JP6218362B2 - 測定治具 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 25
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 11
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 claims description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 13
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 11
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 11
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 2
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 2
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
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Description
図1に示すように、測定治具10は、全体を支持する基台20を備えていて、この基台20には、本体接続用コネクタ30と、電極スライド機構40とが取り付けられている。
続いて、電極スライド機構40について説明する。図1に示すように、電極スライド機構40は基台20に取り付けられるが、その取り付けにおいては、基台20の上面から電極スライド機構40の保持台部50の全体または一部が突出する状態で取り付けられている。それにより、電極スライド機構40の保持台部50以外の部分は、基台20に入り込んで外部から視認できない状態となっている。
以上のような構成を有する測定治具10の動作について、以下に説明する。
以上のような構成の測定治具10によると、電極ペア160は、一対の電極板161,162を備え、これら一対の電極板161,162の間には、電気的な絶縁性を有する絶縁層163が設けられている。このため、被測定物の電極に接触させる電極ペア160の構成は、簡易なものとなり、その製作が容易となる。
以上、本発明の一実施の形態について説明したが、本発明はこれ以外にも種々変形可能となっている。以下、それについて述べる。
Claims (5)
- 電気的な絶縁性を有する絶縁層と、この絶縁層を挟んで対向して設けられる一対の電極部材とを備える少なくとも一対の電極ペアと、
前記電極ペアを保持する保持手段と、
被測定物が載置される溝部が設けられ、一方の前記電極ペアと他方の前記電極ペアの間に被測定物を載置すると共に、少なくとも1つの前記電極ペアが前記溝部内を摺動して前記被測定物の載置箇所に向けて移動させることを可能とする保持台部と、
を具備し、
少なくとも1つの前記電極ペアを前記被測定物に向けて移動させることにより、一対の前記電極ペアの前記電極部材を前記被測定物に対して押し付ける、
ことを特徴とする測定治具。 - 請求項1記載の測定治具であって、
前記溝部には、前記電極ペアのうち前記保持台部に対して移動しない固定側を突出させる固定側溝部と、前記電極ペアのうち前記保持台部に対して移動する可動側を突出させると共に当該可動側の前記電極ペアの移動を許容する長さを有する可動側溝部と、
を具備することを特徴とする測定治具。 - 請求項2記載の測定治具であって、
前記可動側の前記電極ペアおよび前記保持手段には、付勢手段によって前記固定側の前記電極ペアに向かう付勢力が与えられる、
ことを特徴とする測定治具。 - 請求項1から3のいずれか1項に記載の測定治具であって、
前記電極部材は薄板状の電極板であると共に、
一対の前記電極板は、前記保持手段への取付側においてそれぞれ前記絶縁層に接着されていて、
前記保持手段から前記保持台部へ向かう自由端側において、一対の前記電極板を構成する少なくとも一方の電極板は、互いの間隔が広がる向きに移動可能に設けられている、
ことを特徴とする測定治具。 - 請求項4記載の測定治具であって、
一対の前記電極板の前記自由端側における一対の前記電極板同士の互いの間隔の広がりを規制するための押さえ用部品が設けられている、
ことを特徴とする測定治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012157390A JP6218362B2 (ja) | 2012-07-13 | 2012-07-13 | 測定治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012157390A JP6218362B2 (ja) | 2012-07-13 | 2012-07-13 | 測定治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014020819A JP2014020819A (ja) | 2014-02-03 |
JP6218362B2 true JP6218362B2 (ja) | 2017-10-25 |
Family
ID=50195888
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012157390A Active JP6218362B2 (ja) | 2012-07-13 | 2012-07-13 | 測定治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6218362B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6462465B2 (ja) * | 2015-04-07 | 2019-01-30 | 日置電機株式会社 | 測定用治具 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3992073A (en) * | 1975-11-24 | 1976-11-16 | Technical Wire Products, Inc. | Multi-conductor probe |
JPH076531Y2 (ja) * | 1988-09-05 | 1995-02-15 | 富士通オートメーション株式会社 | 測定用プローブ |
JP2531261Y2 (ja) * | 1991-09-27 | 1997-04-02 | コーア株式会社 | チップネットワーク電子部品検測装置 |
JP3270871B2 (ja) * | 1993-04-28 | 2002-04-02 | ソニー株式会社 | 半導体装置の測定用ソケット |
JP2001318119A (ja) * | 2000-05-02 | 2001-11-16 | Fujitsu Ltd | Icパッケージの接続方法及びicコンタクタ |
JP2005062100A (ja) * | 2003-08-19 | 2005-03-10 | Kiyota Seisakusho:Kk | ケルビンプローブ |
-
2012
- 2012-07-13 JP JP2012157390A patent/JP6218362B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014020819A (ja) | 2014-02-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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