CN213457015U - 滤波器双面测试治具 - Google Patents
滤波器双面测试治具 Download PDFInfo
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Abstract
本申请提供一种滤波器双面测试治具,包括:固定座和支架,固定座包括基座、第一固定件及第二固定件,基座上设置有第一测试孔和第二测试孔,第一测试孔与设置于工件的第一端面上的第一对接头相对应,第二测试孔与设置于工件的第二端面上的第二对接头相对应,第一测试孔和第二测试孔均用于供测试接头的穿设,第一测试孔以及第二测试孔的尺寸与测试接头的尺寸相匹配;第一固定件可拆卸地设置于基座上,第一固定件用于将工件固定于基座上,第一固定件上设置有第一测试孔;第二固定件可拆卸地设置于基座上,第二固定件用于将工件固定于基座上,第二固定件上设置有第二测试孔;支架设置于所述基座的底部以向上支撑固定座。
Description
技术领域
本申请涉及滤波器测试技术领域,尤指一种滤波器双面测试治具。
背景技术
需要进行双面测试的工件,需要利用两个测试接头分别与设置在工件相背对的两个端面上的对接头进行对接,由于在将两个测试接头分别与设置在工件相背对的两个端面上的两个对接头对接的过程中,难以保证测试接头与工件的对接头之间的对接垂直度,致使工件的两个端面的测试数据不稳定。
实用新型内容
鉴于此,有必要提供一种能够实现两个测试接头分别与工件的第一对接头和第二对接头稳定对接的滤波器双面测试治具。
为解决上述技术问题,本申请提供了一种滤波器双面测试治具,包括:
固定座,包括基座、第一固定件及第二固定件,所述基座用于承载待测试的工件,所述基座上设置有第一测试孔和第二测试孔,所述第一测试孔与设置于所述工件的第一端面上的第一对接头相对应,所述第二测试孔与设置于所述工件的第二端面上的第二对接头相对应,所述工件的第二端面与所述工件的第一端面相互背对设置,所述第一测试孔和所述第二测试孔均用于供测试接头的穿设,所述第一测试孔以及所述第二测试孔的尺寸与所述测试接头的尺寸相匹配;所述第一固定件可拆卸地设置于所述基座上,所述第一固定件用于将所述工件固定于所述基座上,所述第一固定件上设置有与所述第一对接头相对应的所述第一测试孔;所述第二固定件可拆卸地设置于所述基座上,所述第二固定件用于将所述工件固定于所述基座上,所述第二固定件上设置有与所述第二对接头相对应的所述第二测试孔;及
支架,设置于所述基座的底部以向上支撑固定座,
当进行所述工件的第一端面的测试时,将所述工件放置于所述基座上并使所述工件的第一端面相对所述基座朝上布置,然后将所述第一固定件安装于所述基座上,并将所述第二固定件从所述基座上拆离,以通过所述第一固定件将所述工件固定于所述基座上;使其中一个所述测试接头穿过设置于所述第一固定件上的所述第一测试孔并与所述第一对接头相对接,并使另一个所述测试接头穿过设置于所述基座上的所述第二测试孔并与所述第二对接头相对接,以形成所述工件的第一端面的测试回路;
当进行所述工件的第二端面的测试时,将所述工件放置于所述基座上并使所述工件的第二端面相对所述基座朝上布置,然后将所述第二固定件安装于所述基座上,并将所述第一固定件从所述基座上拆离,以通过所述第二固定件将所述工件固定于所述基座上;使其中一个所述测试接头穿过设置于所述第二固定件上的所述第二测试孔并与所述第二对接头相对接,并使另一个所述测试接头穿过设置于所述基座上的所述第一测试孔并与所述第一对接头相对接,以形成所述工件的第二端面的测试回路。
优选地,所述基座上间隔设置有多个所述第一测试孔和/或多个所述第二测试孔,且/或所述第一固定件上间隔设置有多个所述第一测试孔,且/或所述第二固定件上间隔设置有多个所述第二测试孔。
优选地,所述基座上设置有第一定位部,所述第一固定件上设置有第二定位部,所述第二定位部能够与所述第一定位部相配合,以将所述第一固定件定位于所述基座上;所述第二固定件上设置有第三定位部,所述第三定位部能够与所述第一定位部相配合,以将所述第二固定件定位于所述基座上。
优选地,所述第一定位部为设置于所述基座上的定位柱,所述第二定位部为设置于所述第一固定件上的第一定位孔,所述第三定位部为设置于所述第二固定件上的第二定位孔,所述定位柱能够与所述第一定位孔以及所述第二定位孔相配合。
优选地,所述支架至少支撑于固定座的两侧。
优选地,所述支架包括:
至少两个相同设置的安装架,所述安装架包括第一支撑臂和第二支撑臂,所述第二支撑臂的一端连接在所述第一支撑臂上,所述第二支撑臂的另一端折弯并延伸以位于所述第一支撑臂的下方,所述固定座设置于所述第一支撑臂的上方。
优选地,所述第二支撑臂包括第一子支撑臂和第二子支撑臂,所述第一子支撑臂与所述第一支撑臂平行设置,所述第二子支撑臂垂直连接在所述第一支撑臂和所述第一子支撑臂之间。
优选地,所述第二固定件包括框架和多个压持件,所述框架可拆卸地设置于所述基座上,所述框架具有收容所述工件的内腔,多个所述压持件布设于所述框架的周围,多个所述压持件用于将所述工件压持固定于所述框架的内腔中,所述压持件上设置有所述第二测试孔。
优选地,所述第二固定件设有四个所述压持件,四个所述压持件分别布设于所述框架的四个顶角处。
上述滤波器双面测试治具,使用时,首先利用支架将固定座提升至预设高度数值以满足测试工作需求并加以固定,当进行工件的第一端面的测试时,将工件放置于基座上并使工件的第一端面相对基座朝上布置,然后将第一固定件安装于基座上,并将第二固定件从基座上拆离,以通过第一固定件将工件固定于基座上;使其中一个测试接头穿过设置于第一固定件上的第一测试孔并与第一对接头相对接,并使另一个测试接头穿过设置于基座上的第二测试孔并与第二对接头相对接,以形成工件的第一端面的测试回路;当进行工件的第二端面的测试时,将工件放置于基座上并使工件的第二端面相对基座朝上布置,然后将第二固定件安装于基座上,并将第一固定件从基座上拆离,以通过第二固定件将工件固定于基座上;使其中一个测试接头穿过设置于第二固定件上的第二测试孔并与第二对接头相对接,并使另一个测试接头穿过设置于基座上的第一测试孔并与第一对接头相对接,以形成工件的第二端面的测试回路,从而实现工件的第一端面和第二端面的双面测试,在本方案中,由于第一测试孔以及第二测试孔的尺寸与测试接头的尺寸相匹配,使得第一测试孔以及第二测试孔能够分别对插入各自其中的一个测试接头进行限位,进而保证了两个测试接头的垂直度,使得两个测试接头能够分别与工件的第一对接头和第二对接头稳定对接,保证工件的第一端面和第二端面的测试数据稳定,同时避免了测试接头在非垂直状态下对接工件的第一对接头和/或第二对接头而造成工件的第一对接头和/或第二对接头以及自身的损伤报废。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1为一实施例中的滤波器双面测试治具的支架、基座及第一固定件与工件、测试接头组装后的结构示意图;
图2为一实施例中的滤波器双面测试治具的支架、基座及第二固定件与工件、测试接头组装后的结构示意图;
图3为一实施例中的工件与测试接头组装后的结构示意图;
图4为一实施例中的工件与测试接头组装后的另一的结构示意图;
图5为一实施例中的滤波器双面测试治具的基座、第一固定件与工件、测试接头组装后的结构示意图;
图6为一实施例中的滤波器双面测试治具的基座、第二固定件与工件、测试接头组装后的结构示意图;
图7为图5所示的滤波器双面测试治具的基座、第一固定件与工件、测试接头组装后的结构的剖视图;
图8为图6所示的滤波器双面测试治具的基座、第二固定件与工件、测试接头组装后的结构的剖视图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。
如图1及图2所示,一实施例中的滤波器双面测试治具10包括固定座100 和支架200,固定座100用于固定待测试的工件20;在一实施例中,工件20 可以但不限于为陶瓷滤波器,支架200设置于固定座100的底部以向上支撑固定座100,具体地,支架200用于支撑固定座100至预设高度数值以满足测试工作需求。
请同时参考图3和图4,当工件20的第一端面21相对固定座100朝上布置时,其中一个测试接头30能够与设置于工件20的第一端面21上的第一对接头23相对接,另一个测试接头30能够与设置于工件20的第二端面22上的第二对接头24相对接,以形成工件20的第一端面21的测试回路;当工件20 的第二端面22相对固定座100朝上布置时,其中一个测试接头30能够与设置于工件20的第二端面22上的第二对接头24相对接,另一个测试接头30能够与设置于工件20的第一端面21上的第一对接头23相对接,以形成工件20的第二端面22的测试回路,工件20的第二端面22与工件20的第一端面21相互背对设置。
如图1、图2及图5所示,在一实施例中,固定座100包括基座110、第一固定件120及第二固定件130,基座110用于承载待测试的工件20,支架200 设置于基座110的底部,基座110上设置有分别与第一对接头23和第二对接头24相对应的第一测试孔111和第二测试孔112,第一测试孔111和第二测试孔112均用于供测试接头30的穿设。第一固定件120可拆卸地设置于基座110 上,第一固定件120用于将工件20固定于基座110上,第一固定件120上设置有与第一对接头23相对应的第一测试孔111。第二固定件130可拆卸地设置于基座110上,第二固定件130用于将工件20固定于基座110上,第二固定件130上设置有与第二对接头24相对应的第二测试孔112。
请同时参考图1和图5,具体地,当进行工件20的第一端面21的测试时,将工件20放置于基座110上并使工件20的第一端面21相对基座110朝上布置,然后将第一固定件120安装于基座110上,并将第二固定件130从基座110 上拆离,以通过第一固定件120将工件20固定于基座110上;使其中一个测试接头30穿过设置于第一固定件120上的第一测试孔111并与第一对接头23 相对接,并使另一个测试接头30穿过设置于基座110上的第二测试孔112并与第二对接头24相对接,以形成工件20的第一端面21的测试回路。
请同时参考图2和图6,当进行工件20的第二端面22的测试时,将工件 20放置于基座110上并使工件20的第二端面22相对基座110朝上布置,然后将第二固定件130安装于基座110上,并将第一固定件120从基座110上拆离,以通过第二固定件130将工件20固定于基座110上;使其中一个测试接头30 穿过设置于第二固定件130上的第二测试孔112并与第二对接头24相对接,并使另一个测试接头30穿过设置于基座110上的第一测试孔111并与第一对接头23相对接,以形成工件20的第二端面22的测试回路,从而实现工件20 的第一端面21和第二端面22的双面测试。
如图5及图6所示,在一实施例中,基座110上间隔设置有多个第一测试孔111和/或多个第二测试孔112。具体在本实施例中,基座110上间隔设置有多个第一测试孔111和多个第二测试孔112。如图1及图2所示,进一步地,第一固定件120上间隔设置有多个第一测试孔111,第二固定件130上设置有多个第二测试孔112。
如图3及图4所示,具体地,工件20的第一端面21上间隔设置有多个第一对接头23,工件20的第二端面22上间隔设置有多个第二对接头24,基座110上间隔设置的多个第一测试孔111分别与工件20的第一端面21上间隔设置的多个第一对接头23一一对应,基座110上间隔设置的多个第二测试孔112 分别与工件20的第二端面22上间隔设置的多个第二对接头24一一对应,进一步地,第一固定件120上间隔设置的多个第一测试孔111分别与工件20的第一端面21上间隔设置的多个第一对接头23一一对应,第二固定件130上间隔设置的多个第二测试孔112分别与工件20的第二端面22上间隔设置的多个第二对接头24一一对应。
在一实施例中,进一步地,第一测试孔111以及第二测试孔112的尺寸与测试接头30的尺寸相匹配。通过上述结构的设置,使得第一测试孔111以及第二测试孔112能够分别对插入各自其中的一个测试接头30进行限位,进而保证了两个测试接头30的垂直度,使得两个测试接头30能够分别与工件20 的第一对接头23和第二对接头24稳定对接,保证工件20的第一端面21和第二端面22的测试数据稳定,同时避免了测试接头30在非垂直状态下对接工件 20的第一对接头23和/或第二对接头24而造成工件20的第一对接头23和/或第二对接头24以及自身的损伤报废。
如图7所示,在一实施例中,基座110上设置有第一定位部140,第一固定件120上设置有第二定位部150,第二定位部150能够与第一定位部140相配合,以将第一固定件120定位于基座110上。
如图8所示,在一实施例中,进一步地,第二固定件130上设置有第三定位部160,第三定位部160能够与第一定位部140相配合,以将第二固定件130 定位于基座110上。
如图7及图8所示,在一实施例中,第一定位部140为设置于基座110上的定位柱142,第二定位部150为设置于第一固定件120上的第一定位孔152,第三定位部160为设置于第二固定件130上的第二定位孔162,定位柱142能够与第一定位孔152以及第二定位孔162相配合。
具体在本实施例中,基座110的两侧设置有定位柱142,第一固定件120 的两侧设置有分别与设置于基座110两侧的定位柱142相配合的第一定位孔 152,且第一定位孔152贯穿第一固定件120朝向基座110的一侧以及背离基座110的一侧。第二固定件130的两侧设置有分别与设置于基座110两侧的定位柱142相配合的第二定位孔162,且第二定位孔162贯穿第二固定件130朝向基座110的一侧以及背离基座110的一侧。
如图2所示,在一实施例中,第二固定件130包括框架132和多个压持件 134,框架132可拆卸地设置于基座110上,框架132具有用于收容工件20的内腔136,多个压持件134布设于框架132的周围,多个压持件134用于将工件20压持固定于框架132的内腔136中。具体在本实施例中,压持件134上设置有第二测试孔112,第二固定件130设有四个压持件134,四个压持件134 分别布设于框架132的四个顶角处。
如图1所示,所述支架200为框架结构,所述支架200至少支撑于固定座 100的两侧,以增强固定座100的固定稳定性。在一实施例中,所述支架可以至少分为两个相同设置的安装架210,两个所述安装架210设置于所述固定座 100的两侧。
所述安装架210包括第一支撑臂212和第二支撑臂214,所述第二支撑臂 214的一端连接在所述第一支撑臂212上,所述第二支撑臂214的另一端折弯并延伸以位于所述第一支撑臂212的下方,所述固定座100设置于所述第一支撑臂212的上方,以此,所述安装架210将所述固定座100提升并固定于预设高度数值以满足工作人员测试工作需求。所述第二支撑臂214包括第一子支撑臂216和第二子支撑臂218,所述第一子支撑臂216与所述第一支撑臂212平行设置且位于所述第一支撑臂212的下方,所述第二子支撑臂218垂直连接在所述第一支撑臂212和所述第一子支撑臂216之间,以达到所述固定座100可以得到所述支架200的稳定支撑的作用。在一些其他的实施例中,第二子支撑臂218可以具有两个,以使第一支撑臂212、两个第二子支撑臂218与第一子支撑臂216之间形成闭合结构。
再或者,在一些实施例中,所述安装架210可以继续固定于其他一些台面上,以满足更为广泛的测试需求。
上述滤波器双面测试治具10,使用时,首先利用支架200将固定座100 提升至预设高度数值以满足测试工作需求并加以固定,当需要对工件20的第一端面21进行测试时,可使工件20的第一端面21相对固定座100朝上布置,使其中一个测试接头30与设置于工件20的第一端面21上的第一对接头23相对接,并使另一个测试接头30与设置于工件20的第二端面22上的第二对接头24相对接,以形成工件20的第一端面21的测试回路;当需要对工件20的第二端面22进行测试时,可使工件20的第二端面22相对固定座100朝上布置,使其中一个测试接头30与设置于工件20的第二端面22上的第二对接头 24相对接,并使另一个测试接头30与设置于工件20的第一端面21上的第一对接头23相对接,以形成工件20的第二端面22的测试回路,实现工件20的第一端面21和第二端面22的双面测试。
在本方案中,本实用新型滤波器双面测试治具10可以满足双面均需测试的工件20的测试,由于所述第一固定件120及第二固定件130均可拆卸使用,使得测试工作中仅需翻转工件20即可,无需制备额外的测试治具以满足测试要求,测试过程中,测试接头30也可快速定位并对接,提高了测试效率。再者,支架200将固定座100提升至测试工作所需的预设高度数值,不仅可以防止周边设施对测试工作的各种数据干扰,也令测试人员直接站立在本实用新型滤波器双面测试治10旁侧即可,较为方便的徒手将两个测试接头30分别对接到分别设置于工件20的第一端面21和第二端面22上的第一对接头23和第二对接头24,实现对工件20的第一端面21和第二端面22的双面测试,避免了测试人员因长时间操作工作所带来的大量体力消耗。
以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的权利要求范围之内。
Claims (9)
1.一种滤波器双面测试治具,其特征在于,包括:
固定座,包括基座、第一固定件及第二固定件,所述基座用于承载待测试的工件,所述基座上设置有第一测试孔和第二测试孔,所述第一测试孔与设置于所述工件的第一端面上的第一对接头相对应,所述第二测试孔与设置于所述工件的第二端面上的第二对接头相对应,所述工件的第二端面与所述工件的第一端面相互背对设置,所述第一测试孔和所述第二测试孔均用于供测试接头的穿设,所述第一测试孔以及所述第二测试孔的尺寸与所述测试接头的尺寸相匹配;所述第一固定件可拆卸地设置于所述基座上,所述第一固定件用于将所述工件固定于所述基座上,所述第一固定件上设置有与所述第一对接头相对应的所述第一测试孔;所述第二固定件可拆卸地设置于所述基座上,所述第二固定件用于将所述工件固定于所述基座上,所述第二固定件上设置有与所述第二对接头相对应的所述第二测试孔;及
支架,设置于所述基座的底部以向上支撑所述固定座;
当进行所述工件的第一端面的测试时,将所述工件放置于所述基座上并使所述工件的第一端面相对所述基座朝上布置,然后将所述第一固定件安装于所述基座上,并将所述第二固定件从所述基座上拆离,以通过所述第一固定件将所述工件固定于所述基座上;使其中一个所述测试接头穿过设置于所述第一固定件上的所述第一测试孔并与所述第一对接头相对接,并使另一个所述测试接头穿过设置于所述基座上的所述第二测试孔并与所述第二对接头相对接,以形成所述工件的第一端面的测试回路;
当进行所述工件的第二端面的测试时,将所述工件放置于所述基座上并使所述工件的第二端面相对所述基座朝上布置,然后将所述第二固定件安装于所述基座上,并将所述第一固定件从所述基座上拆离,以通过所述第二固定件将所述工件固定于所述基座上;使其中一个所述测试接头穿过设置于所述第二固定件上的所述第二测试孔并与所述第二对接头相对接,并使另一个所述测试接头穿过设置于所述基座上的所述第一测试孔并与所述第一对接头相对接,以形成所述工件的第二端面的测试回路。
2.如权利要求1所述的滤波器双面测试治具,其特征在于,所述基座上间隔设置有多个所述第一测试孔和/或多个所述第二测试孔,且/或所述第一固定件上间隔设置有多个所述第一测试孔,且/或所述第二固定件上间隔设置有多个所述第二测试孔。
3.如权利要求1所述的滤波器双面测试治具,其特征在于,所述基座上设置有第一定位部,所述第一固定件上设置有第二定位部,所述第二定位部能够与所述第一定位部相配合,以将所述第一固定件定位于所述基座上;所述第二固定件上设置有第三定位部,所述第三定位部能够与所述第一定位部相配合,以将所述第二固定件定位于所述基座上。
4.如权利要求3所述的滤波器双面测试治具,其特征在于,所述第一定位部为设置于所述基座上的定位柱,所述第二定位部为设置于所述第一固定件上的第一定位孔,所述第三定位部为设置于所述第二固定件上的第二定位孔,所述定位柱能够与所述第一定位孔以及所述第二定位孔相配合。
5.如权利要求1所述的滤波器双面测试治具,其特征在于,所述支架至少支撑于固定座的两侧。
6.如权利要求1所述的滤波器双面测试治具,其特征在于,所述支架包括:
至少两个相同设置的安装架,所述安装架包括第一支撑臂和第二支撑臂,所述第二支撑臂的一端连接在所述第一支撑臂上,所述第二支撑臂的另一端折弯并延伸以位于所述第一支撑臂的下方,所述固定座设置于所述第一支撑臂的上方。
7.如权利要求6所述的滤波器双面测试治具,其特征在于,所述第二支撑臂包括第一子支撑臂和第二子支撑臂,所述第一子支撑臂与所述第一支撑臂平行设置,所述第二子支撑臂垂直连接在所述第一支撑臂和所述第一子支撑臂之间。
8.如权利要求1所述的滤波器双面测试治具,其特征在于,所述第二固定件包括框架和多个压持件,所述框架可拆卸地设置于所述基座上,所述框架具有收容所述工件的内腔,多个所述压持件布设于所述框架的周围,多个所述压持件用于将所述工件压持固定于所述框架的内腔中,所述压持件上设置有所述第二测试孔。
9.如权利要求8所述的滤波器双面测试治具,其特征在于,所述第二固定件设有四个所述压持件,四个所述压持件分别布设于所述框架的四个顶角处。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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GR01 | Patent grant | ||
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