JP2006170623A

JP2006170623A - 可撓性プリント基板の電気検査装置及び電気検査方法

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Publication number: JP2006170623A
Application number: JP2004359165A
Authority: JP
Inventors: Kazuo Inoue; 和夫井上
Original assignee: Nippon Mektron KK
Current assignee: Nippon Mektron KK
Priority date: 2004-12-10
Filing date: 2004-12-10
Publication date: 2006-06-29
Anticipated expiration: 2024-12-10
Also published as: JP4387292B2

Abstract

【課題】スプリング型プローブ製の基板接続用可動ピンの基板貫通を即座に検出できる電気検査装置及び電気検査方法を提供する。
【解決手段】可撓性プリント基板２と当接する複数の基板接続用可動ピン５を備えた電気検査装置において、電気チェック上ベース１の下面側には、導電プレート板１０を配置すると共に、該導電プレート板１０に電気検査時に接続される導電プレート接続用端子部である端子ピン１１（又は配線１５）を設ける。更に、導電プレート接続用端子ピン１１と複数のピン５、１１との間には、ショート／オープン判別手段としての切替えスイッチ部１３及びテスター部１４を設け、前記ピン５，１１間に生じるショートを個別に測定することで、故障ピンによる基板貫通の動作異常を自動的に検知特定する。
【選択図】図１

Description

本発明は、可撓性プリント基板の電気検査装置及び電気検査方法に関するものであり、特に、基板接続用可動ピンがスプリング型プローブにより形成されてなる可撓性プリント基板の電気検査装置及び電気検査方法に関するものである。

従来、可撓性プリント基板の製造工程においては、可撓性プリント基板に形成された配線パターンの断線、短絡などの電気的性能を検査するために、スプリングが内蔵されて長さが伸縮するスプリング型プローブが用いられる。このスプリング型プローブは、電気検査時に、プローブの先端部が可撓性プリント基板（被検査物）に当接し、被検査物が押し下げられて、スプリングのバネ圧により、プローブ先端部が被検査物に押し当てられる。このように、従来は、スプリング型プローブを用いた電気検査装置により、上記配線パターンの短絡や断線等の電気検査を行っている。

特に、可撓性プリント基板は、ポリイミドフィルムなどの可撓性絶縁樹脂フィルムからなる絶縁ベース材の少なくとも一方の面に、接着剤を介して銅箔を貼り合わせた有接着剤型銅張積層板、又は、接着剤を介さず直接に銅箔を貼り合わせた無接着剤型銅張積層板を用い、この銅箔面に対するレジスト層の形成、或いは、該レジスト層に対する露光・現像・剥離・露出した銅箔に対するエッチング処理の一連のフォトファブリケーション手法による配線パターンの形成、部品搭載ランド、並びに、外部基板との接続の為のランド等に対応する表面保護層の形成、外形切断等の工程を経て製作される。

このような可撓性プリント基板では、構成材料が薄いうえに、他のガラスエポキシやセラミック等を絶縁ベース材として用いた基板と比較して、構成材料そのものが柔らかいという特徴を有する。その為、上記スプリング型プローブを用いた電気的性能の検査に於いては、該プローブの先端部により可撓性プリント基板が破壊されないような配慮が必要となる。

特に、近年においては、機器の小型化・軽量化に伴い、可撓性プリント基板も配線パターンの微細化、搭載部品の小型化により、基板端子の微細化が進んできたために、それに応じてスプリング型プローブの先端部もより一層微細化し、先鋭な先端形状を有するものが採用されるようになってきている（特許文献１）。

ここで、従来の電気検査装置の構成について詳述する。図８は従来の電気検査装置の基板接続用可動ピン部分を示す要部断面図である。同図において、１は昇降動作可能に設けられた電気チェック上ベースであり、該電気チェック上ベース１の下面側には、可撓性プリント基板２が配置されている。この可撓性プリント基板２の下方側には、位置決め用ガイド板３及びピンボード４が順次配設され、該ピンボード４には複数の基板接続用可動ピン５，５…５が固定されている。該可動ピン５，５…５としては、圧力を加えると収縮し該圧力を解除すると復元するスプリング型プローブが用いられている。

位置決め用ガイド板３の基板接続用可動ピン５，５…５と対応する複数箇所には、該可動ピン５，５…５よりもやや大径の貫通穴６，６…６が開穿され、該貫通穴６，６…６を基板接続用可動ピン５，５…５が遊嵌貫通することができるように構成されている。更に、ピンボード４の所定位置には、複数のガイドピンが設けられ、前記ガイド板３に設けられたガイドピンよりも大径の貫通穴を貫通して前記ガイド板３上に突出している。該ガイドピンにより可撓性プリント基板２の位置決めが行われる。

又、図９は、従来の電気検査装置を示す概念図であって、該電気検査装置は、電気検査時に可撓性プリント基板２のランド部に当接する複数の基板接続用可動ピン５，５…５を有するピン部と、各基板接続用可動ピン５，５…５に応ずる複数のポイントＡ〜Ｆを有する切替えスイッチ部（スキャン部）７と、該切替えスイッチ部７のポイントＡ〜Ｆに電気的に接続されたテスター部（測定部）８とから概略構成されている。従って、切替えスイッチ部７のポイント切り替えによって、可撓性プリント基板２上に形成された各導電パターンの導通と各導電パターン間の電気絶縁性の検査を個別に行うことができる。

而して、前記電気検査時に、基板接続用可動ピン５，５…５は、図１０に示すように、ガイド板より所定寸法突出しないようにセットされる。可撓性プリント基板２をセット後、電気チェック上ベース１が平行を保ったまま下降して、図１１に示すように可撓性プリント基板２をガイド板３に押しつける。電気チェック上ベース１は、図１２に示すように電気チェック上ベース１とピンボード４との間が所定位置に達するまで、該可撓性プリント基板２が押圧移動されることにより、該可動ピン５，５…５の先端部は、可撓性プリント基板２から反力を受けて短縮する。
特表２００２−５１１９３８号公報

ところで、従来の電気検査装置にあっては、基板接続用可動ピン５，５…５と可撓性プリント基板２との電気的な信頼性を維持するために、基板接続用可動ピン５，５…５のランド接触部は鋭角な先端形状を有し、所定値以上の高い接触圧を必要としている。特に、部品実装品の検査に使用する基板接続用可動ピン５，５…５は、部品実装時に用いられるフラックス等の影響を避けるため、より接触圧の高い基板接続用可動ピン５，５…５を使用することが要請されている。

ここに、基板接続用可動ピン５，５…５の接触圧が高いということは、該可動ピン５，５…５に内装されているスプリングのバネ定数が大きいということであり、該スプリングが破断しやすくなっている。また、基板接続用可動ピン５，５…５の接触圧力が高いことから、基板接続用可動ピン５，５…５そのものの変形も起こりやすく、該可動ピン５，５…５の動作不良が発生しやすい。もし、ピン動作不良が発生した状態で可撓性プリント基板２の電気検査を行った場合、上述のピン先端形状の先鋭化と相まって、図１３に示すように、可撓性プリント基板２を基板接続用可動ピン５，５…５の先端部が貫通する、という重大な不具合を発生させることがある。

しかし、従来構成では、基板接続用可動ピン５，５…５が可撓性プリント基板２を貫通しても、これを検出することができないので、基板接続用可動ピン５，５…５が動作不良の状態にあること、即ち、「ピン動作異常状態」を検知判断することはなかった。

そのため、基板接続用可動ピン５，５…５の故障による可撓性プリント基板２のピン貫通、即ち、「基板の穴あき」という重大な不具合を発生させた場合でも、可撓性プリント基板２と電気検査装置とが電気的な接続を保っている限りは、可撓性プリント基板２の製造作業がそのまま継続されてしまう。その結果、ピン動作が「異常」な状態のまま可撓性プリント基板２が製造され、次々と可撓性プリント基板２へダメージを与えることとなり、基板製造作業において甚だ不都合となる。

そこで、基板接続用可動ピン（スプリング型プローブ）の故障を即座に検知特定し、該可動ピンの故障による可撓性プリント基板の穴あきという重大なダメージの継続的な発生を抑止して、該可撓性プリント基板を安定的に量産できるようにするために解決すべき技
術的課題が生じてくるのであり、本発明は該課題を解決することを目的とする。

本発明は、上記目的を達成するために提案されたものであり、請求項１記載の発明は、可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査装置において、前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に、導電プレートを配置すると共に、該導電プレートに電気的に接続される導電プレート接続用端子部を設け、該導電プレート接続用端子部と前記基板接続用可動ピンとの間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知するように構成されている可撓性プリント基板の電気検査装置を提供する。

この構成によれば、前記導電プレート接続用端子部（コモン端子部）は、基板接続用可動ピンが可撓性プリント基板のランド部に当接する電気検査時までに導電プレートに電気的に接続されるように構成すればよい。例えば、前記端子部の具体的態様としては、ピンボードに固定されて電気検査時までに導電プレートに接触するスプリング型プローブ製の可動式端子ピン、或いは、導電プレートに直接結線された配線が含まれる。

電気検査時、基板接続用可動ピンは可撓性プリント基板のランド部に当接するが、該当接前又は当接時に、導電プレート接続用端子部が導電プレートに電気的に接続される。しかして、基板接続用可動ピンが故障により可撓性プリント基板を貫通した場合は、基板接続用可動ピンの先端部が導電プレートに当接し、導電プレートを介して基板接続用可動ピンと導電プレート接続用端子部との間でショートを生ずる。このショートを測定手段により検出することにより、基板接続用可動ピンが可撓性プリント基板を貫通したことを自動検知する。

請求項２記載の発明は、上記導電プレート接続用端子部が複数本設けられている請求項１記載の可撓性プリント基板の電気検査装置を提供する。

この構成によれば、導電プレート接続用端子部が複数本設けられているので、複数本、例えば、２本の導電プレート接続用端子部のうちの１本が電気的に動作不良を起こしても、もう１本の導電プレート接続用端子部により電気検査を行われる。また、２本の導電プレート接続用端子部間の導通の有無を試験することにより、２本の導電プレート接続用端子部の一方又は双方の電気的な接続が正常か否かが判別される。

請求項３記載の発明は、可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査方法において、前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に配置された導電プレートに導電プレート接続用端子部を電気的に接続した後に、前記可撓性プリント基板のランド部に基板接続用可動ピンを当接させ、該基板接続用可動ピンと前記導電プレート接続用端子部との間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知する可撓性プリント基板の電気検査方法を提供する。

この構成によれば、電気検査を行うに当たり、導電プレート接続用端子部を導電プレートに電気的に接続させた後に、基板接続用可動ピンを可撓性プリント基板のランド部に当接させる。しかして、基板接続用可動ピンが故障して可撓性プリント基板を貫通した時は、基板接続用可動ピンの先端部が導電プレートに当接し、導電プレートを介して基板接続用可動ピンと導電プレート接続用端子部との間でショートを生ずる。このショートを測定することにより、可撓性プリント基板のピン貫通という異常動作状態が即時に検知される
。

請求項４記載の発明は、上記導電プレートに接続された導電プレート接続用端子部と上記複数の基板接続用可動ピンとの電気的接続を個別に切り替えて、導電プレート接続用端子部と各基板接続用可動ピンとの間に生じるショートの有無を夫々測定することにより、前記可撓性プリント基板を貫通した基板接続用可動ピンを検知して特定する請求項３記載の可撓性プリント基板の電気検査方法を提供する。

この構成によれば、導電プレート接続用端子部の他端部と上記複数の各基板接続用可動ピンとの電気的接続を順次切り替えてスキャンすることにより、導電プレート接続用端子部と各基板接続用可動ピンとの間に生じるショートの有無が個別に測定される。従って、複数の基板接続用可動ピンのいずれかが故障して可撓性プリント基板を貫通した時は、貫通した基板接続用可動ピンと導電プレート接続用端子部との間のショートが測定され、該貫通した基板接続用可動ピンが特定される。

請求項１記載の発明は、基板接続用可動ピンが可撓性プリント基板を貫通したときは、この異常動作状態が検知判別されることにより、可撓性プリント基板の製造作業を即時に中止できるので、基板接続用可動ピンの故障による可撓性プリント基板の継続的な穴あき（ピン貫通の異常動作状態）の発生を即座に抑止して、可撓性プリント基板を安定的に量産できる格別の効果がある。即ち、従来は、個々の可撓性プリント基板をそのつど外観検査により確認しなければ、可撓性プリント基板の穴あきというダメージを検出できなかったが、本発明は、可撓性プリント基板へのダメージを早い段階で自動検出して、可撓性プリント基板の製造作業を即刻停止できるので、高品質の可撓性プリント基板を安定的に製造でき生産効率が高くなる。

請求項２記載の発明は、複数本の導電プレート接続用端子部のいずれかが動作不良を起こしても、残りの導電プレート接続用端子部により電気検査を行うことができるので、請求項１記載の発明の効果に加えて、電気検査を一層確実に実施できるという優れた利点を有する。又、複数本の導電プレート接続用端子部間の短絡の有無を測定することにより、導電プレート接続用端子部間の電気的接続の正常・異常状態を自己診断して判別できる。

請求項３記載の発明は、前記可撓性プリント基板のピン貫通という異常動作状態を即時に自動検知できるので、ピン故障による可撓性プリント基板の継続的な穴あきの発生拡大を未然に抑止することができる。

請求項４記載の発明は、導電プレート接続用端子部と各基板接続用可動ピンとの間に生じるショートの有無を個別に測定することにより、故障した基板接続用可動ピンを早い段階で容易・確実に特定できるので、請求項３記載の発明の効果に加えて、故障した基板接続用可動ピンを別の基板接続用可動ピンと交換して、高品質の可撓性プリント基板を効率よく製造できるメリットを有する。

本発明は、可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査装置において、前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に、導電プレートを配置すると共に、該導電プレートに電気的に接続される導電プレート接続用端子部（スプリング内蔵型端子ピン又は検出用接続線）を設け、該導電プレート接続用端子部と前記基板接続用可動ピンとの間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知するように構
成されていることにより、基板接続用可動ピンの故障を即座に検知し、ピン故障による可撓性プリント基板の穴あきの拡大を未然防止して、可撓性プリント基板を安定的に量産化できるという目的を実現した。

以下、本発明の一実施の形態を図１乃至図７に従って説明する。尚、従来例と同一の構成要素には、これと同一の符号を付して説明する。図１において、電気チェック上ベース１の下面側には導電プレート１０が設けられ、導電プレート１０は、所要の導電性を有する金属等から成る。前記導電プレート１０の面積は、後述の可動ピン５，５…５及び導電プレート接続用端子ピン（端子部）１１が設けられている範囲の全領域を含む広さに設定されている。

また、電気チェック上ベース１の導電プレート１０の左側の一部を除く部分と対応する下方位置には、被検査品たる可撓性プリント基板２が配置セットされ、図１における可撓性プリント基板２の左端部は、導電プレート１０の左端部よりも所定寸法だけ内側（図１における右側）に位置している。

この可撓性プリント基板２の下側には、位置決め用ガイド板３及びピンボード４が順次配設され、これらガイド板３及びピンボード４の左端部は、導電プレート１０の左端部と略一致している。該ピンボード４における可撓性プリント基板２下面と対応する部分には、複数の基板接続用可動ピン５，５…５が互いに適宜間隔をあけて固定植設されている。

又、該ピンボード４における可撓性プリント基板２と対応しない左側部分には、１本の導電プレート接続用端子ピン１１が固定植設されている。導電プレート接続用端子ピン１１は、電気検査時に、可撓性プリント基板２の左側空間部を上昇することで、導電プレート１０に直接当接して電気的に接続されるよう構成されている。該基板接続用可動ピン５，５…５及び導電プレート接続用端子ピン１１としては、加圧により短縮し該加圧の解除により復元するスプリング型プローブが用いられている。

位置決め用ガイド板３の基板接続用可動ピン５，５…５及び導電プレート接続用端子ピン１１と対応する複数箇所には、該ピン５，５…５及び１１よりもやや大径の貫通穴６，６…６が夫々開穿され、該貫通穴６，６…６を基板接続用可動ピン５，５…５及び導電プレート接続用端子ピン１１が遊嵌貫通して、ガイド板３の上面側へ突出できるように構成されている。更に、ガイド板３の適当箇所には、可撓性プリント基板２を位置決めするためのガイドピンが複数設けられている。

なお、上記可撓性プリント基板２の左端部は、導電プレート１０の左端部よりも内側に位置するように設ける必要はなく、双方の左端部が互いに上下一致するように設けてもよい。この場合、図２に示すように、可撓性プリント基板２における導電プレート接続用端子ピン１１と対応する箇所には貫通穴１２を開穿させ、電気検査時、導電プレート接続用端子ピン１１が可撓性プリント基板２を貫通突出して、導電プレート１０に当接できるように構成する。

又、ピンボード４における導電プレート接続用端子ピン１１の配置箇所は任意であり、ピンボード４の端部箇所に設ける必要はない。例えば、図３に示すように、ピンボード４の中央部領域において複数の基板接続用可動ピン５，５…５の間の箇所に導電プレート接続用端子ピン１１を配設してもよい。この場合も、可撓性プリント基板２の導電プレート接続用端子ピン１１と対応する箇所には、貫通穴１２を開穿させることは言うまでもない。

要するに、導電プレート接続用端子ピン１１は、電気検査時に、可撓性プリント基板２に接触することなく、直接導電プレート１０に当接するように構成すればよい。更に、導電プレート接続用端子ピン１１の数は複数設けることができる。導電プレート接続用端子ピン１１自体の断線等の不具合を電気的に検出できるようにするために、導電プレート接続用端子ピン１１の本数は２本以上設けることが好ましい。図４は、導電プレート接続用端子ピン１１をピンボード４に２本植設して、２本の導電プレート接続用端子ピン１１を基板接続用５，５…５の左右両側の箇所に設けた配置例を示す。

図６は、本実施例の電気検査装置を示す概念図である。電気検査装置は、複数の基板接続用可動ピン５，５…５及び導電プレート接続用端子ピン１１からなるピン部と、複数の基板接続用可動ピン５，５…５及び導電プレート１０に応ずるポイントＡ〜Ｆ及びＧを有する切替えスイッチ部（スキャン部）１３と、該切替えスイッチ部１３のポイントＡ〜Ｆ及びＧに電気的に接続されたテスター部（測定部）１４とから概略構成されている。電気検査時に、複数の基板接続用可動ピン５は可撓性プリント基板２のランド部に当接する一方、導電プレート接続用端子ピン１１は導電プレート１０下面に直に常時当接する。

前記テスター部１４は、電源部、ポイント切替え測定部及び測定データ表示部等を備えると共に、各種測定データを記憶する記憶装置が内蔵されている。従って、切替えスイッチ部１３のポイントＡ〜Ｆを切り替えることにより、可撓性プリント基板２の各導電パターン間の電気絶縁性等の電気検査を実施できる。併せて、切替えスイッチ部１３のポイントＧを閉成した状態で、複数の基板接続用可動ピン５，５…５と導電プレート接続用端子部導電プレート１０間のショート検査も個別に実施できる。

而して、電気検査を行う際は、基板接続用可動ピン５，５…５の先端部がガイド板３より所定寸法突出しないようセットした後、電気チェック上ベース１を下降動作させて、可撓性プリント基板２をガイド板３側に押し付ける。この押し付け動作により、基板接続用可動ピン５，５…５、導電プレート接続用端子ピン１１がそれぞれ可撓性プリント基板２、導電プレート１０の下面に当接する。

ここで使用される電気検査装置によれば、複数の基板接続用可動ピン５，５…５及び導電プレート接続用端子ピン１１間の導通状態の有無を検出すべくスキャンすることができる。すなわち、電気検査装置は、該ピン５，５…５及び１１同士が電気的にショートしているか否（オープン）かを個別に確認できるショート／オープン判定手段、つまり、前記切替えスイッチ部１３、テスター部１４などを備えている。

一般的な電気検査の手法にあっては、複数の基板接続用可動ピン５，５…５間に電気的なショートが発生していないか否かを確認する。このショート発生の有無の確認方法として、各基板接続用可動ピン５，５…５毎に検出用電気検査信号を１つずつ入力する。そして、他の基板接続用可動ピン５，５…５により該電気検査信号が検出されるかどうかに関し、他の全ての基板接続用可動ピン５，５…５に対してスキャンして、電気的性能の個別検査を行う。

ここに、電気検査装置の初期設定時に、指定の基板接続用可動ピン５，５…５が予め設定されており、設定された基板接続用可動ピン５，５…５以外にも電気検査信号が検出されたときは、当該可動ピン５がショートしていると判定される。また、初期設定された指定の基板接続用可動ピン５，５…５について、電気検査信号が検出されなかったときは、当該可動ピン５がショートしていない状態、即ち、オープン状態であると判定される。

次に、上記電気検査装置による検査動作例について詳述する。なお、通常の電気的接続状態のチェック時、図４及び図７の構成例では、２本の導電プレート接続用端子ピン１１
同士間の導通状態を確認することにより、導電プレート接続用端子ピン１１が正常に動作していることを確認し、この後に、可撓性プリント基板２の電気的性能の検査を実施する。

いま、図６において、切替えスイッチ部１３のポイントＡに電気検査信号を入力したとき、配線パターンが正常な電気的性能を有する場合は、切替えスイッチ部１３のポイントＦにしか電気検査信号は出力されない。

これに対して、配線パターンが異常な電気的性能を有する場合、例えば、隣接する配線パターン間でショートが起きた場合、ポイントＡに入力した電気検査信号は、ショートが起きた配線パターンと対応するポイントＢ，Ｅにも出力することになる。そして、切替えスイッチ部１３のポイントＡ〜Ｆ及びＧを全てオンにした状態で、テスター部１４が前記電気検査信号を検出し、該検出値と初期設定値との違いを出力してショート検出を行える。

ここで、指定の前記基板接続用可動ピン５がオープン状態である場合、ポイントＡに入力した電気検査信号は、他のポイントＦから出力されない。このことから、当該配線パターンの断線、或いは、指定の前記基板接続用可動ピン５の動作異常として検出できる。

従って、上述の検出原理を利用した電気検査において、可撓性プリント基板２を基板接続用可動ピン５，５…５のいずれかが貫通したときは、貫通した基板接続用可動ピン５と導電プレート１０との間に電気的な接続が成立する。このことにより、動作異常状態の可動ピン５を具体的に特定することができる。

ピン貫通の異常動作状態を検知するために、いまポイントＡ及びポイントＧを閉じて検査を行った場合、ポイントＡと対応する基板接続用可動ピン５が故障して可撓性プリント基板２を貫通したときは（図１３参照）、該基板接続用可動ピン５の先端部が、可撓性プリント基板２上側の導電プレート１０に接触して電気的に導通する。

その結果、当該基板接続用可動ピン５と導電プレート接続用端子ピン１１とが互いに電気的に接続導通して、両者間でショートを生じる。このショートはテスター部１４により測定され、指定外の基板接続用可動ピン５と導電プレート接続用端子ピン１１間でショートを発生している状態、即ち、ポイントＡと対応する基板接続用可動ピン５が「動作不良」の状態であると判断される。

このように、電気検査時に、基板接続用可動ピン５，５…５のいずれかが可撓性プリント基板２を貫通して、導電プレート１０に接触した場合は、該可動ピン５と導電プレート接続用端子ピン１１との間でショートが生じ、これをテスター部１４で測定することにより、接触した当該基板接続用可動ピン５の動作不良が自動検出される。従って、前記基板接続用可動ピン５の動作不良による可撓性プリント基板２へのダメージを早い段階で検出できる。

本発明は、導電プレート接続用端子ピン１１と複数の各基板接続用５，５…５との間に切替えスイッチ部１３を設け、導電プレート接続用端子ピン１１と電気的に接続する基板接続用可動ピン５，５…５と対応するポイントＡ〜Ｆを順次切り替えることにより、両者間のショートの有無を測定できる。特に、各基板接続用可動ピン５のショート又はオープンを個別にスキャンして格別に測定できるので、可撓性プリント基板２を貫通した特定の基板接続用可動ピン５が存在する場合、これを早い段階で迅速・確実に自動検出できる。

従って、基板製造作業を即時にストップして、可撓性プリント基板２へのダメージを最
小に抑止しうる。この場合、貫通した基板接続用可動ピン５を新品と交換することにより、ピン貫通という異常動作状態を解消して、基板製造を正常状態で続行でき、高品質の可撓性プリント基板２を安定的に量産できる。

上記実施例では、導電プレート接続用端子部として、スプリング型プローブから成る端子ピン１１を使用したが、図５に示すように、導電プレート接続用端子ピン１１に代えて、導電プレート１０に常時接続連結された導電プレート接続用配線１５を用いてもよい。更に、上記切替えスイッチ部の種類は特に限定されず、例えば、マトリックス型切替えスイッチ部なども勿論使用できる。

又、導電プレート接続用端子部、即ち、導電プレート接続用端子ピン１１又は導電プレート接続用配線１５を複数本設けることにより、導電プレート接続用端子ピン１１又は導電プレート接続用配線１５同士の短絡の有無を検査することにより、導電プレート接続用端子部の動作不良を自己診断できる。

例えば、図４に示すように、導電プレート接続用端子ピン１１を２本設けた場合、２本の導電プレート接続用端子ピン１１の一方が動作不良を起こしても、他方の導電プレート接続用端子ピン１１により電気検査を行える。

尚、本発明は、本発明の精神を逸脱しない限り種々の改変を為すことができ、そして、本発明が該改変されたものに及ぶことは当然である。

本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置のピン部分の構成例を説明する要部断面図。本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置のピン部分の他の構成例を説明する要部断面図。本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置のピン部分の更に他の構成例を説明する要部断面図。本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置の導電プレート接続用端子ピンを２本設けた構成例を説明する要部断面図。本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置の導電プレート接続用端子ピンに代えて導電プレート接続用配線を設けた構成例を説明する要部断面図。本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置を概念的に説明する全体構成図。本発明の一実施の形態を示し、導電プレート接続用端子ピンを２本設けて成る電気検査装置を概念的に説明する全体構成図。従来例を示し、電気検査装置の可動ピン部分の構成例を説明する要部断面図。従来例を示し、電気検査装置を概念的に説明する全体構成図。基板接続用可動ピンのセット状態を示す要部断面図。図１０の電気チェック上ベースが下降し、可撓性プリント基板を位置決め用ガイド板に押しつけた状態を示す要部断面図。図１０の基板接続用可動ピンの正常動作時の状態を示す要部断面図。図１０の基板接続用可動ピンの異常動作時の状態を示す要部断面図。

符号の説明

１電気チェック上ベース（押し付け手段）
２可撓性プリント基板
３位置決め用ガイド板
４ピンボード
５基板接続用可動ピン（スプリング型プローブ）
６貫通穴
７切替えスイッチ部
８テスター部（測定部）
１０導電プレート
１１導電プレート接続用端子ピン
（導電プレート接続用端子部、スプリング型プローブ）
１２貫通穴
１３切替えスイッチ部
１４テスター部（測定部）
１５導電プレート接続用配線（導電プレート接続用端子部）

Claims

可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査装置において、前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に、導電プレートを配置すると共に、該導電プレートに電気的に接続される導電プレート接続用端子部を設け、該導電プレート接続用端子部と前記基板接続用可動ピンとの間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知するように構成されていることを特徴とする可撓性プリント基板の電気検査装置。
上記導電プレート接続用端子部が複数本設けられていることを特徴とする請求項１記載の可撓性プリント基板の電気検査装置。
可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査方法において、前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に配置された導電プレートに導電プレート接続用端子部を電気的に接続した後に、前記可撓性プリント基板のランド部に基板接続用可動ピンを当接させ、該基板接続用可動ピンと前記導電プレート接続用端子部との間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知することを特徴とする可撓性プリント基板の電気検査方法。
上記導電プレートに接続された導電プレート接続用端子部と上記複数の基板接続用可動ピンとの電気的接続を個別に切り替えて、導電プレート接続用端子部と各基板接続用可動ピンとの間に生じるショートの有無を夫々測定することにより、前記可撓性プリント基板を貫通した基板接続用可動ピンを検知して特定することを特徴とする請求項３記載の可撓性プリント基板の電気検査方法。