JP3350899B2 - プローブブロックの支持枠体 - Google Patents
プローブブロックの支持枠体Info
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J1/88—Mounting, supporting, spacing, or insulating of electrodes or of electrode assemblies
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
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- G—PHYSICS
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
-
- G—PHYSICS
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- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
Description
ットパネルディプレイの電極パッドに加圧接触する液晶
パネルに代表されるフラットパネルディスプレイの辺縁
部に配置された電極パッドに加圧接触する検査用プロー
ブブロックの支持枠に関する。
枠及び検査用プローブブロックの支持枠は、何れも方形
枠体によって構成されており、図6A,Bに示すよう
に、液晶パネルに代表されるフラットパネルディスプレ
イ7を支持した後方方形枠体1の前面側に検査用プロー
ブブロック8を支持した前方方形枠体1を配置し、後方
方形枠体1を前方方形枠体1に進退可に設け、同前進に
よってフラットパネルディスプレイ7の辺縁部に配置さ
れた電極パッド10に検査用プローブブロック8の検査
プローブ9を加圧接触せしめ、又後方方形枠体1の後退
時にフラットパネルディスプレイ7の交換を行うように
している。
パネルディスプレイの大きさに応じた専用の前方枠体を
用意して検査用のプローブブロックを支持せしめるよう
にしている。
ルディスプレイ毎にこれに適合する前方枠体を持った検
査装置を設備せねばならないか、又は前方枠体をフラッ
トパネルディスプレイの大きさに応じ交換できるように
互換性を持たせた構造にせねばならず、多大な設備負担
と高重量の枠体を交換する作業負担と検査作業の効率悪
化を招来していた。
に解決し、1台の検査装置において大きさの異なるフラ
ットパネルディスプレイに適切に対応し得るプローブフ
ロックの支持枠体を提供するものである。
成する上下横枠板と左右縦枠板とが各枠板一端の枠板に
対して単独で夫々縦移動又は横移動でき、且つ一緒に横
移動又は縦移動できるように組み立てて、各枠板で形成
する窓の拡大又は縮小を図る構成にすると共に、該拡大
又は縮小された窓に面する上下横枠板部と左右縦枠板部
とに上記フラットパネルディスプレイの辺縁部に配され
た電極パッドに加圧接触するプローブブロックを支持す
る構成とする。
位置決めピン又は位置決め孔を互いに等間隔に設け、該
位置決めピン又は位置決め孔にプローブブロックのホル
ダーたるベースの両端に設けた位置決め孔又は位置決め
ピンを挿入して上記上下横枠板と左右縦枠板とに一体に
且つ着脱可に取り付け、各ベースには上記拡大又は縮小
された窓の辺と対応する位置に複数のプローブブロック
を着脱可に取り付ける構成とした。
移動とによって、フラットパネルディスプレイの大きさ
に対応した検査用プローブ支持枠体を容易に形成でき、
これにより1台の検査装置を大きさの異なる各種フラッ
トパネルディスプレイに適合させることができ、極めて
経済的であって、検査作業の効率を向上する検査装置を
提供できる。
乃至図7に基づいて説明する。
図7参照)
るフラットパネルディスプレイ7を支持する方形支持枠
体である。
単独で縦移動し且つ左縦枠板4の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板2と、左縦枠板4に対し単独で縦移動し且
つ右縦枠板5の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板3
と、上横枠板2に対して単独で横移動し且つ下横枠板3
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板4と、下横枠板3
に対して単独で横移動し且つ上横枠板2の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板5とから組み立てられている。
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板2,3と
左右縦枠板4,5で画成される窓6を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板2,3部
と左右縦枠板4,5部とに上記フラットパネルディスプ
レイ7を支持する。
2の単独縦移動を案内し且つ上横枠板2と右縦枠板5と
を追随して横移動せしめるように連結する。
間は左縦枠板4の単独横移動を案内し且つ左縦枠板4と
上横枠板2とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板3と左縦枠板4間は下横枠板3の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板3と左縦枠板4とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記右縦枠板5と下横枠板
3間は右縦枠板5の単独横移動を案内し且つ右縦枠板5
と下横枠板3とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
示のように、上横枠板2の一端を右縦枠板5の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板4の一端を上横枠板2の内面
に当接し、下横枠板3の一端を左縦枠板4の内面に当接
し、右縦枠板5の一端を下横枠板3の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
2,3と左右縦枠板4,5の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝11を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板2,3,4,5の端部に上記各ガイド溝1
1にキー結合する突起12を形成し、該各突起12を各
ガイド溝11に滑合する(キー結合する)。
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板5と一緒に横移動可能
である。
で横移動し、且つ上横枠板2と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板3は左縦枠板4に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板4と一緒に横移動可能であり、右縦枠板5は
下横枠板3に対し単独で横移動し、且つ下横枠板3と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓6を拡大又は縮小
する。
略全長に亘りサクション装置に接続される多数の吸引孔
13を設け、上記拡大又は縮小された窓6に面する上下
横枠板2,3部表面と左右縦枠板4,5部表面に上記吸
引孔13によりフラットパネルディスプレイ7の周縁部
を吸着支持する。
ック8は多数のプローブ9を有し、各プローブ9の先端
を各電極パッド10の表面に加圧接触する。
至図7参照)
方形支持枠体である。
単独で縦移動し且つ左縦枠板4の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板2と、左縦枠板4に対し単独で縦移動し且
つ右縦枠板5の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板3
と、上横枠板2に対して単独で横移動し且つ下横枠板3
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板4と、下横枠板3
に対して単独で横移動し且つ上横枠板2の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板5とから組み立てられている。
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板2,3と
左右縦枠板4,5で画成される窓6を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板2,3部
と左右縦枠板4,5部とにフラットパネルディスプレイ
7の周縁部に配された多数の電極パッド10に加圧接触
するプローブブロック8を支持する。
は多数のプローブ9を有し、各プローブ9の先端を各電
極パッド10の表面に加圧接触する。
2の単独縦移動を案内し且つ上横枠板2と右縦枠板5と
を追随して横移動せしめるように連結する。
間は左縦枠板4の単独横移動を案内し且つ左縦枠板4と
上横枠板2とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板3と左縦枠板4間は下横枠板3の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板3と左縦枠板4とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記右縦枠板5と下横枠板
3間は右縦枠板5の単独横移動を案内し且つ右縦枠板5
と下横枠板3とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
示のように、上横枠板2の一端を右縦枠板5の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板4の一端を上横枠板2の内面
に当接し、下横枠板3の一端を左縦枠板4の内面に当接
し、右縦枠板5の一端を下横枠板3の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
2,3と左右縦枠板4,5の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝11を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板2,3,4,5の端部に上記各ガイド溝1
1にキー結合する突起12を形成し、該各突起12を各
ガイド溝11に滑合する(キー結合する)。
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板5と一緒に横移動可能
である。
で横移動し、且つ上横枠板2と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板3は左縦枠板4に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板4と一緒に横移動可能であり、右縦枠板5は
下横枠板3に対し単独で横移動し、且つ下横枠板3と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓6を拡大又は縮小
する。
し、該等長の各枠板2,3,4,5の表面にはその両端
に位置決めピン又は位置決め孔14を夫々各枠板毎に互
いに等間隔で立設する。
8のホルダーとして、等長の長さを有する複数のベース
15を形成し、各ベース15に上記拡大窓6の辺又は縮
小窓6の辺と対応する位置に複数のプローブブロック8
を着脱可に取り付けたプローブユニット16A,B,C
を準備する。
を上記拡大窓6又は縮小窓6に応じて選択し、上記各枠
板2,3,4,5の位置決めピン又は位置決め孔14に
プローブブロック8のホルダーたるベース15の両端に
設けた位置決めピン又は位置 決め孔14を挿入し、上記
上下横枠板2,3と左右縦枠板4,5とに一体に且つ着
脱可に取り付ける。よってプローブブロック8はホルダ
ーたるベース15を介して各枠板2,3,4,5に取り
付け支持される。
ネルディスプレイ7の支持枠体1及び検査用プローブブ
ロックの支持枠体1は、何れも方形枠体によって構成さ
れており、液晶パネルに代表されるフラットパネルディ
スプレイ7を支持した後方方形枠体1の前面側に検査用
プローブブロック8を支持した前方方形枠体1を配置
し、後方方形枠体1を前方方形枠体1に進退可に設け、
同前進によってフラットパネルディスプレイ7の辺縁部
に配置された電極パッド10に検査用プローブブロック
8の検査プローブ9を加圧接触せしめ、又後方方形枠体
1の後退時にフラットパネルディスプレイ7の交換を行
うようにしている。
方方形枠体1の前方から該拡大窓6を通して後方方形枠
体1上へのフラットパネルディスプレイ7の交換を行
う。この場合は後方方形枠体1を進退可に設けなくても
良い。
6,図7参照)
るフラットパネルディスプレイ7を支持する方形支持枠
体である。
単独で縦移動し且つ右縦枠板5の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板2と、右縦枠板5に対し単独で縦移動し且
つ左縦枠板4の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板3
と、下横枠板3に対して単独で横移動し且つ上横枠板2
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板4と、上横枠板2
に対して単独で横移動し且つ下横枠板3の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板5とから組み立てられている。
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板2,3と
左右縦枠板4,5で画成される窓6を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板2,3部
と左右縦枠板4,5部とに上記フラットパネルディスプ
レイ7を支持する。
2の単独縦移動を案内し且つ上横枠板2と左縦枠板4と
を追随して横移動せしめるように連結する。
間は右縦枠板5の単独横移動を案内し且つ右縦枠板5と
上横枠板2とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板3と右縦枠板5間は下横枠板3の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板3と右縦枠板5とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記左縦枠板4と下横枠板
3間は左縦枠板4の単独横移動を案内し且つ左縦枠板4
と下横枠板3とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
示のように、上横枠板2の一端を右縦枠板5の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板4の一端を上横枠板2の内面
に当接し、下横枠板3の一端を左縦枠板4の内面に当接
し、右縦枠板5の一端を下横枠板3の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
2,3と左右縦枠板4,5の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝11を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板2,3,4,5の端部に上記各ガイド溝1
1にキー結合する突起12を形成し、該各突起12を各
ガイド溝11に滑合する(キー結合する)。
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板5と一緒に横移動可能
である。
で横移動し、且つ上横枠板2と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板3は左縦枠板4に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板4と一緒に横移動可能であり、右縦枠板5は
下横枠板3に対し単独で横移動し、且つ下横枠板3と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓6を拡大又は縮小
する。
略全長に亘りサクション装置に接続される多数の吸引孔
13を設け、上記拡大又は縮小された窓6に面する上下
横枠板2,3部表面と左右縦枠板4,5部表面に上記吸
引孔13によりフラットパネルディスプレイ7の周縁部
を吸着支持する。
ック8は多数のプローブ9を有し、各プローブ9の先端
を各電極パッド10の表面に加圧接触する。
5乃至図7参照)
方形支持枠体である。
単独で縦移動し且つ右縦枠板5の縦移動と一緒に縦移動
する上横枠板2と、右縦枠板5に対し単独で縦移動し且
つ左縦枠板4の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板3
と、下横枠板3に対して単独で横移動し且つ上横枠板2
の横移動と一緒に横移動する左縦枠板4と、上横枠板2
に対して単独で横移動し且つ下横枠板3の横移動と一緒
に横移動する右縦枠板5とから組み立てられている。
の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板2,3と
左右縦枠板4,5で画成される窓6を拡大又は縮小し、
該拡大又は縮小された窓6に面する上下横枠板2,3部
と左右縦枠板4,5部とにフラットパネルディスプレイ
7の周縁部に配された多数の電極パッド10に加圧接触
するプローブブロック8を支持する。
は多数のプローブ9を有し、各プローブ9の先端を各電
極パッド10の表面に加圧接触する。
2の単独縦移動を案内し且つ上横枠板2と左縦枠板4と
を追随して横移動せしめるように連結する。
間は右縦枠板5の単独横移動を案内し且つ右縦枠板5と
上横枠板2とを追随して縦移動せしめるように連結し、
上記下横枠板3と右縦枠板5間は下横枠板3の単独縦移
動を案内し且つ下横枠板3と右縦枠板5とを追随して横
移動せしめるように連結し、上記左縦枠板4と下横枠板
3間は左縦枠板4の単独横移動を案内し且つ左縦枠板4
と下横枠板3とを追随して縦移動せしめるように連結す
る。
示のように、上横枠板2の一端を右縦枠板5の内面に当
接し、以下同様に左縦枠板4の一端を上横枠板2の内面
に当接し、下横枠板3の一端を左縦枠板4の内面に当接
し、右縦枠板5の一端を下横枠板3の内面に当接する。
そして各当接部において上記連結機構を形成する。
2,3と左右縦枠板4,5の夫々の内面に沿い該内面で
開口するガイド溝11を形成し、他方この内面に当接す
る上記各枠板2,3,4,5の端部に上記各ガイド溝1
1にキー結合する突起12を形成し、該各突起12を各
ガイド溝11に滑合する(キー結合する)。
し単独で縦移動し、且つ右縦枠板5と一緒に横移動可能
である。
で横移動し、且つ上横枠板2と一緒に縦移動可能であ
り、下横枠板3は左縦枠板4に対し単独で縦移動し、且
つ左縦枠板4と一緒に横移動可能であり、右縦枠板5は
下横枠板3に対し単独で横移動し、且つ下横枠板3と一
緒に縦移動可能である。よって上記窓6を拡大又は縮小
する。
し、該等長の各枠板2,3,4,5の表面にはその両端
に位置決めピン又は位置決め孔14を夫々各枠板毎に互
いに等間隔で立設する。
8のホルダーとして、等長の長さを有する複数のベース
15を形成し、各ベース15に上記拡大窓6の辺又は縮
小窓6の辺と対応する位置に複数のプローブブロック8
を着脱可に取り付けたプローブユニット16A,B,C
を準備する。
を上記拡大窓6又は縮小窓6に応じて選択し、上記各枠
板2,3,4,5の位置決めピン又は位置決め孔14に
挿入し、一体に且つ着脱可に取り付ける。よってプロー
ブブロック8はホルダーたるベース15を介して各枠板
2,3,4,5に取り付け支持される。
ネルディスプレイ7の支持枠体1及び検査用プローブブ
ロックの支持枠体1は、何れも方形枠体によって構成さ
れており、液晶パネルに代表されるフラットパネルディ
スプレイ7を支持した後方方形枠体1の前面側に検査用
プローブブロック8を支持した前方方形枠体1を配置
し、後方方形枠体1を前方方形枠体1に進退可に設け、
同前進によってフラットパネルディスプレイ7の辺縁部
に配置された電極パッド10に検査用プローブブロック
8の検査プローブ9を加圧接触せしめ、又後方方形枠体
1の後退時にフラットパネルディスプレイ7の交換を行
うようにしている。
方方形枠体1の前方から該拡大窓6を通して後方方形枠
体1上へのフラットパネルディスプレイ7の交換を行
う。この場合は後方方形枠体1を進退可に設けなくても
良い。
は、検査用プローブブロック8を支持する枠板2,3,
4,5から成る方形支持枠体1の背面側に、フラットパ
ネルディスプレイ7を支持する枠板2,3,4,5から
成る方形支持枠体1を配し、フラットパネルディスプレ
イ7を支持する背面側の方形支持枠体1の窓6の背後に
照光手段を設け、該照光手段により窓6を通してフラッ
トパネルディスプレイ7を照光し、これにより前面の方
形支持枠体1の窓6を通して電極パッド10とプローブ
9の接触状態を照光観察しつつ検査を実行する。
縦枠板の縦移動と横移動とによって、フラットパネルデ
ィスプレイの大きさに対応した検査用プローブ支持枠体
を容易に形成でき、これにより1台の検査装置を大きさ
の異なる各種フラットパネルディスプレイに適合させる
ことができ、極めて経済的であって、検査作業の効率を
向上することができる。
体の拡大と縮小状態を示す正面図。
縮小状態を示す正面図。
体の他例を拡大と縮小状態を以って示す正面図。
拡大と縮小状態を以って示す正面図。
トパネルディスプレイを支持する方形枠体とによって形
成される検査装置を接触前(A図)と接触後(B図)を
以って示す断面図。
Claims (2)
- 【請求項1】検査対象であるフラットパネルディプレイ
の電極パッドに加圧接触する検査用のプローブロックを
支持する方形支持枠体であって、該方形支持枠体が右縦
枠板に対して単独で縦移動し且つ左縦枠板の縦移動と一
緒に縦移動する上横枠板と、左縦枠板に対し単独で縦移
動し且つ右縦枠板の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板
と、上横枠板に対して単独で横移動し且つ下横枠板の横
移動と一緒に横移動する左縦枠板と、下横枠板に対して
単独で横移動し且つ上横枠板の横移動と一緒に横移動す
る右縦枠板とから組み立てられ、上記上下横枠板と左右
縦枠板の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板と
左右縦枠板で画成される窓を拡大又は縮小する構成と
し、更に上記上下横枠板と左右縦枠板の両端に位置決め
ピン又は位置決め孔を互いに等間隔に設け、該位置決め
ピン又は位置決め孔にプローブブロックのホルダーたる
ベースの両端に設けた位置決め孔又は位置決めピンを挿
入して上記上下横枠板と左右縦枠板とに一体に且つ着脱
可に取り付け、各ベースには上記拡大又は縮小された窓
の辺と対応する位置に複数のプローブブロックを着脱可
に取り付ける構成としたことを特徴とするプローブブロ
ックの支持枠体。 - 【請求項2】検査対象であるフラットパネルディプレイ
の電極パッドに加圧接触する検査用のプローブロックを
支持する方形支持枠体であって、該方形支持枠体が左縦
枠板に対して単独で縦移動し且つ右縦枠板の縦移動と一
緒に縦移動する上横枠板と、右縦枠板に対し単独で縦移
動し且つ左縦枠板の縦移動と一緒に縦移動する下横枠板
と、下横枠板に対して単独で横移動し且つ上横枠板の横
移動と一緒に横移動する左縦枠板と、上横枠板に対して
単独で横移動し且つ下横枠板の横移動と一緒に横移動す
る右縦枠板とから組み立てられ、上記上下横枠板と左右
縦枠板の上記縦移動と横移動とにより上記上下横枠板と
左右縦枠板で画成される窓を拡大又は縮小する構成と
し、更に上記上下横枠板と左右縦枠板の両端に位置決め
ピン又は位置決め孔を互いに等間隔に設け、該位置決め
ピン又は位置決め孔にプローブブロックのホルダーたる
ベースの両端に設けた位置決め孔又は位置決 めピンを挿
入して上記上下横枠板と左右縦枠板とに一体に且つ着脱
可に取り付け、各ベースには上記拡大又は縮小された窓
の辺と対応する位置に複数のプローブブロックを着脱可
に取り付ける構成としたことを特徴とするプローブブロ
ックの支持枠体。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24510499A JP3350899B2 (ja) | 1999-08-31 | 1999-08-31 | プローブブロックの支持枠体 |
TW089107918A TW459140B (en) | 1999-08-31 | 2000-04-26 | Flat panel display or probe block support framework |
EP00303804A EP1081497A3 (en) | 1999-08-31 | 2000-05-05 | Flat panel display support framework |
US09/566,010 US6450469B1 (en) | 1999-08-31 | 2000-05-05 | Flat panel display or probe block support framework |
KR1020000024824A KR20010020825A (ko) | 1999-08-31 | 2000-05-10 | 평판 디스플레이 또는 프로브 블록의 지지틀 |
CNB001179705A CN1145066C (zh) | 1999-08-31 | 2000-06-06 | 平板显示器或探针块的支撑框架 |
IT2000TO000817A IT1320603B1 (it) | 1999-08-31 | 2000-08-25 | Motociclo. |
Applications Claiming Priority (1)
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