CN110987939A - 检测方法及检测装置 - Google Patents

Abstract

一种检测方法，用于对面板进行检测，所述检测方法包括：获取所述面板在点亮状态下的所述面板的第一图像；获取所述面板在未点亮状态下的所述面板的第二图像；根据所述第一图像与所述第二图像判断所述面板是否合格。本发明还提出一种使用上述检测方法的检测装置。上述检测方法及检测装置，通过将面板在点亮状态下的第一图像与面板在未点亮状态下的第二图像进行对比，得到面板的检测结果。检测装置结构简单，检测方法容易，且能提高对面板表面脏污的过滤，检测精确度高。

Description

检测方法及检测装置

技术领域

本发明涉及一种检测方法及检测装置。

背景技术

生产和生活中，显示面板的使用越来越多，因此，对显示面板的要求也越来越高。目前，对显示面板瑕疵的检测主要有人工检测及机器检测两种：人工检测效率较低，且容易产生漏检状况；机器检测效率较高，但对屏幕瑕疵及灰尘的分辨能力弱，容易出现判断失误，造成检测错误，将合格品误判。

发明内容

鉴于上述状况，有必要提供一种检测方法及检测装置，以解决上述问题。

一种检测方法，用于对面板进行检测，所述检测方法包括：

获取所述面板在点亮状态下的所述面板的第一图像；

获取所述面板在未点亮状态下的所述面板的第二图像；

根据所述第一图像与所述第二图像判断所述面板是否合格。

进一步地，根据所述第一图像与所述第二图像判断所述面板是否合格的步骤，包括：

判断所述第一图像中第一瑕疵区域的第一数量；

判断所述第二图像中第二瑕疵区域的第二数量；以及

根据所述第一数量和所述第二数量判断所述面板是否合格。

进一步地，若所述第一数量与所述第二数量相同，则判断所述面板合格。

进一步地，若所述第一数量与所述第二数量不相同，则判断所述面板不合格。

进一步地，获取所述面板在点亮状态下的所述面板的第一图像的步骤之前还包括，控制所述面板进入点亮状态；获取所述面板在未点亮状态下的所述面板的第二图像的步骤之前还包括，控制所述面板进入未点亮状态。

一种检测装置，用于对面板进行检测，所述检测装置包括：

处理器，用于获取所述面板在点亮状态下的所述面板的第一图像，以及获取所述面板在未点亮状态下的所述面板的第二图像；并用于根据所述第一图像与所述第二图像判断所述面板是否合格。

进一步地，所述检测装置还包括：

取像器，用于对点亮状态下的所述面板拍照，以获得所述第一图像，以及用于对未点亮状态下的所述面板拍照，以获得所述第二图像。

进一步地，所述检测装置还包括：

控制模块，所述控制模块耦接于所述面板，并用于控制所述面板的点亮与未点亮。

进一步地，所述检测装置还包括：

光源，所述控制模块还耦接于所述光源，所述控制模块还用于在面板未点亮时控制所述光源开启。

上述检测方法及检测装置，通过将面板在点亮状态下的所述面板的第一图像与面板在未点亮状态下的所述面板的第二图像进行对比，得到面板的检测结果。检测装置结构简单，检测方法容易，且能提高对面板表面脏污的过滤，检测精确度高。

附图说明

图1是本发明的一个实施例中的检测装置的立体示意图。

图2是图1所示检测装置点亮面板的示意图。

图3是图1所示检测装置点亮光源的示意图。

图4是本发明的一个实施例中检测方法的流程图。

主要元件符号说明

检测装置	100
		点亮治具	10
定位板	11
		控制模块	12
光源	20
		取像器	30
面板	200
		发光层	201
面板层	202
		瑕疵	300
附着物	400

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中设置的元件。当一个元件被认为是“设置在”另一个元件，它可以是直接设置在另一个元件上或者可能同时存在居中设置的元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请同时参阅图1至图3，本发明一实施方式提供一种检测装置100。检测装置100能够对机台上的面板200进行检测，如：面板表面的瑕疵，所述面板可以为显示面板，例如LCD(Liquid Crystal Display)面板，OLED(Organic Light-Emitting Diode)面板等。检测装置100包括点亮治具10、光源20、取像器30及处理器(图未示)。点亮治具10用于放置面板200并能够点亮面板200。光源20设置于点亮治具10放置面板200的一面上。光源20用于向面板200表面照射光线。取像器30设置于面板200远离点亮治具10的一侧。取像器30用于对面板200进行拍照。处理器用于根据取像器30的拍照结果判断所述面板200是否合格。

具体地，所述面板200包括一发光层201及一面板层202。所述面板200上具有瑕疵300及附着物400。所述瑕疵300位于所述面板层202中。所述附着物400位于所述面板层202表面，即面板200表面。

点亮治具10包括一定位板11及一控制模块12。定位板11用于放置并定位所述面板200。控制模块12与发光层201及光源20耦接。控制模块12用于控制点亮面板200的发光层201及光源20。

通过控制模块12点亮所述发光层201，所述面板层202中的瑕疵300及面板层202表面的附着物400均会显示于所述面板200上。

通过控制所述光源20向面板200的面板层202表面发射光线以显示所述面板200面板层202表面的附着物400。

一实施例中，光源20包括两个条形光源。两个条形光源分别位于所述面板200的相对两侧。一实施例中，两个条形光源分别位于所述面板200两长边的两侧。

通过所述取像器30可对点亮发光层201或点亮光源20后的面板200进行拍照，得到面板200点亮状态下的第一图像，及光源20点亮状态下的第二图像，处理器根据第一图像与所述第二图像中的瑕疵区域的第一数量及第二数量，判断所述面板200是否合格：若第一数量与第二数量相同，则判断所述面板200合格；若第一数量与第二数量不相同，则判断所述面板200不合格。

一实施例中，取像器30为CCD相机。

一实施例中，所述控制模块12可省略，可直接由处理器对发光层201及光源20的点亮进行控制。

请参阅图4，本发明一实施方式还提供一种面板表面瑕疵的检测方法，包括以下步骤：

步骤S1，请参阅图2，控制所述面板进入点亮状态。

具体地，待检测的面板200放置并定位于所述定位板11上。所述控制模块12与面板200的发光层201电性连接。通过所述控制模块12控制所述面板200的发光层201上的发光元件全部发出相同光线(如白光、蓝光、绿光等)以点亮所述面板200。

步骤S2，获取所述面板在点亮状态下的第一图像。

具体地，通过所述取像器30对点亮状态下的所述面板200进行拍照，得到所述面板200的第一图像。

步骤S3，请参阅图3，控制所述面板200熄灭，点亮所述光源20，将所述面板200表面照亮。

具体地，所述控制模块12控制发光层201熄灭，同时将所述光源20点亮，使其向面板200的表面照射。

一实施例中，所述光源20包括两个条形光源。两个条形光源分别位于所述面板200的相对两侧，以向上述面板200的表面发出亮度均匀的光线。

步骤S4，获取所述面板在未点亮状态下的第二图像。

具体地，通过所述取像器30对未点亮状态下的所述面板200进行拍照，得到所述面板200的第二图像。

步骤S5，判断所述第一图像中第一瑕疵区域的第一数量。

具体地，处理器对所述取像器30得到的第一图像进行检测判断，识别其中与其他区域颜色不同的区域，得到所述第一图像中第一瑕疵区域的第一数量。

所述第一瑕疵区域为所述第一图像上异常点或者异常块区的总称，所述第一数量为所述异常点或者异常块区的数量之和。所述第一瑕疵区域可以为异常点，可以为异常块区。异常点或者异常块区在所述面板上同一位置连续存在的则记为一个，在不同位置且不连续的则记为多个。当所述第一瑕疵区域为异常点时，该异常点要么是附着物(例如灰尘)，要么是面板瑕疵；当所述第一瑕疵区域为异常区域时，该异常区域可以为附着物聚集区域，亦可以为面板瑕疵，例如显示异常区域，竖线不良、横线不良、点状斑纹、闪亮点、油墨区域漏光等。

所述发光层201发光时，所述瑕疵300及所述附着物400均会显示于所述面板200上，均存在于所述取像器30拍照得到的第一图像中。而对第一图像进行检测判断，得到的第一图像中的第一瑕疵区域包含了上述瑕疵300及附着物400。

步骤S6，判断所述第二图像中第二瑕疵区域的第二数量。

具体地，处理器对所述取像器30得到的第二图像进行检测判断，识别其中与其他区域光亮变化程度不同的区域，得到所述第二图像中第二瑕疵区域的第二数量。

所述发光层201熄灭，点亮所述光源20时，由于面板200不发光时，内部呈现几乎完全黑色(几乎不反射光)，面板层202表面的所述附着物400由于面板层202表面上方的光源20照射，而显示于所述面板200上。所述瑕疵300由于位于面板层202中，瑕疵300不会显示于面板200上，因此，不会存在于所述取像器30拍照得到的第二图像中。而对第二图像进行检测判断，得到的第二图像中的第二瑕疵区域只包含上述附着物400。

所述第二瑕疵区域为附着物区域，所述第二瑕疵区域可以为附着物附着在面板上的灰尘，所述第二数量为所述灰尘落入所述面板上位于不同位置的数量之和，灰尘在所述面板上同一位置连续存在的则继记为一个，在不同位置且不连续的则记为多个。

步骤S7，根据第一图像与第二图像判断所述面板是否合格。

具体地，处理器根据第一图像与所述第二图像中的瑕疵区域的第一数量及第二数量，判断所述面板200是否合格：

若第一数量与第二数量相同，则判断所述面板200合格；

若第一数量与第二数量不相同，则判断所述面板200不合格。

所述第一图像中的第一瑕疵区域中包含瑕疵300及附着物400。所述第二图像中的第二瑕疵区域中包含附着物400。将第一数量与第二数量对比，若不同，则存在瑕疵300，面板200不合格。

在其他实施方式中，还可以通过第一瑕疵区域在第一图像中的位置，第二瑕疵区域在第二图像中的位置或者演绎算法来判断所述面板是否合格。

本发明提供的检测方法及检测装置100，通过光源20的照射，将面板200表面的附着物检测，随后，在点亮的面板200的检测结果中，将面板200表面附着物的检测结果除去，得到面板200表面的瑕疵检测结果。检测装置100结构简单，检测容易，且能提高对面板200表面脏污的过滤，检测精确度高。

另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，当然，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围。

Claims (9)

1.一种检测方法，用于对面板进行检测，所述检测方法包括：

获取所述面板在点亮状态下的所述面板的第一图像；

获取所述面板在未点亮状态下的所述面板的第二图像；

根据所述第一图像与所述第二图像判断所述面板是否合格。

2.如权利要求1所述的检测方法，根据所述第一图像与所述第二图像判断所述面板是否合格的步骤，包括：

判断所述第一图像中第一瑕疵区域的第一数量；

判断所述第二图像中第二瑕疵区域的第二数量；以及

根据所述第一数量和所述第二数量判断所述面板是否合格。

3.如权利要求2所述的检测方法，若所述第一数量与所述第二数量相同，则判断所述面板合格。

4.如权利要求2所述的检测方法，若所述第一数量与所述第二数量不相同，则判断所述面板不合格。

5.如权利要求1所述的检测方法，获取所述面板在点亮状态下的所述面板的第一图像的步骤之前还包括，控制所述面板进入点亮状态；获取所述面板在未点亮状态下的所述面板的第二图像的步骤之前还包括，控制所述面板进入未点亮状态。

6.一种检测装置，用于对面板进行检测，所述检测装置包括：

处理器，用于获取所述面板在点亮状态下的所述面板的第一图像，以及获取所述面板在未点亮状态下的所述面板的第二图像；并用于根据所述第一图像与所述第二图像判断所述面板是否合格。

7.如权利要求6所述的检测装置，所述检测装置还包括：

取像器，用于对点亮状态下的所述面板拍照，以获得所述第一图像，以及用于对未点亮状态下的所述面板拍照，以获得所述第二图像。

8.如权利要求6所述的检测装置，所述检测装置还包括：

控制模块，所述控制模块耦接于所述面板，并用于控制所述面板的点亮与未点亮。

9.如权利要求8所述的检测装置，所述检测装置还包括：

光源，所述控制模块还耦接于所述光源，所述控制模块还用于在面板未点亮时控制所述光源开启。

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