CN110243822A - 显示面板检查系统以及显示面板检查方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种能够准确且高效地实施显示面板的检查的显示面板检查系统以及显示面板检查方法。将显示面板的点亮状态作为图像而取得并对该图像进行处理，对显示面板的点亮不合格的有无进行判断(S1～S3)，并且取得与该点亮不合格有关的信息(S5)，在检测到显示面板点亮不合格的情况下，对检测到该点亮不合格的位置进行清扫(S6)，再次判断检测到显示面板的点亮不合格的位置中的点亮不合格的有无(S9)，在清扫后没有点亮不合格的情况下以及在清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息不一致的情况下，判定为显示面板没有缺陷(S4)，在清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息一致的情况下，判定为显示面板有缺陷(S12)。

Description

显示面板检查系统以及显示面板检查方法
技术领域
本发明涉及一种在制造显示装置的工序中实施该显示装置所具备的显示面板的检查的显示面板检查系统，此外，涉及一种实施显示面板的检查的显示面板检查方法。
背景技术
在制造液晶显示面板、等离子显示面板、有机EL显示面板等各种显示装置的过程中，实施该显示装置所具备的显示面板是否正常的检查，具体而言，实施显示面板是否正常点亮的检查。对于显示面板的点亮不合格而言，存在有如下问题：显示面板的破损、由扫描线或信号线的断线、短路引起的行缺陷、因显示面板的成形的过程中的向内部的杂质的混入等而产生的点亮不合格的情况那样的显示面板的缺陷。作为检测显示面板的点亮不合格的方法，存在有如下方法：像专利文献1所记载那样，基于由拍摄装置(显微镜)拍摄到的图像对点亮不合格进行检测的方法，像下述专利文献2所记载那样，向显示面板的表面照射光并接收其反射光，基于对所述反射光进行了图像处理的结果对点亮不合格进行检测的方法。然而，像那样通过图像处理检测显示面板的点亮不合格的情况下，即使在显示面板的表面附着有尘埃、污垢那样的异物，有时也会判定为点亮不合格。
为了应对由那样的异物的附着引起的点亮不合格，下述专利文献1中记载了，基于显微镜的放大图像，操作员对是否为异物进行判定，在判定为附着有异物的情况下，实施该异物的去除。此外，下述专利文献2中记载了，在实施显示面板的检查前，检查显示面板是否附着有异物，在附着有异物的情况下，实施该异物的去除。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2009-155158号公报
专利文献2：日本特开平10-19734号公报
发明内容
本发明所要解决的技术问题
在所述专利文献1所记载的技术中，操作员必须实施是否有异物的附着，也会产生误判定。此外，在判定是否有异物的部位为多个那样的情况下，检查时间也变长。在所述专利文献2所记载的技术中，在实施显示面板的检查前，需要必须对显示面板是否附着有异物进行检测，因此存在有检查时间变长这样的问题。本发明是鉴于那样的实际情况而完成的，其课题在于，提供一种能够准确且高效地实施显示面板的检查的显示面板检查系统以及显示面板检查方法。
解决问题的手段
为了解决所述课题，本发明的显示面板检查系统，构成为在制造显示装置的工序中，实施该显示装置所具备的显示面板的检查，
所述显示面板检查系统的特征在于，具备：
检查装置，其通过将所述显示面板的点亮状态作为图像而取得并对该图像进行处理，对所述显示面板是否是点亮不合格进行判断，并且取得与该点亮不合格有关的信息亦即点亮不合格信息；及
清扫装置，其对所述显示面板的表面进行清扫，
通过所述检查装置对所述显示面板的点亮不合格的有无进行判断，在检测到点亮不合格的情况下对点亮不合格信息进行存储，
在通过所述检查装置检测到所述显示面板点亮不合格的情况下，利用所述清扫装置对该显示面板的至少检测到点亮不合格的位置进行清扫，
通过所述检查装置再次判断所述显示面板的至少检测到点亮不合格的位置中的点亮不合格的有无，(i)在清扫后没有点亮不合格的情况下以及在清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息不一致的情况下，判定为所述显示面板没有缺陷，(ii)在清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息一致的情况下，判定为所述显示面板有缺陷。
在这样的构成的显示面板检查系统(以下，有时仅称作“检查系统”)中，仅在第一次检查中检测到显示面板点亮不合格的情况下，实施之后的清扫和再检查，因此能够高效地实施显示面板的检查。另外，所述的“点亮不合格信息”为，包含点亮不合格的位置、形状以及大小等的语句。如果是由尘埃、污垢引起的点亮不合格，则应该通过清扫，使其消失、或变小、或移动。考虑到上述情况，在该结构的检查系统中，根据清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息是否一致来判断是否有显示面板的缺陷，因此与通过操作员的目视进行判断的情况相比较，能够准确地实施显示面板的检查。此外，自动地判断该清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息是否一致，因此与通过操作员的目视进行判断的情况相比较，能够高效地实施显示面板的检查。
另外，该结构的显示面板的检查也可以在制造显示装置的工序中的任意阶段实施，也可以实施多次。例如，能够用于作为显示装置而组装的状态、向液晶面板组装背光源前的状态、向液晶面板组装背光源以及偏振板前的状态等各种状态下的显示面板的检查。
而且，该结构的检查系统也可以构成为，作为检查的对象的制造中的显示装置在检查装置与清扫装置之间移动，也可以构成为不使作为检查的对象的制造中的显示装置移动而使检查装置与清扫装置中的至少一方移动。后者的结构例如能够构成为，在一直以来的检查装置中，具备清扫装置和使该清扫装置移动的移动装置。
为了解决所述课题，本发明的显示面板检查方法，构成为在制造显示装置的工序中，实施该显示装置所具备的显示面板的检查，
所述显示面板检查方法的特征在于，包含：
点亮不合格检测工序，通过将所述显示面板的点亮状态作为图像而取得并对该图像进行处理，对所述显示面板的点亮不合格的有无进行判断，并且取得与该点亮不合格有关的信息亦即点亮不合格信息；
清扫工序，在检测到所述显示面板点亮不合格的情况下，对所述显示面板的至少检测到点亮不合格的位置进行清扫；及
缺陷检测工序，再次判断所述显示面板的至少检测到点亮不合格的位置中的点亮不合格的有无，(i)在清扫后没有点亮不合格的情况下以及清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息不一致的情况下，判定为所述显示面板没有缺陷，(ii)在清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息一致的情况下，判定为所述显示面板有缺陷。
根据这样的显示面板检查方法，与上述的显示面板检查系统同样地，仅在第一次检查中检测到显示面板点亮不合格的情况下，实施之后的清扫和再检查，因此能够高效地实施显示面板的检查。此外，根据清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息是否一致来判断是否有显示面板的缺陷，因此与由操作员的目视进行判断的情况相比较，能够准确地实施显示面板的检查。而且，自动地判断该清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息是否一致，因此与由操作员的目视进行判断的情况相比较，能够高效地实施显示面板的检查。
发明效果
根据本发明的显示面板检查系统以及显示面板检查方法，能够准确且高效地实施显示面板的检查。
附图说明
图1为示意地示出作为本发明的第一实施例的显示面板检查系统的图。
图2为由作为本发明的第一实施例的显示面板检查系统实施的检查的对象物亦即液晶组件的俯视图。
图3为由作为本发明的第一实施例显示面板检查系统实施的检查的对象物亦即液晶组件的剖视图。
图4为表示作为本发明的第一实施例的显示面板检查系统中执行的液晶面板检查程序的流程图的图。
图5为示意地示出作为本发明的第一实施例的变形例的显示面板检查系统的图。
图6为示意地示出作为本发明的第一实施例的其它变形例的显示面板检查系统的图。
图7为示意地示出作为本发明的第一实施例的再一其它变形例的显示面板检查系统的图。
图8为示意地示出作为本发明的第二实施例的显示面板检查系统的俯视图。
具体实施方式
以下，作为用于实施本发明的方式，参照附图对本发明的几个实施例详细地进行说明。另外，本发明并不限定于下述的实施例，能够基于本领域技术人员的知识以实施了各种变更、改良的各种方式来实施。
[实施例1]
<显示面板检查系统的结构>
作为本发明的第一实施例的显示面板检查系统10(以下，有时仅称作“检查系统10”)如图1所示。检查系统10以检查作为显示装置的液晶组件M所具有的液晶面板的检查装置12为主体，该检查装置12附加有清扫功能。检查系统10构成为包含：载置台16，其载置作为检查的对象的液晶组件M或者该液晶组件M的组装中的部件(图1中载置有液晶组件M。)；摄像机18，其设置于该载置台16的上方；清扫装置20，其对载置于载置台16的液晶组件M进行清扫；清扫装置移动装置22，其使该清扫装置20向载置台16上的任意的位置移动；及控制装置24，其负责自身的控制。也就是说，在本检查系统10中，可认为除了清扫装置20以及清扫装置移动装置22的部分为检查装置12。
摄像机18能够对载置于载置台16的对象物整体进行拍摄或者将其一部分放大进行拍摄。清扫装置20构成为包含：清扫头20a和安装于该清扫头20a的清扫夹具20b。在图1中，清扫夹具20b为棒状，能够局部地清扫液晶面板30，能够擦拭油脂等污垢、吸附尘埃。以下，将清扫夹具20b称作清扫棒20b。清扫装置移动装置22构成为包含：X方向移动装置22a，其使清扫头20a沿X方向移动；及Y方向移动装置22b，其使该X方向移动装置22a沿Y方向移动，能够使清扫头20a向载置台16上的任意的位置移动。此外，清扫头20a具有使清扫棒20b升降的夹具升降装置(省略图示)，能够使清扫棒20b与液晶面板30的表面接触。另外，控制装置24与上述摄像机18、清扫装置20、清扫装置移动装置22连接，并能够对上述摄像机18、清扫装置20、清扫装置移动装置22的工作进行控制。
<检查对象物(液晶组件)的结构>
接着，对由检查系统10实施的检查的对象亦即液晶组件M进行说明。如图2所示，液晶组件M整体呈横长的方形。如图3所示，液晶组件M构成为包含：作为能够显示图像的显示面板的液晶面板30；一对偏振板32a、32b，其粘贴于该液晶面板30的两面；及背光源34，其配置于粘贴于液晶面板30的背侧的偏振板32b的更靠背侧并向液晶面板30供给光。另外，如图2所示，液晶面板30的显示面被划分为，显示图像的显示区域(有源区域)AA和呈包围显示区域AA的窄边框状(框状)并且不显示图像的非显示区域(无源区域)NAA。另外，在图2中，单点划线表示显示区域AA的外形，该单点划线的外侧的区域成为非显示区域NAA。
液晶面板30具备：一对透明(透光性优异)的基板30a、30b；及液晶层30c，其夹装于两基板30a、30b之间并包含伴随着电场施加而光学特性发生变化的物质亦即液晶分子，两基板30a、30b以维持与液晶层30c的厚度对应的单元间隙的状态通过未图示的密封剂进行粘贴。两基板30a、30b分别通过已知的光刻法等在大致透明的玻璃基板上层压多个膜而成。两基板30a、30b中的表侧(正面侧)为CF基板(对置基板)30a，背侧(背面侧)为阵列基板(薄膜晶体管基板、有源矩阵基板)30b。此外，在两基板30a、30b的内面侧分别形成有用于使液晶层30c所包含的液晶分子取向的取向膜30d、30e。
在一对基板30a、30b中的、配置于背侧的阵列基板30b上，与相互正交的源极布线以及栅极布线连接的开关元件(例如TFT)40、和与该开关元件40连接的像素电极42分别呈矩阵状排列设置有许多个。并且，以覆盖上述多个开关元件40和像素电极42的方式设置有上述的取向膜30e。另一方面，在配置于表侧的CF基板(对置基板)30a上设置有R(红色)、G(绿色)、B(蓝色)等的各着色部以规定排列配置的滤色器44和对相邻的着色部之间进行分隔的黑矩阵(遮光膜)46，并且设置有覆盖滤色器44和黑矩阵46的外涂层膜48以及例如由ITO(Indium Tin Oxide)等透明电极材料构成的对置电极50。并且，设置有覆盖对置电极50的上述的取向膜30d。
如图1所示，对于阵列基板30b，短边方向的尺寸比CF基板30a长，并以向短边方向突出的状态粘贴于CF基板30a。并且，该阵列基板30b与CF基板30a非重叠的部分成为CF基板非重叠部30b1。在该CF基板非重叠部30b1安装COG(Chip On Glass)有用于驱动显示区域AA的开关元件40等的液晶面板用驱动器(面板驱动部)52，并且连接有具有向液晶面板用驱动器52传输显示功能的信号等的功能的液晶面板用柔性基板(显示面板用连接构件)54。
<显示面板检查方法>
在制造像所述那样构成的液晶组件M的工序中，使用本检查系统10。以下，参照图4所示的液晶检查程序的流程图对本检查系统10的检查方法详细地进行说明。
(I)点亮不合格检测工序
图1中示出对制造的液晶组件M的液晶面板30进行检查的情况，在载置台16载置有制造的液晶组件M。本检查系统10首先实施液晶组件M是否有点亮不合格的判断。具体而言，控制装置24在步骤1(以下，有时简称为S1。其他步骤也同样。)中，由摄像机18拍摄液晶组件M的液晶面板30整体。控制装置24在S2中，取得由该摄像机18拍摄到的图像数据对该图像数据进行图像处理，在S3中，对液晶面板30是否有点亮不合格进行判断。例如，针对液晶组件M使液晶面板30的整个面进行黑色显示，在其中存在有发光的部位那样的情况下，判断为点亮不合格。并且，在判断为点亮不合格的情况下，在S5中，控制装置24对包含该点亮不合格的位置、形状以及大小等的点亮不合格信息进行存储。此外，在点亮不合格为微小缺陷的情况下，控制装置24通过摄像机18，放大地拍摄该点亮不合格部位，并取得该放大的图像数据。另一方面，如果液晶面板30没有点亮不合格，则在S4中，判定为液晶组件M正常，检查结束。
(II)清扫工序
在判断为液晶面板30有点亮不合格的情况下，在S6中，控制装置24通过清扫装置移动装置22使清扫装置20移动至点亮不合格部位。接下来，利用清扫头20a的夹具升降装置使清扫棒20b下降而与液晶面板30接触。并且，通过清扫装置移动装置22使清扫棒20b动作来实施液晶面板30的清扫。另外，在点亮不合格部位为多个的情况下，使清扫棒20b上升，并且清扫装置20向下一个点亮不合格部位移动，同样地实施清扫。并且，如果所有点亮不合格部位的清扫结束，则清扫装置20返回设定于液晶组件M的外侧的待机位置。
(III)缺陷检测工序
当液晶面板30的清扫完成时，接下来在S7～S9中，再次实施液晶面板30的点亮不合格的有无的判断。在液晶面板30点亮不合格部位为多个的情况下，液晶面板30整体通过摄像机18进行拍摄，控制装置24基于该拍摄数据，实施是否有点亮不合格的判断。如果点亮不合格消失，则在S4中，判定为液晶组件M正常，检查结束。
此外，在还有点亮不合格的情况下，在S10中，控制装置24取得清扫后的点亮不合格信息。继续在S11中，控制装置24对清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息进行比较，实施点亮不合格的位置、形状以及大小是否完全一致的判定。如果是由尘埃、污垢引起的点亮不合格，则应该通过清扫使点亮不合格的形状变小、或使点亮不合格的大小变小、或使点亮不合格的位置移动。因而，在点亮不合格未完全一致的情况下，在S4中，判定为液晶组件M正常，在点亮不合格完全一致的情况下，在S12中，判定为液晶组件M的液晶面板30有缺陷，相对于一个液晶组件M的检查结束。
如以上所述，在本检查系统10中，根据清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息是否一致来判断是否有液晶面板30的缺陷，因此与由操作员的目视对点亮不合格是异物还是缺陷进行判断的情况相比较，能够准确地实施液晶面板30的检查。此外，通过控制装置24自动地判断该清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息是否一致，因此与由操作员的目视进行判断的情况相比较，能够高效地实施液晶面板30的检查。
另外，本检查系统10的清扫工序也可以为了对液晶面板30的缺陷进行检测而简单地实施。根据那样的简单的清扫工序，能够缩短清扫所需的时间，进而能够缩短检查时间。此外，在本检查系统10中，清扫装置20能够局部地清扫液晶面板30，因此与对液晶面板30整体进行清扫的情况相比较，能够缩短清扫所需的时间。
另外，在点亮不合格检测工序中，在放大地拍摄点亮不合格部位并取得点亮不合格信息的情况下，在清扫后，也放大地拍摄该部位并取得点亮不合格信息。并且，对根据上述放大的图像获得的清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息进行比较。也就是说，在点亮检测工序中，如果点亮不合格部位仅为该放大地拍摄的部位，则在缺陷检测工序中，仅针对该部位，实施点亮不合格的有无的判断。因而，在那样的情况下，基于对放大的图像进行图像处理而取得的点亮不合格信息，判定是否有液晶面板30的缺陷，因此能够更准确地实施液晶面板30的检查。
<变形例>
在所述的第一实施例的检查系统10中，相对于制造的液晶组件M实施液晶面板30的检查，但也能够相对于液晶组件M的制造过程中的液晶面板30实施检查。
图5所示的液晶面板检查系统60用于对安装偏振板32a、32b以及背光源34前的液晶面板30进行检查。该检查系统60构成为包含照光装置62和一对临时偏振板64a、64b。一对临时偏振板中的一方64a配置于摄像机18与载置台16之间，一对临时偏振板中的另一方64b和照光装置62配置于载置台16的下侧。另外，载置台16为了对液晶面板30的有源区域照射照光装置62的光，而比该有源区域稍大且形成有比液晶面板30的外形小的开口(省略图示)。此外，在载置台16的下侧配置有与上述的清扫装置20和清扫装置移动装置22同样的结构的清扫装置66以及清扫装置移动装置68。也就是说，不仅能够对载置于载置台16的液晶面板30的上表面侧进行清扫还能够对下表面侧进行清扫。
在该检查系统60中，也实施与所述的检查系统10同样的检查方法，但在清扫工序中，实施检测到点亮不合格的部位的上表面侧与下表面侧的两面的清扫。
此外，图6所示的液晶面板检查系统70以在液晶面板30安装有一对偏振板32a、32b的状态，实施液晶面板30的检查。也就是说，相对于图5所示的检查系统60移除一对临时偏振板64a、64b。
而且，图7所示的液晶面板检查系统80为与图5所示的检查系统60大致同样的结构，但清扫装置不同。图7所示的检查系统80所具备的清扫装置82以辊82a为主体，该辊82a被保持为能够绕向X方向延伸的轴线旋转并且能够升降。该辊82a的长度比液晶面板30的宽度长。并且，清扫装置移动装置84使清扫装置82向Y方向移动。也就是说，通过利用清扫装置移动装置84使清扫装置84沿Y方向移动，辊82a滚动地清扫液晶面板30上。另外，清扫装置并不限定于本说明书所记载的棒型、辊型，而能够采用利用空气进行吹散的构成、使用超声波或等离子的构成等、能够实现异物的去除、污垢的擦拭的各种构成。
[实施例2]
接着，第二实施例的液晶面板检查系统90如图8(a)所示。第一实施例的检查系统10为带有清扫功能的检查装置，但第二实施例的检查系统90构成为包含：作为两台检查装置的第一检查装置92a、第二检查装置92b、及清扫装置94。此外，本检查系统90还构成为，在上述两台检查装置92a、92b以及清扫装置94之间包含使检查对象物(图8中为液晶组件M)移动的旋转台96。
旋转台96在作为载置部的圆盘状的工作台96a上，能够以等角度间隔载置多个液晶组件M(图8中为四个)，能够使该工作台96a沿水平面旋转。所述的两台检查装置92a、92b以及清扫装置94以包围工作台96a的方式，按照第一检查装置92a、清扫装置94、第二检查装置92b的顺序配置。也就是说，通过使工作台96a旋转与载置有液晶组件M的角度间隔对应的量，按照第一检查装置92a、清扫装置94、第二检查装置92b的顺序，使一个液晶组件M位于这些装置的操作位置。并且，本检查系统90通过第一检查装置92a实施点亮不合格检测工序，通过清扫装置94实施清扫工序，通过第二检查装置92b实施缺陷检测工序。也就是说，在本检查系统90中，能够相对于三个液晶组件M，同时实施点亮不合格检测工序、清扫工序、缺陷检测工序。另外，在本检查系统90中，在两个检查装置92aa、92b之间，在与清扫装置94对置的位置，实施进行检查的液晶组件M的搬入和检查完成的液晶组件M的搬出。
如以上所述，第二实施例的液晶面板检测系统90能够同时实施点亮不合格检测工序、清扫工序、缺陷检测工序，因此能够高效地实施液晶面板30的检查。
此外，像图8(b)所示的液晶面板检查系统100那样，也可以将检查装置92设为一台。该检查系统100通过一台检查装置92实施点亮不合格检测工序或者缺陷检测工序中的任意工序，能够同时实施上述点亮不合格检测工序或者缺陷检测工序中的任意工序、清扫工序。此外，图8所示的检查系统90、100构成为，通过旋转台96使检查对象物旋转并移动，但也能够是如下检查系统：构成为以相邻的方式配置检测装置和清扫装置，利用传送带装置等使检查对象物直线地移动。
附图标记说明
10…显示面板检查系统；12…检查装置；16…载置台；18…摄像机；20…清扫装置；20a…清扫头；20b…清扫夹具(清扫棒)；22：清扫装置移动装置；24…控制装置；30：液晶面板；32a、32b…偏振板；34…背光源；60…液晶面板检查系统；62：照光装置；64a、64b…一对临时偏振板；66：清扫装置；68：清扫装置移动装置；70…液晶面板检查系统；80…液晶面板检查系统；82…清扫装置；82a…辊；84…清扫装置移动装置；90…液晶面板检查系统；92…检查装置；92a…第一检查装置；92b…第二检查装置；94…清扫装置；96：旋转台；96a…工作台〔载置部〕。

Claims (6)

1.一种显示面板检查系统，构成为在制造显示装置的工序中，实施该显示装置所具备的显示面板的检查，
所述显示面板检查系统的特征在于，具备：
检查装置，其通过将所述显示面板的点亮状态作为图像而取得并对该图像进行处理，对所述显示面板是否有点亮不合格进行判断，并且取得与该点亮不合格有关的信息亦即点亮不合格信息；及
清扫装置，其对所述显示面板的表面进行清扫，
通过所述检查装置对所述显示面板的点亮不合格的有无进行判断，在检测到点亮不合格的情况下对点亮不合格信息进行存储，
在通过所述检查装置检测到所述显示面板点亮不合格的情况下，利用所述清扫装置对该显示面板的至少检测到点亮不合格的位置进行清扫，
通过所述检查装置再次判断所述显示面板的至少检测到点亮不合格的位置中的点亮不合格的有无，(i)在清扫后没有点亮不合格的情况下以及在清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息不一致的情况下，判定为所述显示面板没有缺陷，(ii)在清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息一致的情况下，判定为所述显示面板有缺陷。
2.根据权利要求1所述的显示面板检查系统，其特征在于，
所述清扫装置能够局部地清扫所述显示面板，
该显示面板检查系统构成为，
在通过所述检查装置检测到所述显示面板点亮不合格的情况下，利用所述清扫装置仅清扫检测到该显示面板的点亮不合格的位置。
3.根据权利要求1或2所述的显示面板检查系统，其特征在于，
该显示面板检查系统构成为，
在清扫后，利用所述检查装置再次判断所述显示面板的点亮不合格的有无时，仅针对清扫前检测到所述显示面板的点亮不合格的位置，判断点亮不合格的有无。
4.根据权利要求1所述的显示面板检查系统，其特征在于，
该显示面板检查系统构成为，
在通过所述检查装置检测到所述显示面板点亮不合格的情况下，利用所述清扫装置清扫该显示面板的整体，
利用所述检查装置再次判断所述显示面板的整体中的点亮不合格的有无。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的显示面板检查系统，其特征在于，
该显示面板检查系统构成为，
具备：旋转台，所述旋转台具有载置至少一个作为检查的对象的对象物的载置部并能够使该载置部沿水平面旋转，
通过使所述载置部旋转，使所述至少一个对象物在所述检查装置与所述清扫装置之间移动。
6.一种显示面板检查方法，构成为在制造显示装置的工序中，实施该显示装置所具备的显示面板的检查，
所述显示面板检查方法的特征在于，包含：
点亮不合格检测工序，通过将所述显示面板的点亮状态作为图像而取得并对该图像进行处理，对所述显示面板的点亮不合格的有无进行判断，并且取得与该点亮不合格有关的信息亦即点亮不合格信息；
清扫工序，在检测到所述显示面板点亮不合格的情况下，对所述显示面板的至少检测到点亮不合格的位置进行清扫；及
缺陷检测工序，再次判断所述显示面板的至少检测到点亮不合格的位置中的点亮不合格的有无，(i)在清扫后没有点亮不合格的情况下以及清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息不一致的情况下，判定为所述显示面板没有缺陷，(ii)在清扫前的点亮不合格信息与清扫后的点亮不合格信息一致的情况下，判定为所述显示面板有缺陷。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110987939A (zh) * 2019-11-29 2020-04-10 深圳市裕展精密科技有限公司 检测方法及检测装置
CN114488581A (zh) * 2020-10-26 2022-05-13 日本电产三协株式会社 点亮检查装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1194763A (ja) * 1997-09-22 1999-04-09 Sumitomo Electric Ind Ltd 画像処理による欠陥検出方法および装置
CN1310980A (zh) * 2000-02-29 2001-09-05 迪亚西斯公司 处理各种体液的方法和设备
CN1375693A (zh) * 2001-03-21 2002-10-23 株式会社天辻钢球制作所 用于球体表面的检测装置
CN1542435A (zh) * 2003-03-25 2004-11-03 ������������ʽ���� 光电灰尘检测器及安装该光电灰尘检测器的空气调节装置
CN1873744A (zh) * 2005-06-02 2006-12-06 飞而康公司 旋转型显示面板检测装置和用该装置的显示面板检测方法
JP2009130287A (ja) * 2007-11-27 2009-06-11 Toshiba Corp 半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法
JP2011002294A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 Sharp Corp 液晶表示パネルの検査方法
CN102279189A (zh) * 2010-03-17 2011-12-14 夏普株式会社 缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法
CN104458751A (zh) * 2013-09-12 2015-03-25 韩东熙 显示器面板的检查装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0328746A (ja) * 1989-06-27 1991-02-06 Toshiba Corp 表面検査装置
KR100943242B1 (ko) * 2008-05-06 2010-02-18 (주)미래컴퍼니 디스플레이 패널 검사 방법 및 그 장치

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1194763A (ja) * 1997-09-22 1999-04-09 Sumitomo Electric Ind Ltd 画像処理による欠陥検出方法および装置
CN1310980A (zh) * 2000-02-29 2001-09-05 迪亚西斯公司 处理各种体液的方法和设备
CN1375693A (zh) * 2001-03-21 2002-10-23 株式会社天辻钢球制作所 用于球体表面的检测装置
CN1542435A (zh) * 2003-03-25 2004-11-03 ������������ʽ���� 光电灰尘检测器及安装该光电灰尘检测器的空气调节装置
CN1873744A (zh) * 2005-06-02 2006-12-06 飞而康公司 旋转型显示面板检测装置和用该装置的显示面板检测方法
JP2009130287A (ja) * 2007-11-27 2009-06-11 Toshiba Corp 半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法
JP2011002294A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 Sharp Corp 液晶表示パネルの検査方法
CN102279189A (zh) * 2010-03-17 2011-12-14 夏普株式会社 缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法
CN104458751A (zh) * 2013-09-12 2015-03-25 韩东熙 显示器面板的检查装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110987939A (zh) * 2019-11-29 2020-04-10 深圳市裕展精密科技有限公司 检测方法及检测装置
CN114488581A (zh) * 2020-10-26 2022-05-13 日本电产三协株式会社 点亮检查装置
CN114488581B (zh) * 2020-10-26 2024-06-04 日本电产三协株式会社 点亮检查装置

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