CN1145066C - 平板显示器或探针块的支撑框架 - Google Patents

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Abstract

一个平板显示器或一个测试探针块的一种矩形支撑框架,包括:一个上横向框板,一个下横向框板,左纵向框板,和右纵向框板,其能相对于下横向框板单独沿横向移动,并能随上横向框板的水平运动而横向移动,上、下横向框板和左、右纵向框板的纵向运动和横向运动增大或缩小了一个由上、下横向框板和左、右纵向框板限定的窗口,平板显示器或探针块支撑在上、下横向框板和左、右纵向框板上,框板面对增大或缩小的窗口,其中探针块受压与布置在平板显示器一个周边部分的电极贴片接触。

Description

平板显示器或探针块的支撑框架
技术领域
本发明涉及一种平板显示器的支撑框架,其中显示器由作为一个检测对象的液晶板表示,或者涉及一种测试探针块的支撑框架,其中探针块受压与布置在平板显示器一个周边部分的电极贴片接触。
背景技术
平板显示器的支撑框架和测试探针块的支撑框架都由一个矩形(rectangular)框架构成。如图6(A)和图6(B)所示,上面支撑着测试探针块8的一个前矩形框架设置在一个后矩形框架的前侧,其上支撑着由一个液晶板表示的一个平板显示器7。后矩形框架可往复移动地设置在前矩形框架上。这样布置是为了使后矩形框架前进时,测试探针块8的测试探针9与布置在平板显示器7周边部分的相应电极贴片10压力接触。当后矩形框架后退时,完成了平板显示器7的移位。
在现有技术中,为每个具有不同尺寸的平板显示器准备一个后和一个前框架,以及将一个测试探针块支撑其上非常普遍。
这实际上是不方便的,因为必须为每个具有不同尺寸的平板显示器准备一个具有适当前、后框架的测试装置。否则,必须根据平板显示器的尺寸单独设计可替换的前、后框架。这必然导致整套装置的成本增加和测试操作的低效率,其中测试操作由要求替换沉重框架的工人完成。
发明内容
因此,本发明的一个普通目的是提供一个平板显示器的支撑框架或一个探针块的支撑框架,其能协调地解决传统装置具有的上述不方便性。
本发明的一个特殊目的是提供一个平板显示器的支撑框架或一个探针块的支撑框架,其能在一个测试装置中恰当地适应不同尺寸的平板显示器。
为了实现上述目的,主要提供了一个平板显示器或一个测试探针块的一种矩形支撑框架,其中平板显示器作为检测的一个对象,该矩形支撑框架包括:一个上横向框板,其能相对于一个右纵向框板单独沿纵向移动,并能随一个左纵向框板的垂直运动而纵向移动;一个下横向框板,其能相对于左纵向框板单独沿纵向移动,并能随右纵向框板的垂直运动而纵向移动,所述的左纵向框板,其能相对于上横向框板单独沿横向移动,并能随下横向框板的水平运动而横向移动,和所述的右纵向框板,其能相对于下横向框板单独沿横向移动,并能随上横向框板的水平运动而横向移动,上、下横向框板和左、右纵向框板的纵向运动和横向运动增大或缩小了一个由上、下横向框板和左、右纵向框板限定的窗口,平板显示器或探针块支撑在上、下横向框板和左、右纵向框板上,框板面对增大或缩小的窗口,其中探针块受压与布置在平板显示器一个周边部分的电极贴片接触。
在一个优选实施例中,上横向框板和右纵向框板相连,因此上横向框板能单独纵向移动,上横向框板和右纵向框板能彼此关联地横向移动,左纵向框板和上横向框板相连,因此左纵向框板能单独横向移动,左纵向框板和上横向框板能彼此关联地纵向移动,下横向框板和左纵向框板相连,因此下横向框板能单独纵向移动,下横向框板和左纵向框板能彼此关联地横向移动,而且右纵向框板和下横向框板相连,因此右纵向框板能单独横向移动,右纵向框板和下横向框板能彼此关联地纵向移动。
根据本发明的另一种方式,还提供了一个平板显示器或一个测试探针块的一种矩形支撑框架,其中平板显示器作为检测的一个对象,该矩形支撑框架包括:一个上横向框板,其能相对于一个左纵向框板单独沿纵向移动,并能随一个右纵向框板的垂直运动而纵向移动;一个下横向框板,其能相对于右纵向框板单独沿纵向移动,并能随左纵向框板的垂直运动而纵向移动,所述的左纵向框板,其能相对于下横向框板单独沿横向移动,并能随上横向框板的水平运动而横向移动,和所述的右纵向框板,其能相对于上横向框板单独沿横向移动,并能随下横向框板的水平运动而横向移动,上、下横向框板和左、右纵向框板的纵向运动和横向运动增大或缩小了一个由上、下横向框板和左、右纵向框板限定的窗口,平板显示器或探针块支撑在上、下横向框板和左、右纵向框板上,这些框板面对增大或缩小的窗口,其中探针块受压与布置在平板显示器一个周边部分的电极贴片接触。
最好是,上横向框板和左纵向框板相连,因此上横向框板能单独纵向移动,上横向框板和左纵向框板能彼此关联地横向移动,右纵向框板和上横向框板相连,因此右纵向框板能单独横向移动,右纵向框板和上横向框板能彼此关联地纵向移动,下横向框板和右纵向框板相连,因此下横向框板能单独纵向移动,下横向框板和右纵向框板能彼此关联地横向移动,而且左纵向框板和下横向框板相连,因此左纵向框板能单独横向移动,左纵向框板和下横向框板能彼此关联地纵向移动。
本发明的一种矩形支撑框架,用于作为检测对象的平板显示器或测试探针块,包括:沿一第一方向延伸并具有内表面和端部的第一框板;沿横切所述第一方向的第二方向延伸的并具有内表面和端部的第二框板;沿与所述第一方向相对的第三方向延伸并具有内表面和端部的第三框板;沿与所述第二方向相对的第四方向延伸并具有内表面和端部的第四框板;其特征在于:(i)所述第一框板的端部可与所述第二框板的内表面接合,当所述第一框板的端部与所述第二框板的内表面接合时,所述第一框板可沿所述第二方向相对于所述第二框板移动、并可在所述第三方向与所述第二框板协调移动;(ii)所述第二框板的端部可与所述第三框板的内表面接合,当所述第二框板的端部与所述第三框板的内表面接合时,所述第二框板可沿所述第三方向相对于所述第三框板移动、并可在所述第四方向与所述第三框板协调移动;(iii)所述第三框板的端部可与所述第四框板的内表面接合,当所述第三框板的端部与所述第四框板的内表面接合时,所述第三框板可沿所述第四方向相对于所述第四框板移动、并可在所述第一方向与所述第四框板协调移动;以及(iv)所述第四框板的端部可与所述第一框板的内表面接合,当所述第四框板的端部与所述第一框板的内表面接合时,所述第四框板可沿所述第一方向相对于所述第一框板移动、并可在所述第二方向与所述第一框板协调移动;并且,当所述第一框板的端部与所述第二框板的内表面接合时,所述第二框板的端部与所述第三框板的内表面接合,所述第三框板的端部与所述第四框板的内表面接合,并且所述第四框板的端部与所述第一框板的内表面接合,由所述第一、二、三、四框板的内表面的组合限定一窗口,该窗口可由如下方式增大或缩小:(a)沿所述第二方向相对于所述第二框板移动所述第一框板以及沿所述第三方向使所述第一框板与所述第二框板协调移动;(b)沿所述第三方向相对于所述第三框板移动所述第二框板以及沿所述第四方向使所述第二框板与所述第三框板协调移动;(c)沿所述第四方向相对于所述第四框板移动所述第三框板以及沿所述第一方向使所述第三框板与所述第四框板协调移动;以及(d)沿所述第一方向相对于所述第一框板移动所述第四框板以及沿所述第二方向使所述第四框板与所述第一框板协调移动;一个第一平板显示器或一第一探针块可支撑在所述第一、二、三、四框板上,该第一探针块要与一电极贴片压力接触,该电极贴片设置在所述第一平板显示器的周边部分。
通过参照附图对本发明进行详细描述,将使本发明的特征和优点对于本领域的技术人员来说更显然。
附图说明
图1(A)是一个前视图,以放大的比例表示根据本发明一实施例的一个平板显示器的支撑框架,同样,图1(B)也是一个前视图,以缩小的比例表示图1(A)的一个平板显示器的支撑框架;
图2(A)是一个前视图,以放大的比例表示根据本发明一实施例的一个探针块的支撑框架,同样,图2(B)也是一个前视图,以缩小的比例表示图2(A)的一个探针块的支撑框架;
图3(A)是一个前视图,以放大的比例表示根据本发明另一实施例的一个平板显示器的支撑框架,同样,图3(B)也是一个前视图,以缩小的比例表示图3(A)的一个平板显示器的支撑框架;
图4(A)是一个前视图,以放大的比例表示根据本发明另一实施例的一个探针块的支撑框架,同样,图4(B)也是一个前视图,以缩小的比例表示图4(A)的一个探针块的支撑框架;
图5是一个平面图,表示探针单元的三个实施例;
图6是一个剖面图,表示一个测试装置,该装置由支撑探针块的一个第一矩形框架和支撑平板显示器的一个第二矩形框架构成,图6(A)表示一个接触前的状态,图6(B)表示一个接触后的状态;
图7是一个放大的断面图,表示框板的一个连接机构。
具体实施方式
现在将参照附图1至7对本发明的实施例进行描述。
<第一实施例>(见图1(A)、1(B)、6和7)
标号1通常表示一个矩形的支撑框架,用于支撑一个平板显示器7,该显示器由一个作为检测对象的液晶板表示。
矩形支撑框架1包括:一个上横向框板2,其能相对于一个右纵向框板5单独沿纵向移动,并能随着一个左纵向框板4的垂直运动而纵向移动;一个下横向框板3,其能相对于左纵向框板4单独沿纵向移动,并能随着右纵向框板5的垂直运动而纵向移动;左纵向框板4,其能相对于上横向框板2单独沿横向移动,并能随着下横向框板3的横向运动而横向移动;和右纵向框板5,框板5能相对于下横向框板3单独沿横向移动,并能随着上横向框板2的横向运动而横向移动。
上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5的纵向运动和横向运动增大或缩小了一个窗口6,该窗口由上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5限定。平板显示器7被支撑在上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5上,框板面对增大或缩小的窗口6。
上横向框板2和右纵向框板5相连,因此上横向框板2能单独纵向移动,上横向框板2和右纵向框板5能彼此关联地横向移动。
同样地,左纵向框板4和上横向框板2相连,因此左纵向框板4能单独横向移动,左纵向框板4和上横向框板2能彼此关联地纵向移动。下横向框板3和左纵向框板4相连,因此下横向框板3能单独纵向移动,下横向框板3和左纵向框板4能彼此关联地横向移动。右纵向框板5和下横向框板3相连,因此右纵向框板5能单独横向移动,右纵向框板5和下横向框板3能彼此关联地纵向移动。
上述连接机构,例如如图7所示。如图7中所示,上横向框板2的一端邻接右纵向框板5的一个内表面。同样地,左纵向框板4的一端邻接上横向框板2的一个内表面。下横向框板3的一端邻接左纵向框板4的一个内表面。右纵向框板5的一端邻接下横向框板3的一个内表面。上述连接机构设置在每个邻接部分。
作为连接机构的一个特例,一个导槽11以这样的一种方式形成在每个上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5的一个内表面中并沿着该内表面,以使其开在内表面上。另一方面,与这个内表面邻接的每个框板2、3、4、5的那端形成一个接头12,该接头键接到导槽11中。接头12可滑动地连接(键接)在导槽11中。
由于上述连接,上横向框板2能相对于右纵向框板5单独沿纵向移动,并能与右纵向框板5一起横向移动。
同样地,左纵向框板4能相对于上横向框板2单独沿横向移动,并能与上横向框板2一起纵向移动。下横向框板3能相对于左纵向框板4单独沿纵向移动,并能与左纵向框板4一起横向移动。右纵向框板5能相对于下横向框板3单独沿横向移动,并能与下横向框板3一起纵向移动。因此,窗口6被增大或缩小。
每个框板2、3、4、5都有布置在其一个外表面上的、基本分布在整个长度上的吸孔13。那些吸孔13连接到一个抽吸装置。通过那些吸孔13,平板显示器7的一个周边部分吸附地支撑在上、下横向框板2、3的那些外表面和左、右纵向框板4、5的那些外表面上,这些框板面对增大或缩小的窗口6。
如图6(A)和图6(B)所示,每个探针块8有许多探针9,其末端与电极贴片10的外表面压力接触。
平板显示器7的支撑框架1和测试探针块8的支撑框架1都由一个矩形的框架构成。其上支撑测试探针块8的前矩形框架设置在后矩形框架的一个前表面侧,后矩形框架上支撑着由一个液晶板表示的平板显示器7。后矩形框架可往复移动地设置在前矩形框架上,因此当后矩形框架前进时,测试探针块8的测试探针9与电极贴片10压力接触,电极贴片10布置在平板显示器7的周边部分,并且当后矩形框架后退时,完成了平板显示器7的移动。
前矩形框架的窗口6增大,平板显示器7从前矩形框架的前面经过增大的窗口6到后矩形框架上的移位完成了。在这种情况中,没有必要可往复移动地设置后矩形框架。
<第二实施例>(见图2(A),2(B),及5至7)
标号1通常表示一个用于支撑一个测试探针块8的矩形支撑框架。
矩形支撑框架1包括:一个上横向框板2,其能相对于一个右纵向框板5单独沿纵向移动,并能随一个左纵向框板4的垂直运动而纵向移动;一个下横向框板3,其能相对于左纵向框板4单独沿纵向移动,并能随右纵向框板5的垂直运动而纵向移动;左纵向框板4,其能相对于上横向框板2单独沿横向移动,并能随下横向框板3的横向/水平运动而横向移动;和右纵向框板5,右纵向框板5能相对于下横向框板3单独沿横向移动,并能随上横向框板2的横向/水平运动而横向移动。
上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5的纵向运动和横向运动增大或缩小了窗口6,其由上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5限定。探针块8支撑在上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5上,其面对增大或缩小的窗口6。
如图6所示,每个探针块8有许多探针9,其末端与电极贴片10的外表面压力接触。
上横向框板2和右纵向框板5相连,因此上横向框板2能单独纵向移动,上横向框板2和右纵向框板5能彼此关联地横向移动。
同样地,左纵向框板4和上横向框板2相连,因此左纵向框板4能单独横向移动,左纵向框板4和上横向框板2能彼此关联地纵向移动。下横向框板3和左纵向框板4相连,因此下横向框板3能单独纵向移动,下横向框板3和左纵向框板4能彼此关联地横向移动。右纵向框板5和下横向框板3相连,因此右纵向框板5能单独横向移动,右纵向框板5和下横向框板3能彼此关联地纵向移动。
上述连接机构,例如如图7所示。如图7中所示,上横向框板2的一端邻接右纵向框板5的一个内表面。同样地,左纵向框板4的一端邻接上横向框板2的一个内表面。下横向框板3的一端邻接左纵向框板4的一个内表面。右纵向框板5的一端邻接下横向框板3的一个内表面。上述连接机构设置在每个邻接部分。
作为连接机构的一个特例,一个导槽11以这样的一种方式形成在每个上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5的一个内表面中并沿着该内表面,以使其开在内表面上。另一方面,与这个内表面邻接的每个框板2、3、4、5的那端形成一个接头12,该接头键接到导槽11中。接头12可滑动地连接(键接)在导槽11中。
由于上述连接,上横向框板2能相对于右纵向框板5单独沿纵向移动,并能与右纵向框板5一起横向移动。
同样地,左纵向框板4能相对于上横向框板2单独沿横向移动,并能与上横向框板2一起纵向移动。下横向框板3能相对于左纵向框板4单独沿纵向移动,并能与左纵向框板4一起横向移动。右纵向框板5能相对于下横向框板3单独沿横向移动,并能与下横向框板3一起纵向移动。因此,窗口6被增大或缩小。
每个框板2、3、4、5的长度相等。那些等长的框板2、3、4、5中的每个在其一个外表面的相对端设置等间隔布置的定位销或孔14。
另一方面,如图5所示,备有探针单元16A、16B、16C,其设有许多可动地连接到基座15上的探针块8,其中基座15的长度相等,并作为探针块8与增大或缩小窗口6的侧边相对应位置处的固定件。
根据增大或缩小的窗口6适当地选择那些探针单元16A、16B、16C,并将其插入框板2、3、4、5的孔14中或/并与定位销配合,以使单元16A、16B、16C整体可动地连接到其上。因此,探针块8通过作为固定件的基座可支撑地连接到框板2、3、4、5上。
如图6(A)和图6(B)所示,平板显示器7的支撑框架1和测试探针块8的支撑框架1都由一个矩形的框架构成。其上支撑测试探针块8的前矩形框架设置在后矩形框架的一个前表面侧,后矩形框架上支撑着由一个液晶板表示的平板显示器7。后矩形框架可往复移动地设置在前矩形框架上,因此当后矩形框架前进时,测试探针块8的测试探针9与电极贴片10压力接触,电极贴片10布置在平板显示器7的周边部分,并且当后矩形框架后退时,完成了平板显示器7的移动。
前矩形框架的窗口6增大,平板显示器7从前矩形框架的前面经过增大的窗口6到后矩形框架上的移位完成了。在这种情况中,没有必要可往复移动地设置后矩形框架。
<第三实施例>(见图3(A),3(B),6和7)
标号1通常表示一个用于支撑一个平板显示器7的矩形支撑框架,显示器7由作为检测对象的一个液晶板表示。
矩形支撑框架1包括:一个上横向框板2,其能相对于一个左纵向框板4单独沿纵向移动,并能随一个右纵向框板5的垂直运动而纵向移动;一个下横向框板3,其能相对于右纵向框板5单独沿纵向移动,并能随左纵向框板4的垂直运动而纵向移动;左纵向框板4,其能相对于下横向框板3单独沿横向移动,并能随上横向框板2的横向/水平运动而横向移动;和右纵向框板5,右纵向框板5能相对于上横向框板2单独沿横向移动,并能随下横向框板3的横向/水平运动而横向移动。
上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5的纵向运动和横向运动增大或缩小了窗口6,窗口6由上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5限定。平板显示器7支撑在上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5上,这些框板面对增大或缩小的窗口6。
上横向框板2和左纵向框板4相连,因此上横向框板2能单独纵向移动,上横向框板2和左纵向框板4能彼此关联地横向移动。
同样地,右纵向框板5和上横向框板2相连,因此右纵向框板5能单独横向移动,右纵向框板5和上横向框板2能彼此关联地纵向移动。下横向框板3和右纵向框板5相连,因此下横向框板3能单独纵向移动,下横向框板3和右纵向框板5能彼此关联地横向移动。左纵向框板4和下横向框板3相连,因此左纵向框板4能单独横向移动,左纵向框板4和下横向框板3能彼此关联地纵向移动。
上述连接机构,例如如图7所示。如图7中所示,上横向框板2的一端邻接右纵向框板5的一个内表面。同样地,左纵向框板4的一端邻接上横向框板2的一个内表面。下横向框板3的一端邻接左纵向框板4的一个内表面。右纵向框板5的一端邻接下横向框板3的一个内表面。上述连接机构设置在每个邻接部分。
作为连接机构的一个特例,一个导槽11以这样的一种方式形成在每个上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5的一个内表面中并沿着该内表面,以使其开在内表面上。另一方面,与这个内表面邻接的每个框板2、3、4、5的那端形成一个接头12,该接头键接到导槽11中。接头12可滑动地连接(键接)在导槽11中。
由于上述连接,上横向框板2能相对于右纵向框板5单独沿纵向移动,并能与右纵向框板5一起横向移动。
同样地,左纵向框板4能相对于上横向框板2单独沿横向移动,并能与上横向框板2一起纵向移动。下横向框板3能相对于左纵向框板4单独沿纵向移动,并能与左纵向框板4一起横向移动。右纵向框板5能相对于下横向框板3单独沿横向移动,并能与下横向框板3一起纵向移动。因此,窗口6被增大或缩小。
每个框板2、3、4、5都有布置在其一个外表面上的、基本分布在整个长度上的吸孔13。那些吸孔13连接到一个抽吸装置。通过那些吸孔13,平板显示器7的一个周边部分吸附地支撑在上、下横向框板2、3的那些外表面和左、右纵向框板4、5的那些外表面上,这些框板面对增大或缩小的窗口6。
如图6(A)和图6(B)所示,每个探针块8有许多探针9,其末端与电极贴片10的外表面压力接触。
平板显示器7的支撑框架1和测试探针块8的支撑框架1都由一个矩形的框架构成。其上支撑测试探针块8的前矩形框架设置在后矩形框架的一个前表面侧,后矩形框架上支撑着由一个液晶板表示的平板显示器7。后矩形框架可往复移动地设置在前矩形框架上,因此当后矩形框架前进时,测试探针块8的测试探针9与电极贴片10压力接触,电极贴片10布置在平板显示器7的周边部分,并且当后矩形框架后退时,完成了平板显示器7的移动。
前矩形框架的窗口6增大,平板显示器7从前矩形框架的前面经过增大的窗口6到后矩形框架上的移位完成了。在这种情况中,没有必要可往复移动地设置后矩形框架。
<第四实施例>(见图4(A),4(B),及5至7)
标号1通常表示一个用于支撑一个测试探针块8的矩形支撑框架。
矩形支撑框架1包括:一个上横向框板2,其能相对于一个左纵向框板4单独沿纵向移动,并能随一个右纵向框板5的垂直运动而纵向移动;一个下横向框板3,其能相对于右纵向框板5单独沿纵向移动,并能随左纵向框板4的垂直运动而纵向移动;左纵向框板4,其能相对于下横向框板3单独沿横向移动,并能随上横向框板2的水平运动而横向移动;和右纵向框板5,右纵向框板5能相对于上横向框板2单独沿横向移动,并能随下横向框板3的横向(水平)运动而横向移动。
上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5的纵向运动和横向运动增大或缩小了窗口6,所述窗口6由上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5限定。探针块8支撑在上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5上,框板面对增大或缩小的窗口6,其中探针块8与布置在平板显示器7的一个周边部分上的电极贴片10压力接触。
如图6所示,每个探针块8有许多探针9,其末端与电极贴片10的外表面压力接触
上横向框板2和左纵向框板4相连,因此上横向框板2能单独纵向移动,上横向框板2和左纵向框板4能彼此关联地横向移动。
同样地,右纵向框板5和上横向框板2相连,因此右纵向框板5能单独横向移动,右纵向框板5和上横向框板2能彼此关联地纵向移动。下横向框板3和右纵向框板5相连,因此下横向框板3能单独纵向移动,下横向框板3和右纵向框板5能彼此关联地横向移动。左纵向框板4和下横向框板3相连,因此左纵向框板4能单独横向移动,左纵向框板4和下横向框板3能彼此关联地纵向移动。
上述连接机构,例如如图7所示。如图7中所示,上横向框板2的一端邻接右纵向框板5的一个内表面。同样地,左纵向框板4的一端邻接上横向框板2的一个内表面。下横向框板3的一端邻接左纵向框板4的一个内表面。右纵向框板5的一端邻接下横向框板3的一个内表面。上述连接机构设置在每个邻接部分。
作为连接机构的一个特例,一个导槽11以这样的一种方式形成在每个上、下横向框板2、3和左、右纵向框板4、5的一个内表面中并沿着该内表面,以使其开在内表面上。另一方面,与这个内表面邻接的每个框板2、3、4、5的那端形成一个接头12,该接头键接到导槽11中。接头12可滑动地连接(键接)在导槽11中。
由于上述连接,上横向框板2能相对于右纵向框板5单独沿纵向移动,并能与右纵向框板5一起横向移动。
同样地,左纵向框板4能相对于上横向框板2单独沿横向移动,并能与上横向框板2一起纵向移动。下横向框板3能相对于左纵向框板4单独沿纵向移动,并能与左纵向框板4一起横向移动。右纵向框板5能相对于下横向框板3单独沿横向移动,并能与下横向框板3一起纵向移动。因此,窗口6被增大或缩小。
每个框板2、3、4、5的长度相等。那些等长的框板2、3、4、5中的每个在其一个外表面的相对端设置等间隔布置的定位销或孔14。
另一方面,如图5所示,备有探针单元16A、16B、16C,其设有许多可动地连接到基座15上的探针块8,其中基座15的长度相等,并作为探针块8与增大或缩小窗口6的侧边相对应位置处的固定件。
根据增大或缩小的窗口6适当地选择那些探针单元16A、16B、16C,并将其插入框板2、3、4、5的定位销或孔14中,以使单元16A、16B、16C整体可动地连接到其上。因此,探针块8通过作为固定件的基座可支撑地连接到框板2、3、4、5上。
如图6(A)和图6(B)所示,平板显示器7的支撑框架1和测试探针块8的支撑框架1都由一个矩形的框架构成。其上支撑测试探针块8的前矩形框架设置在后矩形框架的一个前表面侧,后矩形框架上支撑着由一个液晶板表示的平板显示器7。后矩形框架可往复移动地设置在前矩形框架上,因此当后矩形框架前进时,测试探针块8的测试探针9与电极贴片10压力接触,电极贴片10布置在平板显示器7的周边部分,并且当后矩形框架后退时,完成了平板显示器7的移动。
前矩形框架的窗口6增大,平板显示器7从前矩形框架的前面经过增大的窗口6到后矩形框架上的移位完成了。在这种情况中,没有必要可往复移动地设置后矩形框架。
也就是说,在上述第一到第四实施例中,由框板2、3、4、5构成的、上面支撑着平板显示器7的矩形支撑框架1设置在由框板2、3、4、5构成的、上面支撑着测试探针块8的矩形支撑框架1的一个后表面侧。一个发光装置设置在矩形支撑框架1后表面侧的窗口6的后部,框架1上支撑着平板显示器7。平板显示器7通过窗口6被发光装置照亮。由于前述布置,当通过窗口6在光照下观察电极贴片10与探针9之间的连接状态时,可以进行检测。
本发明或者适用于上面支撑着平板显示器7的矩形支撑框架1,或者适用于上面支撑着测试探针块8的矩形支撑框架1。
根据本发明,支撑框架可以通过上、下横向框板和左、右纵向框板的纵向运动和横向运动而实现,其中支撑框架具有与各种各样的平板显示器相对应的尺寸。同样地,测试探针支撑框架也容易实现,该框架具有与各种各样的平板显示器相对应的尺寸。这使得将一个测试装置应用于各种各样的、具有不同尺寸的平板显示器成为可能。因此,本发明经济有效并能提高测试操作的效率。
当对本发明及其优选实施例进行描述后,对于本领域的技术人员,根据说明书、附图和权利要求很容易进行其它的变型。
当对本发明及其特例进行描述后,对于本领域的技术人员,根据说明书、附图和权利要求很容易进行其它的变型。

Claims (6)

1.一种矩形支撑框架,用于作为检测对象的平板显示器或测试探针块,包括:
沿一第一方向延伸并具有内表面和端部的第一框板;
沿横切所述第一方向的第二方向延伸的并具有内表面和端部的第二框板;
沿与所述第一方向相对的第三方向延伸并具有内表面和端部的第三框板;
沿与所述第二方向相对的第四方向延伸并具有内表面和端部的第四框板;
其特征在于:
(i)所述第一框板的端部可与所述第二框板的内表面接合,当所述第一框板的端部与所述第二框板的内表面接合时,所述第一框板可沿所述第二方向相对于所述第二框板移动、并可在所述第三方向与所述第二框板协调移动;
(ii)所述第二框板的端部可与所述第三框板的内表面接合,当所述第二框板的端部与所述第三框板的内表面接合时,所述第二框板可沿所述第三方向相对于所述第三框板移动、并可在所述第四方向与所述第三框板协调移动;
(iii)所述第三框板的端部可与所述第四框板的内表面接合,当所述第三框板的端部与所述第四框板的内表面接合时,所述第三框板可沿所述第四方向相对于所述第四框板移动、并可在所述第一方向与所述第四框板协调移动;以及
(iv)所述第四框板的端部可与所述第一框板的内表面接合,当所述第四框板的端部与所述第一框板的内表面接合时,所述第四框板可沿所述第一方向相对于所述第一框板移动、并可在所述第二方向与所述第一框板协调移动;
并且,当所述第一框板的端部与所述第二框板的内表面接合时,所述第二框板的端部与所述第三框板的内表面接合,所述第三框板的端部与所述第四框板的内表面接合,并且所述第四框板的端部与所述第一框板的内表面接合,由所述第一、二、三、四框板的内表面的组合限定一窗口,该窗口可由如下方式增大或缩小:
(a)沿所述第二方向相对于所述第二框板移动所述第一框板以及沿所述第三方向使所述第一框板与所述第二框板协调移动;
(b)沿所述第三方向相对于所述第三框板移动所述第二框板以及沿所述第四方向使所述第二框板与所述第三框板协调移动;
(c)沿所述第四方向相对于所述第四框板移动所述第三框板以及沿所述第一方向使所述第三框板与所述第四框板协调移动;以及
(d)沿所述第一方向相对于所述第一框板移动所述第四框板以及沿所述第二方向使所述第四框板与所述第一框板协调移动;
一个第一平板显示器或一第一探针块可支撑在所述第一、二、三、四框板上,该第一探针块要与一电极贴片压力接触,该电极贴片设置在所述第一平板显示器的周边部分。
2.如权利要求1所述的矩形支撑框架,其特征在于:
当所述第一框板的端部与所述第二框板的内表面接合时,所述第一框板还可沿所述第四方向相对于所述第二框板移动,并沿所述第一方向与第二框板协调移动;
当所述第二框板的端部与所述第三框板的内表面接合时,所述第二框板还可沿所述第一方向相对于所述第三框板移动,并沿所述第二方向与第三框板协调移动;
当所述第三框板的端部与所述第四框板的内表面接合时,所述第三框板还可沿所述第二方向相对于所述第四框板移动,并沿所述第三方向与第四框板协调移动;以及
当所述第四框板的端部与所述第一框板的内表面接合时,所述第四框板还可沿所述第三方向相对于所述第二框板移动,并沿所述第四方向与第一框板协调移动;
并且,当所述第一框板的端部与所述第二框板的内表面接合,所述第二框板的端部与所述第三框板的内表面接合,所述第三框板的端部与所述第四框板的内表面接合,所述第四框板的端部与所述第一框板的内表面接合,由所述第一、二、三、四框板的内表面的组合限定的窗口可以下列方式形成增大或减小的另一种方式:
(a)沿所述第四方向相对于所述第二框板移动所述第一框板并且沿所述第一方向使所述第一框板与所述第二框板协调移动;
(b)沿所述第一方向相对于所述第三框板移动所述第二框板并且沿所述第二方向使所述二框板与所述第三框板协调移动;
(c)沿所述第二方向相对于所述第四框板移动所述第三框板并且沿所述第三方向使所述三框板与所述第四框板协调移动;以及
(d)沿所述第三方向相对于所述第一框板移动所述第四框板并且沿所述第四方向使所述四框板与所述第一框板协调移动;
并且一第二平板显示器和一第二探针块可支撑于所述第一、二、三、四框板上,所述第一平板显示器具有与所述第一平板显示器不同的尺寸,所述第二探针块具有与所述第一探针块不同的尺寸,并与一电极贴片压力接触,所述压力贴片设置在所述第二平板显示器的周边部分上。
3.如权利要求2所述的矩形支撑框架,其特征在于:
所述第一框板的所述端部包括一凸出部,所述第二框板的内表面包括一槽,通过将所述第一框板的凸出部与所述第二框板的槽接合,使所述第一框板的端部与所述第二框板的内表面接合,
所述第二框板的所述端部包括一凸出部,所述第三框板的内表面包括一槽,通过将所述第二框板的凸出部与所述第三框板的槽接合,使所述第二框板的端部与所述第三框板的内表面接合,
所述第三框板的所述端部包括一凸出部,所述第四框板的内表面包括一槽,通过将所述第三框板的凸出部与所述第四框板的槽接合,使所述第三框板的端部与所述第四框板的内表面接合,
所述第四框板的所述端部包括一凸出部,所述第一框板的内表面包括一槽,通过将所述第四框板的凸出部与所述第一框板的槽接合,使所述第四框板的端部与所述第一框板的内表面接合,
4.如权利要求3所述的矩形支撑框架,其特征在于:所述第一、二、三、四框架的每一个的凸出部呈楔形,而所述第一、二、三、四框架的第一个的槽呈相应的楔形。
5.如权利要求1所述的矩形支撑框架,其特征在于:
所述第一框板的所述端部包括一凸出部,所述第二框板的内表面包括一槽,通过将所述第一框板的凸出部与所述第二框板的槽接合,使所述第一框板的端部与所述第二框板的内表面接合,
所述第二框板的所述端部包括一凸出部,所述第三框板的内表面包括一槽,通过将所述第二框板的凸出部与所述第三框板的槽接合,使所述第二框板的端部与所述第三框板的内表面接合,
所述第三框板的所述端部包括一凸出部,所述第四框板的内表面包括一槽,通过将所述第三框板的凸出部与所述第四框板的槽接合,使所述第三框板的端部与所述第四框板的内表面接合,
所述第四框板的所述端部包括一凸出部,所述第一框板的内表面包括一槽,通过将所述第四框板的凸出部与所述第一框板的槽接合,使所述第四框板的端部与所述第一框板的内表面接合,
6.如权利要求5所述的矩形支撑框架,其特征在于:所述第一、二、三、四框架的每一个的凸出部呈楔形,而所述第一、二、三、四框架的第一个的槽呈相应的楔形。
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Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7073768B2 (en) * 2002-07-12 2006-07-11 John Piscovich Device and method for setting a frame
JP3457938B2 (ja) * 2000-10-16 2003-10-20 株式会社双晶テック 表示基板又は回路基板の検査装置における表示基板又は回路基板の交換方法
TW509329U (en) * 2001-04-19 2002-11-01 Hannstar Display Corp Electrified rack
KR20020091691A (ko) * 2001-05-31 2002-12-06 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 액정표시장치 테스트 프레임
CN1309248C (zh) * 2002-08-02 2007-04-04 Nec液晶技术株式会社 显示器和显示板的支撑框架及其制造方法
US20040051693A1 (en) * 2002-09-12 2004-03-18 Ming-Jian Chen Electronic screen having display panel displayed in changeable length-width ratio
US7012583B2 (en) * 2003-02-07 2006-03-14 Shimadzu Corporation Apparatus and method for testing pixels of flat panel display
US7319335B2 (en) 2004-02-12 2008-01-15 Applied Materials, Inc. Configurable prober for TFT LCD array testing
US6833717B1 (en) 2004-02-12 2004-12-21 Applied Materials, Inc. Electron beam test system with integrated substrate transfer module
US7355418B2 (en) * 2004-02-12 2008-04-08 Applied Materials, Inc. Configurable prober for TFT LCD array test
JP4790997B2 (ja) * 2004-03-26 2011-10-12 株式会社日本マイクロニクス プローブ装置
JP4570930B2 (ja) * 2004-10-22 2010-10-27 株式会社日本マイクロニクス パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置
KR100776177B1 (ko) * 2004-12-17 2007-11-16 주식회사 디이엔티 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블
US7535238B2 (en) * 2005-04-29 2009-05-19 Applied Materials, Inc. In-line electron beam test system
US20070018062A1 (en) * 2005-07-20 2007-01-25 Theodor Calinescu Universal wall mount bracket for displays
KR100748072B1 (ko) * 2005-08-01 2007-08-09 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시패널의 전기검사장치
JP4916712B2 (ja) * 2005-12-16 2012-04-18 株式会社日本マイクロニクス 表示パネル検査装置
CN102353890B (zh) * 2006-03-14 2014-09-24 应用材料公司 减小多个柱状电子束测试系统中的串扰的方法
US7602199B2 (en) 2006-05-31 2009-10-13 Applied Materials, Inc. Mini-prober for TFT-LCD testing
US7786742B2 (en) 2006-05-31 2010-08-31 Applied Materials, Inc. Prober for electronic device testing on large area substrates
JP4917852B2 (ja) * 2006-08-21 2012-04-18 株式会社日本マイクロニクス パネル支持機構及び検査装置
GB0711626D0 (en) * 2007-06-18 2007-07-25 Barco Nv Support for direct light displays
KR100911236B1 (ko) * 2007-08-22 2009-08-06 주식회사 플라켐 블록형 엘이디 조명장치
JP4845897B2 (ja) * 2008-01-15 2011-12-28 株式会社東芝 サンプルステージ
KR100920383B1 (ko) * 2009-01-29 2009-10-07 주식회사 에이디피엔지니어링 평판표시소자 제조장치
JP5470456B2 (ja) * 2010-06-17 2014-04-16 シャープ株式会社 点灯検査装置
KR101102556B1 (ko) 2010-06-30 2012-01-03 (주)이노셈코리아 맞춤형 소비전력 및 멀티형성을 갖는 탈·부착식 led 모듈
CN102455528B (zh) * 2010-10-27 2015-01-07 纬创资通股份有限公司 结合上下盖外观件的平面显示器
TWI435294B (zh) * 2010-12-03 2014-04-21 Wistron Corp 無膠框結構的平面顯示器
US20130128513A1 (en) * 2011-11-18 2013-05-23 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Mold for Back Frame and Bracing Piece, Method for Manufacturing Back Frame, and Backlight System
CN102830517B (zh) * 2012-08-28 2015-02-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种背框和液晶显示装置
US8850992B1 (en) * 2013-05-22 2014-10-07 Itoro Akpaffiong Portable articulated support frame for supporting objects on a user's lap
KR102242643B1 (ko) * 2014-10-30 2021-04-22 주성엔지니어링(주) 유기 발광 장치
CN104360510B (zh) * 2014-11-24 2018-02-16 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种检测用探针块及其检测装置
KR102608599B1 (ko) 2018-08-16 2023-12-01 삼성디스플레이 주식회사 압력 센서를 테스트하는 장치 및 방법 그리고 이를 이용한 표시 장치
KR102081610B1 (ko) * 2019-04-17 2020-02-26 우리마이크론(주) 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비
WO2020213901A1 (ko) * 2019-04-17 2020-10-22 우리마이크론(주) 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비
KR102097455B1 (ko) * 2019-07-01 2020-04-07 우리마이크론(주) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치
JP7250182B2 (ja) * 2019-07-01 2023-03-31 メガセン・カンパニー・リミテッド ディスプレイパネル検査のためのプローブブロック組立体、この制御方法およびディスプレイパネル検査装置
KR102097456B1 (ko) * 2019-07-01 2020-04-07 우리마이크론(주) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치
KR102154760B1 (ko) * 2020-03-30 2020-09-10 우리마이크론(주) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치
KR102154758B1 (ko) * 2020-03-30 2020-09-10 우리마이크론(주) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3612508A (en) * 1970-04-08 1971-10-12 Gen Motors Corp Heater core fixture for face soldering
JPS5391376A (en) * 1977-01-24 1978-08-11 Hirohide Yano Device for inspecting printed board
US5003254A (en) * 1989-11-02 1991-03-26 Huntron, Inc. Multi-axis universal circuit board test fixture
JPH0996802A (ja) * 1995-10-03 1997-04-08 Sharp Corp 液晶パネル製造用治具
JP3592831B2 (ja) * 1996-02-26 2004-11-24 株式会社日本マイクロニクス プローブユニット及びその調節方法
US5954106A (en) * 1998-05-18 1999-09-21 Huang; Jin Lai Work bench having an adjustable guide
US6150833A (en) * 1999-02-03 2000-11-21 Industrial Technology Research Institute LCD panel power-up test fixture and method of using

Also Published As

Publication number Publication date
EP1081497A2 (en) 2001-03-07
KR20010020825A (ko) 2001-03-15
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JP3350899B2 (ja) 2002-11-25
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ITTO20000817A1 (it) 2002-02-25
EP1081497A3 (en) 2004-05-12
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