JPH05297019A - プリント配線板の検査治具 - Google Patents

プリント配線板の検査治具

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JPH05297019A
JPH05297019A JP4126766A JP12676692A JPH05297019A JP H05297019 A JPH05297019 A JP H05297019A JP 4126766 A JP4126766 A JP 4126766A JP 12676692 A JP12676692 A JP 12676692A JP H05297019 A JPH05297019 A JP H05297019A
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JP4126766A
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Katsuhiro Takahashi
勝洋 高橋
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 プローブの触針の細径化と損傷防止に対応で
き,かつガイド孔の穿設が容易で,かつリードワイヤー
との接続も容易なプリント配線板の検査治具を提供する
こと。 【構成】 プリント配線板7の配線回路71を電気導通
により検査する検査治具であって,該検査治具はガイド
板8のガイド孔81にスライド可能に装着したコンタク
トピン3と,ピンボード88に固定したプローブ1とよ
りなる。また,プローブ1は,弾性的に進退可能に装着
した触針2を有し,触針2は,コンタクトピン3の頭部
に当接させる。プローブ1の他端には,プローブ端子1
6を設け,検査器18と接続するリードワイヤー15に
は,該プローブ端子16に着脱可能に嵌合する端子キャ
ップ17を設ける。コンタクトピン3の先端を配線回路
71に当接させて,電気導通を検査する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,プリント配線板の検査
治具,特に高密度配線回路の検査に対して優れた効果を
発揮するプローブ回りの構成と,電気的導通を判定する
検査器との接続を容易にする端子構造に関する。
【0002】
【従来技術】プリント配線板における配線回路を,電気
導通の有無により検査する方法,及びその装置として
は,種々のものが提案されている(例えば,特公平2−
44035号公報,特開昭56−110060号公
報)。そして,従来用いられている,プリント配線板の
検査治具としては,図9及び図10に示すごとく,プリ
ント配線板7の配線回路75に対して,プローブ9の触
針92を当接させることにより,電気導通の有無を検査
するものである。
【0003】該検査治具は,プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板8と,プローブ9を保持する
ためのピンボード88と,両者を貫通させて装着したプ
ローブ9とよりなる。プローブ9は,図10にも示すご
とく,パイプ状のソケット91と触針92とを有する。
ソケット91は,ピンボード88の貫通孔881内に挿
通固定されている。
【0004】一方,触針92はガイド板8のガイド孔8
1内に,進退可能に挿通されている。そして,触針92
は,その上部にプランジャー920を有する。該プラン
ジャー920は,チューブ25の内腔内に,スプリング
バネ(図示略)を介して,進退可能に装着されている。
【0005】上記プローブ9の上端は,リードワイヤー
を半田付けするなどの方法によって,電気導通を検出す
るための検査器に電気的に接続されている。なお,ガイ
ド板8は,ソケット91の下端を配置するための凹部8
2を有する。また,上記プローブ9は,被検査体として
のプリント配線板7の配線回路75に対応した位置に設
けてある。また,ガイド板8とピンボード88とは一体
的に固定してある。
【0006】そして,配線回路の電気導通の検査に当た
っては,プリント配線板7の上下より,上記ガイド板8
及びピンボード88を下降及び上昇させ,プローブ9の
触針92を配線回路75の触針用パッド(以下省略)に
当接させる。このとき,当該配線回路75が断線又はシ
ョートを生じていない場合には,正常な電気導通が得ら
れる。これにより,各配線回路75の良否が判定でき
る。
【0007】また,上記において触針92の先端921
を配線回路75に当接させた際には,触針92はガイド
板8のガイド孔81に沿ってソケット91側へ後退し,
そのプランジャー920がソケット91内に侵入する。
これは,触針92の先端921を保護するためである。
なお,図9において,符号87,886はノックピン8
91の挿入穴,871,885は,位置決めピン892
の挿入穴である。
【0008】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来の検
査治具には,次の問題がある。即ち,近年は,プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み,配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば,このピッチは,従来は0.65mm程度であっ
たが,高密度配線回路においては0.3mmと狭くなっ
ている。
【0009】そこで,これに対応するため,プローブ9
の配列ピッチを狭くする必要があり,プローブ自体の大
きさ(直径)も小さくする必要がある。そして,現在使
用されているプローブ9においても,そのソケット91
の外径は約1ミリであり,また触針92の直径は0.5
mmと細径である。
【0010】また,従来の検査治具においては,検査に
当たって,触針92の先端921を直接に配線回路75
に当接させている。また,その当接の際には,上記のご
とく,触針92がガイド板8のガイド穴81内をスライ
ドして後退する。そして,検査後は,触針92は,ソケ
ット91内に設けたスプリングバネによって,再び元の
位置へ突出させられる。そのため,触針92は,検査の
度毎にガイド孔81内を摺動することになる。
【0011】それ故,触針92が摩耗し易い。また,こ
の摩耗を防止するためガイド孔81の径を大きくする
と,触針92との間のクリアランスが大きくなり,触針
92の先端921がガタつき,検査不良を生ずることが
ある。また,触針92は,ピンボード88に固定された
ソケット91内に挿入されている。そのため,ソケット
91と触針92とガイド孔81の軸芯は同一にしなけれ
ばならない。それ故,上記ガイド孔81は,細径の触針
92を円滑にスライドさせるために,上記軸芯が一致す
るように寸法精度良く,穴明けを行う必要がある。
【0012】また,触針92は,ソケット91内とガイ
ド孔81内を,同軸線状にスライドすると共に,その先
端921が配線回路75と直接に当接するため,上記軸
芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記のごとく,従
来の検査治具においては,配線回路の高密度化に伴っ
て,特にプローブの触針92の細径化と損傷,ガイド孔
81の穴明精度等に問題がある。
【0013】また,プローブ9の他端は,電気的導通を
判定するための検査器のリードワイヤーに,電気的に接
続される。そして,検査器は各プリント配線板に共通の
ものであるのに対し,プローブ9とガイド板8とピンボ
ード88等の検査部セットはプリント配線板毎に異な
る。このため,配線回路が変わるごとに,上記プローブ
9の他端と上記リードワイヤーとの半田接続を外す必要
がある。しかし,半田付けによる接続,その取外しには
多大な工数を要するという問題があった。本発明はかか
る従来の問題点に鑑み,プローブの触針の細径化と損傷
防止に対応でき,ガイド孔の穿設が容易で,かつ検査器
との電気的接続も容易な,プリント配線板の検査治具を
提供しようとするものである。
【0014】
【課題の解決手段】本発明は,プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って,該検査治具は,ガイド板と,ピンボードと,上記
配線回路と当接させるためのコンタクトピンと,該コン
タクトピンに当接させるための触針を内蔵したプローブ
とよりなり,上記コンタクトピンは上記ガイド板に進退
可能に装着され,また上記触針はプローブ内に弾性的に
進退可能に内蔵されており,上記プローブは,その他端
に,プローブ端子を有し,該プローブ端子と検査器の端
子との間には,両者を接続するリードワイヤーを配置し
てなり,かつリードワイヤーは上記プローブ端子に着脱
可能に嵌合する端子キャップを有することを特徴とする
プリント配線板の検査治具にある。本発明において最も
注目すべきことは,上記従来例の前記プローブをいわば
2組に分割し,コンタクトピンとプローブとに構成した
こと,そしてコンタクトピンを配線回路に当接させ,一
方プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう構
成したこと,及び検査器に接続したリードワイヤーには
上記端子キャップを設けたことである。
【0015】即ち,プリント配線板と対面するガイド板
には進退可能にコンタクトピンを装着し,上記ガイド板
に面するピンボードにはプローブを固定する。該プロー
ブには,弾性的に進退可能に触針を内蔵させる。このよ
うに,触針を内蔵させる手段としては,触針をチューブ
内に弾性的に保持し,これらをピンボードの貫通孔内に
装着する手段がある(図5参照)。また,ピンボードの
貫通孔内に,直接触針を挿入して弾性的に保持させる手
段もある。上記弾性的に保持する手段としては,スプリ
ングバネがある。
【0016】また,コンタクトピンはガイド板のガイド
孔に進退可能に装着する。コンタクトピンは,配線回路
に当接させる先端を有すると共に,その反対側に触針を
当接させる当接部を有する。該当接部は,コンタクトピ
ンの本体よりも大きな径を有する頭部を有することが好
ましい。また,該当接部には,触針の当接を確実にする
ために,曲面凹部を設けることが好ましい(図6参
照)。
【0017】また,本発明の検査治具においては,ガイ
ド板及びピンボードに本発明に関する上記構成のコンタ
クトピン及びプローブを設けると共に,プリント配線板
の配線回路が高密度でない部分を検査するために,上記
従来例と同様の比較的大径のプローブピンを併設するこ
ともできる。またプローブの他端には,プローブ端子を
設け,該プローブ端子と検査器の端子との間はリードワ
イヤーで接続する。このリードワイヤーにはプローブ端
子に着脱可能に嵌合する端子キャップを設け,端子キャ
ップをプローブ端子に着脱することによりプローブとリ
ードワイヤーとを接続する。
【0018】
【作用及び効果】本発明の検査治具においては,ガイド
板にコンタクトピンを,ピンボードにプローブを設け,
コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に当接さ
せ,プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう
構成している。即ち,本発明においては,ガイド孔内を
スライドして配線回路に当接する部分(コンタクトピ
ン)と,電気導通の検出端であるプローブとを2つに分
けた構成としている。
【0019】そのため,コンタクトピンの進退と,プロ
ーブの触針の進退とは独立した状態にある。それ故,従
来のごとく,ピンボードに固定したプローブと,その内
部に挿入した触針と,該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔との3つの軸芯を,高精度で一致させる必要がな
い。
【0020】したがって,ガイド孔の軸芯の孔明けは,
プリント配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良
く,従来のごとく高精度が要求されず,穿設容易であ
る。また,ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑スライ
ドを可能とすれば良いので,細径のものを設けることが
でき,コンタクトピンのガタつきも小さくすることがで
きる。また,コンタクトピンが摩耗した際には,容易
に,しかも安価に交換することができる。
【0021】また,プローブは,直接に配線回路に当接
させないので,従来のごとく損傷を受けることがない。
また,コンタクトピンは,配線回路に直接当接しガイド
孔内をスライドするが,従来のプローブの触針のごと
く,ガイド孔とプローブのソケット内の両方を直線状に
進退することがないので,軸芯ズレ等により損傷を受け
ることがない。
【0022】また,上記のごとく,コンタクトピンとプ
ローブとに分割構成し,検査時における両者の進退に無
理を生じないようにしたので,両者を細径化することも
できる。そのため,高密度配線回路の検査も容易であ
る。また,プローブは,細い内径の貫通孔内に,触針を
弾性的に,進退可能に装着した構成である。そのため,
高価な精密部品であるが,上記のごとく損傷がないた
め,検査治具もコスト安となる。
【0023】また,本発明ではプローブとリードワイヤ
ーとの電気的接続は,プローブ端子に対して着脱可能に
嵌合する端子キャップを用いているため極めて容易であ
る。即ち,前記のごとく,プローブ,ピンボード等の検
査部セットは,検査すべき配線回路に応じて取り替えら
れるが,プローブとリードワイヤーとの間はその都度端
子キャップを着脱するのみで良い。したがって,本発明
によれば,プローブの触針の細径化と損傷防止に対応で
き,ガイド孔の穿設が容易で,かつリードワイヤーとの
接続も容易な,プリント配線板の検査治具を提供するこ
とができる。
【0024】
【実施例】本発明の実施例にかかる,プリント配線板の
検査治具につき,図1〜図8を用いて説明する。本例の
検査治具は,図1〜図3に示すごとく,ガイド板8とピ
ンボード88と,配線回路71と当接させるためのコン
タクトピン3と,該コンタクトピン3に当接させるため
の触針2を内蔵したプローブ1とよりなる。また,上記
コンタクトピン3は,上記ガイド板8に進退可能に装着
され,また上記触針2はプローブ1内に弾性的に進退可
能に内蔵されている。
【0025】また,プローブ1の他端(触針2と反対
側)には,プローブ端子16を設け,該プローブ端子1
6と検査器18の端子との間はリードワイヤー15を用
いて接続すると共に,リードワイヤー15にはプローブ
端子16に着脱可能に嵌合する端子キャップ17を設け
ている。上記配線回路71は,プリント配線板7におい
て高密度配置されたものである。上記ガイド板8とピン
ボード88とは,従来と同様にノックピン891によ
り,脱着可能に,一体的に結合されている。ガイド板8
は,図1〜3,図7,図8に示すごとく,コンタクトピ
ン3を,進退可能に装着するための多数のガイド孔85
と,開口溝86を有する。
【0026】また,ピンボード88は,図2,3に示す
ごとく,プローブ1を挿通固定するための貫通孔882
を有する。上記コンタクトピン3は,図2,図3,図6
に示すごとく,配線回路71に当接させるための先端3
1と,触針2を当接させるための当接部としての,頭部
32を有する。また,該頭部32は,曲面凹部321を
有する(図6)。
【0027】また,プローブ1は,図2,図3,図5に
示すごとく,チューブ25とその中へ進退可能に挿通し
た触針2とからなる。チューブ25は,中空パイプであ
り,触針2の挿入側にフランジ110を有する(図
3)。また,他端には,図1に示すごとく,プローブ端
子16を有する。
【0028】一方,触針2は,図5に示すごとく,チュ
ーブ25内に進退可能に装着されている。即ち,触針2
は,図5に示すごとく,上部に触針2とほぼ同径のガイ
ド柱22を有し,両者の間には細径の連結部21を有す
る。そして,チューブ25の中に,まずスプリングバネ
23を入れ,次いで上記触針2を挿入した後,上記触針
の連結部21の外側部分において,チューブ25のかし
めを行い,かしめ部251を形成する。
【0029】これにより,触針2は,チューブ25内に
おいて,上記スプリングバネ23により弾性的に,進退
可能に装着される。また,該チューブ25はピンボード
88の貫通孔882内へ,挿入し固定する。スプリング
バネ23の上端は,プローブ端子16に電気的に接続さ
れ,固定されている。
【0030】更に,上記のごとく構成したプローブ1
は,図1〜図3に示すごとく,ピンボード88の貫通孔
882内へ,挿入し,固定する。その他は,前記従来例
と同様である。端子キャップ17は,図4に示すごと
く,リードワイヤー15により検査部18に接続されて
いる。また,該端子キャップ17は,プローブ端子16
を嵌合するための凹部171を有する。
【0031】次に,作用効果につき説明する。即ち,プ
リント配線板7における配線回路71の良否を電気導通
により検査するに当たっては,図1〜図3に示すごと
く,各配線回路71に対してガイド板8及びピンボード
88を,上下方向より接近させ,ガイド板8をプリント
配線板7に対面させる。このとき,両者の当接前におい
ては,コンタクトピン3は,図2に示すごとく,ガイド
板8よりも突出した状態にある。また,コンタクトピン
3の頭部32には,プローブ1の触針2の先端21が当
接している。
【0032】そして,ガイド板8がプリント配線板7に
当接し,コンタクトピン3の先端31が配線回路71に
当接するときには,コンタクトピン3はガイド孔85内
をスライド上昇する。そして,図3に示すごとく,コン
タクトピンの先端31はガイド板8の下面とほぼ同じ位
置に来る。このとき,コンタクトピン3の頭部32は,
触針2をプローブ1の方向に押圧する。そのため,触針
2は,上記スプリングバネ23(図5)の付勢力に抗し
て,チューブ25内に侵入する。
【0033】このように,コンタクトピン3の先端31
が,配線回路71と当接した後,上記,端子キャップ1
7,リードワイヤー15を介して,プローブ1,触針
2,コンタクトピン3に電流を通じ,配線回路71の良
否を従来と同様に判断する(図1)。また,検査終了後
は,ガイド板8等をプリント配線板7より遠ざける。そ
のため,コンタクトピン3は,触針2のスプリングバネ
23の付努力により,図2に示すごとく突出する。
【0034】上記のごとく,本例の検査治具において
は,コンタクトピン3をガイド板8に進退可能に装着
し,またプローブ1はピンボード88に固定すると共に
該プローブ1内に進退可能に触針2を装着している。
【0035】そのため,コンタクトピン3の進退と,触
針の進退とは独立した状態にある。それ故,従来のごと
く,ピンボード88に固定したプローブ1と,その内部
に挿入した触針2と,該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔85との3つの軸芯を高精度で一致させる必要がな
い。即ち,本例においては,コンタクトピン3の軸芯と
触針2の軸芯とに位置ずれが生じていても,両者が当接
しておれば支障がない(図2,3)。
【0036】また,そのため,ガイド孔85はプリント
配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良い。したが
って,ガイド孔85及びピンボード88の孔の軸芯に関
する穴明け精度は高精度が要求されず,穿設容易であ
る。また,ガイド孔85は,コンタクトピン3のみの円
滑スライドを可能とすれば良いので,細径のものを設け
ることができ,ガタつきもない。
【0037】また,プローブ1は,その触針2を直接に
配線回路71に当接させないので,従来のごとく,損傷
を受けることがない。また,コンタクトピン3は配線回
路71に直接当接し,ガイド孔85内をスライドする
が,従来のプローブの触針のごとく,ガイド孔85内と
プローブ内の両方を直線状に進退することがない。その
ため,両者間の軸芯ずれ等による損傷を受けることもな
い。
【0038】更に,コンタクトピン3とプローブ1とに
分割構成し,検査時における両者の進退に無理を生じな
いようにしたので,両者をそれぞれ細径化することがで
きる。本例においては,上記コンタクトピン3の直径は
0.27mm,触針2の外径は0.15mmである。
【0039】また,本例のコンタクトピン3において
は,その頭部32に曲面凹部321を設けたので,該頭
部32に触針2の先端20を確実に当接させておくこと
ができる。また,本例のリードワイヤーの端子キャップ
17は,図4に示すごとくプローブ端子16と着脱可能
に嵌合する構造となっており,プローブ端子16との電
気的接続は極めて容易である。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1における,検査治具の全体説明図。
【図2】実施例1における,検査前の状態の,コンタク
トピン及びプリント配線板周りの断面図。
【図3】実施例1における,検査時点のコンタクトピン
及びプリント配線板周りの断面図。
【図4】実施例1における,プローブ端子と端子キャッ
プの説明図。
【図5】実施例1における,プローブの先端部分の断面
図。
【図6】実施例1における,コンタクトピンの正面図。
【図7】実施例1における,ガイド板の平面図。
【図8】図7のA−A線矢視断面図。
【図9】従来例における検査治具の全体説明図。
【図10】従来例における検査治具のプローブ周りの説
明図。
【符号の説明】
1...プローブ, 15...リードワイヤー, 16...プローブ端子, 17...端子キャップ, 18...検査器, 2...触針, 23...スプリングバネ, 3...コンタクトピン, 31...先端, 7...プリント配線板, 71...高密度ピッチの配線回路, 75...通常配線ピッチの配線回路, 8...ガイド板, 85...ガイド孔, 88...ピンボード,

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント配線板における配線回路を電気
    導通の有無により検査する検査治具であって,該検査治
    具は,ガイド板と,ピンボードと,上記配線回路と当接
    させるためのコンタクトピンと,該コンタクトピンに当
    接させるための触針を内蔵したプローブとよりなり,上
    記コンタクトピンは上記ガイド板に進退可能に装着さ
    れ,また上記触針はプローブ内に弾性的に進退可能に内
    蔵されており,上記プローブは,その他端に,プローブ
    端子を有し,該プローブ端子と検査器の端子との間に
    は,両者を接続するリードワイヤーを配置してなり,か
    つリードワイヤーは上記プローブ端子に着脱可能に嵌合
    する端子キャップを有することを特徴とするプリント配
    線板の検査治具。
JP4126766A 1992-04-20 1992-04-20 プリント配線板の検査治具 Pending JPH05297019A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100861268B1 (ko) * 2002-06-15 2008-10-01 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 점등검사장치

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KR100861268B1 (ko) * 2002-06-15 2008-10-01 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 점등검사장치

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