JP3583390B2 - 回路基板の検査装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路基板の検査装置に関する。すなわち、検査対象の回路基板の各回路パターンについて、導通，断線，絶縁，短絡等を確認し、もってその合否を判定する検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
《技術背景について》
電子機器の高性能化，高機能化，小型軽量化に伴い、その回路基板も高精度化，ファイン化，極薄化が進み、特に、その回路パターンの高密度化，微細化の進展が著しい。
もって、このような回路基板の回路パターンについて、その導通，断線，絶縁，短絡等の状態をテストして、その合否を判定する検査装置の重要性も、一段と高まりつつある。
特に、回路パターンの高密度化，微細化が進む回路基板に対応した、検査装置の開発が望まれている状況にある。
【０００３】
《従来技術について》
図５は、この種従来例の回路基板の検査装置の概略斜視図であり、図４の（２）図は、その全体的な接続状態の概略説明図である。
これらの図面にも示したように、従来より、この種の検査装置１では、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢに電圧，電流を印加し、その結果に基づき、各回路パターンＢ毎に合否を判定する。
そして、この種従来例の検査装置１にあっては、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢ毎に、▲１▼接触したプローブピン２からの検出信号が、→▲２▼ソケット片３を介し、→▲３▼介装されたケーブル４やリード線（以下単にケーブル４等と言う）を経由して、→▲４▼コネクター５から、→▲５▼コンピュータを用いた判定部６へと送出され、→▲６▼予め読み込まれていた基準データと比較することにより、→▲７▼それぞれの導通，断線，絶縁，短絡等の状態が確認され、→▲８▼もってその合否が判定されていた。
なお図中、７は、各ソケット片３が取付け固定される台板、８は、回路基板Ａが載置される台板、９は、それらの支柱、１０は、コネクターケース、１１は、コネクターケース１０の判定部６への取付け金具であり、Ｃは、ハンダ付けを示す。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
《第１の問題点について》
ところで、このようなこの種従来例の検査装置１にあっては、次の問題が指摘されていた。
第１に、各ソケット片３とケーブル４等との間は、ハンダ付けＣにて接続されていたが、ハンダ付けＣが容易でなく、短絡（ショート）や断線（オープン）等が発生しやすい、という問題が指摘されていた。
すなわち前述したように、検査対象の回路パターンＢの高密度化，微細化に伴い、→各回路パターンＢ用の多数のプローブピン２，ソケット片３，ケーブル４等は、相互に近接位置しており、→例えば相互間のピッチは１．２７ｍｍ以下程度に達している。
そこで検査の度毎に、このような多数のケーブル４等を対応するソケット片３に接続させるべく、それぞれ個々に適量で正確にハンダ付けＣして行く作業は、極めて微細で緻密な技術が要求され、困難を極めており、→ハンダ付けＣがもしも過多となると、ハンダ付けＣ相互間で短絡が発生しやすく、→短絡を回避すべくハンダ付けＣがもしも過少となると、ハンダ付けＣの個所で断線が発生しやすくなっていた。
特に、高密度化，微細化が進んだ回路パターンＢほど、ハンダ付けＣがより緻密となり数も多くなり、このような問題発生が顕著となっていた。
【０００５】
《第２の問題点について》
第２に、各ソケット片３とケーブル４等との間や、各コネクター５とケーブル４等との間について、誤接続・配線間違いが発生しやすい、という問題も指摘されていた。
すなわち、上述した第１と同様の理由により、検査の都度、各回路パターンＢ毎に対応したソケット片３とケーブル４等とを、→多数であるにもかかわらず間違いなく正確に選択して、対をなす対応関係のもとにハンダ付けＣして接続させることは、困難を極めており、→作業ミスによる誤接続・配線間違いが多発していた。又、各コネクター５とケーブル４等との間の接続についても、同様な問題が指摘されていた。
特に、高密度化，微細化が進んだ回路パターンＢほど、接続が複雑化し数も多くなり、このような問題発生が顕著となっていた。
【０００６】
《第３の問題点について》
第３に、多数のケーブル４等が、邪魔になり、乱雑にスペースを取り、適宜結束処理することも必要となる等、取扱い上問題がある、という指摘があった。
すなわち、台板８上に載置された検査対象の回路基板Ａ側で、台板７に取付け固定された各ソケット片３と、判定部６側の外表面に取付け固定された各コネクター５とは、狭いスペース内で離隔変位した位置関係にある。
→そして、このようなスペースにおいて、多数のケーブル４等が、各ソケット片３とコネクター５との間に介装されているので、作業の邪魔になり、乱雑に位置して場所を取り、検査毎に結束処理することも必要となっていた。→このように、多数のケーブル４等については、取扱い上の問題が指摘されていた。
特に、高密度化，微細化が進んだ回路パターンＢほど、ケーブル４等の数が多くなり、このような問題発生が顕著となっていた。
【０００７】
《第４の問題点について》
第４に、各ソケット片３の再使用・リサイクル使用が困難であり、コスト負担が大きくなる、という問題が指摘されていた。
すなわち、台板７に取付け固定された各ソケット片３は、それぞれケーブル４等にハンダ付けＣされるので、一度検査に使用すると、再使用・リサイクル使用が、困難化する。→そこで従来は、一度使用された各ソケット片３は、それぞれプローブピン２付のまま廃棄処分されており、検査毎に新しいソケット片３等が使用されており、→その分、コスト負担が大となる、という指摘があった。
特に、高密度化，微細化が進んだ回路パターンＢほど、ソケット片３の個数も多く、このような問題発生が顕著となっていた。
【０００８】
《本発明について》
本発明は、このような実情に鑑み、上記したこの種従来例の課題を解決すべく、発明者の鋭意研究努力の結果なされたものであって、検査対象の回路基板に対応するプローブピン側の各ソケット片と、判定部側の各コネクターとの間に、ケーブル等に代え、接続回路を備えたフレキシブル回路基板を、介装する構成を採用したこと、を特徴とする。
もって本発明は、第１に、各ソケット片との接続作業が容易化され、短絡や断線等の虞もなくなり、第２に、接続関係が正確化し、誤接続・配線間違いが防止され、第３に、邪魔にならず、乱雑に位置することもなく、スペースも取らない等、取扱い面に優れ、第４に、各ソケット片の再使用・リサイクル使用が可能となる、回路基板の検査装置を提案すること、を目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
《各請求項について》
このような課題を解決する本発明の技術的手段は、次のとおりである。すなわち、この回路基板Ａの検査装置１２は、検査対象の回路基板Ａに対応する各プローブピン２側の各ソケット片３と、判定部６側の各コネクター５との間に、接続用のフレキシブル回路基板Ｄが介装され、もって、検査対象の該回路基板Ａの各回路パターンＢに電圧，電流を印加し、その結果に基づき、各該回路パターンＢを検査する。
【００１０】
そして、この回路基板Ａの検査装置１２は、次のプローブピン２，ソケット片３，フレキシブル回路基板Ｄ，コネクター５，判定部６、等を有してなる。
すなわち、検査対象の該回路基板Ａの各回路パターンＢに対応し、それぞれに接触すべく配された各該プローブピン２と、各該プローブピン２に対応し、それぞれに接続されると共に、台板７に取付け固定された各該ソケット片３と、検査対象の該回路基板Ａの各回路パターンＢに対応した接続回路Ｅが、それぞれ、その一端側から他端側に形成され、各該接続回路Ｅの一端部Ｆの端子Ｇが、各該ソケット片３に対しそれぞれ接触，当接により接続されると共に、各該接続回路Ｅの他端部Ｈに形成されたスルホールＪが、各該コネクター５に対しそれぞれハンダ付けＣにより接続される、接続用の該フレキシブル回路基板Ｄと、更に、次のコネクター５，判定部６を有してなる。
すなわち、該判定部６の外面に、取付け固定された各該コネクター５と、各該プローブピン２，該ソケット片３，該フレキシブル回路基板Ｄの接続回路Ｅ，該コネクター５等を介して送出された検出信号と、予め準備された基準データとの比較により、検査対象の該回路基板Ａの各回路パターンＢ毎に、導通，断線，絶縁，短絡等を確認して、判定結果をディスプレイ等の表示部に表示する該判定部６と、を有してなる。
【００１１】
そして、検査対象の該回路基板Ａは、上下の台板７，８間に挟まれるように水平に位置決め，載置され、各該ソケット片３が、台板７の各縦穴１３に嵌挿されて取付け固定され上下に露出しているのに対し、作業者の視認し易さ等を考慮しつつ近くに配設された該判定部６は、各該コネクター５が、背面等の縦面に集中的に取付け固定されている。
もって、該回路基板Ａ側の各該ソケット片３と該判定部６側の各該コネクター５とは、狭いスペース内で３次元の関係で捩れるように離隔変位した位置関係にある。
そして該フレキシブル回路基板Ｄは、高柔軟性，高屈曲性を備え空間を立体的に使用可能であり、このように離隔変位した各該ソケット片３と各該コネクター５との３次元で捩れた位置関係に対応する柔軟性を備えており、両者間の接続用に介装されていること、を特徴とする。
【００１２】
《作用について》
本発明は、このようになっているので、次のようになる。この検査装置は、検査対象の回路基板の各回路パターンを、電圧，電流を印加して検査する。そして各回路パターン毎に、それぞれ次の処理が行われる。
すなわち、検査対象の回路パターンに接触したプローブピンから、検出信号が、→対応したソケット片、→フレキシブル回路基板の接続回路の一端部（端子）、→他端部（スルホール）等を経由して、→対応したコネクターから、→判定部へと送出される。
→判定部は、検査対象の回路パターンについて、送出された検出信号と予め準備されていた基準データとを、比較することにより、→導通，断線，絶縁，短絡等を確認して、→合否を判定する。
【００１３】
そして、この検査装置にあっては、第１に、検査対象の回路基板に対応する各プローブピン側の各ソケット片と、判定部側の各コネクターとの間に、検査対象の回路基板の各回路パターンに対応した接続回路が形成されたフレキシブル回路基板が、介装されている。
そして、各接続回路の一端部には、メッキが施され端子が形成されており、各端子が、対応する各ソケット片に対し、ハンダ付けを用いず接触，当接により接続されるので、接続作業が簡単容易化され、短絡や断線等の虞もない。
第２に、フレキシブル回路基板の各接続回路の一端部（端子）は、各ソケット片に対し、ハンダ付けを用いず接触，当接により接続され、各接続回路の他端部は、各コネクターに対し、スルホールを利用しハンダ付けにより接続される。
そこで、検査対象の各回路パターンに対応した正確な接続関係で、各接続回路が、対応したソケット片やコネクターに接続されるようになり、作業ミス，誤配線，配線間違いは、防止される。
【００１４】
第３に、検査対象の回路基板側と判定部側とは、狭いスペース内で離隔変位した位置関係にある。そして各ソケット片は、検査対象の回路基板側にて台板に取付け固定されるのに対し、各コネクターは、判定部の外面に集中的に取付け固定されている。
すなわち、検査対象の回路基板は、両台板を用いて水平に位置決め，載置，配設されるのに対し、近くに配設された判定部は、作業者の視認し易さ等を考慮して配設されている。もって、各々プローブピンに対応，接続されつつ横の台板に取付け固定された各ソケット片と、判定部の背面等の縦面に取付け固定された各コネクターとは、狭いスペース内において、３次元の関係で捩れるように変位して離隔位置している。
そこで、この検査装置にあっては、各ソケット片と各コネクター間の接続のため、必要な柔軟性を備えたフレキシブル回路基板を介装しているので、このような位置関係に十分対応可能である。しかもフレキシブル回路基板は、作業の邪魔になることがなく、乱雑に位置することもなく、スペースを取ることもなく、結束処理等も不要である。
第４に、この検査装置にあっては、接続用にフレキシブル回路基板を介装してなり、その各接続回路の一端部の端子の各ソケット片に対する接続は、ハンダ付けを用いず、接触，当接により実施されている。そこで、一度検査に使用したプローブピン付きの各ソケット片を、それぞれそのまま、事後の検査にも、再使用・リサイクル使用可能となる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
《図面について》
以下本発明を、図面に示す発明の実施の形態に基づいて、詳細に説明する。図１，図２，図３，図４の（１）図等は、本発明の実施の形態の説明に供する。
そして図１は、全体の概略斜視図である。図２は、接続用のフレキシブル回路基板やソケット片の要部の斜視図であり、（１）図は１例を、（２）図は他の例を示す。
図３の（１）図および（２）図は、接続用のフレキシブル回路基板の概略平面図であり、（１）図は１例を、（２）図は他の例を示し、（３）図および（４）図は、接続用のフレキシブル回路基板の概略側断面図であり、（１）図は１例を、（２）図は他の例を示す。図４の（１）図は、全体の接続状態の概略説明図である。
【００１６】
《検査装置１２の概要について》
まず、図１，図４の（１）図を参照をして説明する。電子機器の高性能化，高機能化，小型軽量化に伴い、その回路基板Ａも高精度化，ファイン化，極薄化が進み、特に、その外表面（表面，裏面の一方又は両方）に多数形成される回路パターンＢの高密度化，微細化の進展が著しい。
プリント配線基板とも称される回路基板Ａは、例えば、縦横が５００ｍｍ×５００ｍｍ程度の寸法よりなり、その肉厚は、樹脂やガラスクロス等よりなる絶縁ベース材部分が、６０μｍ〜１ｍｍ程度よりなり、銅箔よりなる回路パターンＢの部分が、１０μｍ〜８０μｍ程度よりなり、回路パターンＢ幅も、０．１ｍｍ以下程度のものが出現している。
【００１７】
本発明の回路基板Ａの検査装置１２は、このように高密度化，微細化が進む回路基板Ａの回路パターンＢを、検査する。
そして、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢに電圧，電流を印加し、その結果に基づき、各回路パターンＢについて、導通，断線，絶縁，短絡等の状態をチェックし、もってその合否を判定する。
この検査装置１２は、チェッカー，布線検査機とも称され、次のプローブピン２，ソケット片３，接続用のプリント配線基板Ｄ，コネクター５，判定部６等を、有してなる。以下、これらについて説明する。
【００１８】
《プローブピン２やソケット片３について》
まず、図１，図２，特に図４の（１）図等を参照しつつ、この検査装置１２のプローブピン２やソケット片３について述べる。
プローブピン２は、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢに対応し、それぞれに接触すべく配される。ソケット片３は、各プローブピン２に対応し、それぞれに接続されると共に、台板７等の板に取付け固定される。
【００１９】
これらについて、更に詳述する。プローブピン２は、回路パターンＢへの電気的接点として機能すると共に、導電性と共に可橈性・柔軟性を備え、先端部が、回路パターンＢに接触して電気的に導通されると共に、基端部がスプリング状をなし、ソケット片３内に収納，挿着され、電気的に接続されている。
ソケット片３は、導電性を備えた短筒状をなし、樹脂等の絶縁材よりなる台板７の縦穴１３に嵌挿されると共に、上下端部が縦穴１３外に露出している。なおソケット片３は、ソケットと称されるものの、ネジは特に螺刻されていない。又、このようなプローブピン２とソケット片３とを総称して、プローブと称されることも多い。
そして、このようなプローブピン２やソケット片３は、検査対象の各回路パターンＢに、それぞれ対応している。つまり、接続関係においても数においても、回路パターンＢと対応している。
なお、検査対象の回路基板Ａは、樹脂等の絶縁材よりなる台板８上に載置されると共に、台板７と台板８とが、図１の図示の状態から更に上下に接近することにより、両者間に挟まれるように位置した状態で、検査が実施される。図１中の９は、台板７や台板８の支柱である。
プローブピン２やソケット片３は、このようになっている。
【００２０】
《接続用のフレキシブル回路基板Ｄについて》
次に、図１，図２，図３，図４の（１）図等を参照しつつ、この検査装置１２で採用された、接続用のフレキシブル回路基板Ｄについて述べる。
このフレキシブル回路基板Ｄは、検査対象の回路基板Ａに対応する各プローブピン２側の各ソケット片３と、判定部６側の各コネクター５との間に、接続用に介装される。そして、検査対象の回路基板Ａと判定部６との間の離隔変位した位置関係に対応可能な柔軟性を備えてなると共に、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢに対応した接続回路Ｅが、それぞれ、その一端側から他端側に形成されている。
そして、このフレキシブル回路基板Ｄは、各接続回路Ｅの一端部Ｆの端子Ｇが、各ソケット片３に対し、それぞれ接触，当接により接続されると共に、他端部ＨのスルホールＪが、各コネクター５に対しハンダ付けＣによりそれぞれ接続される。
つまり、各接続回路Ｅの一端部Ｆには、メッキＫが施され、もって各一端部Ｆには、接続用の端子Ｇが形成されており、各端子Ｇが、各ソケット片３に対し、それぞれ接触，当接により接続される。又、各接続回路Ｅの他端部Ｈには、スルホールＪが形成されており、もって各他端部Ｈは、各スルホールＪを利用し、各コネクター５に対し、それぞれハンダ付けＣにより接続される。
【００２１】
このような接続用のフレキシブル回路基板Ｄについて、更に詳述する。まず、このフレキシブル回路基板Ｄは、フレキシブルプリント配線基板（ＦＰＣ）とも称され、高柔軟性，高屈曲性を備えており、空間を立体的に使用可能な基板として知られている。
そして、図３の（３）図，（４）図に示したように、ベース材としては、絶縁性と可橈性とを兼ね備えた樹脂フィルム、例えばポリイミドフィルムＬが用いられ、その肉厚は、例えば２０μｍ〜６０μｍ程度である。接続回路Ｅを形成する銅箔Ｍの肉厚は、例えば１０μｍ〜３０μｍ程度である。
【００２２】
例えば、図３の（３）図に示した３層構造のフレキシブル回路基板Ｄでは、ベース材たるポリイミドフィルムＬ上に、接着剤Ｎをラミネートして、銅箔Ｍを貼り合わせたものが用いられている。
そして、公知の現像，エッチング，剥離等のステップを辿ることにより、銅箔Ｍにて接続回路Ｅが形成された後、保護皮膜たるカバーレイとして、接着剤Ｐを貼り合わせたポリイミドフィルムＱが、熱プレスにより貼り合わされる。接続回路Ｅ（銅箔Ｍ）の一端部Ｆには、メッキＫ（ニッケルメッキや金メッキ、ここではハンダも含む）が施され、端子Ｇが形成される。
Ｒは補強板である。この補強板Ｒは、例えばガラスエポキシ材やポリエステル材が使用され、ソケット片３と接触，当接される一端部Ｆ側のフレキシブル回路基板Ｄの強度を向上させるべく用いられており、粘着剤や熱硬化型接着剤等にて、ベース材たるポリイミドフィルムＬに貼着される。勿論、このような補強板Ｒを用いないことも可能である。
【００２３】
次に、図３の（４）図の例に示した２層構造のフレキシブル回路基板Ｄでは、接着剤Ｎ，Ｐが用いられず、ベース材たるポリイミドフィルムＬ上に、銅箔Ｍがメッキ法やキャスティング法により積層されており、保護皮膜たるカバーレイとしては、熱硬化型レジストやフォトレジスト等のレジストＳが用いられる。
なお、この２層構造のものについて、その他の構成は、上述した３層構造のものに準じるので、同符号を付し、その説明は省略する。
【００２４】
さて、このようなフレキシブル回路基板Ｄの片面（図３の（３）図，（４）図の例）又は両面には、一端側から他端側に、多数の接続回路Ｅが形成されている。つまり、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢに対応し、それぞれに個別・専用のプローブピン２やソケット片３を介して接続される接続回路Ｅが、多数形成されている。
接続回路Ｅの一端部Ｅには、ソケット片３への接触，当接，電気的接続用の端子Ｇが、メッキＫにて形成されている。勿論、片面のみに接続回路Ｅが形成される場合は、片面のみに端子Ｇが形成され、両面に接続回路Ｅが形成される場合は、両面に端子Ｇが形成される。
ところで図２に示したように、このようなフレキシブル回路基板Ｄの一端側は、表裏に位置するソケット片３間に挟み込まれ、もって接続回路Ｅの一端部Ｆが、ソケット片３に接触，当接されるようになっている。なお、フレキシブル回路基板Ｄの片面（表面）側のみに接続回路Ｅそして端子Ｇが形成される場合、残りの他面（裏面）のソケット片３は、電気信号の伝達用としては機能せず、フレキシブル回路基板Ｄの一端側の挟持用としてのみ機能する。
接続回路Ｅの他端部Ｈには、スルホールＪ（通常は部品取付け用等に多用されている孔）が、コネクター５へのハンダ付けＣによる電気的接続用に形成される。図３の（１）図の例では、横１列に並設されたスルホールＪが示され、図３の（２）図の例では、１個毎に位置をずらした横２列のスルホールＪが示されている。
接続用のフレキシブル回路基板Ｄは、このようになっている。
【００２５】
《判定部６とコネクター５について》
次に、図１，図４の（１）図を参照しつつ、この検査装置１２の判定部６とコネクター５について述べる。
判定部６は、各プローブピン２，ソケット片３，フレキシブル回路基板Ｄの接続回路Ｅ，コネクター５等を介して送出された検出信号と、予め準備された基準データとの比較により、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢ毎に、導通，断線，絶縁，短絡等を確認して、合否を判定する。
そして各コネクター５は、判定部６の外面に取付け固定されると共に、検査対象の各回路パターンＢに対応した接続回路Ｅに対し、それぞれ対応接続される。
【００２６】
このような判定部６や各コネクター５について、更に詳述する。判定部６は、例えばコンピュータを用いてなり、予め、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢ毎の基準データが、読み込まれている。
そして各回路パターンＢ毎に、送出されてきた検出信号値つまり検出された電流，電圧値と、基準データ値つまり基準となる電流，電圧値とが比較され、もって、導通状態，断線の有無，絶縁状態，短絡の有無等が判断されて、合否が判定される。判定結果は、各回路パターンＢに付された番号により、ディスプレイ等の表示部に表示される。
各コネクター５は、このような判定部６に各回路パターンＢ毎の検出信号を入力するものであり、多くの場合、判定部６のボディーの背面に、集中的に取付け固定されている。図示例では、ＭＩＬ規格６４芯のコネクター５が用いられると共に、判定部６への取付けに、コネクターケース１０や取付け金具１１が、使用されている。
判定部６とコネクター５は、このようになっている。
【００２７】
《作用等について》
本発明は、以上説明したように構成されている。そこで、以下のようになる。
この回路基板Ａの検査装置１２は、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢに電圧，電流を印加し、その結果に基づき、各回路パターンＢを検査する。そして、検査対象の各回路パターンＢ毎に、それぞれ、次の処理が行われる。
すなわち、まず▲１▼、検査対象の回路パターンＢに接触したプローブピン２から、その回路パターンＢの検出信号が、→▲２▼その回路パターンＢに対応したソケット片３を介した後、→▲３▼フレキシブル回路基板Ｄのその回路パターンＢに対応した接続回路Ｅの一端部Ｆの端子Ｇ、→そして▲４▼、その接続回路Ｅの他端部ＨのスルホールＪを経由して、→▲５▼その回路パターンＢに対応したコネクター５から、→▲６▼判定部６へと送出される。
【００２８】
→▲７▼判定部６は、例えばコンピュータを用いてなり、検査対象の回路パターンＢについて、送出されてきた検出信号と、予め読み込まれ準備されていた基準データとを、比較することにより、→▲８▼その回路パターンＢについて、導通，断線，絶縁，短絡等を確認し、→もって▲９▼、その回路パターンＢについて、合否を判定する。
そして、このような処理が、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢ毎に、それぞれに対応した専用のプローブピン２，ソケット片３，フレキシブル回路基板Ｄの接続回路Ｅ，コネクター５等を用いると共に、共通の判定部６を用いて実施される。
【００２９】
さてそこで、この回路基板Ａの検査装置１２によると、次の第１，第２，第３，第４のようになる。
第１に、この検査装置１２にあっては、検査対象の回路基板Ａに対応する各プローブピン２側の各ソケット片３と、判定部６側の各コネクター５との間に、接続用のフレキシブル回路基板Ｄが介装されており、フレキシブル回路基板Ｄには、検査対象の回路基板Ａの各回路パターンＢに対応した接続回路Ｅが、それぞれ、一端側から他端側に形成されている。
そして、各接続回路Ｅの一端部ＦにはメッキＫが施されて、接続用の端子Ｇが形成されており、各端子Ｇが、対応する各ソケット片３に対し、それぞれ接触，当接により接続される。つまり、フレキシブル回路基板Ｄの一端側を、各ソケット片３に対し、各接続回路Ｅの一端部Ｆの端子Ｇとの対応関係に留意しつつ、接触，当接せしめることにより、回路パターンＢに対応した接続が実現される。
このように、各ソケット片３への接続は、接触，当接により実施され、ハンダ付けＣを用いないので、接続作業が簡単容易化されると共に、短絡（ショート）や断線（オープン）等々が発生する虞もなくなる。
【００３０】
第２に、この検査装置１２にあっては、このように接続回路Ｅを備えたフレキシブル回路基板Ｄを用いたことにより、その各接続回路Ｅの一端部Ｆ（端子Ｇ）は、各ソケット片３に対し、ハンダ付けＣを用いず、接触，当接により接続される。又、各接続回路Ｅの他端部Ｈは、各コネクター５に対し、スルホールＪを利用し、ハンダ付けＣにより接続される。
そこで、このような接続に際しては、フレキシブル回路基板Ｄの一端側を、各ソケット片３に対し、各接続回路Ｅの一端部Ｆ（端子Ｇ）との対応関係に留意しつつ、接触，当接せしめることにより、又、フレキシブル回路基板Ｄの他端側を、各コネクター５に対し、各接続回路Ｅの他端部Ｈ（スルホールＪ）との対応関係に留意しつつ、ハンダ付けＣすることにより、それぞれ、正確な接続が実現される。
つまり、検査対象の各回路パターンＢに対応した接続関係で、各接続回路Ｅが、それぞれ対応したソケット片３やコネクター５に接続されるようになり、接続作業ミス，誤配線，配線間違いは、防止される。
【００３１】
第３に、検査対象の回路基板Ａ側と判定部６とは、狭いスペース内で離隔変位した位置関係にある。そして各ソケット片３は、検査対象の回路基板Ａ側にて台板７に取付け固定されるのに対し、各コネクター５は、判定部６の外面に集中的に取付け固定されている。
すなわち、検査対象の回路基板Ａは、台板７や台板８を用いて水平に位置決め，載置，配設されるのに対し、近くに配設された判定部６は、作業者の視認し易さ等を考慮して配設される。もって、各々プローブピン２に対応，接続されつつ横の台板７に取付け固定された各ソケット片３と、判定部６の背面等の縦面に取付け固定された各コネクター５とは、狭いスペース内において、３次元の関係で捩れるように変位して離隔位置している。
そして、この検査装置１２にあっては、各ソケット片３と各コネクター５間の接続のため、柔軟性を備えたフレキシブル回路基板Ｄを介装してなるので、このような位置関係に十分対応可能である。しかもフレキシブル回路基板Ｄは、作業の邪魔になることがなく、乱雑に位置することもなく、スペースを取ることがなく、結束処理等も不要である。
【００３２】
第４に、この検査装置１２にあっては、接続用にフレキシブル回路基板Ｄを介装してなり、その各接続回路Ｅの一端部Ｆ（端子Ｇ）の各ソケット片３に対する接続は、ハンダ付けＣを用いず、接触，当接により実施される。
そこで、一度検査に使用したプローブピン２付きの各ソケット片３は、それぞれそのまま、事後の検査にも、再使用・リサイクル使用可能となる。
【００３３】
《その他》
なお第１に、図１，図２，図３，図４，図５等の各図は、あくまでも概略図である。
例えば、各図に示された回路基板Ａ，その回路パターンＢ，フレキシブル回路基板Ｄ，その接続回路Ｅ，ソケット片３，コネクター５，ケーブル４等について、それぞれの大きさ，長さ，径，その他の寸法関係や、位置関係や、形状・バランス関係、数等々は、説明の便を考え、実物を誇張して表現し図示されている。
【００３４】
なお第２に、図２の（１）図，（２）図は、フレキシブル回路基板Ｄやソケット片３の要部を示すが、（１）図は、フレキシブル回路基板Ｄが１枚用いられた例を示し、（２）図は、フレキシブル回路基板Ｄを複数枚使用可能な例を示す。すなわち、（１）図の例では、前後２列にソケット片３を配列すると共に（後列のソケット片３の図示は省略）、この間に、１枚のフレキシブル回路基板Ｄが、挟み込まれて接触，当接されている。
これに対し（２）図の例では、前後複数列にソケット片３が配列されると共に、これらの間に、複数枚のフレキシブル回路基板Ｄを、挟み込み，接触，当接せしめることが可能となっている（図示では１枚のフレキシブル回路基板Ｄのみが、挟み込み，接触，当接せしめられている）。
【００３５】
【発明の効果】
《本発明の特徴について》
本発明に係る回路基板の検査装置は、以上説明したように、検査対象の回路基板に対応するプローブピン側の各ソケット片と、判定部側の各コネクターとの間に、ケーブル等に代え、接続回路を備えたフレキシブル回路基板を、介装する構成を採用したこと、を特徴とする。
もって本発明は、次の効果を発揮する。
【００３６】
《第１の効果について》
第１に、各ソケット片との接続作業が容易化され、短絡や断線等の虞もなくなる。
すなわち、この検査装置にあっては、接続用にフレキシブル回路基板が採用されており、各ソケット片へは、その各接続回路の一端部の端子が、接触，当接により接続される。つまり、ケーブル等を介装していた前述したこの種従来例のように、各ソケット片への接続にハンダ付けを用いないので、接続作業が簡単容易化され、短絡や断線等の発生の虞もなくなる。
特に、高密度化，微細化が進んだ回路パターンほど、対応して用いられる各プローブピンが相互に近接位置しており数も多く、又、ソケット片も相互に近接位置しており数も多く、例えば相互間のピッチは１．２７ｍｍ以下程度に達しており、このように接続作業が容易化され、短絡や断線等が回避される意義は、大きい。
【００３７】
《第２の効果について》
第２に、各ソケット片や各コネクターとの接続関係が正確化し、誤接続・配線違いが防止される。
すなわち、この検査装置にあっては、フレキシブル回路基板が採用されており、各ソケット片へは、各接続回路の一端部の端子が、接触，当接により正確な対応関係で接続され、又、各コネクターへは、各接続回路の他端部のスルホールが、ハンダ付けにより正確な対応関係で接続される。
そこで、ケーブル等を介装していた前述したこの種従来例のように、多数の各ソケット片や各コネクターと各ケーブル等との間の対応関係を、間違わずに選択して行く必要がなくなり、作業ミスが防止され、誤接続．配線間違いが一掃される。
特に、高密度化，微細化が進んだ回路パターンほど、接続が複雑化するので、このように接続関係が正確化される意義は、大きい。
【００３８】
《第３の効果について》
第３に、フレキシブル回路基板を介装するので、邪魔にならず、スペースも取らず、結束処理も不要である。
すなわち、この検査装置にあっては、フレキシブル回路基板を採用してなるので、ケーブル等を介装していた前述したこの種従来例のように、狭いスペース内で離隔変位した位置関係にある検査対象側と判定部側との間にて、多数のケーブル等が、作業の邪魔になったり、乱雑に位置してスペースを取り、検査毎に結束処理を要する、等々の事態は回避される。
特に、高密度化，微細化が進んだ回路パターンほど、もしもケーブル等を用いるとその数が極めて多くなるので、このように取扱い面に優れる意義は大きい。
【００３９】
《第４の効果について》
第４に、各ソケット片の再使用．リサイクル使用も可能となり、コスト面にも優れている。
すなわち、この検査装置にあっては、フレキシブル回路基板が採用されており、各ソケット片へは、接触，当接により接続される。そこで、ケーブル等を介装していた前述したこの種従来例のように、各ソケット片への接続にハンダ付けを用いないので、各ソケット片は、再使用・リサイクル使用可能となる。
特に、高密度化，微細化が進んだ回路パターンほど、ソケット片の個数が多くなるので、このようにコスト面に優れる意義は大きい。
このように、この種従来例に存した課題がすべて解決される等、本発明の発揮する効果は、顕著にして大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る回路基板の検査装置について、発明の実施の形態の説明に供し、全体の概略斜視図である。
【図２】同発明の実施の形態の説明に供し、接続用のフレキシブル回路基板やソケット片の要部の斜視図であり、（１）図は、その１例を、（２）図は、他の例を示す。
【図３】同発明の実施の形態の説明に供し、（１）図および（２）図は、接続用のフレキシブル回路基板の概略平面図であり、（１）図は、その１例を、（２）図は、他の例を示す。（３）図および（４）図は、接続用のフレキシブル回路基板の概略側断面図であり、（１）図は、その１例を、（２）図は、他の例を示す。
【図４】同発明の実施の形態の説明に供し、全体の接続状態の概略説明図であり、（１）図は、本発明に関するもの、（２）図は、この種従来例に関するものである。
【図５】この種従来例に係る回路基板の検査装置の説明に供し、全体の概略斜視図である。
【符号の説明】
１ 回路基板の検査装置（この種従来例のもの）
２ プローブピン
３ ソケット片
４ ケーブル
５ コネクター
６ 判定部
７ 台板
８ 台板
９ 支柱
１０ コネクターケース
１１ 取付け金具
１２ 回路基板の検査装置（本発明のもの）
１３ 縦穴
Ａ 検査対象の回路基板
Ｂ 回路パターン
Ｃ ハンダ付け
Ｄ 接続用のフレキシブル回路基板
Ｅ 接続回路
Ｆ 一端部
Ｇ 端子
Ｈ 他端部
Ｊ スルホール
Ｋ メッキ
Ｌ ポリイミドフィルム
Ｍ 銅箔
Ｎ 接着剤
Ｐ 接着剤
Ｑ ポリイミドフィルム
Ｒ 補強板
Ｓ レジスト

Claims (1)

1. 検査対象の回路基板Ａに対応する各プローブピン２側の各ソケット片３と、判定部６側の各コネクター５との間に、接続用のフレキシブル回路基板Ｄが介装され、もって、検査対象の該回路基板Ａの各回路パターンＢに電圧，電流を印加し、その結果に基づき、各該回路パターンＢを検査する回路基板Ａの検査装置１２であって、
   検査対象の該回路基板Ａの各回路パターンＢに対応し、それぞれに接触すべく配された各該プローブピン２と、
   各該プローブピン２に対応し、それぞれに接続されると共に、台板７に取付け固定された各該ソケット片３と、
   検査対象の該回路基板Ａの各回路パターンＢに対応した接続回路Ｅが、それぞれ、その一端側から他端側に形成され、各該接続回路Ｅの一端部Ｆの端子Ｇが、各該ソケット片３に対しそれぞれ接触，当接により接続されると共に、各該接続回路Ｅの他端部Ｈに形成されたスルホールＪが、各該コネクター５に対しそれぞれハンダ付けＣにより接続される、接続用の該フレキシブル回路基板Ｄと、
   該判定部６の外面に、取付け固定された各該コネクター５と、
   各該プローブピン２，該ソケット片３，該フレキシブル回路基板Ｄの接続回路Ｅ，該コネクター５等を介して送出された検出信号と、予め準備された基準データとの比較により、検査対象の該回路基板Ａの各回路パターンＢ毎に、導通，断線，絶縁，短絡等を確認して、判定結果をディスプレイ等の表示部に表示する該判定部６と、を有してなり、
   検査対象の該回路基板Ａは、上下の台板７，８間に挟まれるように水平に位置決め，載置され、各該ソケット片３が、台板７の各縦穴１３に嵌挿されて取付け固定され上下に露出しているのに対し、作業者の視認し易さ等を考慮しつつ近くに配設された該判定部６は、各該コネクター５が、背面等の縦面に集中的に取付け固定されており、
   もって、該回路基板Ａ側の各該ソケット片３と該判定部６側の各該コネクター５とは、狭いスペース内で３次元の関係で捩れるように離隔変位した位置関係にあり、
   該フレキシブル回路基板Ｄは、高柔軟性，高屈曲性を備え空間を立体的に使用可能であり、このように離隔変位した各該ソケット片３と各該コネクター５との３次元で捩れた位置関係に対応する柔軟性を備え、両者間の接続用に介装されていること、を特徴とする回路基板の検査装置。

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