JP2001153922A - 検査用ソケット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 リードと測子の間に異物を噛み込むとリード
と測子の電気的接続が不安定になることがあった。 【解決手段】 電子部品１の外面から導出された多数個
の電極３にそれぞれ当接して押圧され軸周りに回動可能
な測子７と、測子７に弾性力を付与し回動した測子７を
元の位置に復元する弾性部材８とを備えた検査用ソケッ
トにおいて、上記弾性部材８は、多数個一組の測子７に
対応してブロック化されかつ、各測子７の配列中間位置
と対向する部分に切れ込み８ｂが形成されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は電子部品の電気的特
性検査などに用いられるソケットに関する。

【０００２】

【従来の技術】半導体装置などの電子部品は製造工程中
で電気的特性が検査されて良否選別、等級選別される。
このような検査に使用されるソケットには着脱が容易
で、電気的接続が確実であり、耐久性のあるものが要求
される。また半導体装置のうち、特に小型で多電極、多
リードの半導体集積回路装置ではリードの巾、間隔を狭
くせざるを得ないため、電気的接続が安定な検査用ソケ
ットが必要とされる。このような検査用ソケットの一例
を図４及び図５から説明する。図において、１は電子部
品本体２の電極と多数本のリード３とを電気的に接続し
電子部品本体２を含む主要部分を樹脂４にて被覆した電
子部品、５は電子部品１の樹脂角部をガイドして挿入し
位置決めするハウジング６内にリード３と電気的に接続
する測子７を配置したソケット、測子７は導電部材を略
Ｙ字状の成形した成形品で、一端７ａがリード３の下方
に位置し、その中間部７ｂはハウジング６に形成された
スリット６ａに収容されて回動し、一端７ａの上下動を
可能としている。８は直方体状の弾性部材、例えばゴム
で、その一部が下方に露呈するようにハウジング６に埋
め込まれ、角部が測子７の他端に接触している。このＩ
Ｃソケット５の測子７は電子部品１がない状態では、一
端７ａ側がハウジング６の内周角部６ｂに、他端７ｃ側
がゴム８にそれぞれ接触して静止している。９は電子部
品１を吸着してＩＣソケット５内に供給し、リード３と
測子７とが弾性接触するように押し付け、電気的特性検
査後、電子部品１を取り出す吸着コレットを示す。また
１１は上面に導電パターン（図示せず）を形成し、ハウ
ジング６のスリット６ａ位置に測子７と電気的に接触す
る接触子１２を配置した配線基板を示す。このソケット
５に電子部品１を供給すると、測子７は図６に示すよう
に、図示点線位置から実線位置に回動し、測子７の他端
７ｃがゴム８に押し付けられると、その弾性力により一
端７ａはリード３に弾性接触することにより、巾が細
く、測子７との接触面積が小さいリードでも電気的接続
を確実にでき、配線基板１１を介して電源や信号源、負
荷装置などの測定装置に電気的に接続され、測定が完了
した電子部品１をソケット５から取り出すと、測子７は
ゴム８の弾性力により図示点線で示す元の位置に戻る。
この種ソケットは、測子７の一端７ａと他端７ｃの回動
中心となる中間７ｂから長さや、角度を調整することに
より、接触圧力や移動長さを調節できる。また多電極
で、配列間隔が小さい電子部品に対応したソケットとし
て、特開平６−２９５９６４号公報（先行技術）には、
側面形状がクランク状に成形された測子を用い、これを
平坦なベース上に配列して、電子部品の電極と接触する
測子の一端とベースとの間にＯリングまたはシリコンゴ
ムなどの弾性部材を配置し、弾性力を有する測子に弾性
部材による弾性を付加したソケットが開示され、微小電
極に対応して巾を細することにより弾性力が低下する測
子を電子部品の電極に確実に電気的接続できるようにし
ている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところでリードフレー
ムを用い樹脂外装した電子部品は、リード部分に半田付
け性を良好にする金属や半田などの合金を予め被覆した
リードフレームの要部に電子部品本体をマウントし、電
子部品本体とリードとを電気的に接続した後、電子部品
本体を含むリードフレーム上の主要部分を樹脂外装し、
樹脂から露呈したリードの連結部を切断除去する必要が
ある。このとき、樹脂外装部からリード連結部までのリ
ード間には樹脂が進出しており、リード表面には薄い樹
脂ばりが形成されることがあるため、リード連結部を切
断する際に、リードを被覆した金属や合金の屑、リード
間の樹脂やリード上の薄ばりなどが剥落し、この剥片に
よる異物が電子部品に付着することがあった。この異物
が付着した電子部品を図４に示すＩＣソケットに供給す
る際に、異物が測子７上に落下し図７に示すようにリー
ド３と測子７の間に位置するとこの測子７（図示実線）
は他の測子（図示点線）より押し込まれる。即ち、各測
子７とリード３間に異物１０がない場合、図７Ａ−Ａ面
は図８に示すように各測子７の他端７ｃは全て同じ状態
にゴム８に押し込まれるが、異物１０があると、図９に
示すように各測子７の他端７ｃとゴム８との接触状態が
一様ではなくなり、剥片１０を噛み込んだ測子７ｃ−１
はゴム８に強く押し込まれゴム８を大きく変形させる。
多リードの電子部品ではリード間隔、即ち測子７の間隔
が狭いため、ゴム８の変形は隣り合う測子７ｃ−２部分
にも及び、ゴム８の側壁８ａは測子７ｃ−１と隣隣接の
測子７ｃ−３の間で傾斜し、中間の測子７ｃ−２はこの
側壁から浮いた状態かきわめて小さい接触圧で接触す
る。この結果、図１０に示すように測子７ｃ−２に対応
する一端７ａ−２とリード３の接触状態が不安定とな
り、最悪の場合、接続できず、特性的に正常な電子部品
でも不良判定されるという問題があった。また異物１０
が半田屑などの導電性を有するものでは、リード３と測
子７との間の導通に問題はないが、ゴム８は局部的に大
きく変形すると加圧を除いた後、その表面が他の部分と
同じ位置まで戻りにくく、後続の電子部品のリード３と
測子７が正常に接触しても、接触圧が低下し接続が不安
定になるという問題があった。また異物１０が樹脂剥片
などの絶縁性のものでは、リード３と測子７との間の導
通がとれないため、特性的に正常な電子部品でも不良判
定され、導電性異物と同様に、後続の電子部品のリード
３が測子７に正常に接触しても、接触圧が低下し接続が
不安定になるという問題があった。一方、先行技術では
個々の測子にそれぞれ弾性部材を配置しているため、上
記問題は生じない。しかしながらリードや電極の巾や間
隔が小さいものでは、弾性部材の寸法も小さくしなけれ
ばならないため、組立性が悪く、全ての測子に対して精
度を安定にすることが困難で、電気的接続が不安定にな
り易いという問題があった。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題の解決
を目的として提案されたもので、電子部品の外面から導
出された多数個の電極にそれぞれ当接して押圧され軸周
りに回動可能な測子と、測子に弾性力を付与し回動した
測子を元の位置に復元する弾性部材とを備えた検査用ソ
ケットにおいて、上記弾性部材は、多数個一組の測子に
対応してブロック化されかつ、各測子の配列中間位置と
対向する部分に切れ込みが形成されたことを特徴とする
検査用ソケットを提供する。

【０００５】

【発明の実施の形態】本発明による検査用ソケットは、
測子に弾性力を付与しする弾性部材として、ブロック状
でかつ、各測子の配列中間位置と対向する部分に切れ込
みが形成されたものを用いることを特徴とするが、この
弾性部材は測子の回動軸と交差する断面形状の一部に突
出部を有するものを用い、この突出部を測子に当接させ
ることができる。また測子は、概略Ｙ字状、Ｖ字状また
はＬ字状となし、中間部に回動軸を配置し、一端側を電
極の当接部に、他端側を弾性部材の当接部としたことを
特徴とする。

【０００６】

【実施例】以下に本発明による検査用ソケットの一例を
図１及び図２から説明する。図において、図４及び図５
と同一物には同一符号を付し、重複する説明を省略す
る。本発明による検査用ソケットは弾性部材８上で測子
７の他端部７ｃが弾性接触する領域８ａの隣接部分に切
れ込み８ｂを形成した点で図４と大きく相異する。この
切れ込み８ｂは対角方向の深さが対角長さの１／２〜３
／４となるように回転ブレードを用いて形成することが
できる。例えば巾０．５ｍｍ、高さ３ｍｍ、一端部７ａ
と他端７ｃのなす角度が１１０度で、０．６５ｍｍ間隔
で配列した測子７と、一辺長さが２ｍｍの断面方形状弾
性部材８とを組み合わせて用いる場合、切れ込み８ｂの
深さＤは１．４ｍｍ〜２．１ｍｍし、巾Ｗは２０μｍ〜
５００μｍとする。このソケットに電子部品１を供給し
た時に、図１に示すようにリード３と測子７の一端７ａ
との間に異物１０を噛み込んでいると、異物１０の有無
によって、測子７の回動角度が異なり、測子７の他端７
ｃの弾性部材８に対する押圧力が異なる。このとき弾性
部材８には図２に示すように切れ込み８ｂが形成されて
いるため、図３に示すように異物１０を噛み込んだ測子
の他端７ｃ−１と異物を噛み込んでいない測子７ｃ−
２、７ｃ−３はそれぞれ弾性部材８を押し込む量が異な
る。即ち、測子他端７ｃ−１は弾性部材８に強く押し込
まれ、切れ込み８ｂで区画された領域を膨出させるが、
この膨出部分は切れ込み８ｂに吸収され、隣接する区画
領域に変形が及ばない。その結果、異物１０を噛み込ん
だ測子７と隣接していても、側子７とリード３の接続を
確実にできる。そのため導電性の異物１０がリード３と
測子７の間に噛み込んでも正常に検査できる。また絶縁
性の異物１０では正常な検査はできないが、他の測子７
への影響が無視できるため、測定異常の検出が容易とな
る。また、弾性部材８から各測子７に付与される弾性力
のばらつきを少なくすることができる。さらには一つの
弾性部材８で多数の測子７に対応するため、リードや電
極の巾や間隔が小さいものにも適用でき、組立性が良好
で、全ての測子に対して精度を安定にすることができ
る。尚、本発明は上記実施例にのみ限定されるものでは
なく、例えば弾性部材８はシリコーンゴムの他、ネオプ
レーンゴム、ウレタンゴムなどを用いることができる。
また測子７と弾性部材８の接触部は凹湾曲させることに
より、接触部の位置ずれを防止できる。

【０００７】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、リードと
測子の間に異物を噛み込んだとしても、異物のない測子
への影響をなくすことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明による検査用ソケットを示す一部断面
側面図

【図２】 第１図Ｂ−Ｂ面図

【図３】 図１に示すソケットの測子と弾性部材の接触
状態を示す図１におけるＣ−Ｃ面図

【図４】 本発明の前提となる検査用ソケットの一部断
面側面図

【図５】 図４に示すソケットの一部断面平面図

【図６】 図４に示すソケットの要部拡大側断面図

【図７】 図４に示すソケットの動作を示す要部拡大側
断面図

【図８】 異物のない状態での図７におけるＡ−Ａ面図

【図９】 異物がある状態での図７におけるＡ−Ａ面図

【図１０】 異物がある状態でのリードと測子の接触状
態を示す要部側面図

【符号の説明】 １ 電子部品 ３ 電極（リード） ７ 測子 ８ 弾性部材 ８ｂ 切れ込み

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】電子部品の外面から導出された多数個の電
   極にそれぞれ当接して押圧され軸周りに回動可能な測子
   と、測子に弾性力を付与し回動した測子を元の位置に復
   元する弾性部材とを備えた検査用ソケットにおいて、 上記弾性部材は、多数個一組の測子に対応してブロック
   化されかつ、各測子の配列中間位置と対向する部分に切
   れ込みが形成されたことを特徴とする検査用ソケット。
2. 【請求項２】弾性部材は測子の回動軸と交差する断面形
   状の一部に突出部を有し、この突出部を測子に当接させ
   たことを特徴とする請求項１に記載の検査用ソケット。
3. 【請求項３】測子は、概略Ｙ字状、Ｖ字状またはＬ字状
   となし、中間部に回動軸を配置し、一端側を電極の当接
   部に、他端側を弾性部材の当接部としたことを特徴とす
   る請求項１に記載の検査用ソケット。