CN105445972A - 探针移动装置 - Google Patents

探针移动装置 Download PDF

Info

Publication number
CN105445972A
CN105445972A CN201510616593.9A CN201510616593A CN105445972A CN 105445972 A CN105445972 A CN 105445972A CN 201510616593 A CN201510616593 A CN 201510616593A CN 105445972 A CN105445972 A CN 105445972A
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
moving
mentioned
display panels
turning axle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510616593.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105445972B (zh
Inventor
许景喆
崔荣燮
金东炫
金相一
林大均
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
DE&T Co Ltd
Original Assignee
DE&T Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to KR1020140127341A priority Critical patent/KR101616564B1/ko
Priority to KR10-2014-0127341 priority
Application filed by DE&T Co Ltd filed Critical DE&T Co Ltd
Publication of CN105445972A publication Critical patent/CN105445972A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105445972B publication Critical patent/CN105445972B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06705Apparatus for holding or moving single probes

Abstract

本发明涉及探针移动装置,上述探针移动装置设有:探针移动部,用于使分别设置于与液晶显示面板的上部面相对应的数据探针单元及与上述液晶显示面板的两侧面相对应的栅极探针单元的多个探针单独移动;以及探针,以可移动的方式设置于上述探针移动部,以与上述液晶显示面板相接触的方式进行多轴向移动,本发明具有如下效果:可根据液晶显示面板的大小来使设置于数据探针单元及栅极探针单元的多个探针移动,因此即使作为检查对象的液晶显示面板的大小发生改变,也可在不替换或改变数据探针单元及栅极探针单元的情况下进行检查,即使检查对象发生改变,也可减少替换或改变各个探针单元所需的作业时间。

Description

探针移动装置
技术领域
[0001] 本发明涉及探针移动装置,更详细地涉及可根据是否使用以规定间隔设置于数据探针单元及栅极探针单元的探针来使探针移动的探针移动装置。
背景技术
[0002] 通常,液晶显示面板的检查装置使用探针单元固定显示面板至作业人员所在的位置,并根据液晶显示面板的大小来采用适当大小的检查装置来检查液晶显示面板,可使检查人员通过肉眼容易检查液晶显示面板(包括液晶显示器或平板显示器等)是否为合格品O
[0003] 作为平板显示器(flat panel display)中的主打产品,液晶显示面板(TFT-1XD)因其量产技术的确保和研发成果,在实现大型化、高分辨率方面急剧发展,不仅用于笔记本电脑,而且还被开发为大型显示器产品,逐渐替代现有的阴极射线管(cathode ray tube)产品,而在显示器产业中所占的比例也在逐渐增大。
[0004] 在当今信息化社会,显示器作为视觉信息传达媒介,其重要性与日倶增,尤其随着所有电子产品的轻、薄、短、小型化发展趋势,进一步提高了低耗电、超薄化、轻量化、高画质、便携性的重要性。
[0005] 由于液晶显示面板是一种不仅性能方面可满足平板显示器的这些条件,而且还可实现量产,因此利用液晶显示面板的各种新产品开发事业正在高速发展,在电子产业领域被誉为是新一代主力技术,所占比重已超过半导体并一直猛增。
[0006] 而对这种液晶显示面板,会在生产线的最后阶段执行光学检验,通常在特定的检查设备,利用探针单元来分别对液晶显示面板的数据线和栅极线进行断线检查和颜色检查,并利用显微镜等来实施肉眼检查等。
[0007] 另一方面,液晶显示面板目前具有30英寸、40英寸、46英寸、52英寸、57英寸等多种尺寸(size),而且目前已经存在可对所有各种尺寸的液晶显示面板进行检查的检查设备。
[0008] 但是,为了在一个设备完成对各种尺寸液晶显示面板的检查,则不可避免地需要根据液晶显示面板的尺寸变化来在设备的内部进行结构变化。
[0009] 尤其,存在以下缺点,S卩,若所要检查的液晶显示面板的尺寸发生变化,则需相应地更换用于放置液晶显示面板的工作台及与液晶显示面板相接触的探针单元等。
[0010] S卩,存在如下麻烦,在液晶显示面板的尺寸为40英寸的情况下,则同样需要将探针单元更换成与40英寸液晶显示面板相匹配的探针单元,在液晶显示面板的尺寸为52英寸或57英寸的情况下,则同样需要将探针单元更换成与各个液晶显示面板相匹配的探针单元。
[0011] 并且,存在如下问题,S卩,在液晶显示面板未放置于工作台的准确位置,而是位于略微歪斜或偏离的位置的情况下,无法通过使设置于探针单元的探针移动来将液晶显示面板调整到液晶显示面板的准确位置。
[0012] 另一方面,近来在生产更高分辨率的产品方面,探针应更加精密地与间距稠密的图案相接触,但由于X轴、Y轴位置的误差、从探针的检查接触位置所产生的高度差导致接触力不足,因而产生接触不良等错误,导致检查不达标率高,并发生无法执行检查的情况。
[0013] 对此,克服机械方面的管理局限性,并在确认各个探针的位置信息后,使各个单独的探针或探针单元(Probe Unit)独立运行,以此使探针或探针单元体现最佳性能成为了一种需求。
[0014] 液晶显示面板有液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)、有机发光二极管(Organic Light Emitting D1des,OLED)等,而作为这些液晶显示面板的检查工序,有着液晶显示器电池检测(CELL TESTER)或有机发光二极管的面板检测(PANEL TESTER)等各种形态的检查工序,但要实施上述检查工序,则需具备各工序所需的检查装备,而这些高价设备的使用非常有限。
[0015] 例如,在下述专利文献I中,公开了 “用于检查液晶面板的自动探针装置”。
[0016] 下述专利文献I所述的用于检查液晶面板的自动探针装置包括:工作台,用于检查液晶面板;偏光板支架,用于支撑位于液晶面板的上部的偏光板;以及高度调节装置,与偏光板支架相连接,固定于工作台的一侧,用于使偏光板靠近液晶面板或使偏光板从液晶面板远离。
[0017] 在下述专利文献2中,公开了 “探针单元及包括上述探针的检查装置”。
[0018] 下述专利文献2所述的探针单元及包括上述探针单元的检查装置包括:固定部件,用于固定在后部面配置有端子的被检体;移动块,以可移动的方式配置于固定部件的后方;以及探针,设置于移动块,并与被检体的端子相接触。
[0019] 现有技术文献
[0020] 专利文献
[0021] 专利文献1:韩国特许公开第10-2008-0054557号(2008年6月18日公开)
[0022] 专利文献2:韩国特许公开第10-2013-0022126号(2013年3月6日公开)
发明内容
[0023] 但是,根据现有技术的液晶显示面板检查装置存在如下问题,S卩,需要另外具备与不同尺寸的液晶显示面板相匹配的探针单元,无法使设置于探针单元的探针移动,由此不仅导致探针与液晶显示面板的接触不良,而且还因探针的移动而导致液晶显示面板破损。
[0024] 本发明的一目的在于,为解决如上所述的问题而提供如下的探针移动装置,即,SP使变更或替换为不同尺寸的液晶显示面板,也可在不改变或替换探针单元的情况下,立即对液晶显示面板进行检查。
[0025] 本发明的再一目的在于,提供如下的探针移动装置,即,当替换/变更为不同大小的液晶显示面板时,可根据液晶显示面板的尺寸来使探针移动。
[0026] 本发明的另一目的在于,提供如下的探针移动装置,S卩,可使设置于各个探针单元的探针进行多轴(X轴、Y轴、Z轴)向移动,来使探针准确地与液晶显示面板的接触位置相接触。
[0027] 本发明的还有一目的在于,提供如下的探针移动装置,即,提高对高分辨率产品的位置准确度,按各个探针或探针单元来调节液晶显示面板和探针的接触力或探针单元的接触力,以此减少接触不良,进一步提高检查准确度。
[0028] 本发明的又一目的在于,提供如下的探针移动装置,S卩,在不增加因探针单元的替换方式而产生的替换时间、需要替换的单元的情况下,也可应对液晶显示面板的型号变更。
[0029] 为实现如上所述的目的,根据本发明的探针移动装置的特征在于,包括:探针移动部,用于使分别设置于与液晶显示面板的上部面相对应的数据探针单元及与上述液晶显示面板的两侧面相对应的栅极探针单元的多个探针单独移动;以及探针,以可移动的方式设置于上述探针移动部,以与上述液晶显示面板相接触的方式沿着X轴、Y轴、Z轴移动,上述探针移动部包括:数据侧移动部,用于使设置于上述数据探针单元的探针移动;以及栅极侧移动部,用于使设置于上述栅极探针单元的探针移动,上述数据侧移动部和栅极侧移动部分别设有移动体,上述移动体包括移动块和升降块,上述移动块沿着旋转轴移动,上述升降块可在上述移动块的一面升降规定高度,上述升降块与上述探针相结合。
[0030] 如上所述,根据本发明的探针移动装置,可获得如下效果:可根据液晶显示面板的尺寸来使设置于数据探针单元及栅极探针单元的多个探针移动,因而即使作为检查对象的液晶显示面板的尺寸发生改变,也可在不替换或变更数据探针单元及栅极探针单元的情况下进行检查,即使检查对象发生改变,也可减少各个探针单元的替换或变更所需的作业时间。
[0031] 根据本发明的探针移动装置,可获得如下效果:探针本身可进行多轴向移动,因此可准确地与液晶显示面板的接触位置相接触,随着探针准确地与液晶显示面板相接触,可减少因液晶显示面板的破损或因接触不良而导致的损伤,可调节施加于液晶显示面板的加压力(或接触力),可获得多品种、少量生产高分辨率基板或电池等产品的经济性、时间、质量方面的实惠。
[0032] 根据本发明的探针移动装置,可获得如下效果:可用一个检查装置来执行液晶显示器电池检测或有机发光二极管的面板检测等各种形态的液晶显示面板检查工序。
[0033] 根据本发明的探针移动装置,可获得如下效果:由于可调节各个独立探针块的接触力,因此还可用于液晶显示面板的特定位置检查OXD ARRAY TEST, OLED ARRAY)、外部引线焊接(OLB BONDING)、集成电路焊接(IC BONDING)等的作业工序。
附图说明
[0034]图1为示出本发明优选实施例的探针移动装置的立体图。
[0035]图2为示出本发明优选实施例的探针移动装置的一面的部分立体图。
[0036]图3为示出本发明优选实施例的探针移动装置的另一面的部分立体图。
[0037]图4为示出本发明优选实施例的探针移动装置的数据侧移动部的分解立体图。
[0038] 图5为示出本发明优选实施例的探针移动装置的栅极侧移动部的分解立体图。
[0039] 图6为示出本发明优选实施例的探针移动装置的探针的主视图。
[0040] 图7为示出本发明优选实施例的探针移动装置中设置的探针部分移动的状态的俯视图。
具体实施方式
[0041 ] 以下,参照附图对本发明优选实施例的探针移动装置进行详细说明。
[0042]图1为示出本发明优选实施例的探针移动装置的立体图,图2为示出本发明优选实施例的探针移动装置的一面的部分立体图,图3为示出本发明优选实施例的探针移动装置的另一面的部分立体图。
[0043] 根据本发明优选实施例的探针移动装置可包括:探针移动部100,用于使分别设置于与液晶显示面板10的上部面相对应的数据探针单元20及与液晶显示面板10的两侧面相对应的栅极探针单元30的多个探针20单独移动;以及探针200,以与液晶显示面板10相接触的方式进行多轴向移动。
[0044] 在本发明的说明中,液晶显示面板10包括液晶显示器、发光二极管(LED)、有机发光二极管等。即,为了便于说明,将液晶显示面板10视为液晶显示装置、液晶显示器、发光二极管、有机发光二极管等的总称。
[0045] 如图1至图3所示,探针移动装置是指将可通过与液晶显示面板10相接触来相互收发电信号的探针200根据液晶显示面板10的尺寸区分为所要使用的探针和不使用的探针,并可使不使用的探针移动的装置。
[0046] 液晶显示面板10的尺寸各异,而目前量产的液晶显示面板10的尺寸为30英寸到60英寸以上不等。
[0047] 液晶显示面板的检查装置(未图示)可包括:工作台(未图示),用于支撑液晶显示面板10 ;以及探针200,与液晶显示面板10相接触,支撑液晶显示面板10,通过与液晶显示面板10相接触来相互收发电信号。
[0048] 这种探针200可设置于用于支撑液晶显示面板10的一面的数据探针单元20和用于支撑液晶显示面板10的两面的栅极探针单元30。
[0049] 在本发明中,应将数据探针单元20和栅极探针单元30理解为数据探针单元20包括探针移动部100以及以可移动的方式设置的多个探针200,栅极探针单元30包括探针移动部100以及以可移动的方式设置的多个探针200。
[0050] 并且,应理解为探针移动部100用于使设置于探针单元20、30的多个探针200移动。
[0051] 因此,液晶显示面板的检查装置设有根据液晶显示面板10的尺寸来相对应的数据探针单元20和栅极探针单元30,即液晶显示面板的检查装置设有各个液晶显示面板10和与各个液晶显示面板10的尺寸相对应的多个探针单元20、30。
[0052] S卩,根据本发明,在需要检查30英寸至40英寸的液晶显示面板10的情况下,除了通过使设置于探针单元20、30的探针200移动来使用的探针以外,并不通过使剩余的探针移动来使用。
[0053] 并且,在需要检查40英寸至60英寸的液晶显示面板10的情况下,除了通过使设置于探针单元20、30的探针200移动来使用的探针以外,并不通过使剩余的探针移动来使用。
[0054] 对此,根据本发明,通过使设置于各个探针单元20、30的多个探针200进行移动,使得在需要检查具有类似尺寸的液晶显示面板10情况下,无需替换或变更探针单元20、30也可以立即检查液晶显示面板10。
[0055] 如图1所示,数据探针单元20以可向图中的X轴方向移动的方式设置,栅极探针单元30以可向图中的X轴、Y轴方向移动的方式设置。
[0056] 并且,在本发明中,设置于探针单元20、30的探针200可借助各个探针单元20、30来形成整体的位置移动,而且对于设置于这些探针单元20、30的探针,可根据需要来使适当数量的探针移动,使得无需替换或变更探针单元20、30也可以立即检查液晶显示面板10。
[0057] 另一方面,数据探针单元20及栅极探针单元30不仅可沿着X轴、Y轴方向来朝向液晶显示面板10移动,而且还可以借助探针200本身来沿着X轴、Y轴、Z轴方向调节位置。
[0058] S卩,探针200本身可以沿着多个轴(X轴、Y轴、Z轴)方向进行细微的位置调节。
[0059]图4为示出本发明优选实施例的探针移动装置的数据侧移动部的分解立体图,图5为示出本发明优选实施例的探针移动装置的栅极侧移动部的分解立体图。
[0060] 数据探针单元20及栅极探针单元30可包括可使各个探针200移动的数据侧移动部I1和栅极侧移动部150。
[0061 ] 即,数据探针单元20可设置有用于使探针200移动的数据侧移动部110,栅极探针单元30可设置有用于使探针200移动的栅极侧移动部150。
[0062] 数据侧移动部110可包括:具有规定大小的板111,用于以可移动的方式设置多个探针200 ;驱动机构112,分别设置于板111的两端;旋转轴113,借助驱动机构112来旋转;以及移动体120,沿着旋转轴113来移动。
[0063] 在数据侧移动部110中,多个探针200隔开规定间隔并以可移动的方式设置于板111,上述数据侧移动部110可设置有驱动机构112,上述驱动机构112用于产生可使这些探针200移动的旋转力。
[0064] 驱动机构112可分别设置于板111的两端,并且驱动机构112可分别设置有借助驱动机构112来旋转的旋转轴113。这些旋转轴113可具有将板111的整体长度分为二等分的长度,这不仅是为了缩短以与旋转轴113相结合的方式移动的移动体120的移动时间,而且还可使借助移动体120移动的探针200分别向板111的左右两侧移动。
[0065] 因此,旋转轴113可由具有规定长度的第一旋转轴113a和第二旋转轴113b形成,并且可在这些旋转轴113的两端分别设置有固定块113c。
[0066] 并且,在旋转轴113的底面可设置有用于引导移动体120进行直线移动的导轨114,导轨114可具有与板111的长度相同的长度。
[0067] 移动体120借助旋转轴113的旋转来移动,移动体120可包括:移动块121,借助旋转轴113的旋转,来沿着导轨114移动;升降块123,以可进行上下升降的方式与移动块113的一面相结合。
[0068] 可在升降块123以一体的方式形成有以与探针200相对应的方式向一侧突出的突起部124。
[0069] 移动块121可借助旋转轴113的旋转进行往复移动,移动块121可以以规定高度形成有轨道122,升降块123可以以上下移动的方式与轨道122相结合。
[0070] 并且,板111可设置有检测机构130,上述检测机构130用于检测液晶显示面板10的位置。检测机构130可包括:驱动机构131,设置于板111的一面;旋转轴132,借助驱动机构131来旋转;移动板133,沿着旋转轴132来移动;以及摄像头134,设置于移动板133。
[0071] 驱动机构131设置于板111的一面,用于产生旋转力,旋转轴132可以以可旋转的方式与驱动机构131相结合,移动板133可以以可沿着旋转轴132移动的方式与上述旋转轴132相结合。
[0072] 并且,栅极探针单元30可包括:栅极侧移动部150,用于可使探针200移动;以及移动体160,可借助栅极侧移动部150来使探针200移动。
[0073] 栅极侧移动部150可包括:具有规定大小的板151 ;驱动机构152,设置于板151的一端;以及旋转轴153,以可借助驱动机构152来旋转的方式设置。
[0074] 移动体160沿着旋转轴153进行往复移动,移动体160可包括:移动块161,沿着旋转轴153移动;以及升降块163,沿着移动块161升降。
[0075] 移动块161以可移动的方式与旋转轴153相结合,移动块161可以以一体的方式形成有具有规定高度的轨道162。升降块163以可移动的方式与轨道162相结合,升降块163可形成有突起部164,上述突起部164可与探针200进行结合或分离。
[0076] 图6为示出本发明优选实施例的探针移动装置的探针的主视图。
[0077] 探针200可借助数据探针单元20及栅极探针单元30以一体的方式移动,而且还可借助探针移动部100的数据侧移动部110及栅极侧移动部150独立移动。
[0078] 根据液晶显示面板10的尺寸,探针200可分为以与液晶显示面板10相接触的方式移动的探针和以不与液晶显示面板10相接触的方式移动的探针。
[0079] S卩,根据液晶显示面板10的尺寸,并通过借助数据侧移动部110及栅极侧移动部150来调节探针200的位置,从而可将探针200分为与液晶显示面板10相接触的探针和向板111、151的边缘位置移动来不与液晶显示面板10相接触的探针。
[0080] 并且,探针200可独立地多轴(X轴、Y轴、Z轴)向移动,并借助探针移动部100沿着固定于板111、151的轨道115、155来以可直线移动的方式设置。
[0081] 如图6所示,探针200可包括:第一位置调节部210,设置于板111或板151 ;以及第二位置调节部250,借助第一位置调节部210来向与第一位置调节部210相交叉的方向移动。
[0082] 第一位置调节部210可包括:第一马达220,进行正旋转及逆旋转;旋转轴230,借助第一马达220来旋转;以及滑动块240,一边借助旋转轴230的旋转来进行直线移动,一边向与旋转轴230相交叉的方向滑动。
[0083] 并且,第二位置调节部250可包括:第二马达260,进行正旋转及逆旋转;固定框架270,借助与第二马达260相结合的旋转轴(未图示)的旋转来进行升降;引脚框架280,通过借助固定框架270升降,来与液晶显示面板10相接触。
[0084] 这种探针200在借助数据探针单元20或栅极探针单元30移动到与液晶显示面板10相邻的位置之后,借助探针200的第一位置调节部210及第二位置调节部250来准确地与液晶显示面板10的接触位置相接触,能够以此实现位置调节。
[0085] 当探针200与液晶显示面板10相接触时,引脚框架280借助第二位置调节部250来上升,从而引脚框架280可调整调节加压力(或接触力)来使探针以适当的压力(或力)与液晶显示面板10相接触。
[0086] 根据本发明的探针移动装置,可用一个检查装置来执行液晶显示器电池检查或有机发光二极管面板检查等各种形态的液晶显示面板检查工序。
[0087] 并且,由于可调节各个探针块的接触力,因此可用于液晶显示面板的特定位置检查(LCD ARRAY TEST, OLED ARRAY)、外部引线焊接(OLB,OUTER LEAD BONDING)或集成电路焊接(IC BONDING)等的作业工序。
[0088] 接着,将对根据本发明优选实施例的探针移动装置的结合关系进行详细说明。
[0089] 如图1至图6所示,根据本发明实施例的探针移动装置可根据安装在工作台(未图示)的液晶显示面板10的尺寸,来调节与液晶显示面板10相接触的探针200的位置,并可将未与液晶显示面板10相接触的探针200移动到一侧。
[0090] S卩,当液晶显示面板10为57英寸时,可使用设置于各个探针单元20、30的全部探针200,当液晶显示面板10为40英寸时,可将设置于探针单元20、30的探针200中的不必要的探针200移动到板111、151的一侧,使不必要的探针200不与液晶显示面板10相接触。
[0091] 在数据探针单元20,可以设置用于使探针200移动的数据侧移动部110,在栅极探针单元30,也可以设置用于使探针200移动的栅极侧移动部150。
[0092] 在数据侧移动部110中,可在具有规定大小的板111设置用于产生旋转力的驱动机构112,驱动机构112可设于板111的两端,驱动机构112可设置有具有规定长度的旋转轴 113。
[0093] 可在2个驱动机构112分别设置有第一旋转轴113a和第二旋转轴113b,可在这些旋转轴113a、113b的两端设置有用于稳定地支撑上述旋转轴113a、113b的固定块113c。
[0094] 并且,可在板111的上部面固定长度与板111的长度相同的导轨114,导轨114引导移动体120进行直线移动。
[0095] 移动体120借助旋转轴113的旋转来进行水平移动,可以以沿着旋转轴113移动的方式与旋转轴113相结合,移动体120可包括:移动块121,与旋转轴113相结合;以及升降块丨23,沿着移动块121升降。
[0096] 移动块121可固定具有规定高度的轨道122,升降块123以可移动的方式与轨道122相结合,可在升降块123的一面形成有突出的突起部124。
[0097] 这种突起部124可与设置于数据探针单元20的探针200进行分离或结合,移动体120可与用于供给空气压力的压缩机(未图示)相连接。
[0098] 并且,数据探针单元20可设有检测机构130,上述检测机构130可在数据探针单元20移动及探针200移动时,检测液晶显示面板10的位置。
[0099] 可在数据探针单元20的板111的一侧设置有驱动机构131,具有规定长度的旋转轴132以可旋转的方式与驱动机构131相结合,借助旋转轴132的旋转来进行往复移动的移动板133以可移动的方式与旋转轴132相结合。
[0100] 移动板133可设置有用于检测液晶显示面板10的位置的摄像头134,这些检测机构130可分别设置于板111的左右两侧,来检测液晶显示面板10的安装位置。
[0101] 摄像头134通过检测液晶显示面板10的安装位置,来使得探针200和液晶显示面板10的接触位置准确到位。
[0102] 并且,栅极侧移动部150分别设置于数据探针单元20的左右两侧,在栅极侧移动部150中,可在具有规定大小的板151的一侧设置有驱动机构152。
[0103] 借助驱动机构152来旋转的旋转轴153可与驱动机构152相结合,借助驱动机构152来进行往复移动的移动体160可与旋转轴153相结合。
[0104] 移动体160可包括:移动块161,与旋转轴153相结合;升降块163,以移动块161为中心进行升降。
[0105] 具有规定高度的轨道162可以以一体的方式固定在移动块161,升降块163以可升降的方式与轨道162相结合,突起部164可以以一体的方式形成于升降块163,上述突起部164向上述升降块163的一侧突出,并借助上述升降块163的升降来与探针200进行分离或结合。
[0106] 另一方面,数据探针单元20及栅极探针单元30可分别固定多个轨道115、155,这些轨道151、155可使探针200进行直线移动。
[0107] 并且,探针200可自主进行位置调节,探针200可使第二位置调节部250在第一位置调节部210的上部面以可移动的方式与上述第一位置调节部210相结合。S卩,第二位置调节部250可沿着与第一位置调节部210相交叉的方向移动,设置于第二位置调节部250的引脚框架280借助第二位置调节部250来升降,从而在与液晶显示面板10相接触时,可以以适当的加压力紧贴上述液晶显示面板10。
[0108] 可在第一位置调节部210的一侧设置有第一马达220,借助第一马达220来旋转的旋转轴230可与第一位置调节部210相结合,旋转轴230可与滑动块240相结合,上述滑动块240借助第一马达220的旋转来进行往复移动,并向与旋转轴230相交叉的方向移动。
[0109] 滑动块240以以下方式与旋转轴相结合,即,在两个滑动块240以相交叉的方式与旋转轴230相结合的状态下,随着一个滑动块240借助旋转轴230移动,另一个滑动块240向与旋转轴230相交叉的方向滑动。
[0110] 在滑动块240的上部面,第二位置调节部250以可移动的方式与滑动块240相结合,第二位置调节部250可向与第一位置调节部210相交叉的方向移动。
[0111] 并且,第二位置调节部250可与借助第二马达260的旋转来上升的上述固定框架270相结合,引脚框架280可随着固定框架270上升而上升。
[0112] 并且,探针200可分别单独设有与检测机构130相同的检测机构(未图示),上述检测机构130设置于数据探针单元20,用于检测液晶显示面板10的位置。
[0113] 接着,参照图1至图7,将对根据本发明优选实施例的探针移动装置的工作方法进行详细说明。
[0114]图7为示出本发明优选实施例的探针移动装置中设置的探针部分移动的状态的俯视图。
[0115] 如图1至图7所示,根据本发明实施例的探针移动装置将作为检查对象的液晶显示面板10移动到工作台(未图示)进行安装。
[0116] 这种液晶显示面板10的移动采用通用方式,因此省略其具体说明。
[0117] 如图1所示,在液晶显示面板10安装在工作台的状态下,数据探针单元20向液晶显示面板10移动,在数据探针单元20的移动结束的状态下,栅极探针单元30向液晶显示面板10的左右两侧移动。
[0118] 在此情况下,设置于数据探针单元20及栅极探针单元30的多个探针200可向已设定的位置移动。这是为了根据液晶显示面板10的尺寸来使探针200的移动达到最少。
[0119] 并且,移动部110、150可将向液晶显示面板10的接触位置的移动最小化,来减少移动时间。
[0120] 在数据探针单元20及栅极探针单元30向液晶显示面板10移动之后,设置于各个探针单元20、30的移动部110、150将使探针200移动。
[0121] 设置于数据探针单元20的检测机构130不仅读取液晶显示面板10的尺寸,而且还检测液晶显示面板10是否准确地安装在指定位置。
[0122] 如此,借助检测机构130来确认液晶显示面板10是否准确安装在指定位置,并在确认液晶显示面板10是否以略微歪斜或偏离的状态安装之后,借助设置于各个探针单元20、30的移动部110、150来使探针200移动。
[0123] 数据侧移动部110将探针200移动到液晶显示面板10的接触位置,数据侧移动部110根据液晶显示面板10的尺寸来选定所要使用的探针和不使用的探针。
[0124] 并且,栅极侧移动部150将探针200移动到液晶显示面板10的接触位置,栅极侧移动部150根据液晶显示面板10的尺寸来选定所要使用的探针和不使用的探针。
[0125] S卩,当液晶显示面板10为47英寸时,将使用设置于数据探针单元20及栅极探针单元30的全部探针200,当液晶显示面板10为40英寸时,在设置于数据探针单元20及栅极探针单元30的探针200中,不使用位于板111、151的末端的I〜3个探针200。
[0126] 对此,数据侧移动部110的驱动机构112借助施加于驱动机构112的电源来旋转,旋转轴113借助驱动机构112的驱动来旋转。由此,与旋转轴113a、113b相结合的移动体120进行移动,移动体120将移动到需要移动的探针200的位置。
[0127] 进行移动的移动体120将暂停,并在停止的状态下,移动体120的升降块123沿着轨道122向图1中的Z轴方向移动。
[0128] 在此,升降块123的突起部124与探针200相结合,在突起部124与探针200相结合的状态下,移动体120借助驱动机构112的驱动来进行移动。
[0129] 随之,探针200移动到板111的边缘,并按需要移动的探针200的数量来使探针200移动。
[0130] 并且,栅极侧移动部150借助施加于栅极侧移动部150的电源来使驱动机构152驱动,旋转轴153借助驱动机构152来旋转,与旋转轴153相结合的移动体160沿着旋转轴153移动。
[0131] 若移动体160到达需要移动的探针200的位置,则在移动体160暂停的状态下,升降块163借助由压缩机(未图示)供给的空气压力来沿着轨道162向图1中的Z轴方向移动。
[0132] 如上进行移动的升降块163的突起部164与探针200相结合,在完成结合的状态下,驱动机构152借助施加于驱动机构152的电源来使旋转轴153旋转,与旋转轴153相结合的移动体160 —边移动,一边将探针200移动到板151的一端。
[0133] 这些数据侧移动部110及栅极侧移动部150可根据借助检测机构130检测到的液晶显示面板10的尺寸,将不使用的探针200移动到板111、151的一端。
[0134] 并且,各个移动部110、150可使探针200的位置移动,使探针200准确地与液晶显示面板10的接触位置相接触。
[0135] 在与液晶显示面板10的接触位置相对应的探针200的位置出现约5〜7mm以上的误差的情况下,可调节探针200的位置。
[0136] 另一方面,与液晶显示面板10的接触位置相对应的探针200的位置出现约为4mm以内的误差时,探针200可自主调节位置。
[0137] 这种探针200可借助第一位置调节部210或第二位置调节部250来沿着图1中的X轴方向或Y轴方向移动,并且可借助第二位置调节部250来沿着图1中的Z轴方向移动。
[0138] 如上所示,在探针200设置于数据探针单元20及栅极探针单元30的状态下,探针200可以独立移动规定距离,从而在向液晶显示面板10的接触位置移动之后,与液晶显示面板10相接触。
[0139] 并且,探针200的引脚框架280可借助第二位置调节部250来沿着Z轴方向移动,当与液晶显示面板10相接触时,探针200可通过沿着图1中的Z轴方向移动,来可以以适当的加压力(接触力)来与液晶显示面板10相接触。
[0140] 并且,由于可调节各个独立的探针块的接触力,因此还可用于液晶显示面板的特定位置检查、外部引线焊接或集成电路焊接等的作业工序。
[0141] 以上根据上述实施例对本发明人创作的发明进行了详细说明,本发明并不限定于上述实施例,在不脱离本发明主旨的范围内,可对本发明进行多种变形,这是理所当然的。

Claims (8)

1.一种探针移动装置,其特征在于, 包括: 探针移动部,用于使分别设置于与液晶显示面板的上部面相对应的数据探针单元及与上述液晶显示面板的两侧面相对应的栅极探针单元的多个探针单独移动;以及 探针,以能够移动的方式设置于上述探针移动部,以与上述液晶显示面板相接触的方式沿着X轴、Y轴、Z轴移动, 上述探针移动部包括: 数据侧移动部,用于使设置于上述数据探针单元的探针移动;以及 栅极侧移动部,用于使设置于上述栅极探针单元的探针移动, 上述数据侧移动部和栅极侧移动部分别设有移动体,上述移动体包括移动块和升降块,上述移动块沿着旋转轴移动,上述升降块能够在上述移动块的一面升降规定高度,上述升降块与上述探针相结合。
2.根据权利要求1所述的探针移动装置,其特征在于, 上述数据侧移动部包括: 具有规定大小的板; 驱动机构,设置于上述板的两端;以及 旋转轴,借助上述驱动机构来旋转, 上述移动体以能够移动的方式与上述旋转轴相结合。
3.根据权利要求2所述的探针移动装置,其特征在于,上述数据侧移动部还包括导轨,上述导轨用于引导上述移动体在板的上部面进行直线移动。
4.根据权利要求2所述的探针移动装置,其特征在于,上述旋转轴包括: 第一旋转轴,设置于从上述板的一端到中间的位置;以及 第二旋转轴,设置于从上述板的另一端到中间的位置。
5.根据权利要求1所述的探针移动装置,其特征在于, 上述栅极侧移动部包括: 具有规定大小的板; 驱动机构,设置于上述板的一端;以及 旋转轴,借助上述驱动机构来旋转, 上述移动体以能够移动的方式与上述旋转轴相结合。
6.根据权利要求5所述的探针移动装置,其特征在于,上述栅极侧移动部还包括导轨,上述导轨用于引导上述移动体在板的上部面进行直线移动。
7.根据权利要求1所述的探针移动装置,其特征在于,上述探针包括: 第一位置调节部,借助第一马达的旋转来向一方向移动; 第二位置调节部,设置于上述第一位置调节部的下侧,借助第二马达的旋转来切换上述第一位置调节部的移动方向。
8.根据权利要求7所述的探针移动装置,其特征在于,上述探针包括检测机构,上述检测机构能够掌握上述液晶显示面板的接触位置。
CN201510616593.9A 2014-09-24 2015-09-24 探针移动装置 Active CN105445972B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140127341A KR101616564B1 (ko) 2014-09-24 2014-09-24 프로브 이동장치
KR10-2014-0127341 2014-09-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105445972A true CN105445972A (zh) 2016-03-30
CN105445972B CN105445972B (zh) 2018-12-14

Family

ID=55556343

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510616593.9A Active CN105445972B (zh) 2014-09-24 2015-09-24 探针移动装置

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR101616564B1 (zh)
CN (1) CN105445972B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107153281A (zh) * 2017-03-21 2017-09-12 凌云光技术集团有限责任公司 全视角检测装置及系统
CN108461058A (zh) * 2017-02-22 2018-08-28 De&T株式会社 探头自动更换装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102013818B1 (ko) * 2018-01-09 2019-08-26 주식회사 디이엔티 평판디스플레이 검사장치
KR102258116B1 (ko) * 2018-11-20 2021-06-01 주식회사 탑 엔지니어링 패널검사장치
KR102157311B1 (ko) * 2020-03-03 2020-10-23 주식회사 프로이천 캠승강식 오토 프로브장치
KR102157070B1 (ko) * 2020-03-03 2020-09-17 주식회사 프로이천 오토 프로브장치
KR102202033B1 (ko) * 2020-09-03 2021-01-12 주식회사 프로이천 캠승강식 오토 프로브장치
KR102202035B1 (ko) * 2020-09-03 2021-01-12 주식회사 프로이천 오토 프로브장치

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1591024A (zh) * 2003-09-01 2005-03-09 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 电连接装置
KR20090026638A (ko) * 2007-09-10 2009-03-13 주식회사 프로텍 오토 프로브 유니트
CN101739923A (zh) * 2008-11-17 2010-06-16 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 被检查基板的对准装置
CN201535789U (zh) * 2008-11-26 2010-07-28 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 探针单元及检查装置
CN102054413A (zh) * 2009-11-06 2011-05-11 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 平板状被检查体的测试装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4280312B2 (ja) * 1996-12-25 2009-06-17 株式会社日本マイクロニクス プローブユニット
KR100673795B1 (ko) * 2004-12-17 2007-01-24 주식회사 디이엔티 평판 표시패널 검사장치
KR101241130B1 (ko) 2006-12-13 2013-03-08 엘지디스플레이 주식회사 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치
KR20100096546A (ko) * 2009-02-24 2010-09-02 엘지디스플레이 주식회사 액정패널 검사장치 및 검사방법
KR101062983B1 (ko) * 2009-02-27 2011-09-06 양 전자시스템 주식회사 프루빙 장치의 프로브 핀 구동장치
KR20130022126A (ko) 2011-08-25 2013-03-06 솔브레인이엔지 주식회사 프로브 유닛 및 이를 포함하는 검사 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1591024A (zh) * 2003-09-01 2005-03-09 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 电连接装置
KR20090026638A (ko) * 2007-09-10 2009-03-13 주식회사 프로텍 오토 프로브 유니트
CN101739923A (zh) * 2008-11-17 2010-06-16 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 被检查基板的对准装置
CN201535789U (zh) * 2008-11-26 2010-07-28 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 探针单元及检查装置
CN102054413A (zh) * 2009-11-06 2011-05-11 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 平板状被检查体的测试装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108461058A (zh) * 2017-02-22 2018-08-28 De&T株式会社 探头自动更换装置
CN108461058B (zh) * 2017-02-22 2021-06-18 De&T株式会社 探头自动更换装置
CN107153281A (zh) * 2017-03-21 2017-09-12 凌云光技术集团有限责任公司 全视角检测装置及系统
CN107153281B (zh) * 2017-03-21 2019-12-06 凌云光技术集团有限责任公司 全视角检测装置及系统

Also Published As

Publication number Publication date
KR20160035727A (ko) 2016-04-01
CN105445972B (zh) 2018-12-14
KR101616564B1 (ko) 2016-04-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105445972A (zh) 探针移动装置
CN105445971B (zh) 液晶显示面板的检查装置及其控制方法
KR102229364B1 (ko) 표시장치의 테스트 장치 및 그 장치를 이용한 테스트 방법
KR101174860B1 (ko) 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치 및 그 제어방법
CN101995679B (zh) 多探头单元
JP6338085B2 (ja) 可撓性基板検査装置
TW201317543A (zh) 平面度檢測裝置
JP2021105620A (ja) プローブシステム
CN104515914A (zh) 床台式光学元件对位与导电性的检测机构及检测方法
CN105182142A (zh) 一种探针测试装置
CN105158609B (zh) 点灯模块检测装置、检测点灯模块及显示面板的方法
CN103389052A (zh) 一种可补偿轴系误差的立式晶圆形状测量装置
CN104637427A (zh) 检测治具
TWI491896B (zh) 具複數檢測頭之陳列檢測裝置
CN101762759A (zh) 平板显示器测试装置
KR101607087B1 (ko) 프로브
KR100756438B1 (ko) 엘씨디 셀 검사용 프로빙장치
CN207502853U (zh) 一种液晶显示屏双切换划痕检测设备
CN207232037U (zh) 一种双面视觉检查平台
KR101326718B1 (ko) 접촉형 필름 프로브 모듈
US20140185038A1 (en) Orthogonality compensation method for length measurement device and length measurement device using same
KR101007107B1 (ko) Led 모듈의 검사 장치
KR101248135B1 (ko) 에어 베어링을 이용한 프로브 검사장치
KR101607089B1 (ko) 액정표시패널 검사장치의 셀 장착장치
KR101248136B1 (ko) 프르브 카드 얼라인용 지그 장치

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
C06 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C10 Entry into substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant