JPH06781Y2 - 導通試験用テストカ−ド - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この考案は、ＩＣカード等をＩＣカード等のリーダ・ラ
イタの一部を構成するカードコネクタに挿着した際のカ
ードの接点とカードコネクタのコンタクトピンとの間の
導通の良否の判定もしくはそれらの接触抵抗の測定を行
うための導通試験用テストカードに関するものである。

（従来の技術とその問題点） 従来では、これらの導通の良否は予め正常なカードを用
意し、このカードコネクタに挿着して所定の読出を行う
ことにより判定していた。このため、導通は良好であっ
ても、カード自体にあるいはカードコネクタやカードリ
ーダ・ライタ自体の不良・故障が存在するときは正常な
読出しができないため導通不良・接触不良と判断すると
いう不都合があった。

（問題点を解決するための手段） この考案の目的は、カードの接点とコンタクトピンの
導通の良否を判定するのに用いる導通試験用テストカー
ドを提供することにある。

この考案による導通試験用テストカードは、正規のカ
ードとほぼ同一の位置に設けられた端子を、これに接続
された内部導体を介して、外部回路に接続するための導
出用導体に接続するように構成されている。

（作用） カードの導出用導体とコンタクトピンとの間に電源を接
続し、この電源の電圧を測定する電圧計と導出用導体ま
たはコンタクトピンを流れる電流を測定することによ
り、カードの端子とコンタクトピン間の導通の良否やそ
れらの接触抵抗値の測定をしている。

（実施例） 以下、この考案の実施例を図面に基づき説明する。

第２図はこの考案に係るカード８の平面図である。この
カードは、中央のコア部を挟んで上面側にオーバシー
ト、下面側にアンダシートを備えた三層構造となってい
る。第１図はオーバシートを剥がしてコア部を露出して
示した図である。このコア部の一部をくり抜いて、正規
のカードと同一の位置に同一の寸法で形成された８個の
端子１０，１０と、外部の測定回路に接続するための８
個の導出用導体１２，１２と、端子１０と導出用導体１
２をそれぞれ一対一に電気的に接続するパターン化され
た内部導体１４，１４が設けられている。端子１０，１
０と導出用導体１２，１２はオーバシート面を通して露
出しているが、内部導体１４，１４はオーバシート面に
より被覆されている。

なお、端子１０，１０の位置は、正規のカードの対応端
子の位置と一致するように設けられなければならない
が、カードをカードコネクタに挿入する際にカードを案
内するカードの一方または両方の側辺（アライニングエ
ッジ）とカードを所定位置に停止させるカードの先端辺
（リーデイングエッジ）を基準に端子１０，１０の位置
を設定すればよい。

導出用導体１２，１２は、第３図に示すようにカードの
端部辺近傍に設けるようにしてもよく、また第４図に示
すように導出線にしてもよい。なお、以上の実施例では
導出用導体１２，１２は端子１０，１０に一対一に対応
してそれら端子と同数だけ設けているが、導出用導体を
１つにし、各端子１０，１０をこの１つの導出用導体に
接続するように内部導体１４，１４のパターンを形成し
てもよく、この場合、端子１０は、正規のカードの対応
する複数個の端子の全部を含む領域に配置された１つの
導体で構成してもよい。なぜなら、端子１０とコンタク
トピンとの接触状態に基づく導通の良否の判断はこの様
な構成でも達成できるからである。

カード８は第５図および第６図に示すカードコネクタ１
６に挿着される。カードコネクタ１６は、底面ガイド１
８、側面ガイド２０，２０および上面ガイド２２，２２
からなる挿入ガイドと、カードストッパ２４と、コンタ
クトピン機構２６と、を備えている。

コンタクトピン機構２６は、第７図に示すように、ピン
ホルダ２８と、このピンホルダ２８に設けられた挿通孔
３０，３０を貫通して設けられたコンタクトピン３２，
３２と、このコンタクトピンを下方に押圧するようにバ
イアスを与えるバネ３４，３４を備えている。コンタク
トピン３２，３２は、バネ３４，３４の押圧力による移
動制限を与えるための止め輪３６，３６と、カード８の
接点１０，１０に接触すべき円弧状の接点部３８，３８
とを有している。

第６図に一点鎖線で示すようにカード８が挿入される
と、コンタクトピン３２，３２はバネ３４，３４の押圧
力に抗して押し上げられ、カードが所定位置に挿着され
た時にカードの接点１０，１０にそれぞれ接触結合され
る。

テストカード８をこのようにしてカードコネクタ１６に
挿着した後、第８図に示すような測定回路で導通試験を
行う。この場合、カード８の導出用導体１２，１２は導
線４０，４０にハンダ付けされ、この部分に導通不良が
生じないようにしている。コンタクトピン３２，３２の
上端部と導線４２，４２の間も同様にハンダ付けすると
よい。

各導出用導体１２，１２は導線４０，４０を介して切換
スイッチ４４の各固定接点に接続される。同様に、各コ
ンタクトピン３２，３２も導線４２，４２を介して切換
スイッチ４４と連動関係にある切換スイッチ４６の各固
定接点に接続される。切換スイッチ４４，４６の可動接
点はそれぞれ直流電源４８に接続される。但し、一方は
電流計５０を介して接続されている。電圧計５２は電源
電圧を測定するためのものである。

第８図のような結線において、切換スイッチ４４，４６
を順次に切換え、各切換点における電圧計５２と電流計
５０の測定値から、カードの接点１０，１０とコンタク
トピン３２，３２間の接触抵抗を（測定電圧値／測定電
流値）の式より求めることができる。特に、電圧計５２
が正常な電圧を示しているのに電流計５０の指示値が零
に近いものであれば導通不良であるとの判定をすること
ができる。

この考案に係るテストカードは正規のカードと同寸法の
もので示したが、これに限らず、長手方向に長くしたカ
ードとすることもでき、これにより導出用導体１２から
測定回路への接続を容易にすることができる。また、カ
ードの厚さを種々異ならせて、データの読み書きの可能
な厚さ範囲を測定することもできる。

（考案の効果） 以上述べたように、この考案によれば、カードをカード
コネクタに挿着したときでも、内部導体のパターン自在
に選定できるので、カードの導出用導体を外部回路に接
続しやすい部分に設けることができ、従って容易に導通
試験を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案に係るテストカードの内部構成の一実
施例を示す平面図、第２図はこの考案に係るテストカー
ドの外部平面図、第３図および第４図はそれぞれこの考
案に係るテストカードの他の実施例を示す外部平面図、
第５図はカードコネクタの平面図、第６図は第５図にお
けるVI−VI線に沿った断面図、第７図はカードコネクタ
の要部であるコンタクトピン機構を示す断面図、第８図
に導通試験用回路を示す回路図である。 （符号の説明） ８…テストカード、１０…接点、 １２…導出用導体、１４…内部導体。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】ＩＣカード等の正規のカードで有効に利用
   される端子と実質的に同一の位置に設けられた複数個の
   端子と、該端子の位置とは異なる位置に設けられ少なく
   とも該端子の数と同数の、外部回路に接続するための導
   出用導体と、それら導出用導体を前記端子にそれぞれ対
   応して電気的に接続した内部導体と、を備えた、前記正
   規のカードの設定位置に該正規のカードに代わって設置
   して用いられる導通試験用テストカード。