CN110286132A - 显示面板的光学检测方法及设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板的光学检测方法及设备。显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面，光学检测方法包括：对第一表面进行拍摄得到第一表面图像，在拍摄时取像装置位于第一表面远离第二表面一侧；对第二表面进行拍摄得到第二表面图像，在拍摄时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧；对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，在拍摄时显示面板位于取像装置和背光源之间，混合瑕疵图像的瑕疵包括显示面板的表面异物、显示面板的内部瑕疵；根据第一表面图像和第二表面图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。本发明能够提高显示面板检测的检出率、降低过判率。

Description

显示面板的光学检测方法及设备

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示面板的光学检测方法及设备。

背景技术

在现有的显示面板厂家在显示面板制作完成之后，通常需要对显示面板的良率进行检测，其中光学检测方法作为新兴的工业自动化有效的检测方法被广泛使用。

光学检测方法基于光学原理，运用高速高精度视觉处理技术，对显示面板制作过程中产生的缺陷进行检测。现有技术中的光学检测方法，不良检出率较低，过判率较高。

因此，提供一种实现高检出率、低过判率的显示面板的光学检测方法及设备，是本领域亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种显示面板的光学检测方法及设备，解决了上述技术问题。

第一方面，为了解决上述技术问题，本发明提供一种显示面板的光学检测方法，显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面，光学检测方法包括：

对第一表面进行拍摄得到第一表面图像，第一表面图像用于计算出第一表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于第一表面远离第二表面一侧；

对第二表面进行拍摄得到第二表面图像，第二表面图像用于计算出第二表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧；

对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，其中，在拍摄时显示面板位于取像装置和背光源之间，混合瑕疵图像的瑕疵包括显示面板的表面异物、显示面板的内部瑕疵；

在混合瑕疵图像中滤去异物区识别显示面板的内部瑕疵，包括：根据第一表面图像和第二表面图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。

第二方面，为了解决上述技术问题，本发明还提供一种设备，包括：检测平台、取像装置、背光源、侧面光源、图像发生器和处理装置；

检测平台，设置于取像装置和背光源之间，检测平台用于放置待检测的显示面板；

图像发生器与显示面板电连接，用于控制显示面板的显示；

取像装置，用于拍摄图像，显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面，取像装置用于拍摄第一表面图像，在拍摄第一表面图像时取像装置位于第一表面远离第二表面一侧，取像装置还用于拍摄第二表面图像，在拍摄第二表面图像时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧，取像装置还用于拍摄混合瑕疵图像，混合瑕疵图像为对显示面板进行拍摄得到的图像，混合瑕疵图像的瑕疵包括表面异物、内部瑕疵；

侧面光源，设置于检测平台靠近取像装置一侧，且位于检测平台的周边侧；

处理装置与取像装置电连接，用于对拍摄的图像进行分析处理，包括根据第一表面图像和第二表面图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。

与现有技术相比，本发明提供的显示面板的光学检测方法及设备，至少实现了如下的有益效果：

本发明提供的光学检测方法，第一表面图像和第二表面图像是取像装置分别直接对第一表面和第二表面进行拍摄得到的，在拍摄时不需要透过显示面板，所以无论显示面板为常黑屏还是常白屏，取像装置都能够清楚的拍摄到第一表面的异物和第二表面的异物，且单独拍摄的第一表面图像和第二表面图像均没有显示面板内部瑕疵的干扰，与相关技术相比不需要用阈值来平衡检出率和过判率的比例关系。光学检测软件运算中能够准确的将第一表面异物和第二表面异物识别出来，在混合瑕疵图像中滤去第一表面异物和第二表面异物识别出的显示面板内部瑕疵即为显示面板的真不良。该方法能够提升检出率，降低过判率，从而降低产品在生产过程中因不良漏检产生的成本损耗。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1为相关技术中显示面板的光学检测设备简化示意图；

图2为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图一；

图3为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图二；

图4为本发明提供的显示面板的光学检测方法中瑕疵识别流程图；

图5为本发明实施例中第一坐标系和第二坐标系对应关系说明；

图6为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图三；

图7为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图四；

图8为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图五；

图9为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图六；

图10为本发明实施例提供的设备的简化示意图；

图11为本发明实施例提供的设备的工作流程图一；

图12为本发明实施例提供的设备的工作流程图二。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

图1为相关技术中显示面板的光学检测设备简化示意图，结合图1对相关技术中显示面板的光学检测方法进行说明。光学检测设备中用于拍摄图像的装置通常包括取像装置11'、上侧光12'、下侧光13'、背光14'和检测平台(图中未示出，图中示出的是检测时显示面板100'放置在检测平台上的情况)。在对显示面板进行检测时，首先将显示面板置于取像装置11'下方的检测平台上；然后开启上侧光12'对显示面板的上表面进行拍摄得到上表面成像图，上表面成像图能够拍摄到上表面上的飞尘还有表面划痕；然后关闭上侧光12'，开启下侧光13'，透过显示面板对显示面板的下表面进行拍摄得到下表面成像图，下表面成像图同样能拍摄到下表面的飞尘和划痕等；关闭下侧光13'，开启背光14'和图像发生器(未示出)拍摄显示面板的混合瑕疵图像，显示面板上下表面的异物和划痕、显示面板内部的电性不良和非电性不良等都能够在混合瑕疵图像中体现出来；最后，光学检测软件会进行运算，根据上表面成像图、下表面成像图在混合瑕疵图像中滤去上下表面的异物，检测出显示面板内部的不良。

在相关技术中下表面成像图是透过显示面板进行拍摄取得的，此时成像图中下表面异物与显示面板内部不良共存，导致光学检测软件运算无法有效的区分表面异物和内部不良，内部的非电性不良有可能被误判成表面异物，造成漏检。相关技术中的解决方案是，在运算时提供阈值判断区分表面异物和内部不良，或者用阈值来平衡检出率和过判率的比例关系，阈值指的是异物低于某亮度时判断为面板异物，异物高于某亮度时判断为盒内异物。另外上述方法也仅对显示面板为常白屏时有效，对于显示面板为常黑屏时，即使开启下侧光13'，也不能透过显示面板清楚的对下表面进行拍摄得到下表面成像图，在后续的运算中更不能保证将混合瑕疵图像中的下表面异物滤去，则下表面异物会被误判为内部不良，导致过判率较高。基于此，发明人提供一种显示面板的光学检测方法，同时适用于对常白屏和常黑屏的显示面板的检测，能够准确区分上下表面异物和显示面板内部缺陷，能提升检出率，降低过判率。

图2为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图一，本发明提供的光学检测方法能够应用于对液晶显示面板的检测。显示面板包括依次排列的阵列基板、液晶层和彩膜基板。显示面板的表面包括靠近阵列基板一侧的外表面和靠近彩膜基板一侧的外表面。在对显示面板进行光学检测时，可以先对靠近阵列基板一侧的外表面进行拍照取像，或者也可以先对靠近彩膜基板一侧的外表面进行拍照取像。本发明对于取像顺序不做限定。

为了清楚说明光学检测的方法，定义显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面。在一种情况下，第一表面为靠近阵列基板一侧的外表面，第二表面为靠近彩膜基板一侧的外表面；在另一种情况下，第一表面为靠近彩膜基板一侧的外表面，第二表面为靠近阵列基板一侧的外表面。

如图2所示，光学检测方法包括：

步骤S101：对第一表面进行拍摄得到第一表面图像，第一表面图像用于计算出第一表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于第一表面远离第二表面一侧。本发明拍摄得到的第一表面图像是显示面板第一表面的完整的图像，即图像中包括全部的显示区和包围显示区的边框区域。本发明在拍摄第一表面图像时是取像装置直接对第一表面进行拍摄得到的，不需要透过显示面板，所以根据第一表面图像能够清楚准确的计算出第一表面的异物。第一表面的异物主要为落在第一表面上微小颗粒，比如飞尘。当然对第一表面进行拍摄时还能够拍摄到第一表面的划痕，也即在第一表面图像中还能够识别出划痕，在最后光学软件进行运算处理时也会对划痕进行单独的计算。

步骤S102：对第二表面进行拍摄得到第二表面图像，第二表面图像用于计算出第二表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧。本发明拍摄得到的第二表面图像是显示面板第二表面的完整的图像，即图像中包括全部的显示区和包围显示区的边框区域。本发明在拍摄第二表面图像时是取像装置直接对第二表面进行拍摄得到的，不需要透过显示面板，所以根据第二表面图像能够清楚准确的计算出第二表面的异物。第二表面的异物主要为落在第二表面上微小颗粒，比如飞尘。当然对第二表面进行拍摄时还能够拍摄到第二表面的划痕，也即在第二表面图像中还能够识别出划痕，在最后光学软件进行运算处理时也会对划痕进行单独的计算。

本发明中采用的取像装置可以为相机，第一表面图像和第二表面图像可以是用同一个取像装置拍摄得到的，也可以是用不同的取像装置拍摄得到的。可选的，在采用同一个取像装置拍摄第一表面和第二表面时，一种情况下，可以将取像装置的位置固定，在拍摄完第一表面图像之后将显示面板进行翻转后，拍摄第二表面；在另一种情况下，也可以是显示面板的位置不变，取像装置拍摄完第一表面之后，移位到第二表面远离第一表面一侧，对显示面板的第二表面进行拍摄。具体的拍摄方式可根据使用的设备来选择，在此不做限定。

步骤S103：对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，其中，在拍摄时显示面板位于取像装置和背光源之间，混合瑕疵图像的瑕疵包括显示面板的表面异物、显示面板的内部瑕疵。混合瑕疵图像也为完整的显示面板的图像，即图像中包括全部的显示区和包围显示区的边框区域。混合瑕疵图像的瑕疵包括显示面板上下表面的异物、上下表面的划痕、还有显示面板的内部瑕疵(包括电性不良和非电性不良，电性不良包括如亮点、亮线、暗点、暗线、mura等)。可选的，同时开启背光源和图像发生器，对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像。

步骤S104：在混合瑕疵图像中滤去异物区识别显示面板的内部瑕疵，包括：根据第一表面图像和第二表面图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。该步骤中光学检测软件能够将第一表面异物和第二表面异物准确的识别，并在混合瑕疵图像中滤去，最后剩下的瑕疵即为显示面板内部的真不良。

本发明提供的光学检测方法，第一表面图像和第二表面图像是取像装置分别直接对第一表面和第二表面进行拍摄得到的，在拍摄时不需要透过显示面板，所以无论显示面板为常黑屏还是常白屏，取像装置都能够清楚的拍摄到第一表面的异物和第二表面的异物，且单独拍摄的第一表面图像和第二表面图像均没有显示面板内部瑕疵的干扰，与相关技术相比不需要用阈值来平衡检出率和过判率的比例关系。光学检测软件运算中能够准确的将第一表面异物和第二表面异物识别出来，在混合瑕疵图像中滤去第一表面异物和第二表面异物识别出的显示面板内部瑕疵即为显示面板的真不良。该方法能够提升检出率，降低过判率，从而降低产品在生产过程中因不良漏检产生的成本损耗。

进一步的，本发明提供的显示面板的光学检测方法还包括：步骤105:开启背光源，对显示面板进行拍摄得到定位图像，定位图像用于标定显示面板的表面异物位置，其中，在拍摄时背光源位于显示面板远离取像装置一侧。步骤S104在混合瑕疵图像中滤去异物区识别显示面板的内部瑕疵，进一步包括：根据第一表面图像、第二表面图像和定位图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。

为了在光学检测软件运算中准确识别表面异物的位置，本发明提供的光学检测方法拍摄显示面板的定位图像，定位图像为显示面板整体的图像，在显示面板中边框和框胶是不透光的，开启背光源拍照时，显示区透光而非显示区不透光，所以通过对显示面板进行拍照后得到的定位图像能够确定显示面板的显示区和非显示区，从而进一步对表面异物进行定位。

可选的，定位图像包括第一表面定位图像，本发明提供的光学检测方法包括对第一表面图像的定位，第一表面定位图像为开启背光源，对显示面板进行拍摄得到第一表面定位图像，且拍摄时取像装置位于第一表面远离第二表面一侧。第一表面定位图像可以是在拍摄得到第一表面图像后，对显示面板进行拍摄得到的，或者也可以是在拍摄第一表面图像之前，先拍摄第一表面定位图像。

可选的，定位图像包括第二表面定位图像，本发明提供的光学检测方法包括对第二表面图像的定位，第二表面定位图像为开启背光源，对显示面板进行拍摄得到第二表面定位图像，且拍摄时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧。第二表面定位图像可以是在拍摄得到第二表面图像后，对显示面板进行拍摄得到的，或者也可以是在拍摄第二表面图像之前，先拍摄第二表面定位图像。

在一种实施例中，图3为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图二，图4为本发明提供的显示面板的光学检测方法中瑕疵识别流程图，如图3所示，光学检测方法包括：

步骤S201：对第一表面进行拍摄得到第一表面图像，第一表面图像用于计算出第一表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于第一表面远离第二表面一侧。

步骤S202：开启背光源，对显示面板进行拍摄得到第一表面定位图像。第一表面定位图像用于对第一表面图像上的异物进行定位。在完成第一表面图像的拍摄之后，不需要移动显示面板的位置，然后开启背光源对显示面板进行拍摄。

步骤S203：对第二表面进行拍摄得到第二表面图像，第二表面图像用于计算出第二表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧。

步骤S204：开启背光源，对显示面板进行拍摄得到第一表面定位图像。第二表面定位图像用于对第二表面图像上的异物进行定位。在完成第二表面图像的拍摄之后，不需要移动显示面板的位置，然后开启背光源对显示面板进行拍摄。

步骤S205：对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，其中，在拍摄时显示面板位于取像装置和背光源之间，混合瑕疵图像的瑕疵包括显示面板的表面异物、显示面板的内部瑕疵。可选的，同时开启背光源和图像发生器，对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像。可选的，在拍摄完第二表面图像和第二表面定位图像之后，不需要移动显示面板的位置，同时开启背光源和图像发生器，对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像。

步骤S206：根据第一表面图像、第二表面图像和定位图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。其中，如图4所示，识别显示面板的内部瑕疵的步骤包括：

步骤S301：根据第一表面定位图像识别出显示面板的显示区，在第一表面图像中确定显示区的位置并建立第一坐标系，确定第一表面的异物在第一坐标系中的位置坐标。在光学检测软件对取像装置拍摄的图像进行运算处理时，对于拍摄到的第一表面定位图像，会在图像中抓取到显示区，然后建立平面直角坐标系(x1，y1)，定义为第一坐标系，根据坐标系能够确定第一表面图像中的异物在第一坐标系中的位置坐标。

步骤S302：根据第二表面定位图像识别出显示面板的显示区，在第二表面图像中确定显示区的位置并建立第二坐标系，确定第二表面的异物在第二坐标系中的位置坐标。在光学检测软件对取像装置拍摄的图像进行运算处理时，对于拍摄到的第二表面定位图像，会在图像中抓取到显示区，然后建立平面直角坐标系(x2，y2)，定义为第二坐标系，根据坐标系能够确定第二表面图像中的异物在第二坐标系中的位置坐标。

第一表面和第二表面分别为显示面板的两个外表面，本发明中在对第一表面和第二表面进行拍摄时，均是由取像装置直接与显示面板的表面相对进行拍摄的，所以分别根据两个表面各自定位图像建立的第一坐标系和第二坐标系不是同一个坐标系，但是两者之间存在一定的对应关系。以显示面板包括A\B\C\D四个角为例，下面对两个坐标系的对应关系进行举例说明。

在一种情况下，图5为本发明实施例中第一坐标系和第二坐标系对应关系说明。如图5所示，首先拍摄显示面板的第一表面，拍摄到的第一表面定位图像为图a，显示面板的A\B\C\D四个角的位置如图中的示意，抓取图a中显示区AA范围，并建立第一坐标系(x1，y1)，图a中有一个异物点H，根据建立的第一坐标系确定异物点H在第一坐标系中的坐标为(1,1)。将显示面板翻转后拍摄显示面板的第二表面，拍摄到的第二表面定位图像为图b，显示面板翻转后显示面板的A\B\C\D四个角如图中的示意，此时第一表面图像和第二表面图像呈镜像关系。抓取图b中显示区AA范围，并建立第二坐标系(x2，y2)，根据显示区AA及显示面板的A\B\C\D四个角，不管在显示面板的第一表面还是第二表面进行拍摄，其对应的显示区的面积大小是相同的。所以根据第二表面定位图像建立的第二坐标系能够与第一坐标系相对应，可以确定在第二坐标系中存在点H'(4,1)与异物点H在第一坐标系中的位置(1,1)相对应，即点H'(4,1)即为第一表面的异物点H在第二坐标系中的等效坐标位置。需要说明的是，图5是以分别根据定位图像建立坐标系进行示意的，第一坐标系中的位置坐标H(1,1)表示在第一定位图像中异物点H，第二坐标系中的位置坐标H'(4,1)仅表示异物点H在第二坐标系中的位置坐标，并非表示在第二定位表面存在异物点H'。图5仅是给出了在某一种情况下对显示面板进行翻转后的位置坐标对应关系，仅作为示意说明，显示面板翻转方式不同，第二坐标系和第一坐标系的对应关系不同，实际中可根据具体情况进行确定，在此不再赘述。

步骤S303：根据第一表面图像和第二表面图像的对应关系，将第一表面的异物在第一坐标系中的位置坐标换算成在第二坐标系中的位置坐标，得到第一表面的异物在第二坐标系中的等效位置坐标；等效位置坐标的确定方式可参考上述图5对应的说明。

步骤S304：根据第二表面的异物在第二坐标系中的位置坐标和第一表面的异物在第二坐标系中的等效位置坐标，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。在本发明在拍摄完第二表面图像和第二表面定位图像之后，不需要移动显示面板的位置，直接再拍摄显示面板的混合瑕疵图像，所以此时在混合瑕疵图像中抓取到的显示区与第二表面定位图像中的显示区是一样的，此时可以在混合瑕疵图像的显示区中建立与第二表面定位图像中相同的第二坐标系，根据第二表面异物的在第二坐标系中的坐标和第一表面异物在第二坐标系中的等效位置坐标能够确定混合瑕疵图像中第一表面异物和第二表面异物的位置。从而能够滤去表面异物后识别出显示面板的内部瑕疵，即确定显示面板的真不良。

在一种实施例中，图6为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图三，如图6所示，光学检测方法包括：

步骤S401：对第一表面进行拍摄得到第一表面图像，第一表面图像用于计算出第一表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于第一表面远离第二表面一侧。

步骤S402：开启背光源，对显示面板进行拍摄得到第一表面定位图像。在后续运算中，能够根据第一表面定位图像识别出显示面板的显示区，在第一表面图像中确定显示区的位置并建立第一坐标系，确定第一表面的异物在第一坐标系中的位置坐标。

步骤S403：对第二表面进行拍摄得到第二表面图像，第二表面图像用于计算出第二表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧。

步骤S404：对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，其中，在拍摄时显示面板位于取像装置和背光源之间，混合瑕疵图像的瑕疵包括显示面板的表面异物、显示面板的内部瑕疵。混合瑕疵图像复用为第二表面定位图像，在后续步骤中能够根据混合瑕疵图像识别显示面板的显示区，在混合瑕疵图像中确定显示区的位置并建立第二坐标系，确定第二表面的异物在第二坐标系中的位置坐标。可选的，同时开启背光源和图像发生器，对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像。

步骤S405：根据第一表面图像、第二表面图像和定位图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。步骤S405中内部瑕疵的识别过程可参考上述图4对应的说明。

该实施方式提供的光学检测方法中，首先对取像装置直接与第一表面相对，对第一表面进行拍摄，得到第一表面异物图像和第一表面定位图像，然后设置取像装置直接与第二表面相对，对第二表面进行拍摄得到第二表面异物图像和混合瑕疵图像，在后续运算中将混合瑕疵图像复用为第二表面定位图像，不需要单独拍摄第二表面定位图像，能够简化拍照的工序，降低功耗。

在一种实施例中，图7为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图四，如图7所示，光学检测方法包括：

步骤S501：将显示面板置于检测平台上，取像装置位于第一表面远离第二表面一侧；

步骤S502：开启侧面光源，取像装置拍摄第一表面得到第一表面图像，其中，侧面光源位于检测平台靠近取像装置一侧，且位于检测平台的周边侧。可以在检测平台的周边侧的一圈的四个侧边上均设置侧面光源，或者也可以根据需求仅在四个侧边的部分侧边上设置侧面光源。

步骤S503：对显示面板进行翻转后，在将显示面板置于检测平台上之前，对背光源的表面进行拍摄得到背光表面图像，背光表面图像用于计算出背光源表面的异物。此时，显示面板与背光源没有交叠，取像装置直接对背光源的表面进行拍摄。

步骤S504：对显示面板进行翻转后将显示面板置于检测平台上，取像装置位于第二表面远离第一表面一侧；

步骤S505：开启侧面光源，取像装置拍摄第二表面得到第二表面图像。

步骤S506：对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，其中，在拍摄时显示面板位于取像装置和背光源之间。可选的，同时开启背光源和图像发生器，对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像。

步骤S507：根据第一表面图像、第二表面图像和背光表面图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物、第二表面的异物和背光光源表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。

由于要设置取像装置位于第二表面远离第一表面一侧来对显示面板的第二表面进行拍摄，该方法中通过对显示面板进行翻转以实现取像装置位于第二表面远离第一表面一侧，发明人进一步考虑，在对显示面板进行翻转操作的过程中，可能会有灰尘或者其他异物落在背光源的表面上，或者在检测之前背光源的表面没有擦拭干净而存有异物，在后续的步骤中，开启背光源对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像时，背光源表面的异物也可能被拍摄到，在运算时被判定为内部瑕疵，导致过判。而本发明提供的方法，在拍摄完第一表面之后，在对显示面板进行翻转且显示面板还未翻转到位之前，对背光源表面进行拍摄，在后续运算中能够根据背光表面图像计算出背光表面的异物，同时避免了显示面板翻转过程中导致异物落在背光表面上或者背光表面没有擦拭干净导致的过判。该实施方式能够进一步降低过判率，提升检出率。

可选的，图7对应的实施方式中也可以包括拍摄定位图像的步骤，定位图像包括第一表面定位图像和第二表面定位图像，第一表面定位图像可以在拍摄第一表面图像之前或之后单独拍摄，第二表面定位图像可以在拍摄第二表面图像之前或之后单独拍摄；或者也可以仅拍摄第一表面定位图像，而采用混合瑕疵图像复用为第二表面定位图像。另外，该实施方式中对第一表面异物和第二表面异物进行识别滤去的过程可参考图4对应的说明。

在一种实施例中，图8为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图五，如图8所示，光学检测方法包括：

步骤S601：将显示面板置于检测平台上，取像装置位于第一表面远离第二表面一侧；

步骤S602：开启侧面光源，取像装置拍摄第一表面得到第一表面图像，其中，侧面光源位于检测平台靠近取像装置一侧，且位于检测平台的周边侧。

步骤S603：开启背光源，对显示面板进行拍摄得到第一表面定位图像。

步骤S604：对显示面板进行翻转后，在将显示面板置于检测平台上之前，对背光源的表面进行拍摄得到背光表面图像，此时，显示面板与背光源没有交叠，取像装置直接对背光源的表面进行拍摄。

步骤S605：对显示面板进行翻转后将显示面板置于检测平台上，取像装置位于第二表面远离第一表面一侧；

步骤S606：开启侧面光源，取像装置拍摄第二表面得到第二表面图像。

步骤S607：同时开启背光源和图像发生器，对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，混合瑕疵图像复用为第二表面定位图像。

步骤S608：根据第一表面图像、第二表面图像、定位图像和背光表面图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物、第二表面的异物和背光光源表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。其中，定位图像包括第一表面定位图像和第二表面定位图像。

该实施方式中，首先显示面板到位，即将显示面板的第一表面与取向装置直接相对；然后开启侧面光源，此时背光源和图像发生器均关闭，对第一表面拍摄得到第一表面异物图像；然后显示面板位置不变，关闭侧面光源，开启背光，对显示面板进行拍摄得到第一表面定位图像；然后对显示面板进行翻转，此时面板与背光源不重叠，取像装置拍摄背光源得到背光表面图像；然后完成对显示面板进行翻转的操作，面板到位，此时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧，关闭背光源，开启侧面光源，对第二表面拍摄得到第二表面异物图像；然后关闭侧面光源，开启背光，并打开图像发生器，对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像。在对显示面板进行翻转之后拍摄第二表面异物图像和混合瑕疵图像时，显示面板的位置和取像装置的位置均不变，该方法中可以将混合瑕疵图像复用为第二表面定位图像，实现对第二表面异物的位置定位。第一表面图像和第二表面图像是取像装置分别直接对第一表面和第二表面进行拍摄得到的，在拍摄时不需要透过显示面板，单独拍摄的第一表面图像和第二表面图像均没有显示面板内部瑕疵的干扰，与相关技术相比不需要用阈值来平衡检出率和过判率的比例关系。另外该方法中，同时对背光源进行拍摄，光学检测软件运算中能够准确的将第一表面异物、第二表面异物和背光源表面的移位识别出来，在混合瑕疵图像中滤去各种表面异物识别出的显示面板内部瑕疵即为显示面板的真不良，该方法能提升检出率，降低过判率，从而降低产品在生产过程中因不良漏检产生的成本损耗。

在一种实施例中，图9为本发明提供的显示面板的光学检测方法流程图六，如图9所示，光学检测方法包括：

步骤S701：取像装置固定在第一位置对第一表面进行拍摄得到第一表面图像，在拍摄时取像装置位于第一表面远离第二表面一侧；

步骤S702：取像装置固定在第一位置对第二表面进行拍摄得到第二表面图像，在拍摄时取像装置位于第二表面远离第一表面一侧；

步骤S703：取像装置固定在第一位置对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，在拍摄时显示面板位于取像装置和背光源之间。

步骤S704：根据第一表面图像和第二表面图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。

该实施方式中在拍摄第一表面图像、第二表面图像和混合瑕疵图像时，取像装置均固定在第一位置上，即在检测方法过程中取像装置的位置均固定，该种取像方式适用于上述任意一个实施例。该种方式将取像装置的位置固定，能够仅通过移动显示面板的位置实现取像装置位于第二表面远离第一表面一侧，或者取像装置位于第一表面远离第二表面一侧，在操作时更加简便。

本发明还提供一种设备，能够用于对显示面板进行光学检测，图10为本发明实施例提供的设备的简化示意图。如图10所示，设备包括：检测平台801、取像装置802、背光源803、侧面光源804、图像发生器805和处理装置806；

检测平台801，设置于取像装置802和背光源803之间，检测平台801用于放置待检测的显示面板；检测平台801用于在拍摄时对显示面板起到支撑作用，只要能实现对显示面板的支撑，检测平台可以采用现有技术中任意结构来制作，图10中仅做示意性表示。图10中示出了检测时显示面板100放置的相对位置。

图像发生器805与显示面板100电连接，用于控制显示面板100的显示；比如控制显示面板显示红色、白色、绿色、蓝色等，在拍摄检测图像时，图像发生器805与背光源803同时开启，来拍摄显示面板的混合瑕疵图像。在控制面板显示时，显示的异常位置，会在混合瑕疵图像中体现出来，在后续运算处理中被识别为内部瑕疵。

取像装置802，用于拍摄图像，可以为相机。显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面，取像装置802用于拍摄第一表面图像，在拍摄第一表面图像时取像装置802位于第一表面远离第二表面一侧，取像装置802还用于拍摄第二表面图像，在拍摄第二表面图像时取像装置802位于第二表面远离第一表面一侧，取像装置802还用于拍摄混合瑕疵图像，混合瑕疵图像为对显示面板进行拍摄得到的图像，混合瑕疵图像的瑕疵包括表面异物、内部瑕疵；取像装置802与处理装置806电连接，用于将拍摄的图像发送给处理装置806。其中，取像装置拍摄的图像范围要大于显示面板的尺寸，即取像装置拍摄的显示面板的图像中包括完整的显示面板显示区和显示面板的边框区。

侧面光源804，设置于检测平台801靠近取像装置802一侧，且位于检测平台801的周边侧；图中仅示意在检测平台801的周边的一侧设置侧面光源804，可选的，也可以在检测平台801的周边侧设置一圈的侧面光源804。或者也可以根据需求仅在四个侧边的部分侧边上设置侧面光源。

处理装置806与取像装置802电连接，用于对拍摄的图像进行分析处理，包括根据第一表面图像和第二表面图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物和第二表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。

在采用本发明提供的设备对显示面板进行检测时，在拍摄第一表面图像和拍摄第二表面图像时，控制侧面光源804开启，图像发生器805关闭；在拍摄混合瑕疵图像时，背光源803和图像发生器805均开启。

采用本发明提供的设备对显示面板进行检测，在检测过程中拍摄的显示面板的第一表面图像和第二表面图像是取像装置分别是直接对第一表面和第二表面进行拍摄得到的，在拍摄时不需要透过显示面板，所以无论显示面板为常黑屏还是常白屏，取像装置都能够清楚的拍摄到第一表面的异物和第二表面的异物，且单独拍摄的第一表面图像和第二表面图像均没有显示面板内部瑕疵的干扰，与相关技术相比不需要用阈值来平衡检出率和过判率的比例关系。光学检测软件运算中能够准确的将第一表面异物和第二表面异物识别出来，在混合瑕疵图像中滤去第一表面异物和第二表面异物识别出的显示面板内部瑕疵即为显示面板的真不良。采用本发明提供的设备能够提升检出率，降低过判率，从而降低产品在生产过程中因不良漏检产生的成本损耗。

进一步的，在采用本发明提供的设备对显示面板进行检测时，取像装置固定在第一位置对第一表面进行拍摄得到第一表面图像；取像装置固定在第一位置对第二表面进行拍摄得到第二表面图像；取像装置固定在第一位置对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像。本发明提供的设备中取像装置的位置固定，能够仅通过移动显示面板的位置实现取像装置位于第二表面远离第一表面一侧，或者取像装置位于第一表面远离第二表面一侧，在操作时更加简便。

图11为本发明实施例提供的设备的工作流程图一。如图11所示，在对显示面板进行检测时，首先，面板到位，即将显示面板置于检测平台上；然后开启侧面光源，取像装置对显示面板进行拍摄得到第一表面图像；然后开启背光源，再次对显示面板进行拍摄得到第一表面定位图像；然后对显示面板进行翻转，拍摄显示面板的另一个表面；面板翻转到位后开启侧面光源，取像装置对显示面板进行拍摄得到第二表面图像；然后开启背光源和图像发生器，对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像；最后处理装置根据拍摄到的各种图像进行运算，其中由于获取第二表面图像和混合瑕疵图像时面板的位置不移动，所以该工作流程中可以将混合瑕疵图像复用为第二表面图像的定位图像。处理装置在对显示面板的内部瑕疵的识别过程可以参考上述图4对应的说明，在此不再赘述。

进一步的，取像装置还用于对背光源的表面进行拍摄得到背光表面图像；在拍摄完第一表面图像后，对显示面板进行翻转，用于拍摄第二表面图像，其中，在对显示面板进行翻转后，在将显示面板置于检测平台上之前拍摄背光表面图像，此时显示面板与背光源不重叠；

处理装置还用于根据第一表面图像、第二表面图像和背光表面图像，在混合瑕疵图像中滤去第一表面的异物、第二表面的异物和背光源表面的异物识别显示面板的内部瑕疵。

图12为本发明实施例提供的设备的工作流程图二。如图12所示，在对显示面板进行检测时，首先，面板到位，即将显示面板置于检测平台上；然后开启侧面光源，取像装置对显示面板进行拍摄得到第一表面图像；然后开启背光源，再次对显示面板进行拍摄得到第一表面定位图像；然后对显示面板进行翻转，拍摄显示面板的另一个表面；然后对显示面板进行翻转，在显示面板还未翻转到位之前，此时显示面板与背光源没有交叠，开启背光源，取像对背光源的表面进行拍摄得到背光表面图像；然后面板到位后，关闭背光源，开启侧面光源，取像装置对显示面板进行拍摄得到第二表面图像；然后开启背光源和图像发生器，对显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像；最后处理装置根据拍摄到的各种图像进行运算，其中由于获取第二表面图像和混合瑕疵图像时面板的位置不移动，所以该工作流程中可以将混合瑕疵图像复用为第二表面图像的定位图像。处理装置在对显示面板的内部瑕疵的识别过程可以参考上述图4对应的说明，在此不再赘述。

采用本发明提供的设备对显示面板进行检测，在检测过程中拍摄的显示面板的第一表面图像和第二表面图像是取像装置分别是直接对第一表面和第二表面进行拍摄得到的，在拍摄时不需要透过显示面板，第一表面图像和第二表面图像均没有显示面板内部瑕疵的干扰，与相关技术相比不需要用阈值来平衡检出率和过判率的比例关系。在混合瑕疵图像中滤去第一表面异物和第二表面异物识别出的显示面板内部瑕疵即为显示面板的真不良。另外，该工作流程中取像装置还拍摄背光表面图像，在识别内部瑕疵时能够避免将背光表面的异物判定为内部瑕疵，从而进一步降低过判率。

通过上述实施例可知，本发明提供的显示面板的光学检测方法及设备，至少实现了如下的有益效果：

本发明提供的光学检测方法，第一表面图像和第二表面图像是取像装置分别直接对第一表面和第二表面进行拍摄得到的，在拍摄时不需要透过显示面板，所以无论显示面板为常黑屏还是常白屏，取像装置都能够清楚的拍摄到第一表面的异物和第二表面的异物，且单独拍摄的第一表面图像和第二表面图像均没有显示面板内部瑕疵的干扰，与相关技术相比不需要用阈值来平衡检出率和过判率的比例关系。光学检测软件运算中能够准确的将第一表面异物和第二表面异物识别出来，在混合瑕疵图像中滤去第一表面异物和第二表面异物识别出的显示面板内部瑕疵即为显示面板的真不良。该方法能够提升检出率，降低过判率，从而降低产品在生产过程中因不良漏检产生的成本损耗。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (15)

1.一种显示面板的光学检测方法，其特征在于，所述显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面，所述光学检测方法包括：

对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像，所述第一表面图像用于计算出所述第一表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于所述第一表面远离所述第二表面一侧；

对所述第二表面进行拍摄得到第二表面图像，所述第二表面图像用于计算出所述第二表面的异物，其中，在拍摄时取像装置位于所述第二表面远离所述第一表面一侧；

对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，其中，在拍摄时所述显示面板位于取像装置和背光源之间，所述混合瑕疵图像的瑕疵包括显示面板的表面异物、显示面板的内部瑕疵；

在所述混合瑕疵图像中滤去异物区识别所述显示面板的内部瑕疵，包括：根据所述第一表面图像和所述第二表面图像，在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。

2.根据权利要求1所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，还包括：开启背光源，对所述显示面板进行拍摄得到定位图像，所述定位图像用于标定所述显示面板的表面异物位置，其中，在拍摄时所述背光源位于所述显示面板远离所述取像装置一侧；

在所述混合瑕疵图像中滤去异物区识别所述显示面板的内部瑕疵，进一步包括：根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述定位图像，在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。

3.根据权利要求2所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，

所述定位图像包括第一表面定位图像，在对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像之后，开启背光源，对所述显示面板进行拍摄得到所述第一表面定位图像。

4.根据权利要求3所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，

根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述定位图像，在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵，包括：

根据所述第一表面定位图像识别出所述显示面板的显示区，在所述第一表面图像中确定所述显示区的位置并建立第一坐标系，确定所述第一表面的异物在所述第一坐标系中的位置坐标。

5.根据权利要求4所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，

所述定位图像还包括第二表面定位图像，对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，将所述混合瑕疵图像复用为所述第二表面定位图像；

根据所述第二表面定位图像识别所述显示面板的显示区，在所述第二表面图像中确定所述显示区的位置并建立第二坐标系，确定所述第二表面的异物在所述第二坐标系中的位置坐标。

6.根据权利要求5所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，

根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述定位图像，在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵，包括：

根据所述第一表面图像和所述第二表面图像的对应关系，将所述第一表面的异物在所述第一坐标系中的位置坐标换算成在所述第二坐标系中的位置坐标，得到所述第一表面的异物在所述第二坐标系中的等效位置坐标；

根据所述第二表面的异物在所述第二坐标系中的位置坐标和所述第一表面的异物在所述第二坐标系中的等效位置坐标，在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。

7.根据权利要求1所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，

对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像之前，包括：将所述显示面板置于检测平台上，取像装置位于所述第一表面远离所述第二表面一侧；

对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像，包括：开启侧面光源，取像装置拍摄所述第一表面得到第一表面图像，其中，所述侧面光源位于所述检测平台靠近所述取像装置一侧，且位于所述检测平台的周边侧。

8.根据权利要求7所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，

对所述第二表面进行拍摄得到第二表面图像之前，还包括：对所述显示面板进行翻转后将所述显示面板置于检测平台上，取像装置位于所述第二表面远离所述第一表面一侧；

对所述第二表面进行拍摄得到第二表面图像，包括：开启所述侧面光源，取像装置拍摄所述第二表面得到第二表面图像。

9.根据权利要求8所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，

对所述显示面板进行翻转后，在将所述显示面板置于检测平台上之前，还包括：

对背光源的表面进行拍摄得到背光表面图像，所述背光表面图像用于计算出所述背光源表面的异物；

在所述混合瑕疵图像中滤去异物区识别所述显示面板的内部瑕疵，进一步包括：根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述背光表面图像，在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物、所述第二表面的异物和所述背光光源表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。

10.根据权利要求1所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，

对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像包括：同时开启背光源和图像发生器，对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像。

11.根据权利要求1所述的显示面板的光学检测方法，其特征在于，

对所述第一表面进行拍摄得到第一表面图像，还包括：取像装置固定在第一位置对所述第一表面进行拍摄得到所述第一表面图像；

对所述第二表面进行拍摄得到第二表面图像，还包括：取像装置固定在所述第一位置对所述第二表面进行拍摄得到所述第二表面图像；

对所述显示面板进行拍摄得到混合瑕疵图像，还包括：取像装置固定在所述第一位置对所述显示面板进行拍摄得到所述混合瑕疵图像。

12.一种设备，其特征在于，包括：检测平台、取像装置、背光源、侧面光源、图像发生器和处理装置；

所述检测平台，设置于所述取像装置和所述背光源之间，所述检测平台用于放置待检测的显示面板；

所述图像发生器与所述显示面板电连接，用于控制所述显示面板的显示；

所述取像装置，用于拍摄图像，所述显示面板包括相对设置的第一表面和第二表面，所述取像装置用于拍摄第一表面图像，在拍摄所述第一表面图像时所述取像装置位于所述第一表面远离所述第二表面一侧，所述取像装置还用于拍摄第二表面图像，在拍摄所述第二表面图像时所述取像装置位于所述第二表面远离所述第一表面一侧，所述取像装置还用于拍摄混合瑕疵图像，所述混合瑕疵图像为对所述显示面板进行拍摄得到的图像，所述混合瑕疵图像的瑕疵包括表面异物、内部瑕疵；

所述侧面光源，设置于所述检测平台靠近所述取像装置一侧，且位于所述检测平台的周边侧；

所述处理装置与所述取像装置电连接，用于对拍摄的所述图像进行分析处理，包括根据所述第一表面图像和所述第二表面图像，在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物和所述第二表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。

13.根据权利要求12所述的设备，其特征在于，

在拍摄所述第一表面图像和拍摄所述第二表面图像时，所述侧面光源开启，所述图像发生器关闭；

在拍摄所述混合瑕疵图像时，所述背光源和所述图像发生器均开启。

14.根据权利要求12所述的设备，其特征在于，

所述取像装置固定在第一位置对所述第一表面进行拍摄得到所述第一表面图像；

所述取像装置固定在所述第一位置对所述第二表面进行拍摄得到所述第二表面图像；

所述取像装置固定在所述第一位置对所述显示面板进行拍摄得到所述混合瑕疵图像。

15.根据权利要求12所述的设备，其特征在于，

所述取像装置还用于对所述背光源的表面进行拍摄得到背光表面图像；在拍摄完所述第一表面图像后，对所述显示面板进行翻转，用于拍摄所述第二表面图像，其中，在对所述显示面板进行翻转后，在将所述显示面板置于检测平台上之前拍摄所述背光表面图像，此时所述显示面板与所述背光源不重叠；

所述处理装置还用于根据所述第一表面图像、所述第二表面图像和所述背光表面图像，在所述混合瑕疵图像中滤去所述第一表面的异物、所述第二表面的异物和所述背光源表面的异物识别所述显示面板的内部瑕疵。