JPH04215070A - チップ型電子部品の測定端子 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はチップ型電子部品（以下
チップという）の測定端子、例えば、チップ抵抗器の検
測器に用いる抵抗値測定用端子に係るものであり、単体
のチップの他、２以上の単体のチップを合併構成（セラ
ミック基板は共通）した多連型チップの測定端子に係る
ものである。

【０００２】

【従来の技術】チップ（例、チップ抵抗器）の製造工程
において、製造されたチップの電気的特性（例、抵抗値
）を測定検査する工程があり、通常は測定端子上にチッ
プを送給し、チップの電極に端子を圧接した状態で電気
計測を行って、チップの合格、不合格を検査している。

【０００３】なお、チップには図３のような標準タイプ
の単体のチップｔと、図４のような２以上の単体のチッ
プｔを並列合併構成したような多連型チップｔ′（図は
４連型）があり、単体のチップｔ、例えばチップ抵抗器
ｔはセラミック基板３の両端に電極１、１を設け、その
間を抵抗体４で接続して設けたものであり、図４の４連
型チップ（抵抗器）ｔ′は共通セラミック基板３　　の
両端に４組の電極１、１を並列して設け、各組電極間を
各抵抗体４で接続して設けたものである。

【０００４】従来この種測定端子としては、例えば図６
及び図８のように線状端子で構成した線状測定端子ａや
、図７及び図９のように平板状端子で構成した平板状測
定端子ａ′があり、何れもチップ抵抗器ｔの１方の電極
１に２本の端子２、２、つまりチップ抵抗器ｔの両方の
電極１、１に各２本宛計４本の端子２を同時に接触して
抵抗値測定を行うようにしたものである（これを４端子
測定法と称す）。

【０００５】なお、図８及び図９に示した測定端子ａ、
ａ′は何れも単体のチップ抵抗器ｔ用ではなく、４連型
チップ抵抗器ｔ′用のものであり、従って、４組の測定
端子ａ１〜ａ４及びａ′１〜ａ′４を並列設置したもの
である。

【０００６】

【課題】しかるところ、近時はチップの小形化が急速に
進んで、例えば１００５型（縦１．０×横０．５ｍｍ）
、１６０８型（縦１．６×横０．８ｍｍ）などの超小形
チップが多用されつつある。そして、１００５型チップ
の電極１の幅は０．３ｍｍ、１６０８型チップのは０．
４ｍｍであって、該０．３〜０．４ｍｍの部分に２本の
端子２を正確に接触する場合は、端子２の幅もあるので
、２本の端子２間のギャップは０．１ｍｍ位しかとれな
いこととなり、また、多連型チップｔ′における並列測
定端子間の寸法も０．２ｍｍ位しかないため、上記従来
構成の測定端子ａ、ａ′などでは、下記のような重大な
課題が生じて、対応しきれなくなってきたものである。

【０００７】線状測定端子ａ１の場合（図６、８参照）
。チップの小形化に対応するため線径が益々小径となり
、よって、外力で簡単に変形してしまって正しい端子間
ギャップを設定保持することが難しく、そのため測定時
のチップ電極の圧接も充分な加圧ができず、接触不良を
生じる。また、細径のため端子断面積が小さく、測定に
必要な電流容量が得られない。

【０００８】平板状測定端子ａ２の場合（図７、９参照
）。同じくチップの小形化に対応するために平板の寸法
を益々狭幅にせねばならぬがそれにも限界があり、狭幅
のための充分な弾発力が得られず、その上平板の場合は
電極に凹凸があると接触状態がバラバラになって接触不
良を生じる。また、同じく端子断面積が小となって充分
な電流容量が得られない。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は、測定端子の端
子板として平板状の導電性薄板を使用し乍ら、それを従
来の平面状態ではなく、垂直並列設置状態とすることに
想到したものであり、垂直に備えた導電性薄板の、上端
部にチップの電極に接触する端子を形成すると共に、そ
の下方に、切り込みを付するなどにより、端子に対する
垂直荷重に弾発する弾性部を形成した端子板を、絶縁薄
板を介して並設したものを、相互の端子間に設定間隔を
おいて相対設置して、チップの測定端子を設けることに
よって従来の課題を解決したものである。

【００１０】また、本発明は上記構成の２以上の測定端
子を設定間隔をおいて並列設置して、多連型チップ用の
測定端子を設けることによって、多連型チップを測定す
るための課題を解決したものである。

【００１１】

【実施例】（図１、図２、及び図５参照）実施例は４連
型チップｔ′測定用に本発明を実施したものであり、垂
直に備えた導電性薄板の上端部にチップの電極１に接触
する端子２を形成すると共に、その下方部に切り込み５
を付してＳ字状の弾性部２ｂを形成した端子板２ａを、
中間に絶縁性薄板（スペーサー）６を介在して並設した
もの（チップの１方の電極１に接触する分）を、相互の
端子２間に設定間隔（チップの電極１、１間の距離ｌ）
をおいて相対設置して測定端子Ａを設け、該測定端子Ａ
を図示例ではＡ１〜Ａ４並列設置して、４連型チップ用
の測定端子を構成したものである。

【００１２】なお、上記測定端子Ａの設定間隔をおいて
相対設置した端子２、２間、及び、上記並列設置した各
測定端子Ａ、Ａの間に、必要に応じて、絶縁性のスペー
サー若しくはガイド板等を介在設置して、相互のギャッ
プを確保して誤接触を防止するようにする。

【００１３】

【作用、効果】導電性薄板即ち端子板を垂直に、絶縁性
薄板（スペーサー）を介して設置して測定端子を構成し
たものであるので、極薄スペーサーの介在によって並設
端子間のギャップを極小寸法に設定し得る上に、端子同
志の誤接触などを生じない状態に極めて高精度に設置し
得る。

【００１４】従って、従来の線状端子や平板状端子では
対応するのが困難であった、例えば１００５型、１６０
８型のような超小形チップ及びその多連型チップにも対
応し得る測定端子を提供し得る。

【００１５】従来の測定端子の場合、チップの小形化に
従って当然その線径や板幅、板厚等が制約されて、それ
らの寸法が極めて小さくならざるを得ず、その結果、測
定時のチップの接触圧もそれらが変形しない限度内で行
わねばならぬため接触不良を生じ、また、端子の断面積
が小であるため測定に充分な電流容量が得られないなど
の重大な欠点があったが、

【００１６】その点本発明は端子板を垂直姿勢に設置し
たので、前記のように端子間のギャップを極小にし得る
ばかりでなく、端子に大きな垂直荷重即ちチップ測定時
の圧接荷重が加わっても、弾性部の弾発作用で正確に対
応し得て、チップの電極と端子の強固確実な接触状態が
得られ、更に端子の断面積が従来に比し格段に大である
ので、大きな電流容量が得られる。

【００１７】また、本発明は２以上の測定端子を相互間
に小さな間隔をおいて何ら支障なく並列設置し得るので
、２連以上の多連型チップ用の測定端子を簡単に構成し
得る。

【００１８】端子板を垂直に並設したので、外線と接続
するための外線接続部を垂直方向の適宜位置に自在に形
成し得る。従って、従来の如く外線接続部のスペースの
確保が問題になるようなことがない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例測定端子（４連型チップ用）の
構成概略を示す正面図。

【図２】図１の平面図。

【図３】単体のチップの平面図、底面図及び側面図。

【図４】４連型チップの平面図、底面図及び側面図。

【図５】本発明測定端子の測定説明正面図及び底面図。

【図６】従来の線状測定端子の測定説明正面図及び底面
図。

【図７】従来の平板状測定端子の測定説明正面図及び底
面図。

【図８】従来の４連型チップ用線状測定端子の平面図。

【図９】従来の４連型チップ用平板状測定端子の平面図
。

【符号の説明】

Ａ　　　　本発明測定端子 Ａ１〜Ａ４　　本発明測定端子 ａ　　　　従来の線状測定端子 ａ１〜ａ４　　従来の線状測定端子 ａ′　　従来の平板状測定端子 ａ′１〜ａ′４　　従来の平板状測定端子ｔ　　　　単
体のチップ（チップ型電子部品）、チップ抵抗器 ｔ′　　４連型チップ ｌ　　　　設定間隔、チップの電極１、１間の寸法１　
　　　電極 ２　　　　端子 ２ａ　　端子板 ２ｂ　　弾性部 ２ｃ　　外線接続部 ３　　　　セラミック基板 ４　　　　抵抗体 ５　　　　切り込み ６　　　　絶縁性薄板（スペーサー）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　垂直に備えた導電性薄板の、上端部に
   チップ型電子部品の電極に接触する端子を形成すると共
   に、その下方に、切り込みを付するなどにより、端子に
   対する垂直荷重に弾発する弾性部を形成した端子板を、
   絶縁性薄板を介して並設したものを、相互の端子間に設
   定間隔をおいて相対設置して設けたことを特徴とする、
   チップ型電子部品の測定端子。
2. 【請求項２】　　２以上の測定端子を設定間隔をおいて
   並列設置して設けたことを特徴とする、多連型チップ型
   電子部品の測定端子。