KR101146721B1 - 디스플레이용 패널의 검사장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 각종 디스플레이용 패널을 연속적으로 신속하게 검사할 수 있는 디스플레이용 패널의 검사장치에 관한 것이다. 본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는, 빛이 투과할 수 있는 투과성 디스플레이용 패널을 떠받칠 수 있는 상면을 갖는 턴테이블, 턴테이블을 회전시키는 턴테이블 회전유닛, 턴테이블의 상면에 상호 이격되도록 배치되는 복수의 백라이트, 턴테이블에 설치되어 복수의 백라이트에 전원을 공급하는 전원 공급유닛, 턴테이블의 회전 경로 중에 상호 이격되도록 배치되고 백라이트 위에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널의 상면을 촬영하여 투과성 디스플레이용 패널의 이미지를 획득하기 위해 렌즈부가 투과성 디스플레이용 패널의 상면을 향하게 배치되는 복수의 투과성 패널 검사카메라, 각각의 투과성 패널 검사카메라가 투과성 디스플레이용 패널의 여러 부분을 차례로 촬영할 수 있도록 각각의 투과성 패널 검사카메라를 이동시키는 복수의 투과성 패널 검사카메라 이동유닛, 복수의 투과성 패널 검사카메라로부터 촬영 이미지를 제공받아 이를 분석하고, 장치의 전반적인 동작을 제어하는 제어유닛을 포함한다.

Description

디스플레이용 패널의 검사장치{Inspecting apparatus of pannel for display}
본 발명은 디스플레이용 패널의 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 각종 디스플레이용 패널을 연속적으로 신속하게 검사할 수 있는 디스플레이용 패널의 검사장치에 관한 것이다.
최근 휴대폰, 스마트폰, 디지털 TV, PC, 노트북, PDA, PMP, 네비게이션 등 다양한 디지털 기기가 출시되면서 평판 표시 장치나 터치 스크린 등에 이용되는 디스플레이용 패널의 수요가 증가하고 있다.
평판 표시 장치로는 액정 표시 장치(LCD), 플라스마 표시 장치(PDP), 유기 발광 다이오드(OLED) 등이 있다. 액정 표시 장치의 경우, 경량, 박형, 저전력구동, 풀-컬러, 고해상도 구현 등의 특징으로 인해 각종 디지털 기기의 디스플레이 장치로 널리 사용되고 있다.
액정 표시 장치는 광의 투과율을 제어하는 액정 표시 패널에 편광판과 백라이트 유닛을 부착하여 제조한다. 플라스마 표시 장치는 서로 대향하는 두 패널에 서로 교차하는 전극을 배열하여 제조한다. 이러한 액정 표시 장치나 플라즈마 표시 장치를 비롯하여 각종 평판 표시 장치는 평판 표시 패널에 투명 보호판 등 다양한 기능의 패널을 부착하여 제조한다.
터치 스크린은 각종 평판 표시 장치의 표시 면에 설치되어 사용자가 표시 장치를 보면서 원하는 정보를 선택하도록 하는데 이용되는 입력장치이다. 터치 스크린은 저항막 방식(resistive type), 정전용량 방식(capacitive type), 전기자기장형 방식(electro-magnetic type), 소오 방식(saw type) 및 적외선 방식(infrared type) 등이 있다. 이러한 터치 스크린은 투명한 재질의 윈도우 패널에 투명전극 패널을 부착하여 제조한다.
이와 같이 평판 표시 장치나 터치 스크린 등 패널형 디스플레이에 이용되는 디스플레이용 패널은 복수의 패널을 부착하여 제조한다. 디스플레이용 패널을 구성하는 복수의 패널을 부착하는 방법으로는, 어느 하나의 패널 한쪽 면 둘레에 양면 테이프를 부착하고 다른 패널을 이에 합착하여 두 개의 패널을 부착하는 방법이 알려져 있다. 그러나 이러한 두 패널을 부분적으로 접착하는 방법은 패널을 가압할 때 양면 테이프가 배치되지 않는 두 패널 사이의 갭(gap)이 무너져 불량이 발생하는 문제가 생길 수 있다.
다른 방법으로 최근에는 OCA 등의 접착 필름으로 두 패널 사이의 마주보는 면 전체를 접착하는 방법이 제안된 바 있다. 이러한 패널 부착 방법은 패널 가압 시 두 패널 사이의 미세 간격이 무너지는 문제는 발생하지 않지만, 접착 면적이 넓으므로 부착 작업 시 더욱 큰 주의가 요구된다.
또한 접착하고자 하는 두 패널 사이에 경화성 용제를 도포하고, 이를 경화시켜 접합하는 방법 등이 있다.
이와 같이 여러 가지 방법으로 복수의 패널을 부착하여 디스플레이용 패널을 제조함에 있어서, 패널과 패널 사이에 기포가 생기거나, 이물질이 유입될 수 있다. 또한 제조 과정에서 디스플레이용 패널의 표면에 얼룩이나 기스가 생길 수 있다. 이러한 디스플레이용 패널의 결함은 최종 제품의 불량으로 이어지기 때문에, 디스플레이용 패널의 제조시 검사과정을 필수적으로 거쳐야 한다. 디스플레이용 패널을 검사하는 방법으로는 카메라로 디스플레이용 패널을 촬영하고, 촬영된 이미지를 컴퓨터로 분석하는 방법이 알려져 있다.
본 발명의 배경이 되는 기술은 대한민국 공개특허공보 제10-2008-0113621호(2008.12.31.)에 개시되어 있다.
상술한 것과 같은 종래의 검사장치는, 검사용 카메라의 해상도나 한번에 획득할 수 있는 촬영 이미지의 크기는 한정되어 있어 검사용 카메라가 한 번의 촬영으로 하나의 디스플레이용 패널의 전체를 검사할 수는 없다. 따라서 검사용 카메라는 하나의 디스플레이용 패널에 대해 부분적인 촬영을 연속적으로 실행함으로써 디스플레이용 패널의 전체 이미지를 획득할 수 있다.
이와 같이 하나의 디스플레이용 패널에 대해 검사용 카메라가 부분적인 촬영을 연속적으로 실행하려면 검사용 카메라가 하나의 디스플레이용 패널의 검사시 여러 번 움직여야하기 때문에 검사 시간이 길어지게 된다. 디스플레이용 패널을 구성하는 패널들의 부착 작업은 자동화 기기에 의해 신속하고 연속적으로 이루어지므로, 제품 제조의 마지막 공정인 검사 작업이 길어지면 전체적인 제조 시간이 길어져 제품 생산 효율이 떨어지는 문제가 발생하게 된다.
본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 하나의 디스플레이용 패널에 대한 검사를 복수의 검사유닛이 분업화하여 차례로 수행함으로써, 디스플레이용 패널을 연속적으로 신속하게 검사할 수 있는 디스플레이용 패널의 검사장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는, 빛이 투과할 수 있는 투과성 디스플레이용 패널을 떠받칠 수 있는 상면을 갖는 턴테이블, 상기 턴테이블을 회전시키는 턴테이블 회전유닛, 상기 턴테이블의 상면에 상호 이격되도록 배치되는 복수의 백라이트, 상기 턴테이블에 설치되어 상기 복수의 백라이트에 전원을 공급하는 전원 공급유닛, 상기 턴테이블의 회전 경로 중에 상호 이격되도록 배치되고 상기 백라이트 위에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널의 상면을 촬영하여 상기 투과성 디스플레이용 패널의 이미지를 획득하기 위해 렌즈부가 상기 투과성 디스플레이용 패널의 상면을 향하게 배치되는 복수의 투과성 패널 검사카메라, 상기 각각의 투과성 패널 검사카메라가 상기 투과성 디스플레이용 패널의 여러 부분을 차례로 촬영할 수 있도록 상기 각각의 투과성 패널 검사카메라를 이동시키는 복수의 투과성 패널 검사카메라 이동유닛, 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라로부터 촬영 이미지를 제공받아 이를 분석하고, 장치의 전반적인 동작을 제어하는 제어유닛을 포함하고, 상기 제어유닛은 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라 중에서 두 개 이상이 상기 투과성 디스플레이용 패널의 서로 다른 부분을 차례로 촬영하여 상기 투과성 디스플레이용 패널의 전체 이미지를 획득하도록 상기 턴테이블 회전유닛, 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라 및 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라 이동유닛의 동작을 제어한다.
본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는, 상기 전원 공급유닛에 외부 전원을 제공하기 위해 상기 전원 공급유닛과 전기적으로 연결되는 외부 전원 공급부재, 상기 전원 공급유닛과 상기 외부 전원 공급부재 사이에 배치되어 상기 전원 공급유닛과 상기 외부 전원 공급부재를 전기적으로 연결함과 동시에 상기 전원 공급유닛과 상기 외부 전원 공급부재를 상호 회전 가능하게 결합하는 슬립 링을 더 포함할 수 있다.
본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는, 상기 턴테이블의 회전 경로 중에 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라와 상호 이격되도록 배치되고 상기 백라이트 위에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널의 상면을 스캔하여 스캔 이미지를 상기 제어유닛에 제공하는 투과성 패널 이미지센서, 상기 투과성 패널 이미지센서가 상기 투과성 디스플레이용 패널의 전체 영역을 스캔할 수 있도록 상기 투과성 패널 이미지센서를 이동시키는 투과성 패널 이미지센서 이동유닛을 더 포함할 수 있다.
본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는 상기 턴테이블 상에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널을 상기 턴테이블로부터 반출하기 위한 패널 반출유닛을 더 포함하고, 상기 제어유닛은 상기 턴테이블 상에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널 중에서 결함이 발견된 것을 상기 패널 반출유닛을 통해 상기 턴테이블로부터 반출시킬 수 있다.
상기 투과성 패널 검사카메라 이동유닛은 상기 투과성 패널 검사카메라를 전후?좌우?상하 3축 방향으로 이동시킬 수 있다.
상기 복수의 백라이트는 상기 턴테이블의 회전 중심 둘레에 일정 각도 간격으로 배치되고, 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라는 상기 복수의 백라이트의 이격 각도와 같은 각도로 상호 이격 배치될 수 있다.
본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는, 상기 턴테이블에 설치되는 복수의 커넥터, 상기 턴테이블의 회전 경로 중에 상호 이격되도록 배치되고 상기 커넥터에 접속되어 빛을 발생하는 백라이트 패널을 갖는 비투과성 디스플레이용 패널의 일면을 촬영하여 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 이미지를 획득하기 위해 렌즈부가 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 일면을 향하게 배치되는 복수의 비투과성 패널 검사카메라, 상기 각각의 비투과성 패널 검사카메라가 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 여러 부분을 차례로 촬영할 수 있도록 상기 각각의 비투과성 패널 검사카메라를 이동시키는 복수의 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛을 더 포함하고, 상기 제어유닛은 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라 중에서 두 개 이상이 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 서로 다른 부분을 차례로 촬영하여 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 전체 이미지를 획득할 수 있도록 상기 턴테이블 회전유닛, 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라 및 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛의 동작을 제어할 수 있다.
상기 턴테이블에는 상기 비투과성 디스플레이 패널의 일면이 상기 턴테이블의 하부로 노출되도록 상기 비투과성 디스플레이 패널의 크기보다 작은 크기를 갖는 복수의 관통홈이 마련되고, 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라는 상기 턴테이블 상의 상기 관통홈 위에 놓여 상기 관통홈을 통해 상기 턴테이블의 하부로 노출되는 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 일면을 촬영할 수 있도록 상기 턴테이블의 하부에 배치될 수 있다.
상기 복수의 관통홈은 상기 턴테이블의 회전 중심 둘레에 일정 각도 간격으로 배치되고, 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라는 상기 복수의 관통홈의 이격 각도와 같은 각도로 상호 이격 배치될 수 있다.
본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는, 상기 턴테이블의 회전 경로 중에 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라와 상호 이격되도록 배치되고 상기 턴테이블에 놓이는 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 일면을 스캔하여 스캔 이미지를 상기 제어유닛에 제공하는 비투과성 패널 검사 이미지센서, 상기 비투과성 패널 검사 이미지센서가 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 전체 영역을 스캔할 수 있도록 상기 비투과성 패널 검사 이미지센서를 이동시키는 비투과성 패널 검사 이미지센서 이동유닛을 더 포함할 수 있다.
상기 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛은 상기 비투과성 패널 검사카메라를 전후?좌우?상하 3축 방향으로 이동시킬 수 있다.
상기 복수의 커넥터는 상기 전원 공급유닛으로부터 전원을 공급받을 수 있다.
본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는 상기 턴테이블 상에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널 또는 상기 비투과성 디스플레이용 패널을 상기 턴테이블로부터 반출하기 위한 패널 반출유닛을 더 포함하고, 상기 제어유닛은 상기 턴테이블 상에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널 또는 상기 비투과성 디스플레이용 패널 중에서 결함이 발견된 것을 상기 패널 반출유닛을 통해 상기 턴테이블로부터 반출시킬 수 있다.
본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는 하나의 디스플레이용 패널에 대한 검사 작업을 복수의 검사유닛이 분업화하여 차례로 수행하기 때문에 하나의 디스플레이용 패널에 대한 검사 작업이 신속하게 이루어질 수 있다. 이와 더불어 각각의 검사유닛이 서로 다른 디스플레이용 패널을 동시에 검사할 수 있기 때문에, 다수의 디스플레이용 패널을 연속적으로 신속하게 검사할 수 있다.
또한 본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는 투명 또는 반투명의 빛이 투과할 수 있는 투과성 디스플레이용 패널과 빛을 발생할 수 있는 백라이트 패널을 구비하여 빛이 투과하지 못하는 비투과성 디스플레이용 패널 등 다양한 종류와 다양한 두께의 디스플레이용 패널을 효율적으로 검사할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치를 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치를 개략적으로 나타낸 측면도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치의 주요 구성을 나타낸 블록도이다.
도 4a 내지 도 4b는 디스플레이용 패널에 대한 제 1 투과성 패널 검사유닛과 제 2 투과성 패널 검사유닛의 검사 동작을 설명하기 위한 것이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치를 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치를 개략적으로 나타낸 측면도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치의 주요 구성을 나타낸 블록도이다.
도 8은 도 5 내지 도 7에 도시된 디스플레이용 패널의 검사장치의 변형예를 나타낸 측면도이다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치에 대하여 상세히 설명한다.
본 발명을 설명함에 있어서, 도면에 도시된 구성요소의 크기나 형상 등은 설명의 명료성과 편의를 위해 과장되거나 단순화되어 나타날 수 있다. 또한 본 발명의 구성 및 작용을 고려하여 특별히 정의된 용어들은 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 이러한 용어들은 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
본 발명에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치는 제조 과정에서 디스플레이용 패널 내부로 유입된 기포나 이물질, 또는 디스플레이용 패널의 표면에 생긴 얼룩이나 기스 등 디스플레이용 패널의 결함을 신속하게 검출할 수 있다. 본 발명에 있어서 디스플레이용 패널의 검사장치의 검사 대상이 되는 디스플레이용 패널은 평판 표시 장치나 터치 스크린, 또는 그 밖의 여러 가지 패널 제품을 구성하는 다양한 디스플레이용 패널이다. 디스플레이용 패널의 예로는 터치 스크린에 이용되는 투명전극 패널과 윈도우 패널의 결합 패널(TSP), TSP와 백라이트 패널을 포함하는 LCM(LCD module)의 결합 패널, 또는 다양한 평면 디스플레이 패널에 윈도우 패널이나 보호 패널이 결합된 패널 등이 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치를 개략적으로 나타낸 평면도이고, 도 2는 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치를 개략적으로 나타낸 측면도이고, 도 3은 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치의 주요 구성을 나타낸 블록도이다.
도 1 내지 도 3에 도시된 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(100)는 턴테이블(110), 턴테이블(110) 상에 배치되는 복수의 백라이트(115), 백라이트(115)에 전원을 공급하기 위한 전원 공급유닛(120), 백라이트(115)에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)을 검사하기 위해 턴테이블(110)의 회전 경로 중에 배치되는 복수의 투과성 패널 검사유닛(130)(140)(150), 장치의 전반적인 동작을 제어하는 제어유닛(160)을 포함한다. 이러한 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(100)는 두 개의 투명 또는 반투명 패널(11)(12)이 접착층(13)에 의해 부착된 구조의 디스플레이용 패널(10)과 같이 투명 또는 반투명의 빛이 투과할 수 있는 투과성 디스플레이용 패널을 검사 대상으로 한다.
도 1 및 도 2에 도시된 것과 같이, 턴테이블(110)은 원형으로 이루어지고 투과성 디스플레이용 패널(10)을 떠받칠 수 있는 평평한 상면(111)을 갖는다. 턴테이블(110)의 상면(111)은 그 위에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)이 지면과 평행한 상태를 유지할 수 있도록 지면과 평행하게 배치된다. 턴테이블(110)은 턴테이블 회전유닛(113)에 의해 회전한다. 턴테이블 회전유닛(113)은 모터 등 회전력을 제공할 수 있는 다양한 장치가 이용될 수 있고, 제어유닛(160)에 의해 그 동작이 제어되어 턴테이블(110)을 일정 각도씩 간헐 회전시킨다.
턴테이블(110)의 상면(111)에는 복수의 백라이트(115)가 일정 각도 간격으로 배치된다. 백라이트(115)는 그 위에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)에 빛을 조사하여 투명 또는 반투명한 투과성 디스플레이용 패널(10)의 내부에 유입된 기포나 이물질, 또는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 표면에 생긴 얼룩이나 기스 등의 결함이 잘 드러날 수 있도록 하는 역할을 한다. 백라이트(115)는 투과성 디스플레이용 패널(10)이 놓일 수 있도록 지면과 평행하게 배치되는 안착면(116)을 갖는다.
백라이트(115)의 넓이는 검사 대상이 되는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 넓이보다 크다. 도면에는 백라이트(115)가 사각 형상으로 이루어진 것으로 나타냈으나, 백라이트(115)의 형상은 사각형 이외의 다른 다양한 형상으로 변경될 수 있다. 또한 백라이트(115)의 개수나 배치 간격도 도시된 것으로 한정되지 않고 다양하게 변경될 수 있다.
백라이트(115)는 턴테이블(110)에 설치되는 전원 공급유닛(120)으로부터 전원을 공급받아 작동한다. 전원 공급유닛(120)에는 복수의 전원 공급선(118)이 연결되고, 복수의 전원 공급선(118)이 각각의 백라이트(115)에 연결되어 각 백라이트(115)에 전원을 공급한다.
전원 공급유닛(120)은 턴테이블(110)의 중앙에 고정된 지지부재(121)를 통해 턴테이블(110)에 결합된다. 따라서 전원 공급유닛(120)은 턴테이블(110)과 함께 회전하며, 복수의 백라이트(115)에 대해 고정된 위치를 유지할 수 있다. 전원 공급유닛(120)은 외부 전원 공급부재(122)를 통해 외부 전원을 공급받아 이를 각각의 백라이트(115)에 분배한다.
전원 공급유닛(120)과 외부 전원 공급부재(122)의 사이에는 슬립 링(123)이 배치된다. 슬립 링(123)은 전원 공급유닛(120)과 외부 전원 공급부재(122)를 전기적으로 연결함과 동시에 전원 공급유닛(120)과 외부 전원 공급부재(122)를 상호 회전 가능하게 결합한다. 따라서 전원 공급유닛(120)이 턴테이블(110)과 함께 회전할 때, 외부 전원 공급부재(122)가 정지된 상태를 유지하더라도 전원 공급유닛(120)과 외부 전원 공급부재(122)는 전기적으로 연결된 상태를 지속적으로 유지할 수 있다. 슬립 링(123)은 다양한 구조가 공지되어 있으므로 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.
전원 공급유닛(120)의 설치 위치나 각 백라이트(115)와의 전기적 연결 구조, 외부 전원과의 전기적 연결 구조 등은 다양하게 변경될 수 있다. 예컨대, 전원 공급유닛(120)은 투과성 디스플레이용 패널(10)이 놓이는 턴테이블(110)의 상부로 드러나지 않도록 턴테이블(110)의 하면 쪽에 설치될 수도 있다. 또한 전원 공급유닛(120)은 외부 전원과 기구적으로 연결되지 않고 백라이트(115)에 전원을 공급할 수 있는 다른 구조를 가질 수도 있다.
도 1 내지 도 3에 도시된 것과 같이, 턴테이블(110)의 회전 경로 중에는 복수의 검사유닛(130)(140)(150)이 상호 이격되어 배치된다. 이들 검사유닛들(130)(140)(150)의 배치 간격은 백라이트(115)의 배치 간격과 같다. 이 중에서 제 1 투과성 패널 검사유닛(130)과 제 2 투과성 패널 검사유닛(140)은 투과성 디스플레이용 패널(10)의 속으로 유입된 기포나 이물질, 얼룩 등을 검출하기 위한 것이고, 제 3 투과성 패널 검사유닛(150)은 투과성 디스플레이용 패널(10)의 표면에 생긴 기스나 얼룩 등의 결함을 검출하기 위한 것이다.
제 1 투과성 패널 검사유닛(130)은 백라이트(115)에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 상면을 촬영하기 위한 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)와 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)를 이동시키기 위한 제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133)을 포함한다. 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)는 턴테이블(110)의 상면(111) 위쪽에 배치되고, 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)의 렌즈부(132)는 백라이트(115)에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 상면을 향한다.
제 1 투과성 패널 검사카메라(131)는 투과성 디스플레이용 패널(10)을 따라 움직이면서 투과성 디스플레이용 패널(10)을 부분적으로 촬영한다. 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)가 촬영한 이미지는 제어유닛(160)으로 전송된다. 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 전체 부분 중에서 일부, 예를 들어 절반의 부분에 대한 이미지를 획득한다.
제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133)은 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)가 백라이트(115) 위에 놓이는 다양한 두께의 투과성 디스플레이용 패널(10)을 부분적으로 촬영하여 투과성 디스플레이용 패널(10)의 절반을 차례로 촬영할 수 있도록 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)를 전후?좌우?상하 방향으로 이동시킨다. 제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133)은 지지대(134), 지지대(134)에 이동 가능하게 결합되는 제 1 이동체(135), 제 1 이동체(135)에 이동 가능하게 결합되는 제 2 이동체(136), 제 2 이동체(136)에 이동 가능하게 결합되는 제 3 이동체(137)를 포함한다. 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)는 제 3 이동체(137)에 결합된다.
지지대(134)는 지면에 수직으로 고정되고 제 1 이동체(135)를 상하 방향으로 이동 가능하게 지지한다. 제 1 이동체(135)는 지지대(134)를 따라 직선 이동하면서 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)를 상하 방향으로 이동시킨다. 제 2 이동체(136)는 제 1 이동체(135)를 따라 직선 이동하면서 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)를 전후 방향으로 이동시키고, 제 3 이동체(137)는 제 2 이동체(136)를 따라 직선 이동하면서 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)를 좌우 방향으로 이동시킨다.
여기에서, 전후 방향은 백라이트(115)에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 길이 방향으로 설정되고, 좌우 방향은 백라이트(115)에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 폭 방향으로 설정된 것으로, 절대적인 방향은 아니다. 전후 방향과 좌우 방향은 상호 교차하는 조건 하에서 다양하게 변경될 수 있다. 또한 제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133)의 구조도 도시된 것으로 한정되지 않고 다양하게 변경될 수 있다. 즉 제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133)은 LM 가이드, 스크류 축, 공압 또는 유압 실린더, 랙-피니언, 리니어 모터, 또는 그 밖의 다양한 액츄에이터를 통해 다양한 구조로 구현될 수 있다.
제 2 투과성 패널 검사유닛(140)은 제 1 투과성 패널 검사유닛(130)과 동일한 구조로 이루어지는 것으로, 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)와 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)를 이동시키는 제 2 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(143)을 포함한다. 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)는 턴테이블(110)의 상면(111) 위쪽에 배치되고, 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)의 렌즈부(142)는 백라이트(115)에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 상면을 향한다. 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)는 제 2 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(143)에 의해 움직이면서 투과성 디스플레이용 패널(10) 전체 부분 중에서 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)가 촬영하지 않은 나머지 절반 부분에 대한 이미지를 획득한다.
제 2 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(143)은 제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133)의 구조와 같은 것으로, 지지대(144), 지지대(144)에 이동 가능하게 결합되는 제 1 이동체(145), 제 1 이동체(145)에 이동 가능하게 결합되는 제 2 이동체(146), 제 2 이동체(146)에 이동 가능하게 결합되는 제 3 이동체(147)를 포함한다. 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)는 제 3 이동체(147)에 결합된다.
도 1 내지 도 3에 도시된 것과 같이, 제 3 투과성 패널 검사유닛(150)은 턴테이블(110)의 회전 경로 중에 제 2 투과성 패널 검사유닛(140)보다 하류에 설치된다. 제 3 투과성 패널 검사유닛(150)은 백라이트(115) 위에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 상면을 스캔하기 위한 투과성 패널 이미지센서(151)와 투과성 패널 이미지센서(151)를 이동시키기 위한 투과성 패널 이미지센서 이동유닛(153)을 포함한다.
투과성 패널 이미지센서(151)는 턴테이블(110)의 상면(111) 위쪽에 그 촬상부(152)가 백라이트(115)에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 상면을 향하도록 배치된다. 투과성 패널 이미지센서(151)는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 한쪽 끝에서 다른 쪽 끝까지 움직이면서 투과성 디스플레이용 패널(10)을 스캔하고, 스캔한 이미지 정보를 제어유닛(160)으로 전송한다.
투과성 패널 이미지센서 이동유닛(153)은 투과성 패널 이미지센서(151)가 투과성 디스플레이용 패널(10)을 전체적으로 스캔할 수 있도록 투과성 패널 이미지센서(151)를 직선 이동시킨다. 투과성 패널 이미지센서 이동유닛(153)은 지면에 수직으로 배치되는 기둥(154), 기둥에 수직으로 결합되는 지지대(155), 지지대(155)에 이동 가능하게 결합되는 센서 이동체(156)를 포함한다. 투과성 패널 이미지센서(151)는 센서 이동체(156)에 결합되어 센서 이동체(156)와 함께 이동한다.
투과성 패널 이미지센서 이동유닛(153)의 구조는 도시된 것으로 한정되지 않고 다양하게 변경될 수 있다. 즉 투과성 패널 이미지센서 이동유닛(153)은 LM 가이드, 스크류 축, 공압 또는 유압 실린더, 랙-피니언, 리니어 모터, 또는 그 밖의 다양한 액츄에이터를 통해 다양한 구조로 구현될 수 있다.
제어유닛(160)은 턴테이블 회전유닛(113), 전원 공급유닛(120), 제 1 투과성 패널 검사카메라(131), 제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133), 제 2 투과성 패널 검사카메라(141), 제 2 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(143), 투과성 패널 이미지센서(151), 투과성 패널 이미지센서 이동유닛(153)을 비롯한 디스플레이용 패널의 검사장치(100)의 전반적인 동작을 제어한다. 또한 제어유닛(160)은 제 1 투과성 패널 검사카메라(131) 및 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)가 촬영한 투과성 디스플레이용 패널(10)의 촬영 이미지와, 투과성 패널 이미지센서(151)가 스캔한 투과성 디스플레이용 패널(10)의 스캔 이미지를 제공받아 투과성 디스플레이용 패널(10)의 결함을 분석한다.
본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(100)는 도 1 및 도 3에 도시된 것과 같이, 투과성 디스플레이용 패널(10)을 턴테이블(110) 상에 로딩하거나 턴테이블(110) 상의 투과성 디스플레이용 패널(10)을 언로딩하기 위한 패널 이송유닛(170)과 결함이 검출된 투과성 디스플레이용 패널(10)을 턴테이블(110)로부터 반출하기 위한 패널 반출유닛(180)을 더 포함한다.
패널 이송유닛(170)은 투과성 디스플레이용 패널(10)을 홀딩하기 위한 패널 홀더(171), 패널 홀더(171)와 결합된 홀더 이동체(172), 홀더 이동체(172)를 이동 가능하게 지지하는 지지대(173)를 포함한다. 패널 홀더(171)는 투과성 디스플레이용 패널(10)을 진공압으로 흡착하거나, 기구적으로 클램핑할 수 있는 다양한 구조의 것이 이용될 수 있다. 패널 홀더(171)는 지지대(173)를 따라 이동하는 홀더 이동체(172)와 함께 턴테이블(110) 상의 백라이트(115) 위쪽으로 이동하거나, 턴테이블(110)의 바깥쪽으로 이동함으로써 투과성 디스플레이용 패널(10)을 백라이트(115) 상에 로딩하거나, 백라이트(115)에 놓인 투과성 디스플레이용 패널(10)을 언로딩할 수 있다.
패널 반출유닛(180)은 그 구조가 패널 이송유닛(170)과 같은 것으로, 투과성 디스플레이용 패널(10)을 홀딩하기 위한 패널 홀더(181), 패널 홀더(181)와 결합된 홀더 이동체(182), 홀더 이동체(182)를 이동 가능하게 지지하는 지지대(183)를 포함한다. 투과성 디스플레이용 패널(10)의 검사 중 결함이 발견되면, 제어유닛(160)은 결함이 발견된 투과성 디스플레이용 패널(10)이 놓인 백라이트(115)를 패널 반출유닛(180)이 배치된 패널 반출 위치에 정지시킨다. 이때 패널 반출유닛(180)의 패널 홀더(181)가 패널 반출 위치에 놓인 투과성 디스플레이용 패널(10)을 홀딩하고, 홀더 이동체(182)가 턴테이블(110)의 바깥쪽으로 이동함으로써, 결함이 있는 투과성 디스플레이용 패널(10)을 턴테이블(110)로부터 반출할 수 있다.
패널 이송유닛(170)이나 패널 반출유닛(180)은 LM 가이드, 스크류 축, 공압 또는 유압 실린더, 랙-피니언, 리니어 모터, 또는 그 밖의 다양한 액츄에이터를 통해 다양한 구조로 구현될 수 있다.
턴테이블(110) 위에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)에 대한 검사 시간을 단축하기 위해서는 턴테이블 회전유닛(113), 복수의 검사유닛(130)(140)(150), 패널 이송유닛(170) 및 패널 반출유닛(180)이 유기적으로 작동할 필요가 있다. 즉 턴테이블 회전유닛(113)은 턴테이블(110)을 일정 각도씩 신속하게 회전시켜 복수의 백라이트(115)에 놓인 각각의 투과성 디스플레이용 패널(10)을 각 검사유닛(130)(140)(150)의 검사 위치로 신속하게 이동시키고, 각각의 검사유닛(130)(140)(150)은 투과성 디스플레이용 패널(10)이 해당 검사 영역으로 운반되어 오면 신속하게 작동하여 투과성 디스플레이용 패널(10)에 대한 촬영 이미지나 스캔 이미지를 획득하여 제어유닛(160)에 제공해야 한다.
그리고 각 검사유닛(130)(140)(150)이 투과성 디스플레이용 패널(10)의 검사를 마치면, 턴테이블 회전유닛(113)은 턴테이블(110)을 일정 각도 신속하게 회전시켜 투과성 디스플레이용 패널(10)을 다음 검사 위치나 로딩?언로딩 위치로 이동시켜야 한다. 또한 패널 이송유닛(170)은 해당 위치에 도달한 투과성 디스플레이용 패널(10)을 신속하게 언로딩하거나 백라이트(115)에 투과성 디스플레이용 패널(10)을 신속하게 로딩해야 하고, 패널 반출유닛(180)은 결합이 발견되어 해당 위치로 이송된 투과성 디스플레이용 패널(10)을 신속하게 반출해야 한다. 이러한 투과성 디스플레이용 패널(10)에 대한 일련의 로딩 동작, 검사 동작, 언로딩 동작, 반출 동작은 제어유닛(160)에 의해 유기적으로 제어된다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(100)의 작용에 대하여 설명한다.
검사 작업이 시작되면, 각 백라이트(115)에 전원이 공급되어 백라이트(115)가 작동하고, 패널 이송유닛(170)이 로딩?언로딩 위치에 있는 백라이트(115) 위에 투과성 디스플레이용 패널(10)을 로딩한다. 이후, 턴테이블 회전유닛(113)이 작동하여 턴테이블(110)을 일정 각도 회전시킴으로써 투과성 디스플레이용 패널(10)이 안착된 백라이트(115)를 제 1 투과성 패널 검사유닛(130)의 검사 위치로 이동시킨다.
투과성 디스플레이용 패널(10)이 제 1 투과성 패널 검사유닛(130)의 검사 위치에 도달하면, 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)가 제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133)에 의해 이동하면서 투과성 디스플레이용 패널(10)의 일정 부분을 차례로 촬영하여 투과성 디스플레이용 패널(10)에 대한 이미지를 획득한다. 즉 도 4a에 도시된 것과 같이, 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)는 제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133)에 의해 투과성 디스플레이용 패널(10)을 따라 이동하면서 투과성 디스플레이용 패널(10)의 전체 부분 중에서 절반의 부분을 촬영하고, 그 촬영 이미지를 제어유닛(160)에 제공한다. 이때 제어유닛(160)은 촬영 이미지를 실시간으로 분석하여 투과성 디스플레이용 패널(10)의 결함 존재 여부를 확인한다.
투과성 디스플레이용 패널(10)에 대한 제 1 투과성 패널 검사유닛(130)의 검사 동작이 끝나면, 턴테이블 회전유닛(113)은 턴테이블(110)을 일정 각도 회전시켜 투과성 디스플레이용 패널(10)을 제 2 투과성 패널 검사유닛(140)의 검사 위치로 이동시킨다.
투과성 디스플레이용 패널(10)이 제 2 투과성 패널 검사유닛(140)의 검사 위치에 도달하면, 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)가 제 2 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(143)에 의해 이동하면서 투과성 디스플레이용 패널(10)의 일정 부분을 차례로 촬영하여 투과성 디스플레이용 패널(10)에 대한 이미지를 획득한다. 즉 도 4b에 도시된 것과 같이, 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)는 제 2 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(143)에 의해 투과성 디스플레이용 패널(10)을 따라 이동하면서 투과성 디스플레이용 패널(10)의 전체 상면 중에서 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)에 의해 촬영되지 않은 나머지 절반의 부분을 촬영하고, 그 촬영 이미지를 제어유닛(160)에 제공한다. 이때 제어유닛(160)은 촬영 이미지를 실시간으로 분석하여 투과성 디스플레이용 패널(10)의 결함 존재 여부를 확인한다.
투과성 디스플레이용 패널(10)에 대한 제 2 투과성 패널 검사유닛(140)의 검사 동작이 끝나면, 턴테이블 회전유닛(113)은 턴테이블(110)을 일정 각도 회전시켜 투과성 디스플레이용 패널(10)을 제 3 투과성 패널 검사유닛(150)의 검사 위치로 이동시킨다.
투과성 디스플레이용 패널(10)이 제 3 투과성 패널 검사유닛(150)의 검사 위치에 도달하면, 투과성 패널 이미지센서(151)가 투과성 패널 이미지센서 이동유닛(153)에 의해 이동하면서 투과성 디스플레이용 패널(10)의 표면을 스캔한다. 즉 투과성 패널 이미지센서(151)는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 한쪽 끝에서 다른 쪽 끝까지 직선 이동하면서 투과성 디스플레이용 패널(10)의 표면 전체를 스캔하고 스캔한 이미지를 제어유닛(160)에 제공한다. 이때 제어유닛(160)은 스캔 이미지를 실시간으로 분석하여 투과성 디스플레이용 패널(10)의 표면에 기스, 얼룩 등의 결함이 있는지 확인한다.
이렇게 제 1 내지 제 3 투과성 패널 검사유닛(130)(140)(150)을 차례로 통과한 투과성 디스플레이용 패널(10)에서 결함이 발견되지 않으면, 턴테이블 회전유닛(113)이 턴테이블(110)을 일정 각도 회전시켜 검사를 마친 투과성 디스플레이용 패널(10)을 패널 이송유닛(170)이 배치된 로딩?언로딩 위치로 이동시킨다. 검사를 마친 투과성 디스플레이용 패널(10)이 로딩?언로딩 위치에 도달하면, 패널 이송유닛(170)이 작동하여 해당 투과성 디스플레이용 패널(10)을 턴테이블(110)로부터 언로딩한 후, 다른 투과성 디스플레이용 패널(10)을 백라이트(115) 위에 로딩한다.
한편, 제 1 내지 제 3 투과성 패널 검사유닛(130)(140)(150) 중 어느 하나의 검사유닛에 의해 투과성 디스플레이용 패널(10)에서 결함이 발견되는 경우, 턴테이블 회전유닛(113)은 해당 투과성 디스플레이용 패널(10)이 패널 반출유닛(180)이 배치된 반출 위치에 정지하도록 턴테이블(110)을 일정 각도 회전시킨다. 결함이 있는 투과성 디스플레이용 패널(10)이 반출 위치에 도달하면 패널 반출유닛(180)이 작동하여 해당 투과성 디스플레이용 패널(10)을 턴테이블(110)로부터 반출시킨다.
이와 같이, 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(100)는 하나의 투과성 디스플레이용 패널(10)에 대한 검사 작업을 제 1 내지 제 3 투과성 패널 검사유닛(130)(140)(150)이 분업화하여 연속적으로 수행하고, 각각의 검사유닛(130)(140)(150)이 서로 다른 투과성 디스플레이용 패널(10)을 동시에 검사할 수 있기 때문에, 투과성 디스플레이용 패널(10)를 신속하게 검사할 수 있고, 검사 시간을 단축할 수 있다. 또한 투과성 디스플레이용 패널(10)에 대한 촬영 이미지와 스캔 이미지를 획득하기 위한 제 1 투과성 패널 검사카메라(131), 제 2 투과성 패널 검사카메라(141) 및 투과성 패널 이미지센서(151)의 높이가 다양하게 조절될 수 있으므로, 다양한 두께의 디스플레이용 패널에 대한 검사가 가능하다.
본 발명에 있어서, 디스플레이용 패널의 검사장치(100)의 구체적인 구성은 도시된 것으로 한정되지 않고 다양하게 변경될 수 있다. 예컨대, 백라이트(115)의 개수나 배치 구조, 검사유닛(130)(140)(150)의 개수나 배치 구조, 패널 이송유닛(170)과 패널 반출유닛(180) 각각의 구조나 배치 구조는 다양하게 변경될 수 있다. 그리고 앞에서는 투과성 디스플레이용 패널(10)의 전체 촬영 이미지를 획득하기 위해 제 1 투과성 패널 검사유닛(130) 및 제 2 투과성 패널 검사유닛(140)이 투과성 디스플레이용 패널(10)을 절반씩 촬영하는 것으로 설명하였으나, 검사유닛의 개수를 증가시키면 투과성 디스플레이용 패널(10)을 3개 이상의 촬영 부분으로 나누어 각 검사유닛이 하나의 촬영 부분을 촬영하도록 할 수 있다.
한편, 도 5 내지 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치를 나타낸 것이다.
본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(200)는 상술한 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(100)와 일부 구성이 동일하다. 이하에서 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(200)를 설명함에 있어서 상술한 본 발명의 일실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(100)와 동일한 부분에 대해서는 동일한 참조 부호를 부여하고 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 5 내지 도 7에 도시된 것과 같이, 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(200)는 턴테이블(210), 턴테이블(210) 상에 배치되는 복수의 백라이트(115) 및 복수의 커넥터(213), 백라이트(115)와 커넥터(213)에 전원을 공급하기 위한 전원 공급유닛(220), 턴테이블(210) 상에 놓이는 디스플레이용 패널(10)(20)을 검사하기 위해 턴테이블(210)의 회전 경로 중에 배치되는 복수의 검사유닛(130)(140)(150)(230)(240)(250), 장치의 전반적인 동작을 제어하는 제어유닛(260), 디스플레이용 패널(10)(20)의 로딩?언로딩 동작을 위한 제 1 패널 이송유닛(170) 및 제 2 패널 이송유닛(270), 디스플레이용 패널(10)(20)의 반출 동작을 위한 패널 반출유닛(180)을 포함한다.
이러한 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(200)는 두 개의 투명 또는 반투명 패널(11)(12)이 접착층(13)에 의해 부착된 투과성 디스플레이용 패널(10)과 같이 투명 또는 반투명의 빛이 투과할 수 있는 투과성 디스플레이용 패널과, 빛을 발생할 수 있는 백라이트 패널(21)에 투과성 패널(22)이 결합된 비투과성 디스플레이용 패널(20)과 같은 비투과성 디스플레이용 패널을 검사 대상으로 할 수 있다.
여기에서, 복수의 검사유닛(130)(140)(150)(230)(240)(250)은 제 1 투과성 패널 검사유닛(130), 제 2 투과성 패널 검사유닛(140), 제 3 투과성 패널 검사유닛(150), 제 1 비투과성 패널 검사유닛(230), 제 2 비투과성 패널 검사유닛(240), 제 3 비투과성 패널 검사유닛(250)을 포함한다. 제 1 내지 제 3 투과성 패널 검사유닛(130)(140)(150)과 백라이트(115), 패널 반송유닛(180)은 상술한 것과 같은 구조를 갖는 것이다. 제 1 패널 이송유닛(170)은 상술한 디스플레이용 패널의 검사장치(100)의 패널 이송유닛(170)과 같은 구조를 갖는다. 제 2 패널 이송유닛(270)은 제 1 패널 이송유닛(170)과 같은 구조의 것으로, 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 홀딩하기 위한 패널 홀더(271), 패널 홀더(271)와 결합된 홀더 이동체(272), 홀더 이동체(272)를 이동 가능하게 지지하는 지지대(273)를 포함한다.
도 5 및 도 6에 도시된 것과 같이, 턴테이블(210)은 원형으로 이루어지고 턴테이블 회전유닛(113)에 의해 일정 각도씩 간헐 회전할 수 있다. 턴테이블(210)은 디스플레이용 패널(10)(20)을 떠받칠 수 있는 평평한 상면(211)을 갖고, 상면(211)에 복수의 백라이트(115)가 일정 각도 간격으로 이격 배치된다. 또한 턴테이블(210)에는 턴테이블(210)을 두께 방향으로 관통하는 복수의 관통홈(215)이 마련된다. 복수의 관통홈(215)은 일정 각도 간격으로 백라이트(115)와 백라이트(115) 사이사이에 배치된다. 관통홈(215) 위에는 비투과성 디스플레이용 패널(20)이 그 투과성 패널(22)이 턴테이블(210)의 하부를 향하도록 놓인다.
백라이트(115)에는 투명 또는 반투명의 빛이 투과될 수 있는 투과성 디스플레이용 패널(10)이 놓이고, 관통홈(215) 위에는 빛을 발생할 수 있는 백라이트 패널(21)을 갖는 비투과성 디스플레이용 패널(20)이 놓인다. 백라이트(115)에 놓이는 투과성 디스플레이용 패널(10)은 제 1 내지 제 3 투과성 패널 검사유닛(130)(140)(150)에 의해 검사되고, 관통홈(215) 위에 놓이는 비투과성 디스플레이용 패널(20)은 제 1 내지 제 3 비투과성 패널 검사유닛(230)(240)(250)에 의해 검사된다.
턴테이블(210)에 놓이는 비투과성 디스플레이용 패널(20)은 커넥터(213)와 전원 공급선(223)을 통해 전원 공급유닛(220)의 전원을 공급받는다. 커넥터(213)는 전원 공급선(223)의 끝단에 연결된다. 비투과성 디스플레이용 패널(20)이 턴테이블(210) 위에 놓이면 작업자가 턴테이블(210) 위에 놓인 커넥터(213)를 비투과성 디스플레이용 패널(20)에 수동으로 연결할 수 있다. 커넥터(213)가 비투과성 디스플레이용 패널(20)에 연결되면 백라이트 패널(211)이 전원 공급유닛(220)의 전원을 공급받아 작동하게 된다.
전원 공급유닛(220)은 또다른 전원 공급선(224)을 통해 백라이트(115)에 전원을 공급한다. 전원 공급유닛(220)은 턴테이블(210)의 중앙에 고정된 지지부재(221)를 통해 턴테이블(210)에 결합된다. 따라서 전원 공급유닛(220)은 턴테이블(210)과 함께 회전하며, 복수의 백라이트(115) 및 복수의 커넥터(213)에 대해 고정된 위치를 유지할 수 있다.
전원 공급유닛(220)은 외부 전원 공급부재(226)를 통해 외부 전원을 공급받아 이를 각각의 백라이트(115) 및 커넥터(213)에 분배한다. 전원 공급유닛(220)과 외부 전원 공급부재(226)의 사이에는 슬립 링(227)이 배치된다. 외부 전원 공급부재(226)와 슬립 링(227)은 상술한 것과 같은 것으로 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.
도 5 내지 도 7에 도시된 것과 같이, 복수의 비투과성 패널 검사유닛(230)(240)(250)은 턴테이블(210)의 관통홈(215) 위에 놓이는 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 검사하기 위한 것으로, 복수의 투과성 패널 검사유닛(130)(140)(150)과 하나 걸러 하나씩 배치된다. 즉 제 1 비투과성 패널 검사유닛(230)은 턴테이블(210)의 회전 경로 상 제 1 투과성 패널 검사 유닛(130)보다 상류에 배치되고, 제 2 비투과성 패널 검사유닛(240)은 제 1 투과성 패널 검사 유닛(130)과 제 2 투과성 패널 검사 유닛(140)의 사이에 배치되고, 제 3 비투과성 패널 검사유닛(250)은 제 2 투과성 패널 검사 유닛(140)과 제 3 투과성 패널 검사 유닛(150)의 사이에 배치된다.
제 1 비투과성 패널 검사유닛(230)과 제 2 비투과성 패널 검사유닛(240)은 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 속으로 유입된 기포나 이물질, 얼룩 등을 검출하기 위한 것이다. 그리고 제 3 비투과성 패널 검사유닛(250)은 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 표면에 생긴 기스나 얼룩 등의 결함을 검출하기 위한 것이다.
제 1 비투과성 패널 검사유닛(230)은 관통홈(215) 위에 놓이는 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 하면을 촬영하기 위한 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)와 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)를 이동시키기 위한 제 1 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(233)을 포함한다. 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)는 턴테이블(210)의 하부에 배치되고, 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)의 렌즈부(232)는 관통홈(215)을 통해 하부로 노출되는 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 하면을 향한다. 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)는 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 따라 움직이면서 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 부분적으로 촬영한다. 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)가 촬영한 이미지는 제어유닛(260)으로 전송된다. 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)는 관통홈(215) 위에 놓이는 비투과성 디스플레이용 패널(20) 전체 중에서 절반의 이미지를 획득한다.
제 1 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(233)은 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)가 관통홈(215) 위에 놓이는 다양한 두께의 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 부분적으로 촬영하여 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 절반 부분을 차례로 촬영할 수 있도록 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)를 전후?좌우?상하 방향으로 이동시킨다. 제 1 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(233)은 지지대(234), 지지대(234)에 이동 가능하게 결합되는 제 1 이동체(235), 제 1 이동체(235)에 이동 가능하게 결합되는 제 2 이동체(236), 제 2 이동체(236)에 이동 가능하게 결합되는 제 3 이동체(237)를 포함한다. 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)는 제 3 이동체(237)에 결합된다.
지지대(234)는 지면에 수직으로 고정되고 제 1 이동체(235)를 상하 방향으로 이동 가능하게 지지한다. 제 1 이동체(235)는 지지대(234)를 따라 직선 이동하면서 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)를 상하 방향으로 이동시킨다. 제 2 이동체(236)는 제 1 이동체(235)를 따라 직선 이동하면서 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)를 전후 방향으로 이동시키고, 제 3 이동체(237)는 제 2 이동체(236)를 따라 직선 이동하면서 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)를 좌우 방향으로 이동시킨다.
여기에서, 전후 방향은 관통홈(215) 위에 놓이는 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 길이 방향으로 설정되고, 좌우 방향은 관통홈(215) 위에 놓이는 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 폭 방향으로 설정된 것으로, 절대적인 방향은 아니다. 전후 방향과 좌우 방향은 상호 교차하는 조건 하에서 다양하게 변경될 수 있다. 또한 제 1 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(233)의 구조도 도시된 것으로 한정되지 않고 다양하게 변경될 수 있다. 즉 제 1 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(233)은 LM 가이드, 스크류 축, 공압 또는 유압 실린더, 랙-피니언, 리니어 모터, 또는 그 밖의 다양한 액츄에이터를 통해 다양한 구조로 구현될 수 있다.
제 2 비투과성 패널 검사유닛(240)은 제 1 비투과성 패널 검사유닛(230)과 설치 위치만 다를 뿐 동일한 구조로 이루어지는 것으로, 제 2 비투과성 패널 검사카메라(241)와 제 2 비투과성 패널 검사카메라(241)를 이동시키는 제 2 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(243)을 포함한다. 제 2 비투과성 패널 검사카메라(241)는 턴테이블(210)의 하부에 배치되고, 제 2 비투과성 패널 검사카메라(241)의 렌즈부(242)는 관통홈(215)을 통해 턴테이블(210)의 하부로 노출되는 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 하면을 향한다. 제 2 비투과성 패널 검사카메라(241)는 제 2 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(243)에 의해 움직이면서 관통홈(215) 위에 놓인 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 전체 부분 중에서 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)가 촬영하지 않은 나머지 절반 부분에 대한 이미지를 획득한다.
제 2 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(243)은 제 1 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(233)의 구조와 같은 것으로, 지지대(244), 지지대(244)에 이동 가능하게 결합되는 제 1 이동체(245), 제 1 이동체(245)에 이동 가능하게 결합되는 제 2 이동체(246), 제 2 이동체(246)에 이동 가능하게 결합되는 제 3 이동체(247)를 포함한다. 제 2 비투과성 패널 검사카메라(241)는 제 3 이동체(247)에 결합된다.
도 5 내지 도 7에 도시된 것과 같이, 제 3 비투과성 패널 검사유닛(250)은 턴테이블(210)의 회전 경로 중에 제 2 비투과성 패널 검사유닛(240)보다 하류에 설치된다. 제 3 비투과성 패널 검사유닛(250)은 관통홈(215) 위에 놓이는 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 하면을 스캔하기 위한 비투과성 패널 검사 이미지센서(251)와 비투과성 패널 검사 이미지센서(251)를 이동시키기 위한 비투과성 패널 검사 이미지센서 이동유닛(253)을 포함한다.
비투과성 패널 검사 이미지센서(251)는 그 촬상부(252)가 관통홈(215)을 통해 턴테이블(210)의 하부 쪽으로 노출되는 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 하면을 향하도록 배치된다. 비투과성 패널 검사 이미지센서(251)는 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 한쪽 끝에서 다른 쪽 끝까지 움직이면서 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 스캔하고, 스캔한 이미지 정보를 제어유닛(260)으로 전송한다.
비투과성 패널 검사 이미지센서 이동유닛(253)은 비투과성 패널 검사 이미지센서(251)가 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 전체적으로 스캔할 수 있도록 비투과성 패널 검사 이미지센서(251)를 직선 이동시킨다. 비투과성 패널 검사 이미지센서 이동유닛(253)은 지면에 수직으로 배치되는 기둥, 기둥에 수직으로 결합되는 지지대(254), 지지대(254)에 이동 가능하게 결합되는 센서 이동체(255)를 포함한다. 비투과성 패널 검사 이미지센서(251)는 센서 이동체(255)에 결합되어 센서 이동체(255)와 함께 이동한다.
비투과성 패널 검사 이미지센서 이동유닛(253)의 구조는 도시된 것으로 한정되지 않고 다양하게 변경될 수 있다. 즉 비투과성 패널 검사 이미지센서 이동유닛(253)은 LM 가이드, 스크류 축, 공압 또는 유압 실린더, 랙-피니언, 리니어 모터, 또는 그 밖의 다양한 액츄에이터를 통해 다양한 구조로 구현될 수 있다.
이러한 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(200)의 구체적인 구성은 도시된 것으로 한정되지 않고 다양하게 변경될 수 있다. 예컨대, 백라이트(115)나 커넥터(213), 관통홈(215)의 개수나 배치 구조, 검사유닛(130)(140)(150)(230)(240)(250)의 개수나 배치 구조, 패널 이송유닛(170)(270)과 패널 반출유닛(180) 각각의 구조나 배치 구조는 다양하게 변경될 수 있다. 그리고 디스플레이용 패널의 촬영 이미지를 획득하기 위한 투과성 패널 검사유닛과 비투과성 패널 검사유닛의 설치 개수를 늘리면, 각 디스플레이용 패널을 세 개 이상의 부분으로 분할하여 각 검사유닛이 분할된 하나의 부분을 촬영하도록 할 수 있다.
또한 비투과성 패널 검사유닛(230)(240)(250)은 도시된 것과 같이 턴테이블(210)의 하부에 배치되지 않고, 투과성 패널 검사유닛(130)(140)(150)과 같이 턴테이블(210)의 상부에 배치될 수도 있다. 이 경우 관통홈(215)은 생략되고 비투과성 디스플레이용 패널(20)은 그 투과성 패널(22)이 상부를 향하도록 턴테이블(210) 위에 안착된다. 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 안착을 위해 턴테이블(210) 상에는 홈이나 다른 형태의 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 고정할 수 있는 안착부가 마련될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(200)의 작용에 대하여 설명한다.
검사 작업이 시작되면, 백라이트(115) 및 커넥터(213)에 전원이 공급되고, 제 1 패널 이송유닛(170)이 백라이트(115) 위에 투과성 디스플레이용 패널(10)을 로딩하고, 제 2 패널 이송유닛(270)이 관통홈(215) 위에 백라이트 패널(21)을 갖는 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 로딩한다. 관통홈(215) 위에 안착되는 비투과성 디스플레이용 패널(20)은 작업자에 의해 커넥터(213)와 접속될 수 있다. 백라이트(115)에 안착되는 투과성 디스플레이용 패널(10)은 백라이트(115)에서 발생하는 빛에 의해 그 안쪽 부분까지 외부로 잘 드러나게 되고, 커넥터(213)와 연결된 비투과성 디스플레이용 패널(20)은 이에 구비된 백라이트 패널(21)에서 발생하는 빛에 의해 그 안쪽 부분까지 외부로 잘 드러나게 된다.
이후, 턴테이블 회전유닛(113)이 작동하여 턴테이블(110)을 일정 각도 회전시킴으로써, 백라이트(115)에 안착된 투과성 디스플레이용 패널(10)을 제 1 투과성 패널 검사유닛(130)의 검사 위치로 이동시키고, 관통홈(215) 위에 안착된 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 제 1 비투과성 패널 검사유닛(230)의 검사 위치로 이동시킨다.
이때, 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)는 제 1 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(133)에 의해 투과성 디스플레이용 패널(10)을 따라 이동하면서 투과성 디스플레이용 패널(10)의 절반 부분을 촬영하고, 그 촬영 이미지를 제어유닛(160)에 제공한다. 그리고 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)는 제 1 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(233)에 의해 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 따라 이동하면서 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 절반 부분을 촬영하고, 그 촬영 이미지를 제어유닛(260)에 제공한다. 제어유닛(260)은 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)와 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)가 촬영한 촬영 이미지를 실시간으로 분석하여 각 디스플레이용 패널(10)(20)의 결함 존재 여부를 확인한다.
제 1 투과성 패널 검사유닛(130)과 제 1 비투과성 패널 검사유닛(230)의 검사 동작이 끝나면, 턴테이블 회전유닛(113)은 턴테이블(210)을 일정 각도 회전시켜 백라이트(115)에 안착된 투과성 디스플레이용 패널(10)을 제 2 투과성 패널 검사유닛(140)의 검사 위치로 이동시키고, 관통홈(215) 위에 안착된 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 제 2 비투과성 패널 검사유닛(240)의 검사 위치로 이동시킨다.
이때, 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)가 제 2 투과성 패널 검사카메라 이동유닛(143)에 의해 이동하면서 투과성 디스플레이용 패널(10)의 전체 부분 중에서 제 1 투과성 패널 검사카메라(131)에 의해 촬영되지 않은 나머지 절반 부분을 촬영하고, 그 촬영 이미지를 제어유닛(260)에 제공한다. 그리고 제 2 비투과성 패널 검사카메라(241)가 제 2 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛(143)에 의해 이동하면서 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 전체 부분 중에서 제 1 비투과성 패널 검사카메라(231)에 의해 촬영되지 않는 나머지 절반 부분을 촬영하고, 그 촬영 이미지를 제어유닛(260)에 제공한다. 제어유닛(260)은 제 2 투과성 패널 검사카메라(141)와 제 2 비투과성 패널 검사카메라(241)가 촬영한 촬영 이미지를 실시간으로 분석하여 각 디스플레이용 패널(10)(20)의 결함 존재 여부를 확인한다.
제 2 투과성 패널 검사유닛(140)과 제 2 비투과성 패널 검사유닛(240)의 검사 동작이 끝나면, 턴테이블 회전유닛(113)은 턴테이블(210)을 일정 각도 회전시켜 백라이트(115)에 안착된 투과성 디스플레이용 패널(10)을 제 3 투과성 패널 검사유닛(150)의 검사 위치로 이동시키고, 관통홈(215) 위에 안착된 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 제 3 비투과성 패널 검사유닛(250)의 검사 위치로 이동시킨다.
이때, 투과성 패널 이미지센서(151)가 투과성 패널 이미지센서 이동유닛(153)에 의해 이동하면서 투과성 디스플레이용 패널(10)의 표면을 전체적으로 스캔하고 스캔 이미지를 제어유닛(260)에 제공한다. 그리고 비투과성 패널 검사 이미지센서(251)가 비투과성 패널 검사 이미지센서 이동유닛(253)에 의해 이동하면서 비투과성 디스플레이용 패널(20)의 표면을 전체적으로 스캔하고 스캔 이미지를 제어유닛(260)에 제공한다. 제어유닛(260)은 투과성 패널 이미지센서(151)와 비투과성 패널 검사 이미지센서(251)의 스캔 이미지를 실시간으로 분석하여 디스플레이용 패널(10)(20)의 표면에 기스, 얼룩 등의 결함이 있는지 확인한다.
이렇게 복수의 검사유닛을 차례로 통과한 각각의 디스플레이용 패널(10)(20)에서 결함이 발견되지 않으면, 턴테이블 회전유닛(113)이 턴테이블(210)을 일정 각도 회전시켜 검사를 마친 각 디스플레이용 패널(10)(20)을 제 1 패널 이송유닛(170)과 제 2 패널 이송유닛(270) 쪽으로 이동시킨다. 이때 제 1 패널 이송유닛(170)은 해당 투과성 디스플레이용 패널(10)을 턴테이블(210)로부터 언로딩한 후, 다른 투과성 디스플레이용 패널(10)을 백라이트(115) 위에 로딩한다. 그리고 제 2 패널 이송유닛(270)은 해당 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 턴테이블(210)로부터 언로딩한 후, 다른 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 관통홈(215) 위에 안착시킨다.
한편, 디스플레이용 패널에서 결함이 발견되는 경우, 턴테이블 회전유닛(113)은 턴테이블(210)을 일정 각도 회전시켜 해당 디스플레이용 패널을 패널 반출유닛(180)이 배치된 반출 위치로 이동시킨다. 결함이 있는 디스플레이용 패널이 반출 위치에 도달하면 패널 반출유닛(180)이 작동하여 해당 디스플레이용 패널을 턴테이블(110)로부터 반출시킨다.
이와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 의한 디스플레이용 패널의 검사장치(200)는 투명 또는 반투명의 빛이 투과할 수 있는 투과성 디스플레이용 패널(10)과 빛을 발생할 수 있는 백라이트 패널(21)을 구비하여 빛이 투과하지 못하는 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 동시에 검사할 수 있다. 물론 어느 한 종류의 디스플레이용 패널만 검사하는 작동 모드로 작동할 수도 있다.
한편, 도 8은 도 5 내지 도 7에 도시된 디스플레이용 패널의 검사장치(200)의 변형예를 나타낸 것이다.
도 8에 도시된 디스플레이용 패널의 검사장치는 턴테이블(210)에 복수의 백라이트(115)와 함께 비투과성 디스플레이용 패널(30)이 놓일 수 있는 복수의 안착홈(280)이 마련된 것이다. 안착홈(280)의 안쪽에는 턴테이블(210)을 두께 방향으로 관통하는 관통홈(281)과 안착홈(280)에 놓이는 비투과성 디스플레이용 패널(20)을 떠받치기 위한 걸림턱(282)이 구비된다. 비투과성 디스플레이용 패널(30)은 그 투과성 패널(32)이 하부를 향하고 백라이트 패널(31)이 상부를 향하도록 안착홈(280)에 안착된다.
비투과성 디스플레이용 패널(30)에 전원을 공급하기 위한 커넥터(284)는 안착홈(280)에 설치된다. 커넥터(284)는 전원 공급선(222)을 통해 전원 공급유닛(220)의 전원을 공급받고, 안착홈(280)에 안착되는 비투과성 디스플레이용 패널(30)에 전원을 공급한다. 비투과성 디스플레이용 패널(30)이 안착홈(280)에 안착될 때 비투과성 디스플레이용 패널(30)의 터미널(33)은 작업자의 별다른 조작없이 커넥터(284)에 바로 접속될 수 있다. 물론 전술한 바와 같이 작업자가 수동으로 커넥터를 비투과성 디스플레이용 패널에 연결하게끔 하는 구성도 가능하다.
이러한 디스플레이용 패널의 검사장치는 비투과성 디스플레이용 패널(30)을 안착홈(280)에 안착함으로써 비투과성 디스플레이용 패널(30)이 검사 중에 움직이는 것을 방지할 수 있다. 또한 도 5 내지 도 7에 도시된 디스플레이용 패널의 검사장치(200)와 같이 투과성 디스플레이용 패널(10)과 비투과성 디스플레이용 패널(30)을 모두 검사할 수 있다.
앞에서 설명되고 도면에 도시된 본 발명의 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 한정하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명의 보호범위는 특허청구범위에 기재된 사항에 의해서만 제한되고, 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상을 다양한 형태로 개량 및 변경하는 것이 가능하다. 따라서, 이러한 개량 및 변경은 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것인 한 본 발명의 보호범위에 속하게 될 것이다.
100, 200 : 디스플레이용 패널의 검사장치 110, 210 : 턴테이블
115 : 백라이트 120, 220 : 전원 공급유닛
122, 226 : 외부 전원 공급부재 123, 227 : 슬립 링
130, 140, 150 : 제 1, 2, 3 투과성 패널 검사유닛
131, 141 : 제 1, 2 투과성 패널 검사카메라
133, 143 : 제 1, 2 투과성 패널 검사카메라 이동유닛
134, 144, 155, 173, 183, 234, 244, 254 : 지지대
135, 145, 235, 245: 제 1 이동체
136, 146, 236, 246: 제 2 이동체
137, 147, 237, 247 : 제 3 이동체 151 : 투과성 패널 이미지센서
153 : 투과성 패널 이미지센서 이동유닛 154 : 기둥
156, 255 : 센서 이동체 160, 260 : 제어유닛
170, 270 : 패널 이송유닛 171, 181, 271 : 패널 홀더
172, 182, 272 : 홀더 이동체 180 : 패널 반출유닛
213 : 커넥터 215, 281 : 관통홈
230, 240, 250 : 제 1, 2, 3 비투과성 패널 검사유닛
231, 241 : 제 1, 2 비투과성 패널 검사카메라
233, 243 : 제 1, 2 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛
251 : 비투과성 패널 검사 이미지센서
253 : 비투과성 패널 검사 이미지센서 이동유닛

Claims (13)

  1. 빛이 투과할 수 있는 투과성 디스플레이용 패널을 떠받칠 수 있는 상면을 갖는 턴테이블;
    상기 턴테이블을 회전시키는 턴테이블 회전유닛;
    상기 턴테이블의 상면에 상호 이격되도록 배치되는 복수의 백라이트;
    상기 턴테이블에 설치되어 상기 복수의 백라이트에 전원을 공급하는 전원 공급유닛;
    상기 턴테이블의 회전 경로 중에 상호 이격되도록 배치되고, 상기 백라이트 위에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널의 상면을 촬영하여 상기 투과성 디스플레이용 패널의 이미지를 획득하기 위해 렌즈부가 상기 투과성 디스플레이용 패널의 상면을 향하게 배치되는 복수의 투과성 패널 검사카메라;
    상기 복수의 투과성 패널 검사카메라가 상기 투과성 디스플레이용 패널의 여러 부분을 차례로 촬영할 수 있도록 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라를 이동시키는 복수의 투과성 패널 검사카메라 이동유닛; 및
    상기 복수의 투과성 패널 검사카메라로부터 촬영 이미지를 제공받아 이를 분석하고, 장치의 전반적인 동작을 제어하는 제어유닛;을 포함하고,
    상기 제어유닛은 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라 중에서 두 개 이상이 상기 투과성 디스플레이용 패널의 서로 다른 부분을 차례로 촬영하여 상기 투과성 디스플레이용 패널의 전체 이미지를 획득하도록 상기 턴테이블 회전유닛, 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라 및 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라 이동유닛의 동작을 제어하는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 전원 공급유닛에 외부 전원을 제공하기 위해 상기 전원 공급유닛과 전기적으로 연결되는 외부 전원 공급부재; 및
    상기 전원 공급유닛과 상기 외부 전원 공급부재 사이에 배치되어 상기 전원 공급유닛과 상기 외부 전원 공급부재를 전기적으로 연결함과 동시에 상기 전원 공급유닛과 상기 외부 전원 공급부재를 상호 회전 가능하게 결합하는 슬립 링;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 턴테이블의 회전 경로 중에 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라와 상호 이격되도록 배치되고, 상기 백라이트 위에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널의 상면을 스캔하여 스캔 이미지를 상기 제어유닛에 제공하는 투과성 패널 이미지센서; 및
    상기 투과성 패널 이미지센서가 상기 투과성 디스플레이용 패널의 전체 영역을 스캔할 수 있도록 상기 투과성 패널 이미지센서를 이동시키는 투과성 패널 이미지센서 이동유닛;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 턴테이블 상에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널을 상기 턴테이블로부터 반출하기 위한 패널 반출유닛을 더 포함하고,
    상기 제어유닛은 상기 턴테이블 상에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널 중에서 결함이 발견된 것을 상기 패널 반출유닛을 통해 상기 턴테이블로부터 반출시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 투과성 패널 검사카메라 이동유닛은 상기 투과성 패널 검사카메라를 전후?좌우?상하 3축 방향으로 이동시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수의 백라이트는 상기 턴테이블의 회전 중심 둘레에 일정 각도 간격으로 배치되고, 상기 복수의 투과성 패널 검사카메라는 상기 복수의 백라이트의 이격 각도와 같은 각도로 상호 이격 배치되는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 턴테이블에 설치되는 복수의 커넥터;
    상기 턴테이블의 회전 경로 중에 상호 이격되도록 배치되고, 상기 커넥터에 접속되어 빛을 발생하는 백라이트 패널을 갖는 비투과성 디스플레이용 패널의 일면을 촬영하여 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 이미지를 획득하기 위해 렌즈부가 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 일면을 향하게 배치되는 복수의 비투과성 패널 검사카메라; 및
    상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라가 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 여러 부분을 차례로 촬영할 수 있도록 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라를 이동시키는 복수의 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛;을 더 포함하고,
    상기 제어유닛은 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라 중에서 두 개 이상이 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 서로 다른 부분을 차례로 촬영하여 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 전체 이미지를 획득할 수 있도록 상기 턴테이블 회전유닛, 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라 및 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛의 동작을 제어하는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 턴테이블에는 상기 비투과성 디스플레이 패널의 일면이 상기 턴테이블의 하부로 노출되도록 상기 비투과성 디스플레이 패널의 크기보다 작은 크기를 갖는 복수의 관통홈이 마련되고,
    상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라는 상기 턴테이블 상의 상기 관통홈 위에 놓여 상기 관통홈을 통해 상기 턴테이블의 하부로 노출되는 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 일면을 촬영할 수 있도록 상기 턴테이블의 하부에 배치되는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 복수의 관통홈은 상기 턴테이블의 회전 중심 둘레에 일정 각도 간격으로 배치되고, 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라는 상기 복수의 관통홈의 이격 각도와 같은 각도로 상호 이격 배치되는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  10. 제 7 항에 있어서,
    상기 턴테이블의 회전 경로 중에 상기 복수의 비투과성 패널 검사카메라와 상호 이격되도록 배치되고, 상기 턴테이블에 놓이는 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 일면을 스캔하여 스캔 이미지를 상기 제어유닛에 제공하는 비투과성 패널 검사 이미지센서; 및
    상기 비투과성 패널 검사 이미지센서가 상기 비투과성 디스플레이용 패널의 전체 영역을 스캔할 수 있도록 상기 비투과성 패널 검사 이미지센서를 이동시키는 비투과성 패널 검사 이미지센서 이동유닛;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  11. 제 7 항에 있어서,
    상기 비투과성 패널 검사카메라 이동유닛은 상기 비투과성 패널 검사카메라를 전후?좌우?상하 3축 방향으로 이동시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  12. 제 7 항에 있어서,
    상기 복수의 커넥터는 상기 전원 공급유닛으로부터 전원을 공급받는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
  13. 제 7 항에 있어서,
    상기 턴테이블 상에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널 또는 상기 비투과성 디스플레이용 패널을 상기 턴테이블로부터 반출하기 위한 패널 반출유닛을 더 포함하고,
    상기 제어유닛은 상기 턴테이블 상에 놓이는 상기 투과성 디스플레이용 패널 또는 상기 비투과성 디스플레이용 패널 중에서 결함이 발견된 것을 상기 패널 반출유닛을 통해 상기 턴테이블로부터 반출시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 패널의 검사장치.
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101362329B1 (ko) 2013-09-12 2014-02-12 한동희 디스플레이용 패널의 검사장치
CN109585697A (zh) * 2017-09-29 2019-04-05 三星显示有限公司 显示面板制造系统
KR20190062073A (ko) 2017-11-28 2019-06-05 주식회사 디이엔티 Oled 패널 검사시 수분제거장치
KR20190062072A (ko) 2017-11-28 2019-06-05 주식회사 디이엔티 Oled 패널의 기포검출장치
KR20200027167A (ko) 2018-09-04 2020-03-12 주식회사 디이엔티 Oled 패널 비파괴검사기에 적용된 트랜스듀서 성능 열화 보상장치
KR20200027168A (ko) 2018-09-04 2020-03-12 주식회사 디이엔티 초음파 워터폴 방식으로 oled 패널의 검사시 유막 균등화장치
KR102278473B1 (ko) * 2020-12-16 2021-07-15 전지훈 접점 검사 장치
KR102448957B1 (ko) * 2021-04-19 2022-09-29 주식회사 보다 회전체 작동 탐지 카메라의 신호 전달용 슬립 링 모듈 및 이에 의한 회전체 이상 상태 탐지 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100681990B1 (ko) 1998-07-21 2007-02-15 소니 가부시끼 가이샤 액정 표시 패널의 검사 방법 및 검사 장치
KR100784274B1 (ko) 2004-11-08 2007-12-11 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시용 패널의 검사장치
KR20080113621A (ko) * 2007-06-25 2008-12-31 조영환 고해상도 카메라를 이동시키면서 ｌｃｄ 패널의 전체외관을 촬상하는 ｌｃｄ 패널의 외관 검사 장치 및 외관검사 방법
KR101086133B1 (ko) 2004-12-14 2011-11-30 엘지디스플레이 주식회사 액정표시패널 검사장치 및 이를 이용한 액정표시패널검사방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100681990B1 (ko) 1998-07-21 2007-02-15 소니 가부시끼 가이샤 액정 표시 패널의 검사 방법 및 검사 장치
KR100784274B1 (ko) 2004-11-08 2007-12-11 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시용 패널의 검사장치
KR101086133B1 (ko) 2004-12-14 2011-11-30 엘지디스플레이 주식회사 액정표시패널 검사장치 및 이를 이용한 액정표시패널검사방법
KR20080113621A (ko) * 2007-06-25 2008-12-31 조영환 고해상도 카메라를 이동시키면서 ｌｃｄ 패널의 전체외관을 촬상하는 ｌｃｄ 패널의 외관 검사 장치 및 외관검사 방법

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101362329B1 (ko) 2013-09-12 2014-02-12 한동희 디스플레이용 패널의 검사장치
CN109585697A (zh) * 2017-09-29 2019-04-05 三星显示有限公司 显示面板制造系统
CN109585697B (zh) * 2017-09-29 2023-04-14 三星显示有限公司 显示面板制造系统
KR20190062073A (ko) 2017-11-28 2019-06-05 주식회사 디이엔티 Oled 패널 검사시 수분제거장치
KR20190062072A (ko) 2017-11-28 2019-06-05 주식회사 디이엔티 Oled 패널의 기포검출장치
KR20200027167A (ko) 2018-09-04 2020-03-12 주식회사 디이엔티 Oled 패널 비파괴검사기에 적용된 트랜스듀서 성능 열화 보상장치
KR20200027168A (ko) 2018-09-04 2020-03-12 주식회사 디이엔티 초음파 워터폴 방식으로 oled 패널의 검사시 유막 균등화장치
KR102278473B1 (ko) * 2020-12-16 2021-07-15 전지훈 접점 검사 장치
KR102448957B1 (ko) * 2021-04-19 2022-09-29 주식회사 보다 회전체 작동 탐지 카메라의 신호 전달용 슬립 링 모듈 및 이에 의한 회전체 이상 상태 탐지 장치

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