JPH10148651A - 電気的測定器の測定用端子 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電気的特性検査の信頼性が向上する電気的測
定器の測定用端子を提供する。 【構成】 チップ部品１０の両端面側の電極部１、２の
一つの電極部２に当接する測定用端子１１を、先端部１
２を露出させつつテフロン１３等で絶縁被覆した少なく
とも４本以上の測定針（図１では６本を２列に計１２
本）が全て電極部２の上面１ａ、２ａに垂直で互いに平
行に且つ独立して測定針の軸方向（矢印Ｙの上下方向）
に可動となるようにしてバネ性をもたせつつ連設され、
且つ連設された測定針が二種の異なる測定用端子（Ａ端
子、Ｂ端子）に配分されるとともに各々電気的測定器側
で同じ測定用端子となるもの同士が電気的に導通され、
且つ電子部品の電極部１に当接する測定針先端側は前記
二種の異なる測定用端子Ａ、Ｂとなる測定針が隣合うよ
うに配列した構成として、測定用端子１１の当接領域を
広げた構成。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は小型電子部品、特に
表面実装用の略直方体形状やドラム形状の所謂チップ部
品の電気的特性の測定の際に、チップ部品の電極に電気
的接続のため当接される測定用端子に関するものであ
り、詳細には、一つの電極に電圧測定端子と電流測定端
子の二つの測定用端子を当接して測定する４端子抵抗測
定法等にて測定する場合に用いる電気的測定器の測定用
端子に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、電子部品の小型化・表面実装化が
急速に進展しており、表面実装に適したドラム形状や直
方体形状の所謂チップ部品がキャパシタ、インダクタ、
抵抗、サーミスタ素子等で開発されている。

【０００３】これらチップ部品の電気的特性の測定検査
の際には、電気的測定器にコード等で接続されて当該チ
ップ部品の電極部に測定用端子（一般には針状の測定針
（測定用探針）または薄板状の導電性金属）を当接して
測定する。

【０００４】例えば、図４に示されるチップ形低抵抗素
子（以下、チップ部品とも称する）１０の抵抗値を測る
場合には、通常、四端子低抵抗測定法によって行われ
る。

【０００５】この場合には、プラス／マイナスの２本の
電圧測定針Ｖ（＋）、Ｖ（−）と、プラス／マイナスの
２本の電流測定針Ｉ（＋）、Ｉ（−）の４本の測定針を
各々チップ形低抵抗素子１０の両端面側の電極部１、２
に例えば図のように上方から二本ずつ垂下させて当接す
る。

【０００６】この際、各測定針は上下に適当な付勢手段
（コイルバネ等）によってバネ性を持たせて独立して上
下に可動とする構成となっており、且つ測定針の先端は
尖っておらず図のように平坦（または球面）になってい
て、チップ部品１０の電極部１、２に当接する際に傷つ
けることなく適度な押圧で確実に接触するようになって
いる。上記測定針の上下のバネ性はチップ部品１０の電
極上面１ａ、２ａが測定針に対して直角（換言すれば水
平）でなく多少傾いていても測定針先端が当接するとい
う作用を有している。

【０００７】尚、図４のような直方体形状のチップ部品
１０に限らずドラム形状のチップ部品にあっても、該チ
ップ部品の両端電極部に上記測定針を当接して測定する
ことができることは云うまでもない。

【０００８】また、測定用端子としては前述のような垂
直に配されて上下可動とする測定針の構成以外にも、例
えば水平ないし斜めに配されて先端部分がチップ部品の
電極部の当接する電極面に対して略直角になるようにＬ
字形状に折曲され、自身のバネ性を利用して適度に押圧
する測定針の構成もある。

【０００９】さらに、針状ではなく、包丁のような薄板
形状のバネ性を有する板状導電性金属を立ててその端面
を電子部品の電極部に当接する構成もある。

【００１０】ところで、一般には図３のように水平に支
持されたチップ抵抗素子１０の上方から垂下する測定針
Ｖ（±）、Ｉ（±）が測定対象であるチップ部品各々所
定の電極部に到達するのであるが、部品搬送装置と電気
的測定器（テスター）の組み合わせによって測定検査工
程が自動化された現在では、毎秒１０個程度の高速で測
定されるようになっている。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、搬送装
置系の部品（治具）の摩耗による位置ずれや小型化する
チップ部品の寸法のばらつき等が原因となって、測定用
端子が対象とする電子部品（チップ部品）の電極部に適
正に当接せず、接触不良による測定値のばらつきや測定
不可の事態が発生している。

【００１２】即ち、図４におけるような四端子低抵抗測
定法では四つの測定針がチップ部品の電極部１、２（通
常２カ所）に全て適正に接触しなければ測定できないの
であるが、図５の平面図に示されるように、チップ部品
１０が点線１０′のようにずれた場合に電極部１′、
２′に接触しない測定針（図ではＶ（＋）とＩ（−）の
測定針）が生じる。

【００１３】したがって、測定対象のチップ部品１０の
ずれ（特に水平方向のずれ）が大きいと電気的特性（例
えば抵抗値）の測定は不能ないし不正確になってしま
う。

【００１４】以上詳述したように、電子部品の小型化が
進んで１〜３ミリ四方の直方体形状のチップ部品も登場
している現在、測定針を全て（４端子測定法の場合は４
本）自動搬送されてきた電子部品の所定の電極部に正し
く当てること自体が困難になってきており、如何に測定
精度を向上するかが問題となってきている。

【００１５】勿論、測定対象物たる電子部品が測定用端
子に対してずれが生じないように位置出しの搬送系（ロ
ータリー式治具やバケット式治具等の部品搬送装置）を
正確なるように改善することが対応策として考えられる
が、種々多様な寸法形状のチップ部品について個々に対
策するのではコストが莫大となるおそれがあり、治具の
摩耗による精度の経時的劣化は不可避的に生じる。

【００１６】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、電子部品の電気的測定器による電気的変量の測
定の際に、電子部品が測定用端子に対して多少ずれても
電極部へ確実に測定用端子が当接するようにして測定の
信頼性を向上した測定用端子を提供するものである。

【００１７】

【課題を解決するための手段】本発明は、 （１）電子部品の電極部に当接して電気的変量を測定す
る電気的測定器の測定用端子において、電子部品の一つ
の電極部に当接する測定用端子を、先端部を露出させつ
つ絶縁被覆した少なくとも４本以上の測定針が平行に且
つ独立して測定針の軸方向に可動となるようにバネ性を
もたせつつ連設されていることを特徴とする電気的測定
器の測定用端子を提供することにより、換言すれば、測
定対象の電子部品が測定用端子に対してずれて位置する
場合でも、共通の測定端子となる測定針が複数配置され
ることによって接触許容範囲（接触確率）が増大して測
定不可となる状態が著しく減少することで測定の信頼性
を向上するという目的を達成するものである。

【００１８】（２）また、上記（１）記載の電気的測定
器の測定用端子において、平行に連設された測定針が二
種の異なる測定用端子に配分されるとともに各々電気的
測定器側で同じ測定用端子となるもの同士が電気的に導
通され、且つ電子部品の電極部に当接する測定針先端側
は前記二種の異なる測定用端子となる測定針が隣合って
配列されていることを特徴とする電気的測定器の測定用
端子を提供することにより、換言すれば、一つの電極に
対して最少２本の測定針を必要とする測定の場合に、各
２本以上、合計４本以上と倍増させることによって接触
許容範囲（接触確率）を増大させ上記目的を達成するも
のである。

【００１９】（３）また、所定形状に加工されたバネ性
を有する板状導電性金属を絶縁板を挟みつつ少なくとも
４枚以上平行に連設させるとともに各板状導電性金属が
平行を維持しつつ独立可動と為し、各板状導電性金属の
端面が電子部品の一つの電極部に当接する構造を特徴と
する電気的測定器の測定用端子を提供することにより、
上記目的を達成するものである。

【００２０】（４）また、上記（３）記載の電気的測定
器の測定用端子において、平行に連設された板状導電性
金属が二種の異なる測定用端子に配分されるとともに各
々電気的測定器側で同じ測定用端子となるもの同士が電
気的に導通され、且つ前記二種の異なる測定用端子とな
る板状導電性金属が隣合って配列されていることを特徴
とする電気的測定器の測定用端子を提供することによ
り、上記目的を達成するものである。

【００２１】（５）さらに、上記（１）または（２）ま
たは（３）または（４）記載の電気的測定器の測定用端
子において、電子部品の一つの電極に当接する測定用端
子が電圧測定端子と電流測定端子に配分され、電子部品
の抵抗値を四端子抵抗測定法にて行う測定端子としたこ
とを特徴とする電気的測定器の測定用端子を提供するこ
とにより、上記目的を達成するものである。

【００２２】尚、ここにいう電気的変量を測定する電気
的測定器とは、電子部品（単体素子や複合素子）の抵抗
値、電流値、電圧値、容量、インダクタ等を測るテスタ
ー（電流計、電圧計からシステム化した大型のものに及
ぶ）を意味する。

【００２３】

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を、図面に基
いて詳細に説明する。尚、従来と同様部材については同
符合にて指称する。

【００２４】図１は本発明に係わる電気的測定器の測定
用端子と測定対象のチップ部品を表す斜視図である。

【００２５】図において、チップ形低抵抗素子１０の両
端面側の電極部１、２の一つの電極部（例えば電極部
２）に当接する測定用端子１１を、先端部１２を露出さ
せつつテフロン１３等で絶縁被覆した少なくとも４本以
上の測定針（図１では６本を２列に計１２本）が全て電
極部１、２の上面１ａ、２ａに垂直で互いに平行に且つ
独立して測定針の軸方向（矢印Ｙの上下方向）に可動と
なるように各測定針の上方端にスプリング（図示略）を
装着することによってバネ性をもたせつつ連設されてい
ることを特徴とする。

【００２６】また、上記測定用端子１１は、平行に連設
された測定針が二種の異なる測定用端子（Ａ端子、Ｂ端
子）に配分されるとともに各々電気的測定器側で同じ測
定用端子となるもの同士が電気的に導通され（つまり、
電極部２側に当接するＶ（−）同士、Ｉ（−）同士、電
極部１側に当接するＶ（＋）同士、Ｉ（＋）同士で各々
共通端子として導通する）、且つ電子部品の電極部１に
当接する測定針先端側は前記二種の異なる測定用端子
Ａ、Ｂとなる測定針が隣合って配列されていることを特
徴とする。

【００２７】上記構造とすることで、連設する広い範囲
に測定用端子として目的を同じくする測定針が分布する
ので、図２の平面図に示されるように、実線で示した適
正な位置のチップ部品１０は勿論、破線の位置にずれた
チップ部品１０ａ、一点鎖線の位置にずれたチップ部品
１０ｂでも各測定用端子Ｖ（＋）、Ｖ（−）、Ｉ
（＋）、Ｉ（−）の少なくとも１本の測定針は電極部
１、２に当接しているので、正確に目的の電気的変量
（抵抗値等）を測定できることになる。

【００２８】畢竟、従来の測定用端子の場合を示す図５
と比較すれば明らかなように、測定対象であるチップ部
品１０の位置ずれに対して、測定許容範囲が広がって、
測定精度が向上する訳である。

【００２９】勿論、上記測定針の連設状態は上記のよう
に２×６（６本を２行に配列）に限らず、３×４、３×
６のように多数縦横にマトリックス状に配列して、可及
的に電極部領域を広くカバーするように構成することが
より測定の信頼性を向上するに望ましいことは云うまで
もない。

【００３０】また、各測定端子の共通となる測定針は広
範囲に一様に分布させるには、異なる測定用端子が隣合
って配列される状態、即ち一松模様の如く段違いに交互
に配列されることが最も効果的な配列といえよう。

【００３１】尚、上記発明の思想は測定用端子が板状の
場合であっても適用できる（請求項３）。以下、その実
施の形態を説明する。

【００３２】図３はその構造を示す斜視図である。本図
において、電気的測定器の測定用端子３０は、所定形状
（短冊状）に加工されたバネ性を有する板状導電性金属
３１を絶縁板３２を挟みつつ少なくとも４枚以上（本図
では６枚）平行に連設させるとともに各板状導電性金属
３１が平行を維持しつつ独立可動（矢印Ｚ）と為し、各
板状導電性金属３１の端面３１ａがチップ部品１０の一
つの電極部１（または２）に上方より矢印Ｆの方向へ垂
下して当接する構造を特徴とする。

【００３３】即ち、各板状導電性金属３１の端面３１ａ
がバネ性をもって電極部に当接し、且つ連設された複数
枚の板状導電性金属３１のうち２枚以上（図３では３
枚）が共通の測定用端子となるのである。

【００３４】例えば本図ではチップ部品１０の抵抗値を
四端子抵抗測定法にて行う場合で、電極部１に当接する
Ｖ（＋）端子、Ｉ（＋）として各３枚を共通端子として
いる。

【００３５】したがって、一枚のみの場合に比べて横方
向（矢印Ｘ方向）の当接領域が広がってチップ部品の位
置ずれに対して許容範囲が増大し測定の信頼性が向上す
るのである（尚、上記板状導電性金属３１の測定用端子
では電極部端面を結ぶＸ方向のずれに対しては元々、位
置ずれ許容範囲が広いことが図３から判る）。

【００３６】尚、本発明の測定用端子１１には従来の測
定用端子と同じであり、例えば直径１００μｍ程度のリ
ン青銅の針、または厚さ５０μｍ程度の可撓性に富む薄
板を使用するが、その他の測定用端子材料でもよいこと
は云うまでもない。

【００３７】

【発明の効果】本発明に係わる電気的測定器の測定用端
子は上記のような構成なので、測定対象の電子部品（チ
ップ部品）の位置がずれても確実に測定することがで
き、電気的特性検査の信頼性が向上するという優れた効
果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の請求項１、請求項２及び請求項５に係
わる電気的測定器の測定用端子と測定対象のチップ部品
を表す斜視図である。

【図２】本発明に係わる電気的測定器の測定用端子と測
定対象のチップ部品の位置ずれの状態を表す平面図であ
る。

【図３】本発明の請求項３、請求項４及び請求項５に係
わる電気的測定器の測定用端子構造を示す斜視図であ
る。

【図４】従来の測定用端子でチップ形低抵抗素子（チッ
プ部品）の抵抗値を測る場合の状態を示す斜視図であ
る。

【図５】従来の測定用端子と測定対象のチップ部品の位
置ずれの状態を表す平面図である。

【符号の説明】

１、２ 電極部 １ａ、２ａ 電極上面 １０ チップ形低抵抗素子（チップ部品） １１、３０ 測定用端子 １２ 先端部 １３ テフロン ３１ 板状導電性金属 ３１ａ 端面 ３２ 絶縁板 Ｖ（＋）、Ｖ（−） 電圧測定針 Ｉ（＋）、Ｉ（−） 電流測定針

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子部品の電極部に当接して電気的変量
   を測定する電気的測定器の測定用端子において、電子部
   品の一つの電極部に当接する測定用端子を、先端部を露
   出させつつ絶縁被覆した少なくとも４本以上の測定針が
   平行に且つ独立して測定針の軸方向に可動となるように
   バネ性をもたせつつ連設されていることを特徴とする電
   気的測定器の測定用端子。
2. 【請求項２】 請求項１記載の電気的測定器の測定用端
   子において、平行に連設された測定針が二種の異なる測
   定用端子に配分されるとともに各々電気的測定器側で同
   じ測定用端子となるもの同士が電気的に導通され、且つ
   電子部品の電極部に当接する測定針先端側は前記二種の
   異なる測定用端子となる測定針が隣合って配列されてい
   ることを特徴とする電気的測定器の測定用端子。
3. 【請求項３】 所定形状に加工されたバネ性を有する板
   状導電性金属を絶縁板を挟みつつ少なくとも４枚以上平
   行に連設させるとともに各板状導電性金属が平行を維持
   しつつ独立可動と為し、各板状導電性金属の端面が電子
   部品の一つの電極部に当接する構造を特徴とする電気的
   測定器の測定用端子。
4. 【請求項４】 請求項３記載の電気的測定器の測定用端
   子において、平行に連設された板状導電性金属が二種の
   異なる測定用端子に配分されるとともに各々電気的測定
   器側で同じ測定用端子となるもの同士が電気的に導通さ
   れ、且つ前記二種の異なる測定用端子となる板状導電性
   金属が隣合って配列されていることを特徴とする電気的
   測定器の測定用端子。
5. 【請求項５】 請求項１または請求項２または請求項３
   または請求項４記載の電気的測定器の測定用端子におい
   て、電子部品の一つの電極に当接する測定用端子が電圧
   測定端子と電流測定端子に配分され、電子部品の抵抗値
   を四端子抵抗測定法にて行う測定端子としたことを特徴
   とする電気的測定器の測定用端子。