CN114965481A - 一种自动光学检测缺陷检测方法、系统和设备 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例涉及光学检测技术领域，具体公开了一种自动光学检测缺陷检测方法、系统及设备，本发明实施例通过获取工作人员设置的初检数量，标记多个缺陷图像区域；对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品；对疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，筛选不合格产品。能够在初始精检阶段，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检标记不合格产品的多个缺陷图像区域，进而对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测和针对精检，逐步且快速的筛选不合格产品，不仅解决人为的主观误判和疏忽等问题，大大提高检测的准确性，还能够有效提高检测的效率。

Description

一种自动光学检测缺陷检测方法、系统和设备
技术领域
本发明属于光学检测技术领域，尤其涉及一种自动光学检测缺陷检测方法、系统和设备。
背景技术
LCD的构造是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶盒，下基板玻璃上设置TFT，上基板玻璃上设置彩色滤光片，通过TFT上的信号与电压改变来控制液晶分子的转动方向，从而达到控制每个像素点偏振光出射与否而达到显示目的。LCM即LCD显示模组、液晶模块，是指将液晶显示器件，连接件，控制与驱动等外围电路，PCB电路板，背光源，结构件等装配在一起的组件。LCD/LCM广泛应用于电子信息显示行业，在LCD/LCM产品的加工生产过程中，质量检测是保证LCD/LCM产品质量的重要环节。
随着企业对LCD/LCM产品缺陷的检出要求越来越高，缺陷不良的直径也越来越小，要求从0.5mm缩小到0.1mm，检出率从95％提高到99.5％以上，而现有的LCD/LCM产品的检测主要依靠作业员人眼识别，人员需要长时间培训才能比较准确掌握技能，同时，长时间的人眼识别检测，容易导致眼睛疲劳，影响检测结果。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种自动光学检测缺陷检测系统及方法，旨在解决背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：
一种自动光学检测缺陷检测方法，所述方法具体包括以下步骤：
获取光学检测母版，根据所述光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量；
根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域；
根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品；
对所述疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据所述针对精检结果，筛选不合格产品。
作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述获取光学检测母版，根据所述光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量具体包括以下步骤：
获取光学检测母版；
根据所述光学检测母版，匹配LCD/LCM测试治具；
与所述LCD/LCM测试治具进行连接；
获取工作人员设置的初检数量。
作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域具体包括以下步骤：
在所述LCD/LCM测试治具上，将初检数量的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行初始精检比较，生成初始精检结果；
根据所述初始精检结果，筛选多个不合格产品；
根据所述初始精检结果，标记多个所述不合格产品的多个缺陷图像区域。
作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品具体包括以下步骤：
在所述LCD/LCM测试治具上，将剩余的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行模糊检测比较，生成模糊检测比较结果；
根据所述模糊检测比较结果，将检测通过的LCD/LCM产品标记为疑似合格产品；
根据所述模糊检测比较结果，将检测不通过的LCD/LCM产品标记为不合格产品。
作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述对所述疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据所述针对精检结果，筛选不合格产品具体包括以下步骤：
在所述LCD/LCM测试治具上，将疑似合格产品的多个缺陷图像区域与所述光学检测母版进行针对精检比较，生成针对精检结果；
根据所述针对精检结果，将检测通过的疑似合格产品标记为合格产品；
根据所述针对精检结果，将检测不通过的疑似合格产品标记为不合格产品。
一种自动光学检测缺陷检测系统，所述系统包括检测准备单元、初始精检单元、模糊检测单元和针对精检单元，其中：
检测准备单元，用于获取光学检测母版，根据所述光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量；
初始精检单元，用于根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域；
模糊检测单元，用于根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品；
针对精检单元，用于对所述疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据所述针对精检结果，筛选不合格产品。
一种自动光学检测缺陷检测设备，用于实现自动光学检测缺陷检测方法或自动光学检测缺陷检测系统，包括
支撑体，所述支撑体呈环形，所述支撑体的一端设有滑槽，所述支撑体远离所述滑槽的一端固定设有多个支架，所述滑槽内滑动设有多个载物托，所述载物托用于承载所述LCD/LCM测试治具；
检测箱，所述检测箱位于所述支撑体靠近所述滑槽的一侧，所述检测箱固定设置在侧边护板上，所述侧边护板可拆卸安装在所述支撑体的一侧；所述检测箱内设有检测空间，所述检测准备单元可拆卸安装在所述检测空间内；
所述检测空间内可拆卸安装有转换电机，所述转换电机的一端控制有转换轮盘，所述初始精检单元、所述模糊检测单元和所述针对精检单元分别可拆卸安装在所述转换轮盘上；
通过环形的检测流水线，提高检测效率。
所述检测箱的一侧设有驱动电机，所述驱动电机可拆卸安装在所述侧边护板上，所述驱动电机的一端控制有驱动齿轮，所述载物托的一侧设有齿，所述驱动电机与所述载物托一侧的齿啮合；
所述检测箱靠近所述载物托的一侧设有对位孔，所述对位孔贯穿所述检测空间；
所述载物托内设有安置空间，所述安置空间远离所述支撑体的一端敞口，所述安置空间的一侧内壁上设有连接插头，所述安置空间的尺寸大于LCD/LCM产品的尺寸，所述连接插头与LCD/LCM产品上的插孔相适配；
所述载物托内设有转动板，所述转动板与所述载物托铰接，所述转动板的一侧为所述安置空间，所述转动板另一侧为不合格产品通道，所述转动板由微型电机控制，所述微型电机可拆卸安装在所述载物托上；
不合格LCD/LCM产品由不合格产品通道快速地被筛选出。
所述侧边护板的一侧设有安装槽，所述安装槽内可拆卸安装有控制气缸，所述控制气缸的活塞端固定设有安装块，所述安装块上铰接有两个驱动杆，每个所述驱动杆远离所述安装块的一端都铰接有一个限位板，每个所述限位板的一侧都固定设有一个微型气缸，每个所述微型气缸的活塞端都固定设有一个夹持板；
两个所述限位板之间设有伸缩机构，所述伸缩机构包括套筒，所述套筒的两端分别滑动设有一个活塞杆，两个所述活塞杆远离所述伸缩机构的一端分别与两个所述限位板固定连接，所述套筒内安置有弹簧；
所述伸缩机构还包括电磁铁，所述电磁铁可拆卸安装在所述套筒内部，所述电磁铁的两侧分别安置有一个所述弹簧，两个所述弹簧远离所述电磁铁的一端分别设有一个铁块，两个所述铁块分别与两个所述活塞杆固定连接；
在对LCD/LCM产品初始精检时，对LCD/LCM进行夹持居中固定，以提高初始精检的准确性；在对LCD/LCM产品模糊检测时，无需再次夹持。以提高检测效率；在对LCD/LCM产品针对检测时，根据缺陷区域的多少，灵活调整适配的检测速度，在不影像针对检测结果的情况下使针对检测尽可能快速。
两个所述夹持板互相靠近的一侧分别设有一层橡胶垫，所述电磁铁与所述铁块之间的吸引力大于所述弹簧的弹力；
作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述检测准备单元具体包括：
母版获取模块，用于获取光学检测母版；
治具匹配模块，用于根据所述光学检测母版，匹配LCD/LCM测试治具；
治具连接模块，用于与所述LCD/LCM测试治具进行连接；
初检设置模块，用于获取工作人员设置的初检数量。
作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述初始精检单元具体包括：
初始精检模块，用于在所述LCD/LCM测试治具上，将初检数量的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行初始精检比较，生成初始精检结果；
不合格筛选模块，用于根据所述初始精检结果，筛选多个不合格产品；
区域标记模块，用于根据所述初始精检结果，标记多个所述不合格产品的多个缺陷图像区域。
作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述模糊检测单元具体包括：
模糊检测模块，用于在所述LCD/LCM测试治具上，将剩余的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行模糊检测比较，生成模糊检测比较结果；
第一模糊标记模块，用于根据所述模糊检测比较结果，将检测通过的LCD/LCM产品标记为疑似合格产品；
第二模糊标记模块，用于根据所述模糊检测比较结果，将检测不通过的LCD/LCM产品标记为不合格产品。
作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述针对精检单元具体包括：
针对精检模块，用于在所述LCD/LCM测试治具上，将疑似合格产品的多个缺陷图像区域与所述光学检测母版进行针对精检比较，生成针对精检结果；
第一针对标记模块，用于根据所述针对精检结果，将检测通过的疑似合格产品标记为合格产品；
第二针对标记模块，用于根据所述针对精检结果，将检测不通过的疑似合格产品标记为不合格产品。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
本发明实施例通过获取工作人员设置的初检数量；对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域；对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品；对疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，筛选不合格产品。能够在初始精检阶段，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检标记不合格产品的多个缺陷图像区域，进而对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测和针对精检，逐步且快速的筛选不合格产品，不仅解决人为的主观误判和疏忽等问题，大大提高检测的准确性，还能够有效提高检测的效率；且本发明使用缺陷检测系统在初始精检时，LCD/LCM产品被剧中夹持，以满足初始精检和缺陷标记所需要的准确性；在模糊检测时，LCD/LCM产品无需再次被夹持，以满足模糊检测对效率的要求，在针对检测时，由于无需对LCD/LCM产品进行全部的检测，只需要针对缺陷区域进行检测即可，以提高检测效率，同样需要对LCD/LCM产品进行剧中夹持定位，但可以做到又快又准。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例。
图1示出了本发明实施例提供的方法的流程图。
图2示出了本发明实施例提供的系统的应用架构图。
图3示出了本发明实施例提供的LCD/LCM产品图像的示意图。
图4示出了本发明实施例提供的系统的结构示意图。
图5示出了本发明图4的侧边护板结构示意图。
图6示出了本发明图实施例提供的夹持板的结构示意图。
图7示出了本发明图6的伸缩机构结构示意图。
图8示出了本发明图4的载物托截面结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
可以理解的是，现有技术中，随着企业对LCD/LCM产品缺陷的检出要求越来越高，缺陷不良的直径也越来越小，要求从0.5mm缩小到0.1mm，检出率从95％提高到99.5％以上，而现有的LCD/LCM产品的检测主要依靠作业员人眼识别，人员需要长时间培训才能比较准确掌握技能，同时，长时间的人眼识别检测，容易导致眼睛疲劳，影响检测结果。
为解决上述问题，本发明实施例通过获取工作人员设置的初检数量；对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域；对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品；对疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，筛选不合格产品。能够在初始精检阶段，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检标记不合格产品的多个缺陷图像区域，进而对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测和针对精检，逐步且快速的筛选不合格产品，不仅解决人为的主观误判和疏忽等问题，大大提高检测的准确性，还能够有效提高检测的效率。
图1示出了本发明实施例提供的方法的流程图。
具体的，一种自动光学检测缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括以下步骤：
步骤S101，获取光学检测母版，根据所述光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量。
在本发明实施例中，工作人员可以导入或选择光学检测母版，通过对光学检测母版进行分析，确定光学检测母版对应的LCD/LCM产品编号，进而按照LCD/LCM产品编号选择LCD/LCM测试治具，与选择的LCD/LCM测试治具建立连接，工作人员可以进行初检数量的设置，完成设置之后，获取工作人员设置的初检数量。
具体的，在本发明提供的优选实施方式中，所述获取光学检测母版，根据所述光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量具体包括以下步骤：
获取光学检测母版；
根据所述光学检测母版，匹配LCD/LCM测试治具；
与所述LCD/LCM测试治具进行连接；
获取工作人员设置的初检数量。
进一步的，所述自动光学检测缺陷检测方法还包括以下步骤：
步骤S102，根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域。
在本发明实施例中，将初检数量的LCD/LCM产品逐个放置在LCD/LCM测试治具上，进行逐个的初始精检，通过对LCD/LCM测试治具上进行LCD/LCM产品图像的采集，并将采集到的LCD/LCM产品图像与光学检测母版的设计参数进行高像素的精细比较，实现自动运算和输出检测结果，取代人眼检测，将不合格产品筛选出，并标记多个不合格产品的多个缺陷图像区域，具体的，图3示出了本发明实施例提供的LCD/LCM产品图像的示意图。
可以理解的是，初检数量是对LCD/LCM产品进行光学检测缺陷的初步检测数量，通过对初检数量的LCD/LCM产品进行初始精检，能够直接检测产品是否合格，并且通过统计不合格产品的缺陷图像区域，确定后面进行针对性光学检测的区域，在保证能够保证检测精度的同时，能够有效提高光学检测缺陷的效率，缩短光学检测缺陷的时间；初检数量越多，对于后续的光学检测的精度就越高。
具体的，在本发明提供的优选实施方式中，所述根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域具体包括以下步骤：
在所述LCD/LCM测试治具上，将初检数量的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行初始精检比较，生成初始精检结果；
根据所述初始精检结果，筛选多个不合格产品；
根据所述初始精检结果，标记多个所述不合格产品的多个缺陷图像区域。
进一步的，所述自动光学检测缺陷检测方法还包括以下步骤：
步骤S103，根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品。
在本发明实施例中，将剩余的LCD/LCM产品逐个放置在LCD/LCM测试治具上，进行逐个的模糊检测，通过对LCD/LCM测试治具上进行LCD/LCM产品图像的采集，并将采集到的LCD/LCM产品图像与光学检测母版的设计参数进行低像素的模糊比较，将模糊比较不通过的LCD/LCM产品标记为不合格产品，将模糊比较通过的LCD/LCM产品标记为疑似合格产品。
可以理解的是，对于模糊比较通过的疑似合格产品，不能代表真正合格，需要专门针对疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，进而判断疑似合格产品是否真的为合格产品，而在模糊检测的过程中，可以快速检测出不合格产品，而无需对每个LCD/LCM产品进行精检，缩短了光学缺陷检测的时间，提高了光学缺陷检测的效率。
具体的，在本发明提供的优选实施方式中，所述根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品具体包括以下步骤：
在所述LCD/LCM测试治具上，将剩余的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行模糊检测比较，生成模糊检测比较结果；
根据所述模糊
检测比较结果，将检测通过的LCD/LCM产品标记为疑似合格产品；
根据所述模糊检测比较结果，将检测不通过的LCD/LCM产品标记为不合格产品。
进一步的，所述自动光学检测缺陷检测方法还包括以下步骤：
步骤S104，对所述疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据所述针对精检结果，筛选不合格产品。
在本发明实施例中，对疑似合格产品，则对LCD/LCM产品图像的多个缺陷图像区域进行针对精检，将采集到的LCD/LCM产品图像与光学检测母版在多个缺陷图像区域处进行高像素的精细比较，生成针对精检结果，进而可以按照针对精检结果，筛选出疑似合格产品中的不合格产品。
具体的，在本发明提供的优选实施方式中，所述对所述疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据所述针对精检结果，筛选不合格产品具体包括以下步骤：
在所述LCD/LCM测试治具上，将疑似合格产品的多个缺陷图像区域与所述光学检测母版进行针对精检比较，生成针对精检结果；
根据所述针对精检结果，将检测通过的疑似合格产品标记为合格产品；
根据所述针对精检结果，将检测不通过的疑似合格产品标记为不合格产品。
进一步的，图2示出了本发明实施例提供的系统的应用架构图。
其中，在本发明提供的又一个优选实施方式中，一种自动光学检测缺陷检测系统，包括：
检测准备单元101，用于获取光学检测母版，根据所述光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量。
在本发明实施例中，工作人员可以导入或选择光学检测母版，检测准备单元101通过获取光学检测母版，并对光学检测母版进行分析，确定光学检测母版对应的LCD/LCM产品编号，进而按照LCD/LCM产品编号选择LCD/LCM测试治具，与选择的LCD/LCM测试治具建立连接，工作人员可以进行初检数量的设置，完成设置之后，检测准备单元101获取工作人员设置的初检数量。
具体的，在本发明提供的优选实施方式中，所述检测准备单元101具体包括：
母版获取模块，用于获取光学检测母版；
治具匹配模块，用于根据所述光学检测母版，匹配LCD/LCM测试治具；
治具连接模块，用于与所述LCD/LCM测试治具进行连接；
初检设置模块，用于获取工作人员设置的初检数量。
进一步的，所述自动光学检测缺陷检测系统还包括：
初始精检单元102，用于根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域。
在本发明实施例中，将初检数量的LCD/LCM产品逐个放置在LCD/LCM测试治具上，进行逐个的初始精检，初始精检单元102通过对LCD/LCM测试治具上进行LCD/LCM产品图像的采集，并将采集到的LCD/LCM产品图像与光学检测母版的设计参数进行高像素的精细比较，实现自动运算和输出检测结果，取代人眼检测，将不合格产品筛选出，并在精细比较的过程中，标记多个不合格产品的多个缺陷图像区域。
具体的，在本发明提供的优选实施方式中，所述初始精检单元102具体包括：
初始精检模块，用于在所述LCD/LCM测试治具上，将初检数量的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行初始精检比较，生成初始精检结果；
不合格筛选模块，用于根据所述初始精检结果，筛选多个不合格产品；
区域标记模块，用于根据所述初始精检结果，标记多个所述不合格产品的多个缺陷图像区域。
进一步的，所述自动光学检测缺陷检测系统还包括：
模糊检测单元103，用于根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品。
在本发明实施例中，将剩余的LCD/LCM产品逐个放置在LCD/LCM测试治具上，进行逐个的模糊检测，模糊检测单元103通过对LCD/LCM测试治具上进行LCD/LCM产品图像的采集，并将采集到的LCD/LCM产品图像与光学检测母版的设计参数进行低像素的模糊比较，进而根据模糊比较结果，将模糊比较不通过的LCD/LCM产品标记为不合格产品，将模糊比较通过的LCD/LCM产品标记为疑似合格产品。
具体的，在本发明提供的优选实施方式中，所述模糊检测单元103具体包括：
模糊检测模块，用于在所述LCD/LCM测试治具上，将剩余的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行模糊检测比较，生成模糊检测比较结果；
第一模糊标记模块，用于根据所述模糊检测比较结果，将检测通过的LCD/LCM产品标记为疑似合格产品；
第二模糊标记模块，用于根据所述模糊检测比较结果，将检测不通过的LCD/LCM产品标记为不合格产品。
进一步的，所述自动光学检测缺陷检测系统还包括：
针对精检单元104，用于对所述疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据所述针对精检结果，筛选不合格产品。
在本发明实施例中，对疑似合格产品，则通过针对精检单元104对LCD/LCM产品图像的多个缺陷图像区域进行针对精检，将采集到的LCD/LCM产品图像与光学检测母版在多个缺陷图像区域处进行高像素的精细比较，生成针对精检结果，进而可以按照针对精检结果，筛选出疑似合格产品中的不合格产品。
具体的，在本发明提供的优选实施方式中，所述针对精检单元104具体包括：
针对精检模块，用于在所述LCD/LCM测试治具上，将疑似合格产品的多个缺陷图像区域与所述光学检测母版进行针对精检比较，生成针对精检结果；
第一针对标记模块，用于根据所述针对精检结果，将检测通过的疑似合格产品标记为合格产品；
第二针对标记模块，用于根据所述针对精检结果，将检测不通过的疑似合格产品标记为不合格产品。
本发明还提供一种自动光学检测缺陷检测设备，在本发明上述的任一实施例中使用支撑体13，所述支撑体13呈环形，所述支撑体13的一端设有滑槽，所述支撑体13远离所述滑槽的一端固定设有多个支架14，所述滑槽内滑动设有多个载物托11。利用环形的支撑体13，使LCD/LCM产品通过三次循环，完成检测，将不合格逐渐筛选出来。
检测箱15，所述检测箱15位于所述支撑体13靠近所述滑槽的一侧，所述检测箱15固定设置在侧边护板16上，所述侧边护板16可拆卸安装在所述支撑体13的一侧；所述检测箱15内设有检测空间，所述检测空间内可拆卸安装有转换电机，所述转换电机上可拆卸安装有高像素摄像头、低像素摄像头和数据处理模块，所述数据处理模块收集并处理所述高像素摄像头和低像素摄像头检测的数据。
有益地，所述检测箱15的一侧设有驱动电机17，所述驱动电机17可拆卸安装在所述侧边护板16上，所述驱动电机17的一端控制有驱动齿轮，所述载物托11的一侧设有齿，所述驱动电机17与所述载物托11一侧的齿啮合。驱动电机可编程可控制转速，在初始精检单元、模糊检测单元和针对精检单元时启用不同的转速，满足初始精检单元准确、模糊检测单元的迅速和针对精检单元的又快又准的特点。
有益地，所述检测箱15靠近所述载物托11的一侧设有对位孔18，所述对位孔18贯穿所述检测空间，所述对位孔18与所述高像素摄像头或所述低像素摄像头同轴心。由高像素摄像头或所述低像素摄像头捕获LCD/LCM产品的光学影像，进行初始精检、模糊检测和针对精检。
有益地，所述载物托11内设有安置空间12，所述安置空间12远离所述支撑体13的一端敞口，所述安置空间12的一侧内壁上设有连接插头，所述安置空间12的尺寸大于LCD/LCM产品的尺寸，所述连接插头与LCD/LCM产品上的插孔相适配。在支撑体的两侧分别设置上料机构和下料机构，下料机构将合格的LCD/LCM产品取出。
有益地，所述载物托内设有转动板32，所述转动板32与所述载物托11铰接，所述转动板32的一侧为所述安置空间12，所述转动板另一侧为不合格产品通道，所述转动板由微型电机控制，所述微型电机可拆卸安装在所述载物托11上。任一检测单元检测到不合格的LCD/LCM产品，将数据反馈给载物托，控制微型电机启动带动转动板转动，使得不合格产品直接被筛选出去，在检测箱的下方，滑槽不封闭，检测到的不合格LCD/LCM产品由此不合格产品通道运送至废料收集箱集中处理。
有益地，所述侧边护板16的一侧设有安装槽19，所述安装槽19内可拆卸安装有控制气缸20，所述控制气缸20的活塞端固定设有安装块21，所述安装块21上铰接有两个驱动杆22，每个所述驱动杆22远离所述安装块21的一端都铰接有一个限位板23，每个所述限位板23的一侧都固定设有一个微型气缸24，每个所述微型气缸24的活塞端都固定设有一个夹持板25。控制气缸启动控制活塞收缩，带动安装块移动，安装块移动使限位板有靠拢和靠近控制气缸两个方向上的运动趋势，在此趋势下，将LCD/LCM产品进行夹持(夹持前微型气缸启动使夹持板与LCD/LCM产品位于同一平面内)，并将其插口插在插头上，使LCD/LCM产品与LCD/LCM治具连接。
有益地，两个所述限位板23之间设有伸缩机构26，所述伸缩机构26包括套筒29，所述套筒29的两端分别滑动设有一个活塞杆27，两个所述活塞杆27远离所述伸缩机构26的一端分别与两个所述限位板23固定连接，所述套筒29内安置有弹簧30。当控制气缸的活塞端伸出，在弹簧的作用下，两个夹持板分开。在初始精检时，LCD/LCM产品被剧中夹持，以满足初始精检和缺陷标记所需要的准确性；在模糊检测时，LCD/LCM产品无需再次被夹持(LCD/LCM产品与LCD/LCM治具连接后暂不分开)，以满足模糊检测对效率的要求，在针对检测时，由于无需对LCD/LCM产品进行全部的检测，只需要针对缺陷区域进行检测即可，以提高检测效率，同样需要对LCD/LCM产品进行剧中夹持定位，但可以做到又快又准。
有益地，所述伸缩机构26还包括电磁铁31，所述电磁铁31可拆卸安装在所述套筒29内部，所述电磁铁31的两侧分别安置有一个所述弹簧30，两个所述弹簧30远离所述电磁铁31的一端分别设有一个铁块28，两个所述铁块28分别与两个所述活塞杆27固定连接。电磁铁改变夹持板的运动方式，具体的当夹持板准备对LCD/LCM产品进行夹持时，先启动电磁铁，电磁铁将活塞杆吸引，带动夹持板先夹持LCD/LCM产品(剧中定位)，当夹持板夹持LCD/LCM产品后，无法在移动时，只能水平移动，继而LCD/LCM产品与LCD/LCM治具连接，可以有效避免测试过程中对插孔的损伤，并且提高精检单元检测结果的准确性，使缺陷标记所提供的数据更具有说服力。
有益地，两个所述夹持板25互相靠近的一侧分别设有一层橡胶垫，所述电磁铁31与所述铁块28之间的吸引力大于所述弹簧30的弹力。电磁铁不启动时，在弹簧的弹力作用下，夹持板可以快速地分开，电气磁铁启动时，夹持板先将LCD/LCM产品夹持，当夹持板无法更进一步夹紧时，会带动LCD/LCM产品移动，当LCD/LCM产品无法移动时，对LCD/LCM产品进行更进一步的夹紧。
综上所述，本发明实施例通过获取光学检测母版，根据光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量；根据光学检测母版，在LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域；根据光学检测母版，在LCD/LCM测试治具上，对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品；对疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据针对精检结果，筛选不合格产品。能够在初始精检阶段，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检标记不合格产品的多个缺陷图像区域，进而对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测和针对精检，逐步且快速的筛选不合格产品，不仅解决人为的主观误判和疏忽等问题，大大提高检测的准确性，还能够有效提高检测的效率。
应该理解的是，虽然本发明各实施例的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，各实施例中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种自动光学检测缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括以下步骤：
获取光学检测母版，根据所述光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量；
根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域；
根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品；
对所述疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据所述针对精检结果，筛选不合格产品。
2.根据权利要求1所述的自动光学检测缺陷检测方法，其特征在于，所述获取光学检测母版，根据所述光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量具体包括以下步骤：
获取光学检测母版；
根据所述光学检测母版，匹配LCD/LCM测试治具；
与所述LCD/LCM测试治具进行连接；
获取工作人员设置的初检数量。
3.根据权利要求1所述的自动光学检测缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域具体包括以下步骤：
在所述LCD/LCM测试治具上，将初检数量的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行初始精检比较，生成初始精检结果；
根据所述初始精检结果，筛选多个不合格产品；
根据所述初始精检结果，标记多个所述不合格产品的多个缺陷图像区域。
4.根据权利要求1所述的自动光学检测缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据所述针对精检结果，筛选不合格产品具体包括以下步骤：
在所述LCD/LCM测试治具上，将疑似合格产品的多个缺陷图像区域与所述光学检测母版进行针对精检比较，生成针对精检结果；
根据所述针对精检结果，将检测通过的疑似合格产品标记为合格产品；
根据所述针对精检结果，将检测不通过的疑似合格产品标记为不合格产品。
5.一种自动光学检测缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括检测准备单元、初始精检单元、模糊检测单元和针对精检单元，其中：
检测准备单元，用于获取光学检测母版，根据所述光学检测母版选择LCD/LCM测试治具进行连接，并获取工作人员设置的初检数量；
初始精检单元，用于根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对初检数量的LCD/LCM产品图像进行初始精检，筛选不合格产品，并标记多个缺陷图像区域；
模糊检测单元，用于根据所述光学检测母版，在所述LCD/LCM测试治具上，对剩余的LCD/LCM产品图像进行模糊检测，筛选不合格产品和疑似合格产品；
针对精检单元，用于对所述疑似合格产品的多个缺陷图像区域进行针对精检，生成针对精检结果，根据所述针对精检结果，筛选不合格产品。
6.根据权利要求5所述的自动光学检测缺陷检测系统，其特征在于，所述检测准备单元具体包括：
母版获取模块，用于获取光学检测母版；
治具匹配模块，用于根据所述光学检测母版，匹配LCD/LCM测试治具；
治具连接模块，用于与所述LCD/LCM测试治具进行连接；
初检设置模块，用于获取工作人员设置的初检数量。
7.根据权利要求5所述的自动光学检测缺陷检测系统，其特征在于，所述初始精检单元具体包括：
初始精检模块，用于在所述LCD/LCM测试治具上，将初检数量的LCD/LCM产品图像与所述光学检测母版进行初始精检比较，生成初始精检结果；
不合格筛选模块，用于根据所述初始精检结果，筛选多个不合格产品；
区域标记模块，用于根据所述初始精检结果，标记多个所述不合格产品的多个缺陷图像区域。
8.根据权利要求5所述的自动光学检测缺陷检测系统，其特征在于，所述针对精检单元具体包括：
针对精检模块，用于在所述LCD/LCM测试治具上，将疑似合格产品的多个缺陷图像区域与所述光学检测母版进行针对精检比较，生成针对精检结果；
第一针对标记模块，用于根据所述针对精检结果，将检测通过的疑似合格产品标记为合格产品；
第二针对标记模块，用于根据所述针对精检结果，将检测不通过的疑似合格产品标记为不合格产品。
9.一种自动光学检测缺陷检测设备，其特征在于，用于实现如权利要求1-4任一所述的自动光学检测缺陷检测方法或如权利要求5-8任一所述的自动光学检测缺陷检测系统，包括：
支撑体，所述支撑体呈环形，所述支撑体的一端设有滑槽，所述支撑体远离所述滑槽的一端固定设有多个支架，所述滑槽内滑动设有多个载物托，所述载物托用于承载所述LCD/LCM测试治具；
检测箱，所述检测箱位于所述支撑体靠近所述滑槽的一侧，所述检测箱固定设置在侧边护板上，所述侧边护板可拆卸安装在所述支撑体的一侧；所述检测箱内设有检测空间，所述检测准备单元可拆卸安装在所述检测空间内；所述检测空间内可拆卸安装有转换电机，所述转换电机的一端控制有转换轮盘；所述检测箱的一侧设有驱动电机，所述驱动电机可拆卸安装在所述侧边护板上，所述驱动电机的一端控制有驱动齿轮，所述载物托的一侧设有齿，所述驱动电机与所述载物托一侧的齿啮合；所述检测箱靠近所述载物托的一侧设有对位孔，所述对位孔贯穿所述检测空间；所述载物托内设有安置空间，所述安置空间远离所述支撑体的一端敞口，所述安置空间的一侧内壁上设有连接插头，所述安置空间的尺寸大于LCD/LCM产品的尺寸，所述连接插头与LCD/LCM产品上的插孔相适配。
10.根据权利要求9所述的一种自动光学检测缺陷检测设备，其特征在于，所述侧边护板的一侧设有安装槽，所述安装槽内可拆卸安装有控制气缸，所述控制气缸的活塞端固定设有安装块，所述安装块上铰接有两个驱动杆，每个所述驱动杆远离所述安装块的一端都铰接有一个限位板，每个所述限位板的一侧都固定设有一个微型气缸，每个所述微型气缸的活塞端都固定设有一个夹持板；
两个所述限位板之间设有伸缩机构，所述伸缩机构包括套筒，所述套筒的两端分别滑动设有一个活塞杆，两个所述活塞杆远离所述伸缩机构的一端分别与两个所述限位板固定连接，所述套筒内安置有弹簧；
所述伸缩机构还包括电磁铁，所述电磁铁可拆卸安装在所述套筒内部，所述电磁铁的两侧分别安置有一个所述弹簧，两个所述弹簧远离所述电磁铁的一端分别设有一个铁块，两个所述铁块分别与两个所述活塞杆固定连接；
两个所述夹持板互相靠近的一侧分别设有一层橡胶垫，所述电磁铁与所述铁块之间的吸引力大于所述弹簧的弹力。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011214903A (ja) * 2010-03-31 2011-10-27 Denso It Laboratory Inc 外観検査装置、外観検査用識別器の生成装置及び外観検査用識別器生成方法ならびに外観検査用識別器生成用コンピュータプログラム
CN105447512A (zh) * 2015-11-13 2016-03-30 中国科学院自动化研究所 一种精粗结合的光学表面缺陷的检测方法及装置
JP2018091771A (ja) * 2016-12-06 2018-06-14 大日本印刷株式会社 検査方法、事前画像選別装置及び検査システム
CN113533206A (zh) * 2021-07-26 2021-10-22 上海图也信息技术有限公司 一种工业互联网的工业检测系统及方法
CN113916127A (zh) * 2021-09-28 2022-01-11 安庆帝伯粉末冶金有限公司 一种气门导管成品外观视觉检测系统及检测方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011214903A (ja) * 2010-03-31 2011-10-27 Denso It Laboratory Inc 外観検査装置、外観検査用識別器の生成装置及び外観検査用識別器生成方法ならびに外観検査用識別器生成用コンピュータプログラム
CN105447512A (zh) * 2015-11-13 2016-03-30 中国科学院自动化研究所 一种精粗结合的光学表面缺陷的检测方法及装置
JP2018091771A (ja) * 2016-12-06 2018-06-14 大日本印刷株式会社 検査方法、事前画像選別装置及び検査システム
CN113533206A (zh) * 2021-07-26 2021-10-22 上海图也信息技术有限公司 一种工业互联网的工业检测系统及方法
CN113916127A (zh) * 2021-09-28 2022-01-11 安庆帝伯粉末冶金有限公司 一种气门导管成品外观视觉检测系统及检测方法

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