CN115713491A - 液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备，涉及液晶显示面板检测技术领域，其中，该方法包括：获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个目标层包括液晶显示面板的上表面层和多个结构层；对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各目标层对应的缺陷区域；通过能量梯度衡量各目标层的缺陷区域的显著度，然后将确定的显著度中显著度最大的对应的目标层确定为缺陷所在的层。本申请提供的技术方案可以提高液晶显示面板缺陷检测的准确性。

Description

液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备

技术领域

本申请涉及液晶显示面板缺陷检测技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及设备。

背景技术

得益于半导体技术、液晶材料技术和主动发光技术的完美结合，液晶显示器已迅速成为当前显示市场的主流，而液晶显示面板的质量关系到液晶显示器整体性能的高低。

液晶显示面板在生产过程中，可能会存在一些缺陷，比如，面板内部结构层的结构缺陷，在面板贴合过程中由于灰尘等异物进入而产生的贴合异物缺陷，这些面板内部缺陷都会导致次品的产生。为了确保产品质量，需要对液晶显示面板进行缺陷检测。

除了液晶显示面板内部缺陷外，面板表面可能会附着灰尘、脏污等，这种附着物并不会影响面板的品质，但附着物的存在很容易被现有的检测方法判定为面板的内部缺陷，降低缺陷检测结果的准确性。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备，用于提高面板缺陷检测结果的准确度。

为了实现上述目的，第一方面，本申请实施例提供液晶显示面板缺陷检测方法，包括：

获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个目标层包括液晶显示面板的上表面层和多个结构层；

对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各目标层对应的缺陷区域；

通过能量梯度衡量各目标层的缺陷区域的显著度，然后将确定的显著度中显著度最大的对应的目标层确定为缺陷所在的层。

本实施例提供的液晶显示面板缺陷检测方法，在进行面板缺陷检测时，电子设备可以获取相机拍摄的面板上表面层和内部结构层的图像，从图像中提取缺陷的区域，并判定缺陷所在的层，这样就可以区分缺陷是位于面板表面还是面板内部，从而提高缺陷检测的准确性，而且还可以更准确地定位出缺陷所在的层。

在第一方面的一种可能的实施方式中，获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个目标层包括液晶显示面板的上表面层和多个结构层，包括：

获取相机在第一成像位置针对液晶显示面板的上表面层拍摄的图像，在第一成像位置，相机的聚焦点位于上表面层，且拍摄的图像质量满足目标要求；

根据各目标层中相邻层之间的物理距离，控制相机依次朝各结构层移动，获取相机在聚焦点移动至每个结构层时拍摄的图像。

通过上述实施方式，不仅可以获取液晶显示面板多个目标层的图像，还可以提高相机拍摄图像的成像效果，为后续图像处理提供符合目标要求的图像，从而提高了缺陷检测的效率和检测结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实施方式中，第一成像位置是根据预先确定的相机与液晶显示面板的上表面层的最佳成像距离确定的。

通过上述实施方式，可以提高获取图像的效率和图像的成像效果，降低了后续缺陷识别和提取的难度，从而可以提高检测结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实现方式中，相机与液晶显示面板之间的相对距离可以是由距离传感器测量确定的。

通过上述实施过程，可以准确获取相机与液晶显示面板之间的距离，减小检测过程中的距离误差，从而提高检测结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实施方式中，确定最佳成像距离的方法可以包括：

通过使相机按照预设距离在液晶显示面板上方进行移动，在距离面板不同距离处对面板进行拍摄，获取多张面板上表面层的图像；

在采集的多张上表面层的图像中确定成像效果最佳的图像，获取成像效果最佳的图像相对应的相机位置，记录相机相对于面板上表面的距离，并将该距离确定为最佳成像距离。

通过上述实施过程，可以提高拍摄的成像效果，从而可以提高检测结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实施方式中，对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各目标层对应的缺陷区域，包括：

对于每个目标层对应的图像，对图像进行图像增强，得到增强图像；

对增强图像进行缺陷区域提取，得到第一缺陷区域；

滤除第一缺陷区域中的干扰区域，得到目标层对应的缺陷区域。

上述实施方式中，通过在判断缺陷所在的目标层前，先进行图像增强，可以增强图像中的缺陷信息，方便进行后面的获取第一缺陷区域，滤除缺陷区域中的干扰区域，可以更准确的得到缺陷的主体，从而提高检测结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实施方式中，根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层，包括：

对于提取出缺陷区域的每个目标层，确定所述目标层对应的缺陷区域的能量梯度与所述目标层对应的图像的能量梯度的比值；其中，每个目标层对应的所述比值用于指示所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度；

将确定的比值中最大比值对应的目标层确定为缺陷所在的层。

通过上述实施方式，可以方便准确地确定出缺陷所在的层。

在第一方面的一种可能的实施方式中，该方法还包括：若确定缺陷位于液晶层，则根据液晶层的图像，确定缺陷是否为灯珠缺失；

若确定缺陷位于所述液晶层之外的其他结构层，则确定所述缺陷的大小。

通过上述实施方式，可以检测出液晶层缺陷的原因和缺陷的大小，利于工作人员进行后续操作，有效提升面板质量。

在第一方面的一种可能的实施方式中，该方法还包括：

对所述液晶层的图像进行通道分离，得到多幅单通道图像；

对于每幅单通道图像进行缺陷区域提取，得到每幅单通道图像对应的缺陷区域；

根据各幅单通道图像对应的缺陷区域的面积，确定所述缺陷是否为灯珠缺失。

通过上述实施方式，可以更准确地检测出液晶层的具体缺陷。

第二方面，本申请实施例提供一种液晶显示面板缺陷检测装置，该装置包括：控制模块、获取模块、提取模块和确定模块，其中：

控制模块，用于控制相机按照各结构层中相邻层之间的物理距离进行运动，使相机的聚焦点依次位于上表面层和每个结构层，并拍摄上表面层和各结构层的图像；

获取模块，用于获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个所述目标层包括所述液晶显示面板的上表面层和多个结构层；

提取模块，用于对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各所述目标层对应的缺陷区域；

确定模块，用于根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层。

在第二方面的一种可能的实施方式中，所述控制模块具体用于：

控制相机按照预定距离进行运动，使相机的聚焦点位于上表面层，拍摄上表面层的图像，拍摄上表面层的图像后，控制相机按照各结构层中相邻层之间的物理距离依次朝结构层移动，并拍摄相机在聚焦点移动至每个结构层时的图像。

在第二方面的一种可能的实施方式中，所述获取模块具体用于：

获取相机的聚焦点位于上表面层，在第一成像位置针对液晶显示面板的上表面层拍摄的图像和相机的聚焦点移动至每个结构层时拍摄的图像。

在第二方面的一种可能的实施方式中，第一成像位置是根据预先确定的所述相机与液晶显示面板的上表面层的最佳成像距离确定的。

在第二方面的一种可能的实施方式中，所述提取模块具体用于：

对于每个目标层对应的图像，对图像进行图像增强，得到增强图像；

对增强图像进行缺陷区域提取，得到第一缺陷区域；

滤除第一缺陷区域中的干扰区域，得到目标层对应的缺陷区域。

在第二方面的一种可能的实施方式中，所述确定模块具体用于：

对于提取出缺陷区域的每个目标层，确定所述目标层对应的缺陷区域的能量梯度与所述目标层对应的图像的能量梯度的比值；其中，每个目标层对应的所述比值用于指示所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度；

将确定的比值中最大比值对应的目标层确定为缺陷所在的层。

在第二方面的一种可能的实施方式中，所述确定模块还用于：

若确定所述缺陷位于液晶层，则根据所述液晶层的图像，确定所述缺陷是否为灯珠缺失；

若确定所述缺陷位于所述液晶层之外的其他结构层，则确定所述缺陷的大小。

在第二方面的一种可能的实施方式中，所述确定模块还用于：

若缺陷为液晶层缺陷，对所述液晶层的图像进行通道分离，得到多幅单通道图像；

对于每幅单通道图像进行缺陷区域提取，得到每幅单通道图像对应的缺陷区域；

根据各幅单通道图像对应的缺陷区域的面积，确定所述缺陷是否为灯珠缺失。

第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括：存储器和处理器，存储器用于存储计算机程序；处理器用于在调用计算机程序时执行上述第一方面或第一方面的任一实施方式所述的方法。

第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面或第一方面的任一实施方式所述的方法。

可以理解的是，上述第二方面至第四方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。

本申请实施例提供的技术方案，在进行缺陷检测时，获取相机对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，然后对图像进行缺陷提取，并判定缺陷所在的层，这样就可以区分缺陷是位于面板表面还是面板内部，从而不仅提高缺陷检测的准确性，而且还可以更准确地定位出缺陷所在的层。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种液晶显示面板缺陷检测的应用场景示意图；

图2为本申请实施例提供的一种液晶显示面板缺陷检测方法的流程示意图；

图3为本申请实施例提供的缺陷区域提取过程的流程示意图；

图4-图6为本申请实施例提供的一些缺陷检测结果示意图；

图7为本申请实施例提供的液晶显示面板缺陷检测装置的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合本申请实施例中的附图对本申请实施例进行描述。本申请实施例的实施方式部分使用的术语仅用于对本申请的具体实施例进行解释，而非旨在限定本申请。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。

图1为本申请实施例提供的一种液晶显示面板缺陷检测的应用场景示意图，如图1所示，该应用场景中涉及的设备可以包括：电子设备100、电机110、相机120和液晶显示面板130。

本实施例中，电子设备100可以是台式电脑等非便携式设备，也可以是掌上电脑、智能手机和笔记本电脑等便携式设备。电子设备100可以与电机110、相机120建立通信连接，进行数据交互，建立的通信连接可以是有线通信，也可以是无线通信，本申请实施例对此不做特别限定。

电机110可以是步进电机，也可以是伺服电机、直流电机等，本申请后续以步进电机为例进行示例性说明。

相机120可以将拍摄的图像存储在自身的存储器中，也可以将拍摄的图像通过与电子设备100建立的通信连接实时发送给电子设备100。相机可正对着屏幕拍摄，也可以与屏幕倾斜一定角度拍摄，本申请实施例以正对液晶显示面板拍摄进行示例性说明。相机120与电机110连接在一起，相机120的运动由电机110带动。本申请对相机120与电机110的连接方式不做特别限定。

液晶显示面板130为待检测液晶显示面板，在检测时，液晶显示面板130处于点亮状态，相机120可以正对液晶显示面板130的上表面层131进行拍摄，然后在电机110的驱动下朝向液晶显示面板130移动，以拍摄液晶显示面板130内部各层对应的图像。

具体的，液晶显示面板130自上而下可以包括：玻璃层132、光学胶层133、液晶层134和薄膜晶体管层135，上表面层131为液晶显示面板的上表面，也即玻璃层132的上表面。缺陷区域136可能存在于液晶显示面板130的任一结构层或上表面层。

可以理解的是，液晶显示面板的结构也可以包含其他层，本实施例以玻璃层、光学胶层、液晶层和薄膜晶体管层四层物理结构为例进行示例性说明。

电子设备100可以根据相机120拍摄的各层的图像，确定缺陷所在层。

可以理解的是，相机120拍摄到图像后，可以存储下来，后续将图像导入电子设备100；也可以在拍摄到图像后实时发送给电子设备；电机110可以由电子设备100控制，也可以通过其他设备控制。为了便于说明，本申请实施例中以电子设备100通过电机110驱动相机120移动，并实时获取相机120拍摄的图像为例进行示例性说明。

下面对电子设备100基于相机120拍摄的图像进行缺陷检测的过程进行详细说明。

图2为本申请实施例提供的液晶显示面板缺陷检测方法的流程示意图，如图2所示，该方法可以包括如下步骤：

S110、获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像。

其中，多个目标层可以包括液晶显示面板的上表面层和多个结构层，该多个结构层可以包括玻璃层、光学胶层、液晶层和薄膜晶体管层中的全部或部分结构层，下面以多个结构层包括玻璃层、光学胶层、液晶层和薄膜晶体管层中的全部结构层为例进行示例性说明。

相机在拍摄图像时，可以先在第一成像位置针对液晶显示面板的上表面层拍摄图像，在该第一成像位置，相机的聚焦点位于上表面层，且拍摄的图像质量满足目标要求，比如，图像清晰度满足预设的清晰度要求。

该第一成像位置可以是针对当前待测的液晶显示面板确定的最佳成像位置；也可以是根据预先确定的液晶显示面板的上表面层的最佳成像距离确定的，其中，确定最佳成像距离所对应的液晶显示面板可以是当前待测的液晶显示面板，也可以是其他液晶显示面板。

具体地，最佳成像位置和最佳成像距离可以采用如下方式确定：

先控制相机按照预设距离在液晶显示面板上方进行移动，在距离面板不同距离处对面板进行拍摄，获取多张面板上表面层的图像；然后，在采集的多张上表面层的图像中确定图像质量最佳的图像，将图像质量最佳的图像相对应的相机位置确定为该液晶显示面板的最佳成像位置，将图像质量最佳的图像相对应的相机与面板之间的距离，确定为液晶显示面板的最佳成像距离。

在采集到上表面层的图像后，可以根据各目标层中相邻层之间的物理距离，控制相机依次朝各结构层移动，获取相机在聚焦点移动至每个结构层时拍摄的图像。

电子设备可以通过向电机发送脉冲来驱动相机移动。例如，电子设备控制相机在第一成像位置拍摄图像后，可以电机走位大约790个脉冲，驱动相机朝向液晶显示面板移动，使相机的聚焦点位于玻璃层，拍摄玻璃层的图像；然后，电子设备可以电机走位大约210个脉冲，驱动相机朝向液晶显示面板移动，使相机的聚焦点位于光学胶层，拍摄光学胶层的图像；之后，电子设备可以电机走位大约460个脉冲，驱动相机朝向液晶显示面板移动，使相机的聚焦点位于液晶层，拍摄液晶层的图像；最后，电子设备可以电机走位大约480个脉冲，驱动相机朝向液晶显示面板移动，使相机的聚焦点位于薄膜晶体管层，拍摄薄膜晶体管层的图像。

S120、对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各目标层对应的缺陷区域。

缺陷位置的图像与周围区域的图像会存在差别，在获取到各目标层对应的图像后，可以采用差分法等方法对各图像进行缺陷区域提取。

为了提高提取结果的准确性，在进行缺陷区域提取前，可以先对获取的图像进行预处理。图3为本申请实施例提供的缺陷区域提取过程的流程示意图，对于每个目标层对应的图像，可以采用该图3所示的方法进行缺陷区域提取，如图3所示，该过程可以包括如下步骤：

S121、对目标层对应的图像进行图像增强，得到增强图像。

具体地，在进行图像增强时，可以先对该目标层对应的图像进行通道分离，得到多个单通道图像，其中，多个单通道图像可以包括：R通道图像、G通道图像和B通道图像。然后，可以将各个单通道图像相加，得到增强图像。

可以理解的是，也可以采用其他图像增强算法进行图像增强，本实施例对此不做特别限定。

S122、对增强图像进行缺陷区域提取，得到第一缺陷区域。

在得到增强图像后，可以对增强图像进行二值化处理或背景差分处理，以提取缺陷区域。提取出的第一缺陷区域可能是一个，也可能是0个或多个。当未提取出第一缺陷区域时，则可以不执行后续步骤S123。

S123、滤除第一缺陷区域中的干扰区域，得到该目标层对应的缺陷区域。

在提取出第一缺陷区域后，可以去除第一缺陷区域中的干扰区域，以提高提取结果的准确性。

具体地，对于各目标层，可以采用相同的算法，也可以针对各目标层的特点采用不同的算法去除干扰区域。

对于上表面层，可以对其第一缺陷区域采用形态学闭运算处理，获取相对完整的区域后，再通过面积筛选去除干扰区域，得到该层对应的缺陷区域。

对于玻璃层，可以利用形态学顶帽运算去除小斑点干扰后，再通过面积筛选去除干扰区域，得到该层对应的缺陷区域。

对于光学胶层，可以通过面积筛选去除干扰区域，得到该层对应的缺陷区域。

对于液晶层和薄膜晶体管层，可以通过边缘模糊处理去除边缘干扰后，再根据缺陷面积和距离进行聚类得到缺陷区域。

S130、根据各目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层。

缺陷在图上越明显，其缺陷区域的能量梯度值越大，因此，在获取到各目标层的缺陷区域之后，可以通过能量梯度衡量各目标层的缺陷区域的显著度，进而确定缺陷所在层。

具体地，对于提取出缺陷区域的每个目标层，可以确定该目标层对应的缺陷区域的能量梯度与该目标层对应的图像的能量梯度的比值，然后根据各目标层对应的比值来确定缺陷所在的层，其中，可以采用能量梯度函数(Energy of Gradient，EOG)来计算每个目标层对应的缺陷区域的能量梯度与该目标层对应的图像的能量梯度。能量梯度函数FEn可以采用如下公式表示：

其中，f(x,y)为图像在(x，y)处的灰度值。

通过该函数计算各目标层对应的比值后，可以将比值最大的目标层确定为缺陷所在的目标层。

可以理解的是，也可以采用其他参数，例如平均梯度等参数，衡量缺陷区域的显著度，本实施例对此不做特别限定。

下面示例性地列举几个具体的实例，说明本方案的缺陷检测结果。

实例1：参见图4，图4为本申请实施例提供的一种缺陷检测结果示意图，其中，图4中的(a)～(e)依次为液晶显示面板的上表面层、玻璃层、光学胶层、液晶层和薄膜晶体管层的缺陷提取结果示意图。

图4中的(a)所示的上表面层中，缺陷区域的梯度能量值为15.398854，图像的梯度能量值为15.975778，归一化后的比值为0.963888。

图4中的(b)所示的玻璃层中，缺陷区域的梯度能量值为15.252491，图像的梯度能量值为15.330215，归一化后的比值为0.994930。

图4中的(c)所示的光学胶层中，缺陷区域的梯度能量值为31.817099，图像的梯度能量值为15.840207，归一化后的比值为2.008629。

图4中的(d)所示的液晶层中，缺陷区域的梯度能量值为48.829288，图像的梯度能量值为57.247192，归一化后的比值为0.852955。

图4中的(e)所示的薄膜晶体管层中，缺陷区域的梯度能量值为25.794594，图像的梯度能量值为30.268812，归一化后的比值为0.852184。

上述比值中，光学胶层对应的比值最大，因而，可以确定缺陷位于光学胶层，为贴合异物缺陷。图4中的(f)示出了缺陷的最小外接矩形，根据该最小外接矩形可以计算缺陷的大小，其中，用于表示缺陷大小的数据可以包括：

瑕疵尺寸长(像素)：483.069Pixel，瑕疵尺寸长(mm)：0.42027mm；

瑕疵尺寸宽(像素)：341.628Pixel，瑕疵尺寸宽(mm)：0.297217mm；

点瑕疵点径(像素)：412.349Pixel，瑕疵点径(mm)：0.358743mm；

实例2：参见图5，图5为本申请实施例提供的另一种缺陷检测结果示意图，其中，图5中(a)～(d)依次为液晶显示面板的上表面层、玻璃层、光学胶层和薄膜晶体管层的缺陷提取结果示意图。其中，液晶层没有检测到缺陷区域。

图5中的(a)所示的上表面层中，缺陷区域的梯度能量值为19.402315，图像的梯度能量值为17.166140，归一化后的比值为1.130267。

图5中的(b)所示的液晶层中，缺陷区域的梯度能量值为17.600941，图像的梯度能量值为16.633671，归一化后的比值为1.058151。

图5中的(c)所示的光学胶层中，缺陷区域的梯度能量值为18.727070，图像的梯度能量值为17.884512，归一化后的比值为1.047111。

图5中的(d)所示的薄膜晶体管层中，缺陷区域的梯度能量值为26.499266，图像的梯度能量值为26.171886，归一化后的比值为1.012509。

上述比值中，上表面层对应的比值最大，因而，可以确定缺陷位于上表面层，为附着物造成的非真实缺陷。

实例3：参见图6，图6为本申请实施例提供的又一种缺陷检测结果示意图，其中，图6中的(a)～(e)依次为液晶显示面板的上表面层、玻璃层、光学胶层、液晶层和薄膜晶体管层的缺陷提取结果示意图。

图6中的(a)所示的上表面层中，缺陷区域的梯度能量值为16.156775，图像的梯度能量值为16.303486，归一化后的比值为0.991001。

图6中的(b)所示的玻璃层中，缺陷区域的梯度能量值为15.622214，图像的梯度能量值为15.718700，归一化后的比值为0.993862。

图6中的(c)所示的光学胶层中，缺陷区域的梯度能量值为16.178598，图像的梯度能量值为17.244867，归一化后的比值为0.938169。

图6中的(d)所示的液晶层中，缺陷区域的梯度能量值为86.691757，图像的梯度能量值为80.713120，归一化后的比值为1.074072。

图6中的(e)所示的薄膜晶体管层中，缺陷区域的梯度能量值为25.201572，图像的梯度能量值为24.229424，归一化后的比值为1.040123。

上述比值中，液晶层对应的比值最大，因而，可以确定缺陷位于液晶层。图6中的(f)示出了缺陷的最小外接矩形。根据上述方法实施例的实现原理，确定液晶层缺陷为灯珠缺失，缺少绿色灯珠1个，红色灯珠0个，蓝色灯珠0个。

本领域技术人员可以理解，以上实施例是示例性的，并非用于限定本申请。在可能的情况下，以上步骤中的一个或者几个步骤的执行顺序可以进行调整，也可以进行选择性组合，得到一个或多个其他实施例。本领域技术人员可以根据需要从上述步骤中任意进行选择组合，凡是未脱离本申请方案实质的，都落入本申请的保护范围。

本实施例提供的液晶面板缺陷检测方法，在进行面板缺陷检测时，电子设备可以获取相机拍摄的面板上表面层和内部结构层的图像，从图像内中提取缺陷的区域，并判定缺陷所在的层，这样就可以区分缺陷是位于面板表面还是面板内部，实现对液晶面板的分层检测，从而不仅有效的提高缺陷检测的准确性，而且还可以更准确地定位出缺陷所在的层。

基于同一发明构思，作为对上述方法的实现，本申请实施例提供了一种液晶显示面板缺陷检测装置，该装置实施例与前述方法实施例对应，为便于阅读，本装置实施例不再对前述方法实施例中的细节内容进行逐一赘述，但应当明确，本实施例中的装置能够对应实现前述方法实施例中的全部内容。

图7为本申请实施例提供的一种缺陷检测装置的结构示意图，如图7所示，本实施例提供的装置可以包括：控制模块110、获取模块120、提取模块130和确定模块140。

控制模块110用于控制相机按照预定距离进行运动，使相机的聚焦点位于上表面层，拍摄上表面层的图像，控制相机按照各结构层中相邻层之间的物理距离依次朝结构层移动，并拍摄相机在聚焦点移动至每个结构层时的图像。

获取模块120用于获取相机的聚焦点位于上表面层，在第一成像位置针对液晶显示面板的上表面层拍摄的图像，并获取相机在聚焦点移动至每个结构层时拍摄的图像。

提取模块130用于对于每个目标层对应的图像，对图像进行图像增强，得到增强图像，对增强图像进行缺陷区域提取，得到第一缺陷区域后，滤除第一缺陷区域中的干扰区域，得到目标层对应的缺陷区域。

确定模块140用于对于提取出缺陷区域的每个目标层，通过能量梯度衡量各目标层的缺陷区域的显著度，然后将确定的显著度中显著度最大的对应的目标层确定为缺陷所在的层。

作为本申请实施例一种可选的实施方式，所述控制模块110具体用于：

控制相机按照预定距离进行运动，使相机的聚焦点位于上表面层，拍摄上表面层的图像，拍摄上表面层的图像后，控制相机按照各结构层中相邻层之间的物理距离依次朝结构层移动，并拍摄相机在聚焦点移动至每个结构层时的图像。

作为本申请实施例一种可选的实施方式，所述获取模块120具体用于：

获取相机的聚焦点位于上表面层，在第一成像位置针对液晶显示面板的上表面层拍摄的图像和相机的聚焦点移动至每个结构层时拍摄的图像。

作为本申请实施例一种可选的实施方式，第一成像位置是根据预先确定的所述相机与液晶显示面板的上表面层的最佳成像距离确定的。

作为本申请实施例一种可选的实施方式，所述提取模块130具体用于：

对于每个目标层对应的图像，对图像进行图像增强，得到增强图像；

对增强图像进行缺陷区域提取，得到第一缺陷区域；

滤除第一缺陷区域中的干扰区域，得到目标层对应的缺陷区域。

作为本申请实施例一种可选的实施方式，所述确定模块140具体用于：

对于提取出缺陷区域的每个目标层，确定所述目标层对应的缺陷区域的能量梯度与所述目标层对应的图像的能量梯度的比值；其中，每个目标层对应的所述比值用于指示所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度；

将确定的比值中最大比值对应的目标层确定为缺陷所在的层。

作为本申请实施例一种可选的实施方式，所述确定模块140还用于：

若确定所述缺陷位于液晶层，则根据所述液晶层的图像，确定所述缺陷是否为灯珠缺失；

若确定所述缺陷位于所述液晶层之外的其他结构层，则确定所述缺陷的大小。

作为本申请实施例一种可选的实施方式，所述确定模块140还用于：

若缺陷为液晶层缺陷，对所述液晶层的图像进行通道分离，得到多幅单通道图像；

对于每幅单通道图像进行缺陷区域提取，得到每幅单通道图像对应的缺陷区域；

根据各幅单通道图像对应的缺陷区域的面积，确定所述缺陷是否为灯珠缺失。

本实施例提供的缺陷检测装置可以执行上述方法实施例，其实现原理与技术效果类似，此处不再赘述。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述

基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种电子设备。图8为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图，如图8所示，本实施例提供的电子设备包括：存储器210和处理器220，存储器210用于存储计算机程序；处理器220用于在调用计算机程序时执行上述方法实施例所述的方法。

本实施例提供的电子设备可以执行上述方法实施例，其实现原理与技术效果类似，此处不再赘述。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例所述的方法。

在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者通过所述计算机可读存储介质进行传输。所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线)或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质(例如软盘、硬盘或磁带)、光介质(例如DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘(Solid State Disk，SSD))等。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，该流程可以由计算机程序来指令相关的硬件完成，该程序可存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法实施例的流程。而前述的存储介质可以包括：ROM或随机存储记忆体RAM、磁碟或者光盘等各种可存储程序代码的介质。

在本申请中出现的对步骤进行的命名或者编号，并不意味着必须按照命名或者编号所指示的时间/逻辑先后顺序执行方法流程中的步骤，已经命名或者编号的流程步骤可以根据要实现的技术目的变更执行次序，只要能达到相同或者相类似的技术效果即可。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。

应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

在本申请的描述中，除非另有说明，“/”表示前后关联的对象是一种“或”的关系，例如，A/B可以表示A或B；本申请中的“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。

并且，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或多于两个。“以下至少一项”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项或复数项的任意组合。例如，a，b，或c中的至少一项，可以表示：a，b，c，a-b，a-c，b-c，或a-b-c，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。

另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。

在本申请说明书中描述的参在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种液晶显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个所述目标层包括所述液晶显示面板的上表面层和多个结构层；

对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各所述目标层对应的缺陷区域；

根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，包括：

获取所述相机在第一成像位置针对所述液晶显示面板的上表面层拍摄的图像，在所述第一成像位置，所述相机的聚焦点位于所述上表面层，且拍摄的图像质量满足目标要求；

根据各所述目标层中相邻层之间的物理距离，控制所述相机依次朝各所述结构层移动，获取所述相机在聚焦点移动至每个所述结构层时拍摄的图像。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一成像位置是根据预先确定的所述相机与液晶显示面板的上表面层的最佳成像距离确定的。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各所述目标层对应的缺陷区域，包括：

对于每个目标层对应的图像，对所述图像进行图像增强，得到增强图像；

对增强图像进行缺陷区域提取，得到第一缺陷区域；

滤除所述第一缺陷区域中的干扰区域，得到所述目标层对应的缺陷区域。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层，包括：

对于提取出缺陷区域的每个目标层，确定所述目标层对应的缺陷区域的能量梯度与所述目标层对应的图像的能量梯度的比值；其中，每个目标层对应的所述比值用于指示所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度；

将确定的比值中最大比值对应的目标层确定为缺陷所在的层。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若确定所述缺陷位于液晶层，则根据所述液晶层的图像，确定所述缺陷是否为灯珠缺失；

若确定所述缺陷位于所述液晶层之外的其他结构层，则确定所述缺陷的大小。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述液晶层的图像，确定所述缺陷是否为灯珠缺失，包括：

对所述液晶层的图像进行通道分离，得到多幅单通道图像；

对于每幅单通道图像进行缺陷区域提取，得到每幅单通道图像对应的缺陷区域；

根据各幅单通道图像对应的缺陷区域的面积，确定所述缺陷是否为灯珠缺失。

8.一种液晶显示面板缺陷检测装置，其特征在于，包括：

控制模块，用于控制相机按照各结构层中相邻层之间的物理距离进行运动，使相机的聚焦点依次位于上表面层和每个结构层，并拍摄上表面层和各结构层的图像；

获取模块，用于获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个所述目标层包括所述液晶显示面板的上表面层和多个结构层；

提取模块，用于对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各所述目标层对应的缺陷区域；

确定模块，用于根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器，所述存储器用于存储计算机程序；所述处理器用于在调用所述计算机程序时执行如权利要求1-7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的方法。

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