KR100341128B1 - 액정 표시 소자의 화면표시 품위 검사방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정표시소자의 화면표시 품위 검사방법을 개시한다. 개시된 본 발명의 검사방법은, 일측 단부에 게이트 패드 및 데이타 패드를 구비하는 LCD 패널과; 게이트 구동용 다수의 드라이버 IC가 장착되고, 각 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 게이트 패드에 TAB 되어 있는 게이트 구동용 PCB와; 데이터 구동용 다수의 드라이버 IC가 장착되고, 각 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 데이터 패드에 TAB 되어있는 데이터 구동용 PCB를 포함하는 액정표시소자의 화면품위를 검사하는 방법에 있어서, 상기 LCD 패널의 게이트 패드들 중 홀수번째 패드들은 모두 대표 홀수 패드와 전기적으로 연결되고, 짝수번째 패드들은 모두 대표 짝수 패드와 전기적으로 연결되고, 상기 대표 홀수 패드에 스캐닝 한후, 여에 1프레임의 2분의 1에 해당하는 스캐닝 신호를 인가한후, 대표 홀수 패드에 홀딩되면, 대표 짝수 패드에 스캐닝 신호를 인가하여, LCD 패널내의 게이트 버스 라인을 구동시키고, 상기 각각의 게이트 버스 라인에 대응하는 모든 R, G, B 데이터 버스 라인에, R, G, B 데이터 입력신호를 상기 데이터 구동용 PCB 로부터 LCD 패널로 인가하여, 하나의 게이트 라인에 대응하는 모든 데이터 버스 라인을 일괄구동시키는 것을 특징으로 한다.

Description

액정표시소자의 화면표시 품위 검사방법{method for testing display quality of LCD}
본 발명은 액정표시소자의 검사방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 패드간의 미세 피치로 인한 미스콘택(miscontact)을 방지하고 신호처리를 간소화할 수 있는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법에 관한 것이다.
현재 TFT-LCD 의 화면표시 품위검사방법으로는 풀콘택(full contact) 방식으로서, 모듈 드라이빙(module driving) 방식이 화면표시 품위검사에 여전히 사용되고 있다.
이러한 풀콘택방식은 데이터 입력신호 및 게이트 입력신호가 각각의 라인단위로 입력되어 실제 모듈과 같이 화면을 표시할 수 있었다. 즉, 1프레임동안 각각의 스캐닝시간마다 각각의 게이트 라인에 게이트 입력 신호가 순차적으로 인가되고, 각 스캐닝시간동안 각각의 데이터 라인에 데이터 입력신호가 인가된다.
따라서, 화소구동용 TFT는 R, G, B 화소단위로 스캐닝시간동안 턴온되고, 홀딩시간(프레임시간-스캐닝시간)동안 턴오프된다. 따라서, 데이터 입력신호의 경우 한 스캐닝시간동안 데이터 라인의 수만큼의 정보가 필요하므로, 데이터 라인수이상의 클럭주파수가 필요하게 된다.
도 1에서 보는 바와같이, 액정표시소자는 액정패널(10)과 액정패널의 게이트 구동용 PCB(20)과 액정패널의 데이터 구동용 PCB(30)로 이루어진다. 게이트 구동용 PCB(20)에는 액정패널(10)의 게이트 라인을 구동하기 위한 게이트구동신호(스캐닝신호)를 인가하기 위한 드라이브 IC(21-24)가 장착되고, 데이터 구동용 PCB(30)에는 액정패널(10)의 데이터 라인에 데이터 입력신호를 인가하기 위한 드라이버 IC(31-38)가 장착되어 있다.
이때, 액정패널(10)의 패드와 게이트 구동용 PCB(20)의 드라이브 IC(21-24) 및 데이터 PCB(30)의 드라이브 IC(31-38)의 패드는 풀콘택되어 TAB(Tape Automated Bonding)되어 있다.
하나의 TAB 내의 패드(P1-Pn)를 살펴보면, 풀콘택 방식을 이용하여 화면표시 품위검사를 하기 때문에 도 2에 도시된 바와같이 각각의 패드(P1-Pn)마다 드라이브 IC의 패드와 각각 접촉시켜 주기위한 콘택포인트가 존재한다.
현재 액정 표시 소자는 고화질을 실현하기 위하여, 화소수가 증대되고 있는 추세이다. 이와같은 화소수의 증대로, 게이트 버스 라인, 데이타 버스 라인의 수또한 증대되고, 이에따라, 게이트 패드 및 데이타 패드의 수 역시 증대되었다.
이러한 패드 수의 증대로 패드간의 피치(약 75㎛)가 매우 좁아져, 패널과의 콘택시 미스 콘택이 발생한다.
이와같이, 미스 콘택이 발생함에 의하여 테스트 시간이 증대되고, 그에 따라 검사결과에 대한 신뢰성이 저하되는 문제점이 있으며, 풀콘택 방식의 기술상의 어려움으로 테스트 툴(tool)의 비용이 많이 드는 문제점이 있었다.
이에 종래에는 데이타 패드를 R,G,B, 별로 각각 연결시켜서 대표 R,G,B 패드만을 TAB하는 기술이 본 출원인에 의하여 대한민국 특허출원 98-23354호로 출원된 바 있다.
그러나, 상기 기술은 데이타 패드쪽의 미세 피치 문제는 해결할 수 있었으나, 게이트 패드들간의 미세 피치로 인한 미스 콘택 문제는 여전히 해결할 수 없었다.
따라서, 본 발명은, 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 게이트 패드간의 미스콘택을 방지하고 신호처리를 간소화할 수 있는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
도 1은 종래의 풀콘택방식을 이용하는 경우에 있어서, 액정패널과 드라이브 IC간의 콘택상태를 도시한 도면,
도 2는 종래의 풀콘택방식을 이용한 화면품위 테스트시 액정패널의 하나의 TAB 에 대한 패드상태를 도시한 도면,
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정패널과 게이트 드라이브 IC간의 콘택상태를 도시한 도면,
도 4는 본 발명에 따른 화면품위 테스트시 액정패널의 하나의 TAB 에 대한 패드상태를 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 화면 품위 테스트시 액정 패널에 인가되는 신호의 파형도.
(도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명)
10 : LCD 패널 20 : 게이트 구동용 PCB
30 : 데이터 구동용 PCB 21-24 : 게이트 드라이브 IC
31-38 : 데이터 드라이브 IC O1,O2 : 제 1 및 제 2 대표 패드
E1,E2 : 제 1 및 제 2 대표 패드
상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 일측 단부에 게이트 패드 및 데이타 패드를 구비하는 LCD 패널과; 게이트 구동용 다수의 드라이버 IC가 장착되고, 각 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 게이트 패드에 TAB 되어 있는 게이트 구동용 PCB와; 데이터 구동용 다수의 드라이버 IC가 장착되고, 각 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 데이터 패드에 TAB 되어있는 데이터 구동용 PCB를 포함하는 액정표시소자의 화면품위를 검사하는 방법에 있어서, 상기 LCD 패널의 게이트 패드들 중 홀수번째 패드들은 모두 대표 홀수 패드와 전기적으로 연결되고, 짝수번째 패드들은 모두 대표 짝수 패드와 전기적으로 연결되고, 상기 대표 홀수 패드에 스캐닝 한후, 여에 1프레임의 2분의 1에 해당하는 스캐닝 신호를 인가한후, 대표 홀수 패드에 홀딩되면, 대표 짝수 패드에 스캐닝 신호를 인가하여, LCD 패널내의 게이트 버스 라인을 구동시키고, 상기 각각의 게이트 버스 라인에 대응하는 모든 R, G, B 데이터 버스 라인에, R, G, B 데이터 입력신호를 상기 데이터 구동용 PCB 로부터 LCD 패널로 인가하여, 하나의 게이트 라인에 대응하는 모든 데이터 버스 라인을 일괄구동시키는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 LCD 패널의 패드와 TAB 되어 있는 상기 게이트 구동용 PCB의 각 드라이버 IC의 패드는 중앙을 중심으로 2등분되어, 2등분된 그룹별로, 홀수번째 패드들 및 짝수번째 패드들이 대표 홀수 패드 및 대표 짝수 패드에 각각 연결된다.
본 발명에 의하면, 게이트 패드들을 2그룹으로 나눈다음, 각 그룹별 홀수번째 및 짝수번째끼리 모두 연결시켜서 대표 홀수 패드 및 대표 짝수 패드에 연결시킨다.
이에따라 실제적으로 LCD 패널의 패드와 TAB 되게 되는 패드는 대표 홀수 및 대표 짝수 패드이므로, 종래보다 콘택포인트의 수가 감소된다. 따라서, 미스콘택의 감소에 따라 테스트 타임 및 테스트 신뢰성이 개선된다.
또한, 테스트툴의 단가감소에 의한 생산단가를 감소시킬 수 있을 뿐만 아니라 검사용 모듈을 단순화할 수 있는 이점이 있다.
(실시예)
이하, 첨부된 도면에 의거하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하도록 한다.
첨부된 도면 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정패널과 게이트 드라이브 IC간의 콘택상태를 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명에 따른 화면품위 테스트시 액정패널의 하나의 TAB 에 대한 패드 배열 상태를 도시한 도면이고, 도 5는 본 발명의 화면 품위 테스트시 액정 패널에 인가되는 신호의 파형도이다.
본 도면에서는 종래와 동일한 부분에 대하여는 동일한 부호를 부여하도록 한다.
도 3을 참조하여, 본 발명의 액정 표시 소자는, 액정패널(10)과 액정패널의 게이트 구동용 PCB(20) 및 액정패널(10)의 데이터 구동용 PCB(30)로 이루어진다. 게이트 구동용 PCB(20)에는 액정패널(10)의 게이트 버스 라인을 구동하기 위한 게이트구동신호(스캐닝신호)를 인가하기 위한 드라이브 IC(21-24)가 장착되고, 데이터 구동용 PCB(30)에는 액정패널(10)의 데이터 버스 라인에 데이터 입력신호를 인가하기 위한 드라이브 IC(31-38)가 장착되어 있다. 이때, 액정패널(10)의 패드(도시되지 않음)와 드라이브 IC(31-38)의 패드간은 TAB된다.
아울러, 하나의 TAB내의 패드는 미스 콘택을 방지하기 위하여, 패드들의 중앙을 기준으로 2등분한다음, 중앙을 기준으로 좌측 그룹(또는 우측 그룹)의 홀수번째 패드(P1,P2,P3...)들간을 모두 연결시켜서 제 1 대표 홀수 패드(O1)에 접속시키고, 좌측 그룹의 짝수번째 패드(P2,P4,P6...)를 모두 제 1 대표 짝수 패드(E1)에 연결시킨다. 한편, 중앙을 기준으로 우측부(또는 좌측부)의 홀수번째 패드(Pn,Pn-2..,n은 홀수)들간을 모두 연결시켜서 제 2 대표 홀수 패드(O2)에 접속시키고, 우측부 짝수번째 패드(Pn-1,Pn-3)를 모두 연결시켜서 제 2 대표 짝수 패드(E2)에 연결시킨다.
따라서, 게이트 드라이버용 PCB(20)에서 각각의 TAB 구조를 보면, 도 3에서와 같이 2그룹으로 나뉘어진 패드에 스캐닝 신호를 인가하기 위한 4개의 라인만이 LCD 패널(10)의 패드와 TAB 되게 된다. 즉, 제 1 및 제 2 대표 홀수 및 짝수 패드(O1,O2,E1,E2)만이 LCD 패널(10)의 패드와 TAB 된다.
여기서, 상기 테스트 공정은 매트릭스 구동이 요구되지 않으므로, 홀수 짝수 번째 게이트 라인에 선택적으로 입력하여 제어한다.
즉, 이를 보다 구체적으로 설명하면, 도 5에 도시된 바와 같이, 1프레임의 2분의 1주기 동안 홀수번째 게이트 버스 라인들에 스캐닝 신호 즉, 하이 신호가 인가된다. 그후, 짝수번째 게이트 버스 라인은 홀수번째 게이트 버스 라인이 홀딩되면, 스캐닝 신호가 인가된다. 그러면, 홀수번째 게이트 버스 라인들이 스캐닝시간동안 그것들과 연결된 모든 R, G, B 데이터 버스 라인에 R, G, B 데이터 입력신호가 동시에 인가되어, 해당하는 모든 R, G, B 데이터 버스 라인이 일괄구동된다.
따라서, 패널내의 화소구동용 TFT 는 홀수번째 게이트 라인의 R, G, B 화소단위로 스캐닝시간(하이 구간)동안 일제히 턴온되고, 홀딩시간(로우 구간)동안 일제히 턴오프된다.
이때, 본 테스트 방법은 매트릭스 구동과 같이 선택되는 열,행에만 화소가 동작되도록 하는 것이 아니므로, 상기와 같이, 홀수번째, 짝수번째 게이트 버스 라인이 일제히 구동되어도, 테스트하는데 영향을 미치지 않는다.
이상에서 자세히 설명된 바와 같이, 본 발명의 TFT-LCD 의 화면표시 품위검사방법은 게이트 패드들을 2그룹으로 나눈다음, 각 그룹별 홀수번째 및 짝수번째끼리 모두 연결시켜서 대표 홀수 패드 및 대표 짝수 패드에 연결시킨다.
이에따라 실제적으로 LCD 패널의 패드와 TAB 되게 되는 패드는 대표 홀수 및 대표 짝수 패드이므로, 종래보다 콘택포인트의 수가 감소된다. 따라서, 미스콘택의감소에 따라 테스트 타임 및 테스트 신뢰성이 개선된다.
또한, 테스트툴의 단가감소에 의한 생산단가를 감소시킬 수 있을 뿐만 아니라 검사용 모듈을 단순화할 수 있는 이점이 있다.
기타, 본 발명은 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.

Claims (3)

  1. 일측 단부에 게이트 패드 및 데이타 패드를 구비하는 LCD 패널과; 게이트 구동용 다수의 드라이버 IC가 장착되고, 각 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 게이트 패드에 TAB 되어 있는 게이트 구동용 PCB와; 데이터 구동용 다수의 드라이버 IC가 장착되고, 각 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 데이터 패드에 TAB 되어있는 데이터 구동용 PCB를 포함하는 액정표시소자의 화면품위를 검사하는 방법에 있어서,
    상기 LCD 패널의 게이트 패드들 중 홀수번째 패드들은 모두 대표 홀수 패드와 전기적으로 연결되고, 짝수번째 패드들은 모두 대표 짝수 패드와 전기적으로 연결되고,
    상기 대표 홀수 패드에 스캐닝 한후, 여에 1프레임의 2분의 1에 해당하는 스캐닝 신호를 인가한후, 대표 홀수 패드에 홀딩되면, 대표 짝수 패드에 스캐닝 신호를 인가하여, LCD 패널내의 게이트 버스 라인을 구동시키고,
    상기 각각의 게이트 버스 라인에 대응하는 모든 R, G, B 데이터 버스 라인에, R, G, B 데이터 입력신호를 상기 데이터 구동용 PCB 로부터 LCD 패널로 인가하여, 하나의 게이트 라인에 대응하는 모든 데이터 버스 라인을 일괄구동시키는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 LCD 패널의 패드와 TAB 되어 있는 상기 게이트 구동용 PCB의 각 드라이버 IC의 패드는 중앙을 중심으로 2등분되어, 2등분된 그룹별로, 홀수번째 패드들 및 짝수번째 패드들이 대표 홀수 패드 및 대표 짝수 패드에 각각 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 데이터 구동용 PCB 의 각 드라이버 IC의 패드는 패드들의 중앙을 기준으로 2등분된 일 그룹의 홀수 및 짝수 대표 패드 2개와, 나머지 그룹의 홀수 및 짝수 패드 2개만이 상기 LCD 패널의 패드와 TAB 되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법.
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