TWI459073B - 檢測顯示裝置之設備及其方法 - Google Patents
檢測顯示裝置之設備及其方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI459073B TWI459073B TW100111143A TW100111143A TWI459073B TW I459073 B TWI459073 B TW I459073B TW 100111143 A TW100111143 A TW 100111143A TW 100111143 A TW100111143 A TW 100111143A TW I459073 B TWI459073 B TW I459073B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- display panel
- platform
- camera
- liquid crystal
- detecting
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
本發明係關於一種檢測顯示裝置之設備及其方法。
近來,由於對尺寸小、重量輕及高節能效率的平板顯示裝置(因此可應用於不同類型之可攜式電子設備)的需求,因此增加了對不同類型之可攜式電子設備的開發,例如移動電話、個人數位助理(Personal Digital Assistant,PDA)及筆記型電腦等。平板顯示裝置之實例為液晶顯示裝置(LCD)、電漿顯示面板(Plasma Display Panel,PDP)裝置、場發射顯示(Field Emission Display,FED)裝置、真空螢光顯示(Vacuum Fluorescent Display,VFD)裝置等。積極開展對這些裝置之研究。在其他裝置之中,液晶顯示裝置(LCD)考慮到其量產技術,方便之驅動方案以及高彩色再現性而普遍受到關注。
液晶顯示裝置(LCD)利用液晶之折射率各向異性在一螢幕上顯示資訊。如「第1圖」所示,一液晶顯示裝置(LCD)1包含有一第一基板3、一第二基板5以及一位於第一基板3與第二基板5之間的液晶(Liquid Crystal,LC)層7。第一基板3為一電晶體陣列基板。雖然圖未示,第一基板3包含有複數個畫素,每一畫素具有一驅動裝置,例如一薄膜電晶體(TFT)。第二基板5為一彩色濾光基板,彩色濾光基板上包含有呈現真實顏色的複數個彩色濾光層。而且,第一及第二基板3及5分別具有一畫素電極及一共同電極,並且塗覆有一配向層,此配向層用以排列液晶層7之液晶分子。
第一及第二基板3及5透過一密封材料9彼此相結合,並且液晶層7形成於密封材料9之間。因此,形成於第一基板3之上的驅動裝置驅動液晶分子用以控制通過液晶層7傳輸之光線量,由此顯示資訊。
一液晶顯示裝置(LCD)之製造過程可劃分為一在第一基板3之上形成一薄膜電晶體(TFT)的薄膜電晶體(TFT)陣列製程,一在第二基板5之上形成彩色濾光層之彩色濾光層製程,以及一在以下將結合「第2圖」描述之晶胞製程。
如「第2圖」所示,由於母玻璃基板具有複數個液晶面板區域,通過薄膜電晶體(TFT)陣列製程以及彩色濾光層製程,一薄膜電晶體(TFT),即,一驅動裝置以及一彩色濾光層分別形成於第一基板3及第二基板5之上(S101及S104)。其後,一配向層分別塗覆於具有薄膜電晶體(TFT)的第一基板3及具有彩色濾光層的第二基板5之上作為一研磨製程(S102及S105)。然後液晶落降於第一基板3之液晶面板區之上且一密封材料9沿著第二基板5之液晶面板之一邊緣區塗覆(S103、S106)。
其後,壓力作用於對準狀態下的第一及第二基板3及5,以便透過密封材料9使得這兩個基板彼此相結合且同時均勻分佈落降的液晶(S107)。通過那些製程,複數個具有此液晶層的液晶面板形成於較大的玻璃基板(即,第一及第二基板3及5)之上。然後加工此玻璃基板且切割為複數個液晶面板,檢測每一液晶面板,由此製造一液晶顯示裝置(S108及S109)。
如上所述,在習知技術之液晶顯示裝置(LCD)之製造方法中,液晶落降於基板之上,其中此基板之上待形成複數個液晶面板,以及第一及第二基板3及5彼此相結合以劃分為複數個單元面板,由此製造此液晶顯示裝置(LCD)。
液晶面板可在不同之方式下檢測。其中一代表性之方式為使用一視覺自動探針(Vision Auto Probe,VAP)設備的自動探針檢測。此自動探針檢測使用一面型攝影機或線型攝影機用以自動識別一有缺陷的液晶面板及缺陷位置資訊。
視覺自動探針(VAP)設備包含有一定義總外觀之視覺自動探針(VAP)框架,一用於在其上放置一液晶面板的工作台,一將訊號提供於此液晶面板之墊板,一用於接受液晶面板之影像資訊之攝影機,以及一允許攝影機移動的攝影機支撐框架等。
同時,視覺自動探針(VAP)設備通常使用一區域掃描攝影機實現。為了減少液晶面板之故障率,應該使用具有高放大率之區域掃描攝影機執行偵測,然而,高放大率之偵測可增加面型掃描攝影機之數目,這樣產生製造成本之增加。
而且,甚至在檢測透過增加區域掃描攝影機之數目,使用視覺自動探針(VAP)設備執行的情況下,一中斷可出現於區域掃描攝影機之間,由此產生精確缺陷偵測之困難。
而且,為了偵測由於液晶面板缺乏結合餘量或不正確之結合,而隨著光線根據一視角(視場)部份地洩漏,液晶面板看上去類似污點的位置,需要液晶面板之視角檢測。然而,區域掃描攝影機不能夠執行此視角檢測,並且結果,如此之檢測難以執行。
因此,鑒於上述問題,本發明之目的在於提供一種檢測顯示裝置之設備及其方法,藉以消除由於習知技術之限制及缺點所產生之一個或多個問題。
本發明之目的之一在於提供一種檢測顯示裝置之設備及其方法,其能夠允許顯示裝置之快速檢測。
本發明其他的優點、目的和特徵將在如下的說明書中部分地加以闡述,並且本發明其他的優點、目的和特徵對於本領域的普通技術人員來說,可以透過本發明如下的說明得以部分地理解或者可以從本發明的實踐中得出。本發明的目的和其他優點可以透過本發明所記載的說明書和申請專利範圍中特別指明的結構並結合圖式部份,得以實現和獲得。
為了獲得本發明的這些目的和其他特徵,現對本發明作具體化和概括性的描述,本發明的一種檢測顯示裝置之設備可包含有複數個平台,這些平台上裝載有至少一個顯示面板,以及一第一攝影機,其位於這些平台之一個,以隨著自顯示面板之一側移動至另一側,拍攝裝載於對應平台上的一顯示面板,以檢測此顯示面板之一缺陷。
第一攝影機可為一線掃描攝影機,一面型攝影機或時間遲滯與積分(Time Delay and Integration,TDI)攝影機。此種設備可更包含有複數個用於執行視角檢測之攝影機,攝影機分別位於這些平台,以及在顯示面板之一對角線方向上以預定角度傾斜,用以執行此對應平台上裝載的顯示面板之左及右視角檢測。
一個第一攝影機提供於每一平台。這裡,此第一攝影機隨著自液晶面板之一側移動至另一側,可拍攝一平台上裝載的一液晶面板。
而且,當複數個第一攝影機提供於一個平台且複數個顯示面板裝載於此一個平台上時,第一攝影機之一個移動至複數個區域(在此這些液晶面板定位於此對應平台上)之一個區域,以便拍攝存在於此對應區域上的一顯示面板,以及另一個第一攝影機移動至另一區域以拍攝存在於此對應區域上的一顯示面板。
根據本發明之另一實施例,一種檢測顯示裝置之設備可包含有複數個平台,其上分別裝載有複數個液晶面板,以及複數個第一攝影機,其用以在這些平台之中移動,當這些第一攝影機自這些顯示面板之一側朝向另一側移動時,拍攝裝載於各平台上的顯示面板,以便檢測這些顯示面板之缺陷。
這裡,當一顯示面板裝載於一個平台上或自此平台上卸載時,第一攝影機拍攝裝載於另一平台上的一顯示面板。
根據本發明之一實施例,一種檢測顯示裝置之方法可包含:分別裝載複數個顯示面板於複數個平台之上,以及配設至少一個攝影機於複數個平台之每一個以拍攝此對應平台上裝載的顯示面板,以及此至少一個攝影機自顯示面板之一側朝向另一側移動,以檢測此顯示面板之一缺陷。
在複數個顯示面板裝載於一個平台或複數個平台上之後,裝載的顯示面板能夠透過一個攝影機或複數個攝影機同時或順次掃描(拍攝、採取、捕獲),由此允許迅速檢測。而且,在裝載或卸載一個液晶面板時,另一液晶面板能夠檢測,以便實現一有效檢測。
而且,除了複數個攝影機之外,還可裝備有複數個視角檢測攝影機,以便同缺陷檢測一樣允許一快速及準確的視角檢測。
可以理解的是,如上所述的本發明之概括說明和隨後所述的本發明之詳細說明均是具有代表性和解釋性的說明,並且是為了進一步揭示本發明之申請專利範圍。
以下將結合附圖部份詳細描述本發明之實施例,圖式中之相同標號表示相同或類似元件。
為了迅速檢測一平板顯示裝置,準備複數個平台,並且平板顯示裝置裝載於每一平台之上以順次或同時使用一攝影機拍攝裝載於每一平台上的此平板顯示裝置,由此執行檢測。此攝影機可安裝於每一平台以拍攝裝載於此平台上的平板顯示裝置,或者一單個攝影機可安裝為以拍攝裝載於每一平台上的平板顯示裝置。這裡,已經經歷在前製程的平板顯示裝置順次裝載,允許其快速檢測。
同時,本發明之一檢測設備能夠使用於不同類型的平板顯示裝置,例如,一液晶顯示裝置(LCD)、一有機發光二極體(Organic Light Emitting Diode,OLED)裝置、一電漿顯示裝置等。進一步而言,本發明之一檢測設備還可使用於一太陽能電池。因此,在此以下之說明僅僅為示例性表示,但是並不限制於一特定的平板顯示裝置。而是,該檢測設備還可應用於任何類型之平板顯示裝置。
「第3圖」係為本發明一實施例之一檢測顯示裝置之設備之示意圖。如「第3圖」所示,一檢測設備100檢測通過不同製程製造的一顯示裝置是否具有一缺陷部份,並且可包含有一裝載部份、一檢測部份以及一卸載部份。
檢測設備100可包含有一搬運器150,搬運器150用以將一經歷不同製程,例如一薄膜電晶體(TFT)製程、一彩色濾光層製程等的一顯示裝置,例如一液晶面板201傳輸至裝載部份、檢測部份以及卸載部份;一包含於裝載部份之中的第一搬運單元140,用於將一待檢測之目標,例如液晶面板201搬運至一調色板146;一第一攝影機130a及一第二攝影機130b,其均安裝於檢測部份用以確定調色板146上裝載的液晶面板201之上是否發現任何缺陷;以及一安裝於卸載部份的第二搬運單元160,用於卸載已經檢測透過第一及第二攝影機130a及130b之掃描決定是否存在缺陷的液晶面板201。
這裡,在檢測部份之中檢測的液晶面板210可包含有一單元或模組之形式。
第一搬運單元140可包含有一第一提升部份145以及一第二提升部份165,第一提升部份145用以上下提升透過搬運器150裝載的液晶面板201以傳輸至調色板146,第二提升部份165用以在檢測部份之中的檢測製程之後,上下提升透過搬運器150搬運回之液晶面板201以便卸載液晶面板201。
雖然圖未示,調色板146可包含有一工作台,工作台之上用於放置一液晶面板以執行對其的缺陷檢測;一附加於工作台之上放置的液晶面板的探針單元,用於將一電訊號提供至液晶面板201;以及一底板,此底板具有用於液晶面板201的閘極及資料線的一探針單元。
調色板146可一個接一個提供於裝載部份、檢測部份以及卸載部份。因此,調色板146可順次循環裝載部份、檢測部份以及卸載部份,以便將液晶面板201順次傳輸至裝載部份、檢測部份以及卸載部份。
這裡,可安裝至少兩個調色板146,用以透過循環裝載部份、檢測部份以及卸載部份連續傳輸液晶面板201,由此允許迅速檢測液晶面板201。
第一攝影機130a及第二攝影機130b可配設於檢測部份之上以拍攝裝載的液晶面板。這裡,第一攝影機130a及第二攝影機130b可為一線掃描攝影機,用以透過每一行掃描液晶面板201,或者為一面型攝影機,用以透過每一區域拍攝液晶面板201。
同時,當運行液晶面板201時,如果行掃描攝影機130a及130b用以執行一缺陷檢測,則一具有特定週期的驅動訊號提供於液晶面板201,由此在液晶面板201之上呈現一具有特定週期之影像。結果,可產生行掃描第一及第二攝影機130a及130b難以獲得正常影像之情況。
此種情況下,代替逐行掃描的行掃描第一及第二攝影機130a及130b,可使用一時間遲滯與積分(Time Delay and Integration,TDI)攝影機,其掃描複數個行且累積自這些行獲得之影像,以便確定這些影像。
雖然圖未示,檢測設備100可包含有有一視覺硬體,用以將自第一及第二攝影機130a及130b傳輸出的資訊處理為透過一作業者識別之影像;一影像顯示單元,用以顯示透過此視覺硬體處理之影像;以及一缺陷圖,用以顯示檢測的液晶面板201之缺陷。
檢測設備之檢測部份可更包含有一背光單元(圖未示),此背光單元用以將光線發射至調色板146之上放置的液晶面板201。
「第4圖」係為具有該結構之檢測設備100之檢測部份之示意圖。
如「第4圖」所示,檢測部份可包含有一底座110;一安裝於底座110上的第一平台120a及一第二平台120b,用以在其上放置傳輸之液晶面板201;複數個安裝於底座110上的第一導向軌道136,用以將第一平台120a及第二平台120b搬運至第一及第二攝影機130a及130b定位之位置;以及複數個安裝於底座110的第二軌道132,用以移動第一及第二攝影機130a及130b。
如上所述,第一及第二平台120a及120b安裝於檢測位置以使得液晶面板201能夠裝載於每一個之上以待檢測。換句話而言,兩片液晶面板201可裝載以待檢測。這裡,複數個液晶面板可順次裝載於第一及第二平台120a及120b之上且透過第一及第二攝影機130a及130b拍攝以待檢測。
這裡,「第4圖」示範性表示兩個攝影機分別安裝於第一及第二平台120a及120b,以便拍攝裝載於對應第一及第二平台120a及120b上的待檢測之液晶面板201。或者,一個攝影機可僅安裝於第一及第二平台120a及120b,用以拍攝第一及第二平台120a及120b每一個上裝載的每一液晶面板201。在此結構之中,複數個液晶面板可順次或同時裝載於第一及第二平台120a及120b之每一個上。其後,此一個攝影機可拍攝裝載於一個平台上的液晶面板201且然後移動至另一平台以拍攝其上裝載的液晶面板。這裡,先前檢測的液晶面板可搬運至卸載部份,以及當檢測在另一平台上執行時,另一液晶面板201裝載於此平台之上,由此運行一連續檢測。
其後,將結合「第3圖」及「第4圖」描述使用具有該結構的檢測設備100,檢測液晶面板201之方法。
在將通過幾個製程,例如薄膜電晶體製程、彩色濾光層製程、結合製程等製造的一液晶面板201引入至檢測設備100之中時,液晶面板201裝載於裝載部份之上。裝載之液晶面板201透過第一搬運單元140之第一提升部份145放置於調色板146之上。放置於調色板146之上液晶面板201透過搬運器150傳輸至檢測部份之第一平台120a。其後,放置於調色板146之上的另一液晶面板201透過搬運器150傳輸至檢測部份之第二平台120b。
在調色板146移動至第一平台120a時,位於卸載部份的調色板146移動至裝載部份用以將液晶面板201裝載於其上且其後移動至檢測部份之第二平台120b。
傳輸至裝載部份的液晶面板201放置於提供於調色板146的工作台之上用以與探針單元相連接,由此執行檢測以便通過第一及第二攝影機130a及130b檢測一缺陷之存在或不存在。這裡,透過攝影機130a及130b拍攝的一檢測樣本之影像透過一光線資訊處理器處理,因此能夠獲得一自動檢測。
雖然圖未示,探針單元可包含有一探針座、一印刷電路板(PCB)基片、一機械手、一彈簧接點(Pogo)塊以及一探針塊。探針塊可與一面板墊相連接以便允許透過使用第一及第二攝影機130a及130b拍攝液晶面板201檢測。
已經在檢測部份之上完成檢測的液晶面板201裝載於調色板146之上,以便透過搬運器150搬運。然後液晶面板201透過第二搬運單元160之第二提升部份165上下提升,移動至卸載部份以便卸載。
然後移動至卸載部份的調色板146向後移動至裝載部份,以及依次引入的另一液晶面板201放置於調色板146之上以備用。
同樣,具有該結構的檢測設備100可包含有複數個調色板146,調色板146循環裝載部份、檢測部份以及卸載部份,以便快速檢測順次裝載的液晶面板。
「第5圖」係為檢測設備中的液晶面板201或調色板146的一移動路徑之示意圖。液晶面板201或調色板146的移動路徑的描述將更具體說明液晶面板201之檢測過程。
請參閱「第3圖」及「第5圖」,檢測設備100包含有一裝載部份、一檢測部份以及一卸載部份,每一部份具有四個調色板。
裝載於裝載部份之中包含的第一調色板146a上的一第一液晶面板201a可傳輸至檢測部份之一第一平台120a,以及一提供於第一平台120a上的第一調色板146a可移動至卸載部份。也就是說,第一液晶面板201a在第一調色板146a之上裝載狀態下傳輸至第一平台120a,以透過第一攝影機130a拍攝。其後,此第一液晶面板201a搬運至卸載部份。雖然圖未示,傳輸至第一平台120a的第一液晶面板201a可與透過在第一調色板146a提供的探針單元相接觸以透過第一攝影機130a拍攝,由此檢測以便檢測是否存在一缺陷。當裝載部份之第一液晶面板201a傳輸至第一平台120a時,已經在第一平台120a之上完成拍攝的另一第一液晶面板201a,搬運至卸載部份。
而且,裝載於裝載部份之中包含的一第二調色板146b上的一第二液晶面板201b可傳輸至檢測部份之一第二平台120b且一提供於第二平台上的調色板可移動至卸載部份。也就是說,第二液晶面板201b在第二調色板146b之上的裝載狀態下傳輸至第二平台120b,用以透過第二攝影機130b拍攝,由此搬運至卸載部份。雖然圖未示,傳輸至第二平台120b的第二液晶面板201b可與提供在第二調色板146b提供的探針單元相接觸用以透過第二攝影機130b拍攝,由此檢測是否存在一缺陷。當裝載部份之第二液晶面板201b傳輸至第二平台120b時,已經在第二平台120b之上完成拍攝的另一第二液晶面板201b搬運至卸載部份。
提供於卸載部份的第一調色板146a在圖式中一箭頭表示的方向上下降且移動至裝載部份。
同樣,提供複數個第一及第二平台120a及120b,並且第一及第二液晶面板201a及201b沿不同路徑裝載於第一及第二平台120a及120b之上,以便透過安裝於各第一及第二平台120a及120b的第一及第二攝影機130a及130b拍攝,由此執行檢測。這裡,甚至在當第一及第二液晶面板201a及201b裝載於第一及第二平台120a及120b之各平台上時,進行在另一平台之上的一液晶面板之拍攝。
檢測部份之第一平台120a及第二平台120b可分別包含有一第一背光單元148a及一第二背光單元148b。當放置於第一及第二調色板146a及146b上的第一及第二液晶面板201a及201b傳輸至檢測部份之第一及第二平台120a及120b時,第一及第二背光單元148a及148b可運行以透過第一及第二攝影機130a及130b拍攝,由此在第一及第二液晶面板201a及201b之上提供測試影像。
已經在檢測部份之第一及第二平台120a及120b上完成缺陷檢測的第一及第二液晶面板201a及201b,傳輸至卸載部份以卸載。同時,一已經傳輸至轉載部份的液晶面板移動至檢測部份的第一與/或第二平台120a、120b,以及一已經傳輸至卸載部份的液晶面板移動至裝載部份。
因此,一液晶面板可傳輸至檢測部份之第一或第二平台120a或120b以檢測,以便使用第一或第二攝影機130a或130b檢測是否存在一缺陷,以及另一液晶面板裝載於轉載部份之上以便為下一輪次準備。
如上所述,具有該結構的檢測設備100可具有複數個調色板,這些調色板循環裝載部份、檢測部份之第一及第二平台以及卸載部份,以便迅速偵測是否順次提供的待檢測目標具有缺陷。
因此,提供檢測部份之複數個平台且複數個液晶面板同時或順次在調色板上的裝載狀態中裝載於那些平台之上。其後,這些透過調色板傳輸之液晶面板透過安裝於各平台的攝影機拍攝,因此快速檢測。這裡,這些裝載於各平台上的液晶面板可利用該搬運器順次裝載於第一及第二平台之上。而且,第一及第二攝影機能夠在第一及第二平台上方移動以拍攝那些液晶面板,因此可能同時或順次檢測這些液晶面板。
同時,檢測設備100可不限制於在檢測單元具有兩個平台且複數個攝影機安裝於各平台之上方,以便檢測裝載於每一平台上的一液晶面板之結構。作為一可替換實例,檢測設備100可具有一結構:三個或更多個平台可提供於檢測部份且一攝影機安裝於每一平台之上方以同時拍攝檢測的複數個液晶面板,或者具有一結構:三個或更多個平台提供於檢測部份且安裝一個攝影機以拍攝位於三個或更多個平台上裝載的每一液晶面板。
下文中,將示意性描述不同之構造(結構)。在以下之描述中,那些結構將簡化以簡單描述使用平台及攝影機的檢測液晶面板之方法。然而,那些設備之實際結構將結合「第3圖」及「第4圖」理解。
首先,請參閱「第6A圖」,複數個第一及第二平台120a及120b提供於一檢測部份(圖式中表示兩個平台但是本發明可不限制於該結構而是可應用於安裝有三個或更多個平台之結構)。第一及第二攝影機130a及130b可分別安裝於第一及第二平台120a及120b。
第一及第二液晶面板201a及201b可在裝載於調色板(圖未示)之上的狀態下,傳輸於第一及第二平台120a及120b之上。這裡,第一及第二平台120a及120b可藉由一搬運器150與一裝載部份以及一卸載部份相連接,以使得第一及第二液晶面板201a及201b能夠自裝載部份傳輸至第一及第二平台120a及120b且自第一及第二平台120a及120b傳輸至卸載部份。這裡,第一及第二液晶面板201a及201b在裝載於調色板上的狀態下傳輸至第一及第二平台120a及120b。然而,為了簡單描述省去對調色板之說明且直接揭露第一及第二液晶面板201a及201b。
這裡,第一及第二液晶面板201a及201b傳輸至第一及第二平台120a及120b可在一連續方式下執行。也就是說,在第一液晶面板201a透過搬運器150傳輸至第一平台120a(即,沿著圖式中表示的路徑傳輸)之後,第二液晶面板201b透過搬運器150傳輸至第二平台120b(即,沿著圖式中表示的路徑傳輸)。
在第一液晶面板201a完全裝載於第一平台120a上之後,安裝於第一平台120a的第一攝影機130a接受藉由一探針單元(形成於調色板)提供的測試訊號,以拍攝(掃描)其上顯示一測試影像的第一液晶面板201a,由此執行第一液晶面板201a之檢測。這裡,第一攝影機130a可為一線掃描攝影機或一面型攝影機。線掃描攝影機可透過一線性馬達等連續移動用以拍攝第一液晶面板201,而面型攝影機可透過一步進馬達等不連續移動以拍攝一特定區域。
第一攝影機130a可位於第一平台120a之一側面。在裝載第一液晶面板201a時,第一攝影機130a可自一側朝向另一側移動以拍攝第一液晶面板201a(即,沿著圖式中表示的路徑移動拍攝)。
這裡,甚至在當第二液晶面板201b透過搬運器150傳輸至第二平台120b的時候,第一攝影機130a可拍攝第一液晶面板201a。然後,完全拍攝的第一液晶面板201a可透過搬運器150沿著路徑搬運至卸載部份。
在第二液晶面板201b裝載於第二平台120b上之後,安裝於第二平台120b的第二攝影機130b可接受一測試訊號,其中此測試訊號藉由形成於調色板的一探針單元提供,用以掃描其上顯示一測試影像的第二液晶面板201b,由此執行第二液晶面板201b之檢測。
第二攝影機130b可位於第二平台120b之一個側面。在裝載第二液晶面板201b時,第二攝影機130b可自一側朝向另一側移動用以拍攝第二液晶面板201b(即,沿著圖式中表示的路徑移動拍攝)。
這裡,在完全檢測的第一液晶面板201a沿著路徑透過搬運器150搬運至卸載部份時,第二攝影機130b可拍攝第二液晶面板201b。然後,完全拍攝的第二液晶面板201b可沿著路徑透過搬運器150搬運至卸載部份。
因此,在具有該結構的檢測設備之中,在第一及第二攝影機130a及130b分別安裝於複數個第一及第二平台120a及120b之後,第一及第二攝影機130a及130b能夠分別運行以檢測裝載的第一及第二液晶面板201a及201b,由此允許迅速檢測第一及第二液晶面板201a及201b。這裡,雖然圖未示,為了避免當已經經過前述結合製程及切割製程的第一及第二液晶面板201a及201b裝載於第一及第二平台120a及120b上或自其上卸載時,在複數個第一及第二液晶面板201a及201b之間中斷,可提供一緩衝單元用以臨時保持第一及第二液晶面板201a及201b,用於這些第一及第二液晶面板201a及201b裝載於複數個第一及第二平台120a及120b上或自其上卸載的連續傳輸。
「第6B圖」表示在一檢測部份提供複數個第一及第二平台220a及220b且安裝一個攝影機230的檢測設備之結構,以便透過使用一個攝影機230檢測裝載於複數個第一及第二平台120a及120b上的第一及第二液晶面板201a及201b。
如「第6B圖」所示,第一及第二液晶面板201a及201b在裝載於調色板(圖未示)之上的狀態下,分別傳輸至第一平台220a及第二平台220b。這裡,第一平台220a及第二平台220b可藉由一搬運器250與一裝載部份及一卸載部份相連接,以使得第一及第二液晶面板201a及201b能夠自裝載部份傳輸至第一及第二平台220a及220b且自第一及第二平台220a及220b傳輸至卸載部份。
這裡,第一及第二液晶面板201a及201b至第一及第二平台220a及220b的傳輸可在一連續方式下執行。也就是說,在第一液晶面板201a透過搬運器250(沿著路徑)傳輸至第一平台220a之後,第二液晶面板201b透過搬運器250(即,沿路徑)傳輸至第二平台220b。
攝影機230可安裝於一特定第一及第二平台220a、220b或第一及第二平台220a及220b之外部,以便在第一及第二平台220a及220b之內部或外部可移動。
在第一及第二液晶面板201a及201b分別裝載於第一及第二平台220a及220b之後,攝影機230可掃描第一及第二液晶面板201a及201b以便執行第一及第二液晶面板201a及201b之檢測。
這裡,攝影機230可覆蓋第一及第二平台220a及220b至兩者。也就是說,攝影機230可朝向裝載有第一及第二液晶面板201a及201b的第一及第二平台220a及220b移動,以便在第一及第二平台220a及220b之內掃描裝載的第一及第二液晶面板201a及201b,由此執行檢測。
當第一液晶面板201a裝載於第一平台220a之上時,攝影機230沿著路徑移動至第一平台220a,以及然後沿著路徑在第一平台220a之內移動或往復以拍攝第一液晶面板201a用以檢測。
當第二液晶面板201b裝載於第二平台220b之上時,攝影機230沿著路徑移動至第二平台220b移動,以及然後沿著路徑在第二平台220b之內移動或往復以拍攝第二液晶面板201b用以檢測。
當傳輸第一及第二液晶面板201a及201b時,攝影機230之拍攝可連續。也就是說,在當第二液晶面板201b透過搬運器250傳輸至第二平台220b時,攝影機230沿著路徑移動至第一平台220a,以及其後沿著路徑移動或往復以拍攝第一液晶面板201a。而且,在當第一液晶面板201a透過搬運器250自第一平台220a傳輸至卸載部份時,攝影機230沿著路徑移動至第二平台220b,以及然後沿著路徑在第二平台220b之內移動或往復以拍攝第二液晶面板201b。而且,攝影機230之移動在相反情況下相同。
同樣,在具有此結構的檢測設備之中,一個攝影機230可安裝於複數個第一及第二平台220a及220b以在這些第一及第二平台220a及220b之上方移動,以便掃描裝載於第一及第二平台220a及220b之每一個上的第一及第二液晶面板210a及201b,由此允許快速檢測第一及第二液晶面板201a及201b。此外,由於第一及第二液晶面板201a及201b順次裝載於第一及第二平台220a及220b之上待檢測且當第一及第二液晶面板201a及201b傳輸時,另一平台之上的另一液晶面板之檢測在進行中,因此能夠實現快速檢測。
而且,緩衝單元還可提供於檢測設備之中以避免當複數個第一及第二液晶面板201a及201b裝載於複數個第一及第二平台220a及220b之上或自其上卸載時,在通過前述的結合製程及切割製程的複數個第一及第二液晶面板201a及201b之間中斷。
「第6C圖」表示具有一複數個攝影機330a及330b安裝於一檢測部份之一個平台320且複數個待檢測的第一及第二液晶面板201a及201b裝載於一個平台320之上的結構之檢測設備。
如「第6C圖」所示,在此結構之中,第一及第二液晶面板201a及201b可在放置於複數個調色板(圖未示)之上的狀態下,傳輸至一個平台320。這裡,平台320可藉由一搬運器350與一裝載部份及一卸載部份相連接,以使得第一及第二液晶面板201a及201b能夠自裝載部份傳輸至平台320且自平台320傳輸至卸載部份。
這裡,第一及第二液晶面板201a及201b傳輸至平台320可在連續方式下執行。也就是說,在第一液晶面板201a透過搬運器350(沿著路徑)傳輸至平台320之一個區域之後,第二液晶面板201b透過搬運器350(即,沿著路徑)傳輸至平台320之另一區域。
第一及第二攝影機330a及330b可在平台320之中移動以掃描裝載於不同區域上的第一及第二液晶面板201a及201b。
第一及第二攝影機330a及330b可提供於平台320之一側。在裝載第一液晶面板201a時,第一攝影機330a沿著路徑自一側朝向另一側移動,用以其後沿著路徑掃描第一液晶面板201a。這裡,甚至在當第二液晶面板201b透過搬運器350傳輸至平台320時,第一攝影機330a可掃描(拍攝)第一液晶面板201a。然後完成拍攝的第一液晶面板201a可沿著路徑透過搬運器350搬運至卸載部份。
在第二液晶面板201b裝載於平台320上之後,第二攝影機330b沿著路徑自一側朝向另一側移動,用以其後沿著路徑掃描第二液晶面板201b。這裡,甚至在當第一液晶面板201a透過搬運器350傳輸至卸載部份時,第二攝影機330b可掃描(拍攝)第二液晶面板201b。完全拍攝的第二液晶面板201b然後可沿著路徑透過搬運器350傳輸至卸載部份。而且,甚至在第一攝影機330a掃描第一液晶面板201a時,第二攝影機330b可掃描第二液晶面板201b。
同時,第一及第二攝影機330a及330b可不分別掃描裝載於平台320之特定區域上的液晶面板201a及201b。也就是說,第一攝影機320a可掃描平台320之上裝載的第一液晶面板201a或者平台320之上裝載的第二液晶面板201b。換句話而言,如果必要,第一及第二攝影機330a及330b之一個可掃描裝載於平台320之上的兩個第一及第二液晶面板201a及201b。
同樣,在具有此結構的檢測設備之中,複數個攝影機機330a及330b安裝於一個平台320,用以分別掃描第一及第二液晶面板201a及201b,由此允許快速檢測第一及第二液晶面板201a及201b。這裡,雖然圖未示,為了當已經經歷上述結合製程及切割過程的複數個第一及第二液晶面板201a及201b裝載於平台320之上或自其上卸載時,避免複數個液晶面板201a及201b之間的中斷,可提供一緩衝單元以臨時保持第一及第二液晶面板201a及201b。
「第6D圖」表示具有一結構的檢測設備,其中該結構中一個攝影機430安裝於一個平台420以及複數個第一及第二液晶面板201a及201b裝載於的一個平台420之上以檢測。
如「第6D圖」所示,第一及第二液晶面板201a及201b在裝載於複數個調色板(圖未示)之上的狀態下,可傳輸至一個平台420。這裡,平台420可藉由一搬運器450與一裝載部份以及一卸載部份相連接,以使得第一及第二液晶面板201a及201b能夠自裝載部份傳輸至平台420且自平台420傳輸至卸載部份。
這裡,第一及第二液晶面板201a及201b至平台420之傳輸可在一連續方式下執行。也就是說,在第一液晶面板201a透過搬運器450(沿著路徑)傳輸至平台420之一個區域之後,第二液晶面板201b透過該搬運器450(即,沿著路徑)傳輸至平台420之另一區域。
攝影機430可自平台420之一側朝向另一側移動。在第一及第二液晶面板201a及201b裝載於平台420上之後,攝影機430可掃描第一及第二液晶面板201a及201b以執行檢測。
這裡,攝影機430可自整個平台420之一側移動至另一側。也就是說,攝影機430可在其上裝載有第一及第二液晶面板201a及201b的平台420之中移動,並且掃描裝載於平台420之各區域上的第一及第二液晶面板201a及201b以執行檢測。
當第一液晶面板201a裝載於平台420之一個區域上以後,攝影機430沿著路徑在平台420之中移動,以呈現於第一液晶面板201之上方,並且在此狀態之下,沿著路徑移動或往復以掃描第一液晶面板201a。
在一完全的檢測之後,第一液晶面板201a可透過搬運器450自平台420傳輸至卸載部份。同時,攝影機430沿著路徑移動至平台420之另一區域且其後沿著路徑移動或往復,以掃描對應區域之上裝載的第二液晶面板201b。
這裡,第一液晶面板201a透過攝影機430之掃描可甚至在當第二液晶面板201b傳輸至平台420時掃描,而且甚至在當第一液晶面板201a傳輸至卸載部份時,還可執行透過攝影機430掃描第二液晶面板201b。
同樣,在具有此結構的檢測設備之中,一個攝影機430安裝於一個平台420。然而,在複數個第一及第二液晶面板201a及201b裝載於平台420上以後,攝影機430可在平台420之方移動以掃描複數個第一及第二液晶面板201a及201b,由此允許一迅速之檢測。此外,由於第一及第二液晶面板201a及201b順次裝載於平台420之上以檢測且在第一及第二液晶面板201a及201b之傳輸期間,執行另一液晶面板之檢測(或在第一及第二液晶面板201a及201b之掃描期間,傳輸液晶面板),因此能夠實現快速檢測。
而且,在具有此結構的檢測設備之中,可提供一緩衝單元,用以當經歷前述結合製程及切割製程的第一及第二液晶面板201a及201b裝載於平台420之上或自平台420卸載時,避免複數個第一及第二液晶面板201a及201b之間的中斷。
如上所述,在複數個第一及第二液晶面板201a及201b裝載於一個平台或複數個平台上以後,複數個第一及第二液晶面板201a及201b能夠同時或順序透過一個攝影機或複數個攝影機拍攝(掃描),以允許一快速檢測。而且,當一個液晶面板裝載或卸載時,另一液晶面板能夠檢測,產生有效率的檢測。
同時,本發明可不限制於透過使用第一及第二液晶面板201a及201b之上方提供的一攝影機拍攝液晶面板,拍攝第一及第二液晶面板201a及201b之上呈現的測試影像,以檢測關於第一及第二液晶面板201a及201b之上缺陷的存在或不存在,而且還能夠執行第一及第二液晶面板201a及201b的視角檢測。
也就是說,檢測部份可更包含有一位於大約45°之傾斜角的對角線方向的視角檢測攝影機,用以執行視角檢測。視角檢測攝影機之角度可調節,以使得視角檢測攝影機能夠自第一及第二液晶面板201a、201b的左/右方向朝向其對角線方向傾向用以第一及第二液晶面板201a、201b的視角檢測。這裡,視角檢測攝影機可為一線型掃描攝影機。
「第7圖」表示一透過捕獲測試影像用以檢測液晶面板201之缺陷的攝影機130,以及用於檢測一視角的複數個第一及第二視角檢測攝影機131a及131b。
如「第7圖」所示,檢測缺陷的攝影機130可提供於一液晶面板201之前部上方,以及第一視角檢測攝影機131a及第二視角檢測攝影機131b可提供於液晶面板201兩側表面之上方。第一視角檢測攝影機131a可在自液晶面板201之左方向至對角線方向的傾斜狀態下,掃描液晶面板201,以及第二視角檢測攝影機131b可在自液晶面板201之右方向至對角線方向的傾斜狀態下,掃描液晶面板201,由此實現液晶面板201之左/右視角檢測。
因此,詳細描述的液晶裝置之檢測設備透過使用第一及第二視角檢測攝影機131a及131b,能夠替代透過檢測者裸眼檢測視角之現有方法,由此實現精確及快速之檢測。
這裡,第一及第二視角檢測攝影機131a及131b透過在一特定傾斜方向上傾斜可檢測視角。此種情況下,一焦點可不一致且因此一螢幕可局部看上去污損,這樣可阻止缺陷檢測或產生檢測錯誤。
請參閱「第8圖」,一平面鏡137可提供於液晶面板201與第一視角檢測攝影機131a之間以避免檢測錯誤。因此,一入射於液晶面板201上的影像可在垂直於一檢測表面的方向及反射,由此使得在偵測表面之中的焦距相同。一具有相同焦距的影像可獲得作為第一視角檢測攝影機131a之中的一清楚影像。
平面鏡137之一角度可根據以下等式計算。
α=90-β/2,其中α表示平面鏡137之一角度且β表示液晶面板201與檢測表面之間的一偏軸角。
如上所述,在複數個液晶面板裝載於一個平台或複數個平台上之後,裝載的液晶面板能夠透過一個攝影機或複數個攝影機同時或順次掃描(拍攝、採取、捕獲),由此允許迅速檢測。而且,在裝載或卸載一個液晶面板時,另一液晶面板能夠檢測,以便實現一有效檢測。
而且,除了複數個攝影機之外,還可裝備有複數個視角檢測攝影機,以便同缺陷檢測一樣允許一快速及準確的視角檢測。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內,所為之更動與潤飾,均屬本發明之專利保護範圍之內。關於本發明所界定之保護範圍請參照所附之申請專利範圍。
1...液晶顯示裝置
3...第一基板
5...第二基板
7...液晶層
9...密封材料
100...檢測設備
110...底座
120a...第一平台
120b...第二平台
130、230、430...攝影機
130a...第一攝影機
130b...第二攝影機
131a...第一視角檢測攝影機
131b...第二視角檢測攝影機
132...第二軌道
136...第一導向軌道
137...平面鏡
140...第一搬運單元
145...第一提升部份
146...調色板
146a...第一調色板
146b...第二調色板
148a...第一背光單元
148b...第二背光單元
150、250、350、450...搬運器
160...第二搬運單元
165...第二提升部份
201...液晶面板
201a...第一液晶面板
201b...第二液晶面板
220a...第一平台
220b...第二平台
320、420...平台
330a、330b...攝影機
α...角度
β...偏軸角
第1圖係為一液晶顯示裝置之一典型結構之示意圖;
第2圖係為一液晶顯示裝置之典型製造方法之流程圖;
第3圖係為本發明一實施例之檢測顯示裝置之設備之示意圖;
第4圖係為檢測設備之一檢測部份之示意圖;
第5圖係為檢測設備之上的液晶面板之搬運路徑之示意圖;
第6A圖至第6D圖係為一實施例之檢測液晶面板之方法之順序圖;
第7圖係為檢測設備之一視角檢測攝影機之示意圖;以及
第8圖係為檢測設備之具有一平面鏡的視角檢測攝影機之示意圖。
100...檢測設備
110...底座
130a...第一攝影機
130b...第二攝影機
140...第一搬運單元
145...第一提升部份
146...調色板
150...搬運器
160...第二搬運單元
165...第二提升部份
201...液晶面板
Claims (21)
- 一種檢測顯示裝置之設備,係包含有:一裝載單元,係用以在其上裝一載顯示面板;複數個平台,該等平台透過使用該裝載單元裝載至少一個顯示面板;一第一攝影機,係位於該等平台之一個,以隨著自該顯示面板之一側移動至另一側,拍攝裝載於該對應平台上的一顯示面板,以檢測該顯示面板之一缺陷;以及一卸載單元,係用以卸載在該平台上檢測之該顯示面板,其中在檢測該顯示面板之後,當從該對應平台向該卸載單元傳送一個顯示面板時,將另一個顯示面板從該裝載單元傳送至該平台,其中該第一攝影機為一時間遲滯與積分(Time Delay and Integration,TDI)攝影機。
- 如請求項第1項所述之檢測顯示裝置之設備,更包含有:一第一搬運單元,係用以將該顯示面板傳輸至該裝載單元、該平台以及該卸載單元;一第二搬運單元,係用以將裝載於一平台上的該顯示面板傳輸至一該攝影機定位的位置;以及一裝置,係用以移動該第一攝影機。
- 如請求項第1項所述之檢測顯示裝置之設備,更包含有一調色 板,用以支撐每一顯示面板。
- 如請求項第1項所述之檢測顯示裝置之設備,更包含有複數個用於執行視角檢測之攝影機,係分別位於該等平台,以及在該顯示面板之一對角線方向上以預定角度傾斜,用以執行該對應平台上裝載的該顯示面板之左及右視角檢測。
- 如請求項第4項所述之檢測顯示裝置之設備,其中一以預定角度傾斜的平面鏡位於該第二攝影機與該顯示面板之間。
- 如請求項第1項所述之檢測顯示裝置之設備,其中該第一攝影機拍攝一對應平台上的一顯示面板,而另一顯示面板裝載於另一平台之上或自該另一平台上卸載。
- 如請求項第1項所述之檢測顯示裝置之設備,其中一個第一攝影機配設於每一平台。
- 如請求項第7項所述之檢測顯示裝置之設備,其中該第一攝影機移動且到達一平台裝載的該液晶面板之一側且然後自該到達之側面至該液晶面板之另一側移動,以拍攝該液晶面板。
- 如請求項第1項所述之檢測顯示裝置之設備,其中複數個第一攝影機提供於一個平台且複數個顯示面板裝載於該一個平台之上。
- 如請求項第9項所述之檢測顯示裝置之設備,其中該等第一攝影機之一個移動至複數個區域(在此該等液晶面板定位於該對應平台上)之一個區域,以便拍攝存在於該對應區域上的一顯 示面板,以及另一個第一攝影機移動至另一區域以拍攝存在於該對應區域上的一顯示面板。
- 如請求項第10項所述之檢測顯示裝置之設備,其中當一顯示面板裝載於該等區域之一個區域上時,該第一攝影機拍攝裝載於另一區域上之一顯示面板。
- 如請求項第1項所述之檢測顯示裝置之設備,其中該顯示面板包含有一液晶顯示面板、一有機發光二極體裝置、一電漿顯示面板、以及一太陽能電池。
- 一種檢測顯示裝置之設備,係包含有:複數個平台,其上分別裝載有複數個液晶面板;以及複數個第一攝影機,係用以在該等平台之中移動,當該等第一攝影機自該等顯示面板之一側朝向另一側移動時,拍攝裝載於各該等平台上的該等顯示面板,以便檢測該等顯示面板之缺陷,其中在檢測該顯示面板之後,當從所對應之一平台卸載一個顯示面板時,將另一個顯示面板裝載至該平台,其中該等第一攝影機為時間遲滯與積分(Time Delay and Integration,TDI)攝影機。
- 如請求項第13項所述之檢測顯示裝置之設備,其中當一顯示面板裝載於一個平台上或自該平台上卸載時,該第一攝影機拍攝裝載於另一平台上的一顯示面板。
- 如請求項第13項所述之檢測顯示裝置之設備,更包含有複數個用於視角檢測之第二攝影機,係在裝載於每一平台上的一顯示面板之對角線方向上以預設角度傾斜,以執行該顯示面板之一右及左視角檢測。
- 一種檢測顯示裝置之方法,係包含:分別裝載複數個顯示面板於複數個平台之上;以及配設至少一個攝影機於複數個平台之每一個以拍攝該對應平台上裝載的該顯示面板,以及該至少一個攝影機自該顯示面板之一側朝向另一側移動,以檢測該顯示面板之一缺陷,其中在檢測該顯示面板之後,當從該對應平台傳送一個顯示面板時,將向該平台傳送另一個顯示面板,其中該至少一個攝影機為一時間遲滯與積分(Time Delay and Integration,TDI)攝影機。
- 如請求項第16項所述之檢測顯示裝置之方法,其中該等顯示面板之拍攝包含透過複數個攝影機拍攝裝載於該等對應平台上的該等顯示面板。
- 如請求項第16項所述之檢測顯示裝置之方法,其中該等顯示面板之該拍攝包含:轉載一顯示面板於一個平台上或自該平台卸載該顯示面板;以及透過該攝影機拍攝一裝載於另一平台上的一顯示面板。
- 如請求項第16項所述之檢測顯示裝置之方法,其中該等顯示面板之該拍攝包含:移動一個攝影機至具有複數個區域的一個平台之一個區域,以拍攝該對應區域上的該顯示面板且移動另一攝影機至該一個平台之另一區域,以拍攝該對應區域之上的該顯示面板。
- 如請求項第16項所述之檢測顯示裝置之方法,其中該顯示面板之該拍攝包含:裝載該顯示面板於具有複數個區域之一個平台之一個區域上或自該區域卸載該顯示面板;以及移動該攝影機至該一個平台之另一區域以拍攝該對應區域上之一顯示面板。
- 一種檢測顯示裝置之方法,係包含:裝載複數個顯示面板於複數個平台之每一平台上;配設一攝影機於一個平台上裝載的一顯示面板之上方,以隨著該攝影機自該顯示面板之一側移動至另一側,拍攝該顯示面板;移動該攝影機至另一平台;以及配設該攝影機於該另一平台上裝載的一顯示面板之上方,以隨著該攝影機自該顯示面板之一側移動至另一側,拍攝該顯示面板,其中在檢測該顯示面板之後,當從所對應之一平台傳送一 個顯示面板時,將向該平台傳送另一個顯示面板,其中該攝影機為一時間遲滯與積分(Time Delay and Integration,TDI)攝影機。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100077458A KR20120015172A (ko) | 2010-08-11 | 2010-08-11 | 표시장치의 검사장치 및 그의 검사방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201207471A TW201207471A (en) | 2012-02-16 |
TWI459073B true TWI459073B (zh) | 2014-11-01 |
Family
ID=45564568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW100111143A TWI459073B (zh) | 2010-08-11 | 2011-03-30 | 檢測顯示裝置之設備及其方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120038780A1 (zh) |
JP (1) | JP5490052B2 (zh) |
KR (1) | KR20120015172A (zh) |
CN (1) | CN102374995A (zh) |
TW (1) | TWI459073B (zh) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101325634B1 (ko) * | 2012-05-08 | 2013-11-07 | 한미반도체 주식회사 | 반도체 패키지용 회로기판의 검사방법 |
KR101996917B1 (ko) * | 2012-07-20 | 2019-10-02 | 삼성디스플레이 주식회사 | 평판 검사 방법 및 장치 |
TW201426012A (zh) | 2012-12-26 | 2014-07-01 | Ind Tech Res Inst | 顯示器量測裝置 |
CN103217436B (zh) * | 2013-03-06 | 2015-05-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种背光模组瑕疵的检测方法及设备 |
KR101941478B1 (ko) * | 2014-01-07 | 2019-01-24 | 한화에어로스페이스 주식회사 | 라인 스캔 장치 및 이에 적용되는 제어 방법 |
JP6176789B2 (ja) * | 2014-01-31 | 2017-08-09 | 有限会社共同設計企画 | 電子部品検査装置 |
CN103955080A (zh) * | 2014-04-29 | 2014-07-30 | 电子科技大学 | 一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置 |
CN105334021A (zh) * | 2014-07-03 | 2016-02-17 | 苏州三星显示有限公司 | 显示屏检查系统及方法 |
KR101932204B1 (ko) * | 2014-10-31 | 2018-12-24 | 한화에어로스페이스 주식회사 | 라인 스캔 장치 |
SG10201508830PA (en) * | 2015-10-26 | 2017-05-30 | Bluplanet Pte Ltd | Method and system to detect chippings on solar wafer |
CN105784331A (zh) * | 2016-03-11 | 2016-07-20 | 利亚德光电股份有限公司 | 基于数据采集设备的数据采集方法和数据采集设备 |
JP2017198499A (ja) * | 2016-04-26 | 2017-11-02 | 日本電産サンキョー株式会社 | 処理システム |
CN107389307A (zh) * | 2016-12-31 | 2017-11-24 | 深圳眼千里科技有限公司 | 屏幕自动检测机 |
CN107065248B (zh) * | 2017-06-07 | 2020-08-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板的光学补偿方法及系统 |
BR112020003611A2 (pt) * | 2017-09-01 | 2020-09-01 | Ball Corporation | aparelho de inspeção de palete finalizado |
KR101827313B1 (ko) * | 2017-09-19 | 2018-02-08 | 주식회사 에이치비테크놀러지 | AOI θ축 얼라인 조정이 가능한 이송장치를 갖는 인라인 스테이지 |
KR102124184B1 (ko) * | 2017-09-26 | 2020-06-17 | 주식회사 엘지화학 | 광학필름 부착시스템 |
CN107797317A (zh) * | 2017-12-04 | 2018-03-13 | 苏州广林达电子科技有限公司 | 一种一对十的老化专用平台 |
KR102617891B1 (ko) * | 2019-01-09 | 2023-12-28 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널 검사 장치 및 방법 |
CN111399264A (zh) * | 2020-06-06 | 2020-07-10 | 宁波丞达精机有限公司 | 一种ccd相机检测机构 |
CN114279691B (zh) * | 2021-12-27 | 2024-07-30 | 上海创功通讯技术有限公司 | 一种测试装置及方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08220014A (ja) * | 1995-02-14 | 1996-08-30 | Advantest Corp | Lcdパネル検査装置及びこの装置を用いたlcdパネル検査方法 |
JPH11211615A (ja) * | 1998-01-21 | 1999-08-06 | Micronics Japan Co Ltd | 表示パネル用基板の検査装置 |
US20020008868A1 (en) * | 2000-03-28 | 2002-01-24 | Hiroshi Kubota | Method and apparatus for measuring viewing angle characteristic and positional characteristic of luminance |
JP2003106936A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-09 | Japan Science & Technology Corp | センサヘッド、これを具備した輝度分布測定装置、外観検査装置及び表示ムラ検査評価装置 |
JP2005003488A (ja) * | 2003-06-11 | 2005-01-06 | Micronics Japan Co Ltd | パネルの外観検査装置 |
CN1737593A (zh) * | 2004-08-18 | 2006-02-22 | 日本先锋公司 | 显示面板检查装置及检查方法 |
CN1991446A (zh) * | 2005-12-29 | 2007-07-04 | Lg.菲利浦Lcd株式会社 | 用于检查平板显示器件的装置及其检查方法 |
TW200815747A (en) * | 2006-09-21 | 2008-04-01 | Nihon Micronics Kabushiki Kaisha | Inspection system |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101016750B1 (ko) * | 2004-04-19 | 2011-02-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치의 검사장치 |
JP2006300913A (ja) * | 2005-04-20 | 2006-11-02 | Selcon Technologies Inc | 導光板外観検査装置 |
DE102005050882B4 (de) * | 2005-10-21 | 2008-04-30 | Isra Vision Systems Ag | System und Verfahren zur optischen Inspektion von Glasscheiben |
US20100212358A1 (en) * | 2009-02-26 | 2010-08-26 | Applied Materials, Inc. | Glass substrate orientation inspection methods and systems for photo voltaics production |
-
2010
- 2010-08-11 KR KR1020100077458A patent/KR20120015172A/ko not_active Application Discontinuation
-
2011
- 2011-02-24 CN CN2011100458868A patent/CN102374995A/zh active Pending
- 2011-02-24 US US13/034,484 patent/US20120038780A1/en not_active Abandoned
- 2011-03-30 TW TW100111143A patent/TWI459073B/zh not_active IP Right Cessation
- 2011-04-19 JP JP2011092778A patent/JP5490052B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08220014A (ja) * | 1995-02-14 | 1996-08-30 | Advantest Corp | Lcdパネル検査装置及びこの装置を用いたlcdパネル検査方法 |
JPH11211615A (ja) * | 1998-01-21 | 1999-08-06 | Micronics Japan Co Ltd | 表示パネル用基板の検査装置 |
US20020008868A1 (en) * | 2000-03-28 | 2002-01-24 | Hiroshi Kubota | Method and apparatus for measuring viewing angle characteristic and positional characteristic of luminance |
JP2003106936A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-09 | Japan Science & Technology Corp | センサヘッド、これを具備した輝度分布測定装置、外観検査装置及び表示ムラ検査評価装置 |
JP2005003488A (ja) * | 2003-06-11 | 2005-01-06 | Micronics Japan Co Ltd | パネルの外観検査装置 |
CN1737593A (zh) * | 2004-08-18 | 2006-02-22 | 日本先锋公司 | 显示面板检查装置及检查方法 |
CN1991446A (zh) * | 2005-12-29 | 2007-07-04 | Lg.菲利浦Lcd株式会社 | 用于检查平板显示器件的装置及其检查方法 |
TW200815747A (en) * | 2006-09-21 | 2008-04-01 | Nihon Micronics Kabushiki Kaisha | Inspection system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012037503A (ja) | 2012-02-23 |
US20120038780A1 (en) | 2012-02-16 |
KR20120015172A (ko) | 2012-02-21 |
JP5490052B2 (ja) | 2014-05-14 |
TW201207471A (en) | 2012-02-16 |
CN102374995A (zh) | 2012-03-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI459073B (zh) | 檢測顯示裝置之設備及其方法 | |
KR100994305B1 (ko) | 표시장치용 검사장치 및 그의 검사방법 | |
KR101476849B1 (ko) | 박리 및 안착 통합 장치와, 이를 이용한 액정표시장치의제조방법 | |
TWI275836B (en) | Apparatus and method for inspecting polarizing film | |
KR101146722B1 (ko) | 디스플레이용 패널의 검사장치 | |
KR101146721B1 (ko) | 디스플레이용 패널의 검사장치 | |
KR20030093956A (ko) | 편광 필름의 검사법 및 검사 장치 | |
KR20110078958A (ko) | 엘시디 패널 외관 검사장치 | |
KR101440310B1 (ko) | 패널의 자동 압흔 검사장치 | |
KR100840832B1 (ko) | 엘시디패널의 외관 검사장치 | |
KR102690059B1 (ko) | 타일형 표시장치의 외관 검사장치 및 그 검사방법 | |
KR20130026264A (ko) | 도광판 검사장치 | |
KR101807195B1 (ko) | 어레이 테스트 장치 | |
CN116994506A (zh) | 检测设备、显示设备、显示面板及异物位置的检测方法 | |
JP4254085B2 (ja) | 液晶パネル基板の検査装置及び検査方法 | |
KR20100107175A (ko) | 액정 패널의 오토 프로브 검사장치 및 검사방법 | |
KR101034923B1 (ko) | 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법 | |
KR100825968B1 (ko) | 평판 디스플레이의 가장자리 검사 장치 | |
KR100823118B1 (ko) | 디스플레이 패널 및 디스플레이 패널의 백라이트 조립 방법 | |
KR101126687B1 (ko) | 디스플레이용 패널의 검사장치 | |
KR102063680B1 (ko) | 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법 | |
KR100960815B1 (ko) | 정렬 보정 기능을 갖는 칼라필터 패턴 검사기 | |
KR101046566B1 (ko) | 기판 검사 장치 및 이를 이용한 기판 검사 방법 | |
JP2009145723A (ja) | 液晶表示装置の製造方法および検査システム | |
KR100902659B1 (ko) | 스탬프 검사장치 및 이를 이용한 미세패턴 형성방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |