JPH11281674A - 導通検査装置 - Google Patents
導通検査装置Info
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- JPH11281674A JPH11281674A JP10100299A JP10029998A JPH11281674A JP H11281674 A JPH11281674 A JP H11281674A JP 10100299 A JP10100299 A JP 10100299A JP 10029998 A JP10029998 A JP 10029998A JP H11281674 A JPH11281674 A JP H11281674A
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- Japan
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- coil spring
- wiring circuit
- contact pin
- guide plate
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
対応できると共に,ピン沈みを防止し正確に配線回路の
良否を判定できる導通検査装置を提供すること。 【解決手段】 配線回路71と当接させるコンタクトピ
ン2と,リードワイヤー15と接続したストッパー端子
4と,両者間に介設して両者を外方に押圧するコイルス
プリング3とを有する。ハウジング5は,コンタクトピ
ンを装着するガイド孔550を穿設したガイド板55
と,リードワイヤーを挿通する端子穴570を配設した
背面ボード57と,コイルスプリングを収容する挿通穴
560を設けた複数の積層状のメインボード56とを有
している。コイルスプリング3は,一般部31よりも,
巻数が多い密巻部32又は直径の小さい細径部33を有
し,これらは,メインボード56同士のつなぎ目563
に対面して配設されている。
Description
して優れた効果を発揮する,導通検査装置に関する。
の有無により検査する装置としては,例えば以下のもの
が知られている。即ち,図6,図7に示すごとく,プリ
ント基板7の配線回路71に対して,コンタクトピン2
を当接することにより,電気導通の有無を検査するもの
である。上記検査装置9は,図6に示すごとく,コンタ
クトピン2と,一端をリードワイヤー15と接続したス
トッパー端子4と,上記コンタクトピン2とストッパー
端子4との間に介設されたコイルスプリング93と,上
記各部材を収納する積層状態のハウジング94とよりな
る。
く,ガイド板95と,背面ボード97と,両者間に配設
された複数のメインボード96とよりなる。三者は,ノ
ックピン8(図6)によって一体的に固定されている。
上記コンタクトピン2は,上記ガイド板95のガイド孔
950内に進退可能に装着されている。また,上記スト
ッパー端子4は,上記背面ボード97の端子穴970内
に収納されている。また,上記コイルスプリング93
は,上記2枚のメインボード96の挿通穴960内に収
容されている。
のプリント基板7の配線回路71に対向する位置に設け
てある。上記リードワイヤー15の他端は,電気導通を
検出するための検出器18に電気的に接続されている。
っては,図6に示すごとく,プリント配線板7の上下よ
り,上記ハウジング94を下降及び上昇させ,上記コン
タクトピン2を配線回路71に当接させる。このとき,
該配線回路71に断線又はショートが生じていない場合
には,正常な電気導通が得られる。これにより,各配線
回路71の良否が判定できる。
配線回路71に当接させた際には,コンタクトピン2は
ガイド板95のガイド孔950に沿ってメインボード9
6側へ後退し,コンタクトピン2の一部分が挿通穴96
0に侵入する。これは,コンタクトピン2の先端21を
保護するためである。そして,検査後は,コンタクトピ
ン2は,挿通穴560内に設けたコイルスプリング93
によって,再び元の位置へ突出させられる。
通検査装置9には,次の問題がある。即ち,近年は,プ
リント基板7における配線回路71の高密度化が進み,
配線回路71のピッチがますます狭くなっている。例え
ば,このピッチは,従来は0.65mm程度であった
が,高密度配線回路においては0.2〜0.3mmと非
常に狭くなってきている。
に当接するコンタクトピン2のピッチPも狭くしなけれ
ばならない。そこで,コンタクトピン2,コイルスプリ
ング93,ストッパー端子4の直径の縮小化,及びガイ
ド孔950,挿通穴960,端子穴970の孔径の縮小
化が必要とされる。
る。即ち,穿設できる最小の孔径は板厚によって決定さ
れ,孔径を1とすると板厚は10までが限界となる。そ
のため,板厚の縮小化も必要となる。もし仮に,上記2
枚のメインボード96,96の代わりに,2枚分の板厚
を有する1枚のメインボードを配設した場合には,ガイ
ド板95,メインボード96,背面ボード97とからな
るハウジング94のうち,上記孔径に対する板厚の比が
問題となるのは,比較的板厚の大きい上記メインボード
である。
ハウジング94の強度低下を引き起こす。そこで,上記
メインボードを薄くすることなく,かつ,孔径に対する
板厚の比を10未満にする方法として,図6,図7に示
すごとく,メインボード96を多層化することが考えら
れる。
各メインボード96に設けた挿通穴960の軸芯が一致
せず,メインボード96のつなぎ目963において段部
969が生じてしまう。そのため,上記コンタクトピン
2の先端21を配線回路71に当接させた際に,コイル
スプリング93が,上記挿通穴960の内部に生じた段
部969に引っ掛かり,検査後においても,上記コンタ
クトピン2を外方に突出させることができなくなってし
まう。以下,この状態を「ピン沈み」とする。
回路71に断線又はショートが生じていないにも拘わら
ず,正常な電気導通を得ることができなくなる。そのた
め,各配線回路71の良否を正確に判定できなくなると
いう問題が生じる。
されたもので,配線回路の高密度化に伴う挿通穴の細径
化に対応できると共に,ピン沈みを防止し正確に配線回
路の良否を判定できる導通検査装置を提供しようとする
ものである。
おける配線回路を電気導通の有無により検査する導通検
査装置において,上記配線回路に当接させるためのコン
タクトピンと,一端をリードワイヤーと接続したストッ
パー端子と,上記コンタクトピンとストッパー端子との
間に介設して両者を外方に押圧するよう付勢された伸縮
自在な導電性のコイルスプリングと,上記各部材を収納
する積層状態のハウジングとを有しており,上記ハウジ
ングは,上記コンタクトピンを進退可能に装着するガイ
ド孔を穿設したガイド板と,上記リードワイヤーを挿通
する端子穴を配設した背面ボードと,上記ガイド板と背
面ボードとの間に配設され上記コイルスプリングを収容
する挿通穴を設けた複数のメインボードとを有してお
り,かつ,上記コイルスプリングは,少なくともその一
部に他部分よりも単位長さ当りの巻数が多い密巻部分を
有し,該密巻部分は上記メインボード同士のつなぎ目に
対面して配設されていることを特徴とする導通検査装置
にある。
コイルスプリングに設けた密巻部分は,上記メインボー
ド同士のつなぎ目に対面して配設されていることであ
る。
査時,検査後,及びその間のいずれにおいても,上記メ
インボード同士のつなぎ目に対面する位置にある。即
ち,上記コイルスプリングには,少なくとも上記メイン
ボード側に縮退している状態から上記ガイド板側に伸長
している状態までの間において,上記メインボード同士
のつなぎ目に対面する範囲に,上記密巻部分を設けてい
る。また,上記コイルスプリングには,上記範囲外に
も,上記密巻部分を配設することができる。
位長さ当りの巻数が多いため,上記コイルスプリングの
電線同士の間隙が他部分に比べて小さい。
明の導通検査装置においては,上記コイルスプリングに
おいて電線同士の間隙が比較的小さい上記密巻部分を,
上記メインボード同士のつなぎ目に対面して配設してい
る。そのため,各メインボードに設けた挿通穴の軸芯に
ズレが生じる場合にも,上記つなぎ目に生じた段差が上
記コイルスプリングの電線同士の間隙に引っ掛かりにく
い。また,コイルスプリングにおいては,上記密巻部分
以外の「他部分」が,弾力性を発揮して,コンタクトピ
ンを配線回路に確実に当接させる。それ故,上記導通検
査装置は,上記段差に上記コイルスプリングが引っ掛か
ってできるピン沈みを防止でき,正確に配線回路の良否
を判定することができる。
ングを形成する電線同士の間隙が上記電線自体の直径に
対して0〜50%の間になるような,単位長さ当りの巻
数を有することが好ましい。この場合には,ピン沈みを
より確実に防止することができる。
1.0mm設けることが好ましい。0.4mm未満で
は,本発明の効果は得難く,一方,1.0mmを超える
と密巻部分以外の「他部分」の長さが短くなり,コイル
スプリングの弾力性が低下するおそれがある。
おける配線回路を電気導通の有無により検査する導通検
査装置において,上記配線回路に当接させるためのコン
タクトピンと,一端をリードワイヤーと接続したストッ
パー端子と,上記コンタクトピンとストッパー端子との
間に介設して両者を外方に押圧するよう付勢された伸縮
自在な導電性のコイルスプリングと,上記各部材を収納
する積層状態のハウジングとを有しており,上記ハウジ
ングは,上記コンタクトピンを進退可能に装着するガイ
ド孔を穿設したガイド板と,上記リードワイヤーを挿通
する端子穴を配設した背面ボードと,上記ガイド板と背
面ボードとの間に配設され上記コイルスプリングを収容
する挿通穴を設けた複数のメインボードとを有してお
り,かつ,上記コイルスプリングは,少なくともその一
部に他部分よりも直径が小さい細径部分を有し,該細径
部分は上記メインボード同士のつなぎ目に対面して配設
されていることを特徴とする導通検査装置にある。
コイルスプリングに設けた細径部分は,上記メインボー
ド同士のつなぎ目に対面して配設されていることであ
る。上記細径部分は,請求項1の発明の密巻部分と同様
に,配設されている。
明の導通検査装置においては,上記コイルスプリングに
おいて直径が比較的小さい上記細径部分を,上記メイン
ボード同士のつなぎ目に対面して配設している。そのた
め,各メインボードに設けた挿通穴の軸芯にズレが生じ
る場合にも,上記つなぎ目に生じた段差が上記コイルス
プリングの電線に接触しにくい。また,コイルスプリン
グにおいては,上記細径部分以外の「他部分」が,主に
弾力性を発揮して,コンタクトピンを配線回路に確実に
当接させる。それ故,上記導通検査装置は,上記段差に
上記コイルスプリングが引っ掛かってできるピン沈みを
防止でき,正確に配線回路の良否を判定することができ
る。
の孔径に対して50〜80%の間になることが好まし
い。この場合には,ピン沈みをより確実に防止すること
ができる。
1.0mm設けることが好ましい。0.4mm未満で
は,本発明の効果は得難く,一方,1.0mmを超える
と細径部分以外の「他部分」の長さが短くなり,コイル
スプリングの弾力性が低下するおそれがある。
部分は,上記他部分よりも単位長さ当りの巻数が多いこ
とが好ましい。この場合には,ピン沈みをより確実に防
止することができる。
1,図2を用いて説明する。本例の導通検査装置は,プ
リント基板における配線回路を電気導通の有無により検
査するものである。上記導通検査装置1は,図1,図2
に示すごとく,プリント基板7の配線回路71と当接さ
せるためのコンタクトピン2と,一端をリードワイヤー
15と接続したストッパー端子4と,上記コンタクトピ
ン2とストッパー端子4との間に介設して両者を外方に
押圧するよう付勢された伸縮自在な導電性のコイルスプ
リング3と,上記各部材を収納する積層状態のハウジン
グ5とを有している。
ピン2を進退可能に装着するガイド孔550を穿設した
ガイド板55と,上記リードワイヤー15を挿通する端
子穴570を配設した背面ボード57と,上記ガイド板
55と背面ボード57との間に配設され上記コイルスプ
リング3を収容する挿通穴560を設けた2枚のメイン
ボード56,56とを有している。
ともその一部に一般部31よりも単位長さ当りの巻数が
多い密巻部32を有し,該密巻部32は,上記メインボ
ード56,56同士のつなぎ目563に対面して配設さ
れている。
査装置1は,図1に示すごとく,ハウジング5に多数の
コンタクトピン2,コイルスプリング3,及びストッパ
ー端子4を収容している。そして,コンタクトピン2は
ハウジングの表面側に,一方,ストッパー端子4はハウ
ジングの背面側に配設されており,コイルスプリング3
が両者を電気的に接続している。
とく,ハウジング5の表面側を構成するガイド板55の
ガイド孔550に,進退可能に装着されている。そし
て,コンタクトピン2の先端21はガイド板55の外部
に突出している。また,コンタクトピン2は,その先端
21が被検査体としてのプリント基板7の配線回路71
と1対1に対向するように配設されている。また,コン
タクトピン2の基端22は,上記ガイド孔550より広
い断面積を有するメインボード56の挿通穴560内に
収容されている。
に示すごとく,ハウジング5の背面側を構成する背面ボ
ード57の端子穴570に,挿通されている。該端子穴
570は,上記ガイド孔と1対1に対応して同数だけ形
成されている。リードワイヤー15の一端には,ストッ
パー端子4が接続されており,リードワイヤー15の他
端には,検出器18に接続されている。検出器18は,
配線回路71の良否を判定する演算回路や表示部(図示
略)等を有する。
広い断面積を有する凹部574を有しており,該凹部5
74内にストッパー端子4を収容している。
ごとく,ハウジング5の中間部を構成する2枚のメイン
ボード56,56の挿通穴560に,収容されている。
上記挿通穴560は,1枚当りの板厚1.5mmのメイ
ンボード56に穿設された,孔径Bが0.16mmの貫
通孔である。
背面ボード57は,図1に示すごとく,ノックピン8に
よって一体化されている。そして,ノックピン8を取り
除くことによって,上記三者は容易に分離することがで
きるよう形成されている。
ごとく,コンタクトピン2とストッパー端子4とを外方
に向かって押圧するよう付勢されており,両者を電気的
に接続している。また,コイルスプリング3は,コンタ
クトピン2に接続される一般部31と,ストッパー端子
4に接続される一般部31と,両者間に接続される密巻
部32とからなる。該密巻部32は,一般部31に比べ
て単位長さ当りの巻数が多い。また,図2(B)に示す
ごとく,密巻部32におけるコイルスプリング3の電線
同士の間隙qは,一般部31におけるコイルスプリング
3の電線同士の間隙Qに比べて小さい。
m,密巻部32の巻数を30回/1mmとする。また,
一般部31,密巻部32の直径は0.13mmである。
また,コイルスプリング3の電線同士の間隙qは略0.
003mmであり,上記電線自体の直径は0.03mm
である。なお,上記密巻部32におけるコイルスプリン
グ3の電線同士の間隙qは,上記電線自体の直径に対し
て10%である。
気導通の検査時,検査後,及びその間のいずれにおいて
も,上記メインボード56,56同士のつなぎ目563
に対面するよう配設されている。即ち,コイルスプリン
グ3には,少なくとも上記メインボード56側に縮退し
ている状態からガイド板55側に伸長している状態まで
の間において,上記メインボード56,56同士のつな
ぎ目563に対面する範囲に,上記密巻部分32を設け
ている。具体的には,上記密巻部32は,自由状態にお
いて,上記つなぎ目563の上方に0.5mmの範囲,
及び下方に0.1mmの範囲に配設されている。なお,
検査時には,コイルスプリング3は背面ボード57側に
縮退するため,ガイド板55側に位置する上方0.3m
mの範囲は,最低限必要な範囲である。
ト基板7の上下両面に設けた配線回路71の良否を,本
例の導通検査装置1により検査するにあたっては,図1
に示すごとく,ガイド板55をプリント基板7に対面さ
せ,各配線回路71に対してハウジング5を上下方向よ
り接近させる。このとき,両者の当接前(図1上方)及
び当接直後(図1下方)の導通検査装置1においては,
コンタクトピン2はガイド板55よりも突出した状態に
ある。
線回路71に押圧する。このとき,コンタクトピン2は
コイルスプリング3の付勢力に抗してコイルスプリング
3を縮退させながら,ガイド孔550内に向かって侵入
する。そして,コンタクトピン2の先端21は上記コイ
ルスプリング3の付勢力によって配線回路71を押圧
し,両者間の電気的導通を確実にする。
及びコイルスプリング3とストッパー端子4との間も,
同様にコイルスプリング3の付勢力によって電気的導通
が確保されている。そして,図1に示すごとく,ストッ
パー端子4に接続されたリードワイヤー15を介して,
上記配線回路71,コンタクトピン2,コイルスプリン
グ3の一般部31,コイルスプリング3の密巻部32,
コイルスプリング3の一般部31,ストッパー端子4,
及び検出器18の間を接続し,配線回路71の良否を判
定する。
基板7から遠ざける。そして,コンタクトピン2はコイ
ルスプリング3の付勢力により,再びガイド板55より
突出し,元の状態(図1上方)に復元する。
スプリング3において電線同士の間隙qが比較的小さい
密巻部32を,メインボード56,56同士のつなぎ目
563に対面して配設している。そのため,各メインボ
ードに設けた挿通穴560の軸芯にズレが生じる場合に
も,上記つなぎ目563に生じた段部569が,上記密
巻部32におけるコイルスプリング3の電線同士の間隙
qに引っ掛かりにくい。それ故,上記導通検査装置1
は,上記段部569にコイルスプリング3が引っ掛かっ
てできるピン沈みを防止でき,正確に配線回路71の良
否を判定することができる。
て,メインボード56,56同士のつなぎ目563から
コンタクトピン2側(図3上方)に位置する部分を密巻
部32,ストッパー端子4側に位置する部分を一般部3
1としたものである。両者は電気的に接続されている。
その他は,実施形態例1と同様である。本例において
も,実施形態例1と同様の作用効果を有する。
て,メインボード56,56同士のつなぎ目563から
コンタクトピン2側(図4上方)に位置する部分を細径
部33,ストッパー端子4側(図4下方)に位置する部
分を一般部31としたものである。両者は電気的に接続
されている。上記細径部33の直径dは,上記一般部3
1の直径Dよりも小さい。即ち,一般部31の直径Dを
0.13mm,細径部33の直径dを0.1mmとす
る。また,一般部31,細径部33の巻数は10回/1
mmである。なお,上記細径部33の直径dは,挿通穴
560の孔径Bに対して63%である。その他は,実施
形態例2と同様である。
ルスプリング3において直径dが比較的小さい細径部3
3を,メインボード56,56同士のつなぎ目563に
対面して配設している。そのため,各メインボードに設
けた挿通穴560の軸芯にズレが生じる場合にも,上記
つなぎ目563に生じた段部569が,上記細径部33
におけるコイルスプリング3の電線に接触しにくい。
部569にコイルスプリング3が引っ掛かってできるピ
ン沈みを防止でき,正確に配線回路71の良否を判定す
ることができる。その他は実施形態例2と同様の作用効
果を有する。
部31よりも単位長さ当りの巻数を多く,かつ直径を小
さくしたものである。即ち,実施形態例2の細径部33
の巻数を多くしたもの,あるいは,実施形態例1の密巻
部32の直径を小さくしたものということもできる。
態例1と同様の範囲に配設されているが,実施形態例2
の配設範囲にすることもできる。その他は,実施形態例
1と同様である。
止することができる。その他は実施形態例1,3と同様
の作用効果を有する。
路の高密度化に伴う挿通穴の細径化に対応できると共
に,ピン沈みを防止し正確に配線回路の良否を判定でき
る導通検査装置を提供することができる。
明図。
グの説明図,(B)コイルスプリングの拡大説明図。
大説明図。
大説明図。
大説明図。
Claims (3)
- 【請求項1】 プリント基板における配線回路を電気導
通の有無により検査する導通検査装置において,上記配
線回路に当接させるためのコンタクトピンと,一端をリ
ードワイヤーと接続したストッパー端子と,上記コンタ
クトピンとストッパー端子との間に介設して両者を外方
に押圧するよう付勢された伸縮自在な導電性のコイルス
プリングと,上記各部材を収納する積層状態のハウジン
グとを有しており,上記ハウジングは,上記コンタクト
ピンを進退可能に装着するガイド孔を穿設したガイド板
と,上記リードワイヤーを挿通する端子穴を配設した背
面ボードと,上記ガイド板と背面ボードとの間に配設さ
れ上記コイルスプリングを収容する挿通穴を設けた複数
のメインボードとを有しており,かつ,上記コイルスプ
リングは,少なくともその一部に他部分よりも単位長さ
当りの巻数が多い密巻部分を有し,該密巻部分は上記メ
インボード同士のつなぎ目に対面して配設されているこ
とを特徴とする導通検査装置。 - 【請求項2】 プリント基板における配線回路を電気導
通の有無により検査する導通検査装置において,上記配
線回路に当接させるためのコンタクトピンと,一端をリ
ードワイヤーと接続したストッパー端子と,上記コンタ
クトピンとストッパー端子との間に介設して両者を外方
に押圧するよう付勢された伸縮自在な導電性のコイルス
プリングと,上記各部材を収納する積層状態のハウジン
グとを有しており,上記ハウジングは,上記コンタクト
ピンを進退可能に装着するガイド孔を穿設したガイド板
と,上記リードワイヤーを挿通する端子穴を配設した背
面ボードと,上記ガイド板と背面ボードとの間に配設さ
れ上記コイルスプリングを収容する挿通穴を設けた複数
のメインボードとを有しており,かつ,上記コイルスプ
リングは,少なくともその一部に他部分よりも直径が小
さい細径部分を有し,該細径部分は上記メインボード同
士のつなぎ目に対面して配設されていることを特徴とす
る導通検査装置。 - 【請求項3】 請求項2において,上記細径部分は,上
記他部分よりも単位長さ当りの巻数が多いことを特徴と
する導通検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10029998A JP3397130B2 (ja) | 1998-03-27 | 1998-03-27 | 導通検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10029998A JP3397130B2 (ja) | 1998-03-27 | 1998-03-27 | 導通検査装置 |
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---|---|---|---|
JP2002321396A Division JP2003227846A (ja) | 2002-11-05 | 2002-11-05 | 導通検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH11281674A true JPH11281674A (ja) | 1999-10-15 |
JP3397130B2 JP3397130B2 (ja) | 2003-04-14 |
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ID=14270300
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP10029998A Expired - Fee Related JP3397130B2 (ja) | 1998-03-27 | 1998-03-27 | 導通検査装置 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000016106A1 (fr) * | 1998-09-10 | 2000-03-23 | Ibiden Co., Ltd. | Tete verificatrice et son procede de fabrication |
WO2002103373A1 (fr) * | 2000-05-01 | 2002-12-27 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contacteur conducteur et ensemble de sondes electriques |
-
1998
- 1998-03-27 JP JP10029998A patent/JP3397130B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2000016106A1 (fr) * | 1998-09-10 | 2000-03-23 | Ibiden Co., Ltd. | Tete verificatrice et son procede de fabrication |
US6535010B2 (en) | 1998-09-10 | 2003-03-18 | Ibiden Co., Ltd. | Checker head and a method of manufacturing the same |
WO2002103373A1 (fr) * | 2000-05-01 | 2002-12-27 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contacteur conducteur et ensemble de sondes electriques |
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JP3397130B2 (ja) | 2003-04-14 |
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