JPH065639Y2 - コンタクトピン - Google Patents

コンタクトピン

Info

Publication number
JPH065639Y2
JPH065639Y2 JP1986040751U JP4075186U JPH065639Y2 JP H065639 Y2 JPH065639 Y2 JP H065639Y2 JP 1986040751 U JP1986040751 U JP 1986040751U JP 4075186 U JP4075186 U JP 4075186U JP H065639 Y2 JPH065639 Y2 JP H065639Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
contactor
measured
contact pin
conductive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1986040751U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62153579U (ja
Inventor
芳文 室井
統夫 川端
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP1986040751U priority Critical patent/JPH065639Y2/ja
Publication of JPS62153579U publication Critical patent/JPS62153579U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH065639Y2 publication Critical patent/JPH065639Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、プリント基板に実装された抵抗、コンデンサ
ー等の電気(電子)部品素子の性能や定数値、あるいは
特定回路の電気特性を測定(検査)装置で測定または検
査する場合に、被測定回路と測定(検査)装置との間を
電気的に接続するためのコンタクトピンに関するもので
ある。
従来の技術 第2図を参照して従来より用いられているコンタクトピ
ンの構造及び働きについて説明する。コンタクトピンは
基本的に、先端が円錐状となった導電性の接触子1とそ
の接触子1を摺動自在に内装保持するスリーブ2およ
び、スリーブ2内で、前記接触子1を外方向へ突出させ
るように移動付勢するコイル状の圧縮バネ部3を主体と
して構成される。第2図の場合、被測定部はプリント基
板8の導電部7であるとする。今、プリント基板8が、
コンタクトピンに対し、その中心軸の長手方向に押され
ると、接触子1の円錐状先端部(以下、頂点という)が
プリント基板8の導電部7にくい込み、導電部7と接触
子1とは電気的に接続される事になる。また、接触子1
とスリーブ2は構造的に接触しており、かつスリーブ2
としセプタクル4も構造的に接触している。従って、配
線材6としセプタクル4が半田付等により電気接続され
ておれば、導電部7の信号は配線材6を通じて測定(検
査)装置(図示せず)に導かれる事になる。ここでレセ
プタクル4は保持材5によって保持され、所定の位置を
保っている。
また、接触子1は、プリント基板8の押圧による垂直加
重により、圧縮バネ3のバネ力に抗してストローク変化
する事になるが、その量は、スリーブ2の内側にある圧
縮バネ部3の強さに影響される。なお、この場合、従来
のコンタクトピンの中には、接触子1のストローク変化
に応じて接触子1自体が回転する構造のものもある。こ
れは、導電部7へのくい込み量を大きくし、導電部7と
接触子1の接触部分を拡大することにより、良好な電気
接続が得られるようにするためである。
考案が解決しようとする問題点 しかしながら、その従来例では、導電部7に酸化銅系酸
化被膜が発生したり、半田付等によるフラックス材料が
表面を被っている様な場合、導電部7と接触子1との接
触部分を拡大させる必要があり、このためには前記フラ
ックス材等で出来ている被膜を破るに十分な圧接力が必
要になる。その方法として、バネ部3の弾性強度を高め
る事が考えられるが、プリント基板8として、フレキシ
ブル基板の様に薄い基板を使用する時は接触子が基板を
貫通して損傷を与える等の問題があり、製品に与える品
質上の問題も大きい。
本考案は上記問題点に鑑み、被測定物の導電部上に形成
されている酸化被膜、あるいはフラックス等の膜を除去
することにより、被測定回路と測定(検査)装置との間
を良好に電気的に接続するようにしたコンタクトピンを
提供するものである。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本考案のコンタクトピン
は、被測定部に対し離接自在で軸心を中心に回動可能な
接触子と、その接触子を前記被測定部方向へ押圧する弾
性体部と、前記接触子と弾性体部とを保持するスリーブ
とを有し、かつ、前記被測定部と接触可能な前記接触子
の先端部を前記接触子の回転中心軸上以外に偏心させて
なるという構成を備えたものである。
作用 本考案は上記した構成によって、接触子の先端部が弾性
体部により被測定部の導電部上を押圧すると共に、回動
運動を行うことにより、膜を削り取って除去することと
なり、これによって接触子と導電部との接触状態が良く
なり、被測定回路と測定(検査)装置との間を良好に電
気的に接続できることとなる。
実施例 以下、本考案のコンタクトピンについて、図面を参照し
ながら説明する。第1図(a)は本考案の一実施例のコン
タクトピンを示す要部側面図であり、第1図(b)は本考
案の一実施例のコレタクトピンを示す平面図である。
図中、9は導電性の接触子であり、接触子9の先端部1
0は接触子9の中心軸9a上より偏心した位置に形成さ
れている。また、本実施例のコンタクトピンは図示しな
いが接触子9のストローク変化に応じて、接触子9自体
が中心軸9aを中心に回動(または回転)する構造とな
っている。なお、他の構成要素は第2図の構成と同一の
為、説明は省略する。
今、プリント基板がコンタクトピンに対し、その中心軸
9aの長手方向に押されると、接触子9の先端部10は
第1図(b)の二点鎖線で示す移動軌跡10aを導電部上
に描く、従って、先端部10は導電部上に移動軌跡10
aに対応した傷を入れる事になる。すなわち、酸化被
膜、フラックス等が導電部の表面に形成されている場
合、その膜を除去する効果が大きくなり、同じ押圧力で
あっても導電部と接触子9との電気的接触状態は良好と
なり、コンタクトピンとしての効果は大になる。
以上のように本実施例によれば、被測定部の導電部の接
触子との接触状態を良くして、電気的な接続を高めるだ
けでなく、導電部の表面に酸化被膜が形成されている場
合、又は導電部の表面にフラックス等の汚れがある場合
にも効果を発揮する為、被測定部としてプリント基板等
の生産工程でフラックスの汚れのあるプリント基板等の
電気的特性を測定する場合に有効となり、本実施例のコ
ンタクトビンを導入すれば信頼性向上等の効果は大なる
ものがある。
考案の効果 以上のように本考案によれば、接触子の偏心した先端部
が弾性体部により被測定部の導電部上を押圧すると共
に、回転運動を行うことにより、先端部の回転運動に従
って、膜を削り取って除去することとなり、これによっ
て接触子と導電部との接触状態が良くなり、被測定回路
と測定(検査)装置との間を良好に電気的に接続できる
といったすぐれた効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本考案の一実施例のコンタクトピンを示す
要部側面図、第1図(b)は本考案の一実施例のコンタク
トピンを示す平面図、第2図は従来のコンタクトピンの
使用状態を示す一部断面図である。 2……スリーブ、9……接触子、9a……中心軸、10
……先端部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】被測定部に対し離接自在で軸心を中心に回
    動可能な接触子と、その接触子を前記被測定部方向へ押
    圧する弾性体部と、前記接触子と弾性体部とを保持する
    スリーブとを有し、かつ、前記被測定部と接触可能な前
    記接触子の先端部を前記接触子の回転中心軸上以外に偏
    心させ、前記先端部が被測定部に押圧されながら回転運
    動を行うことを特徴とするコンタクトピン。
JP1986040751U 1986-03-20 1986-03-20 コンタクトピン Expired - Lifetime JPH065639Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986040751U JPH065639Y2 (ja) 1986-03-20 1986-03-20 コンタクトピン

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986040751U JPH065639Y2 (ja) 1986-03-20 1986-03-20 コンタクトピン

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62153579U JPS62153579U (ja) 1987-09-29
JPH065639Y2 true JPH065639Y2 (ja) 1994-02-09

Family

ID=30855111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1986040751U Expired - Lifetime JPH065639Y2 (ja) 1986-03-20 1986-03-20 コンタクトピン

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH065639Y2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4627024B2 (ja) * 2005-09-27 2011-02-09 日本電子材料株式会社 コンタクトプローブ及びプローブカード
JP4041831B2 (ja) * 2006-05-15 2008-02-06 日本電産リード株式会社 基板検査用治具及びこの治具における接続電極部の電極構造
JP5192899B2 (ja) * 2008-04-30 2013-05-08 東京特殊電線株式会社 プローブ針及びその製造方法
JP2013061186A (ja) * 2011-09-12 2013-04-04 Nidec-Read Corp 接続端子及び接続治具

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5256287U (ja) * 1975-10-22 1977-04-22
JPS5978976U (ja) * 1982-11-17 1984-05-28 株式会社リコー 電気接続不良チエツク用回転式接触子
JPS6112072A (ja) * 1984-06-27 1986-01-20 Hitachi Ltd 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62153579U (ja) 1987-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH065639Y2 (ja) コンタクトピン
EP0773445A3 (en) Inspection apparatus of conductive patterns
JPH0471248A (ja) 測定用プローブ
JPH0524061Y2 (ja)
JPH048374Y2 (ja)
KR100548169B1 (ko) 측벽 측정용 핀프로브및 접촉방법
CN220064184U (zh) 测试探针组件
JP2936569B2 (ja) 選別装置
JPS59632Y2 (ja) 回路素子挾持装置
JPS58219459A (ja) 導通接触端子
JP2000074975A (ja) 基板検査装置および基板検査方法
JP2651430B2 (ja) カード式コンタクトプローブ
JPS62188976A (ja) 回路基板検査機用コンタクトプロ−ブ
JPS605479Y2 (ja) スイッチ装置
JPS61270672A (ja) プロ−バ
JPH09246344A (ja) 半導体基板
JPS6217728Y2 (ja)
JPS5910625Y2 (ja) 4端子接続子
JPS6236137Y2 (ja)
SU1486892A1 (ru) Устройство для определения адгезии покрытий
JP3588176B2 (ja) プリント配線板検査用導電接触体
JPH01254872A (ja) 電子部品実装基板の検査方法及び検査プローブ
JP2001153922A (ja) 検査用ソケット
JPS63279179A (ja) 集積回路装置の測定用ソケット
JPS6225433A (ja) 半導体素子特性測定装置