。また、本発明の課題は、プローブピンが液晶パネルの電極から外れるのを防止することである。
本発明による液晶パネル検査装置は、液晶パネルの電極に接触する複数のプローブピンを有し、液晶パネルの電極群毎に設けられた複数のプローブユニットと、複数のプローブユニットを搭載して案内するガイドとを備え、液晶パネルの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイドに沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めするものである。
また、本発明による液晶パネル検査方法は、液晶パネルの電極に接触する複数のプローブピンを有するプローブユニットを、液晶パネルの電極群毎に設け、各プローブユニットをガイドに搭載し、液晶パネルの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイドに沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めして、液晶パネルの検査を行うものである。
液晶パネルの電極に接触する複数のプローブピンを有するプローブユニットを、液晶パネルの電極群毎に設け、各プローブユニットをガイドに搭載し、液晶パネルの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイドに沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めするので、同じ複数のプローブユニットを用いて、多種のサイズの液晶パネルの検査が行われる。
さらに、本発明による液晶パネル検査装置は、ガイドに沿って移動する各プローブユニットに接触して、各プローブユニットの位置を液晶パネルの各電極群の位置に規制する位置決め手段を、液晶パネルのサイズ毎に備え、液晶パネルのサイズに応じて、位置決め手段を交換し、各プローブユニットを位置決め手段に押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行うものである。また、本発明による液晶パネル検査方法は、ガイドに沿って移動する各プローブユニットに接触して、各プローブユニットの位置を液晶パネルの各電極群の位置に規制する位置決め手段を、液晶パネルのサイズ毎に用意し、液晶パネルのサイズに応じて、位置決め手段を交換し、各プローブユニットを位置決め手段に押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行うものである。液晶パネルのサイズ毎に用意された位置決め手段を用い、各プローブユニットを位置決め手段に押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行うので、プローブユニットの位置決めが簡単な作業で確実に行われる。
本発明によれば、液晶パネルの電極に接触する複数のプローブピンを有するプローブユニットを、液晶パネルの電極群毎に設け、各プローブユニットをガイドに搭載し、液晶パネルの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイドに沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めすることにより、同じ複数のプローブユニットを用いて、多種のサイズの液晶パネルの検査を行うことができる。従って、プローブユニットの交換作業を無くすことができ、また異なるサイズ用のプローブユニットの保管を不要とすることができる。
さらに、本発明によれば、ガイドに沿って移動する各プローブユニットに接触して、各プローブユニットの位置を液晶パネルの各電極群の位置に規制する位置決め手段を、液晶パネルのサイズ毎に用意し、液晶パネルのサイズに応じて、位置決め手段を交換し、各プローブユニットを位置決め手段に押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行うことにより、各プローブユニットの位置決めを、簡単な作業で確実に行うことができる。従って、プローブピンが液晶パネルの電極から外れるのを防止することができる。
図1は本発明の一実施の形態による液晶パネル検査装置の上面図、図2は本発明の一実施の形態による液晶パネル検査装置の側面図、図3は本発明の一実施の形態による液晶パネル検査装置の正面図である。本実施の形態は、液晶パネルの点灯検査を行う液晶パネル検査装置の例を示している。液晶パネル検査装置は、パネルホルダ10、ベース11、バックライト12、プローブユニット移動ベース20、脚部21、ガイド22、位置決めプレート、ボルト32、及び複数のプローブユニットを含んで構成されている。
ベース11上に、パネルホルダ10が設けられている。パネルホルダ10には、検査対象の液晶パネルが搭載されている。パネルホルダ10は、液晶パネルを保持する上板を備え、上板は、液晶パネルのサイズに応じて交換可能となっている。図1〜図3では、液晶パネル1aのサイズに合った上板10aが使用されている。上板10aには、液晶パネル1aの画素が並んだ表示部に対応する開口が形成されており、上板10aは、液晶パネル1aの画素が無い周辺部を保持する。パネルホルダ10の内部には、バックライトが入る空間が設けられており、図3に示す様に、バックライト12が収納されている。バックライト12からの光が、上板10aの開口を通って、液晶パネル1aの裏側へ照射される。
液晶パネル1aは、図2及び図3に示す様に、カラーフィルタ基板2とTFT基板3とを含んで構成されている。カラーフィルタ基板2とTFT基板3との間には、液晶が封入されている。図2に示す様に、TFT基板3は、カラーフィルタ基板2よりも若干大きく、TFT基板3のカラーフィルタ基板2からはみ出した周辺部には、各画素から電極が引き出されて配置されている。電極は、複数の電極が集まって電極群を構成し、複数の電極群が、TFT基板3の周辺部の複数の箇所に配置されている。各電極群の位置は、液晶パネルのサイズ毎に異なる。
ベース11上には、さらに、プローブユニット移動ベース20が設けられている。図2及び図3に示す様に、プローブユニット移動ベース20は、脚部21により、パネルホルダ10に搭載された液晶パネル1aよりも高い位置に配置されている。プローブユニット移動ベース20上には、ガイド22が設けられ、ガイド22には、液晶パネル1aの電極群の数に対応した複数のプローブユニットが搭載されている。
図4は、プローブユニットの側面図である。プローブユニットは、アーム40、支持プレート41、ガイド42,45、移動プレート43,46、支持部材44、ピンホルダ47、プローブピン48、支持プレート50、モータ51,54、カム52,55、及びカムフォロア53,56を含んで構成されている。
アーム40は、ガイド22に搭載され、ガイド22に沿って移動する。アーム40のプローブユニット移動ベース20から迫り出した部分の下面には、図面下方向へ伸びる支持プレート41が取り付けられている。支持プレート41には、ガイド42により、移動プレート43が移動可能に取り付けられている。移動プレート43は、ガイド42に沿って、図面上下方向へ移動する。移動プレート43には、L字形の支持部材44が取り付けられている。支持部材44の下面には、ガイド45により、移動プレート46が移動可能に取り付けられている。移動プレート46は、ガイド45に沿って、図面左右方向へ移動する。移動プレート46には、ピンホルダ47が取り付けられている。ピンホルダ47は、複数のプローブピン48を、図面奥行き方向に並べて保持している。各プローブピン48は、液晶パネル1aの電極群の各電極に接触して、駆動電圧を印加する。
支持部材44には、モータ51が取り付けられている。モータ51の回転軸には、カム52が取り付けられている。カム52は、回転軸の中心からカムフォロアを案内する案内面までの距離が一定ではなく、偏心している。一方、移動プレート46には、ローラ状のカムフォロア53が取り付けられている。カムフォロア53は、図示しないバネにより、カム52の案内面に押し付けられている。カム52をモータ51で回転させると、カムフォロア53がカム52の案内面に沿って移動し、移動プレート46が図面左右方向へ移動する。移動プレート46の移動により、プローブピン48の図面左右方向の位置が調整される。
アーム40のプローブユニット移動ベース20から迫り出した部分の側面には、図面下方向へ伸びる支持プレート50が取り付けられている。支持プレート50には、モータ54が取り付けられている。モータ54の回転軸には、カム55が取り付けられている。カム55は、カムフォロアを案内する案内面が一定の高さではなく、案内面が傾斜している。一方、移動プレート43には、ローラ状のカムフォロア56が取り付けられている。カムフォロア56は、移動プレート43及びそれに取り付けられた支持部材44等の重みにより、カム55の案内面に押し付けられている。カム55をモータ54で回転させると、カムフォロア56がカム55の案内面に沿って移動し、移動プレート43が図面上下方向へ移動する。移動プレート43の移動により、プローブピン48の図面上下方向の位置が調整され、また各プローブピン48が液晶パネル1aの電極群の各電極に接触させられる。
以下、本発明の液晶パネル検査方法について説明する。図1において、液晶パネル1aの各電極群の位置に応じて位置決め部31a,31b,31cが設けられた、液晶パネル1aのサイズ用の位置決めプレート30aを用意する。位置決めプレート30aを、プローブユニット移動ベース20上に搭載して、ボルト32により固定する。そして、液晶パネル1aの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイド22に沿って移動し、液晶パネル1aの各電極群の位置に合わせて位置決めする。このとき、各プローブユニットを位置決めプレート30aに押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行う。位置決めプレート30aの位置決め部31a,31b,31cは、各プローブユニットに接触して、各プローブユニットの位置を液晶パネル1aの各電極群の位置に規制する。各プローブユニットの位置決め後、各プローブユニットの各プローブピン48の図面左右方向の位置を調整し、各プローブピン48を、液晶パネル1aの各電極に接触させる。そして、各プローブピン48から各電極へ駆動電圧を印加して、液晶パネル1aの点灯検査を行う。
図5は、異なる位置決めプレートを用いた液晶パネル検査装置の上面図である。液晶パネル1aと異なるサイズの液晶パネル1bの点灯検査を行う場合、液晶パネル1bの各電極群の位置に応じて位置決め部31d,31e,31fが設けられた、液晶パネル1bのサイズ用の位置決めプレート30bを用意する。位置決めプレート30bを、プローブユニット移動ベース20上に搭載して、ボルト32により固定する。そして、液晶パネル1bの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイド22に沿って移動し、液晶パネル1bの各電極群の位置に合わせて位置決めする。このとき、各プローブユニットを位置決めプレート30bに押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行う。位置決めプレート30bの位置決め部31d,31e,31fは、各プローブユニットに接触して、各プローブユニットの位置を液晶パネル1bの各電極群の位置に規制する。各プローブユニットの位置決め後、各プローブユニットの各プローブピン48の図面左右方向の位置を調整し、各プローブピン48を、液晶パネル1bの各電極に接触させる。そして、各プローブピン48から各電極へ駆動電圧を印加して、液晶パネル1bの点灯検査を行う。
液晶パネルの電極に接触する複数のプローブピン48を有するプローブユニットを、液晶パネルの電極群毎に設け、各プローブユニットをガイド22に搭載し、液晶パネルの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイド22に沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めするので、同じ複数のプローブユニットを用いて、多種のサイズの液晶パネルの点灯検査が行われる。
また、液晶パネルのサイズ毎に用意された位置決めプレートを用い、各プローブユニットを位置決めプレートに押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行うので、プローブユニットの位置決めが簡単な作業で確実に行われる。
以上説明した実施の形態によれば、液晶パネルの電極に接触する複数のプローブピン48を有するプローブユニットを、液晶パネルの電極群毎に設け、各プローブユニットをガイド22に搭載し、液晶パネルの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイド22に沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めすることにより、同じ複数のプローブユニットを用いて、多種のサイズの液晶パネルの点灯検査を行うことができる。従って、プローブユニットの交換作業を無くすことができ、また異なるサイズ用のプローブユニットの保管を不要とすることができる。
さらに、以上説明した実施の形態によれば、ガイド22に沿って移動する各プローブユニットに接触して、各プローブユニットの位置を液晶パネルの各電極群の位置に規制する位置決めプレートを、液晶パネルのサイズ毎に用意し、液晶パネルのサイズに応じて、位置決めプレートを交換し、各プローブユニットを位置決めプレートに押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行うことにより、各プローブユニットの位置決めを、簡単な作業で確実に行うことができる。従って、プローブピン48が液晶パネルの電極から外れるのを防止することができる。
本発明の液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法は、液晶パネルの点灯検査に限らず、プローブピンを用いて行う液晶パネルの各種の検査に適用することができる。
本発明の一実施の形態による液晶パネル検査装置の上面図である。 本発明の一実施の形態による液晶パネル検査装置の側面図である。 本発明の一実施の形態による液晶パネル検査装置の正面図である。 プローブユニットの側面図である。 異なる位置決めプレートを用いた液晶パネル検査装置の上面図である。
符号の説明
1a,1b 液晶パネル
2 カラーフィルタ基板
3 TFT基板
10 パネルホルダ
10a,10b 上板
11 ベース
12 バックライト
20 プローブユニット移動ベース
21 脚部
22 ガイド
30a,30b 位置決めプレート
31a,31b,31c,31d,31e,31f 位置決め部
32 ボルト
40 アーム
41 支持プレート
42,45 ガイド
43,46 移動プレート
44 支持部材
47 ピンホルダ
48 プローブピン
50 支持プレート
51,54 モータ
52,55 カム
53,56 カムフォロア

Claims (4)

  1. 液晶パネルの電極に接触する複数のプローブピンを有し、液晶パネルの電極群毎に設けられた複数のプローブユニットと、
    前記複数のプローブユニットを搭載して案内するガイドとを備え、
    液晶パネルの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、前記ガイドに沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めすることを特徴とする液晶パネル検査装置。
  2. 前記ガイドに沿って移動する各プローブユニットに接触して、各プローブユニットの位置を液晶パネルの各電極群の位置に規制する位置決め手段を、液晶パネルのサイズ毎に備え、
    液晶パネルのサイズに応じて、位置決め手段を交換し、各プローブユニットを位置決め手段に押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行うことを特徴とする請求項1に記載の液晶パネル検査装置。
  3. 液晶パネルの電極に接触する複数のプローブピンを有するプローブユニットを、液晶パネルの電極群毎に設け、
    各プローブユニットをガイドに搭載し、
    液晶パネルの各電極群の位置に応じて、各プローブユニットを、ガイドに沿って移動し、各電極群の位置に合わせて位置決めして、液晶パネルの検査を行うことを特徴とする液晶パネル検査方法。
  4. ガイドに沿って移動する各プローブユニットに接触して、各プローブユニットの位置を液晶パネルの各電極群の位置に規制する位置決め手段を、液晶パネルのサイズ毎に用意し、
    液晶パネルのサイズに応じて、位置決め手段を交換し、各プローブユニットを位置決め手段に押し当てて、各プローブユニットの位置決めを行うことを特徴とする請求項3に記載の液晶パネル検査方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011158902A1 (ja) * 2010-06-17 2011-12-22 シャープ株式会社 点灯検査装置
CN103472601A (zh) * 2013-09-02 2013-12-25 京东方科技集团股份有限公司 一种检测设备及检测方法
CN105093012A (zh) * 2015-07-22 2015-11-25 京东方科技集团股份有限公司 一种点灯检测装置及点灯检测系统
CN112924770A (zh) * 2019-11-21 2021-06-08 科美仪器公司 不同尺寸显示板的检查装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011158902A1 (ja) * 2010-06-17 2011-12-22 シャープ株式会社 点灯検査装置
JP5470456B2 (ja) * 2010-06-17 2014-04-16 シャープ株式会社 点灯検査装置
CN103472601A (zh) * 2013-09-02 2013-12-25 京东方科技集团股份有限公司 一种检测设备及检测方法
CN103472601B (zh) * 2013-09-02 2016-06-15 京东方科技集团股份有限公司 一种检测设备及检测方法
CN105093012A (zh) * 2015-07-22 2015-11-25 京东方科技集团股份有限公司 一种点灯检测装置及点灯检测系统
CN112924770A (zh) * 2019-11-21 2021-06-08 科美仪器公司 不同尺寸显示板的检查装置

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