JP6462465B2 - 測定用治具 - Google Patents
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Description
3 保持部
4 移動機構
5 カバー部
5a 支軸
50a,50b プローブ部
12 保持部材
13 溝部
13a 底部
13b 測定位置
14 凹部
14a 底面
100 チップ部品
101a,101b電極
Claims (3)
- 測定対象の電気部品を載置可能な溝部を有して当該溝部に載置された当該電気部品を保持する保持部と、一対のプローブ部の少なくとも一方を移動対象として前記溝部の長さ方向に当該移動対象のプローブを移動させて前記保持部によって保持されている前記電気部品における対向する一対の被接触部に当該各プローブ部をそれぞれ接触させる移動機構とを備えた測定用治具であって、
前記電気部品の前記被接触部に前記各プローブ部がそれぞれ接触するときに前記溝部において当該電気部品が位置する測定位置を覆うカバー部を備え、
前記カバー部は、前記移動機構による前記移動対象のプローブの移動動作に連動して、前記測定位置を開放する第1状態と前記測定位置を覆う第2状態とを切り替え可能に構成されて、前記移動対象のプローブが初期位置に位置している状態において前記第1状態に維持され、前記電気部品の前記各被接触部に前記各プローブ部がそれぞれ接触するときに前記第2状態に切り替えられる測定用治具。 - 前記カバー部は、支軸によって回動可能に軸支されて、前記移動動作に連動して回動することによって前記第1状態と前記第2状態とを切り替え可能に構成されている請求項1記載の測定用治具。
- 前記保持部は、底面が平坦に形成されると共に当該底面が前記溝部の底部と同じ深さに規定されて、前記溝部における前記測定位置を除く部分に連続するように形成された凹部を備えている請求項1または2記載の測定用治具。
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