JPH08254569A - 電子基板用検査治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 接触プローブとコネクタ間の接続信頼性を高
め、廉価を図ること。 【構成】 検査用治具基板２１を文字通り基板化し、該
基板２１の配線パターン２５と支持フレーム２２の接続
パッドとの間がコネクタ機構によって接続されるので、
従来技術のようにケーブルをいちいち手作業で配線する
のが不要になる。そのため、従来技術に比較すると、コ
ネクタ接続によって接続作業を極めて簡略化できるばか
りでなく、誤配線や接続不良を確実に防止することがで
きる。しかも、基板化することによって手作業の配線が
不要となるので、検査用治具基板２１自体を小形にで
き、検査治具２の小形化を図ることが可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品等を実装した
被検査基板を検査する際、被検査基板上の検査箇所と基
板検査装置との間の電気的接続を得るための電子基板用
検査治具に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】被検査基板を検査する一般的な基板検査
装置にあっては、電子基板用検査治具（以下、単に検査
治具と云う）と、押圧装置と、電源供給測定手段とを有
している。具体的に述べると、図５に示すように、被検
査基板１と電気的接続を得るため、該被検査基板をセッ
トする検査治具２と、該検査治具２に対し被検査基板１
を適切に押圧するプレス装置３と、検査治具２とコネク
タ４ａ，４ｂを介して接続される各種の電源部５及び測
定器６とを有して基板検査装置７を構成している。

【０００３】検査治具２には、図５及び図６に示すよう
に、これに被検査基板１をセットしたとき、該被検査基
板１を位置決めするための位置決めピン２ａと、被検査
基板１と電気的に接続するための接触プローブ２ｂとが
取付台２ｃに設けられている。プレス装置３は、降下し
たとき、被検査基板１と検査治具２の接触プローブ２ｂ
とが確実に接触するよう、被検査基板１を押圧するため
の基板押し治具８が装着されている。

【０００４】この基板検査装置７は検査に際して、検査
治具２の位置決めピン２ａを被検査基板１に挿入するこ
とにより被検査基板１を検査治具２にセットし、次いで
プレス装置３が降下し、基板押し治具８を介し被検査基
板１を検査治具２に押し付ける。この場合、被検査基板
１が押し付けられると、検査治具２の接触プローブ２ｂ
と被検査基板１の所定部分とが接触し、電源部５による
電圧印加及び測定器６による信号測定が可能となる。そ
の後、被検査基板１に対し電源部５により各種の電圧，
信号を印加し、そのとき被検査基板１からの信号を各種
の測定器６ａ，６ｂで計測することにより、被検査基板
１を検査、つまりその良否を判別するようにしている。
一方、検査治具２は、被検査基板１の種類が変わると、
それに応じ取り替えられるものであり、その都度検査治
具２のコネクタ４ａからコネクタ４ｂを外して交換する
こととなる。

【０００５】ここで、従来技術の検査治具２は、図６に
示すように、接触プローブ２ｂとコネクタ４ａとの間で
複数のケーブル２３が配線されている。このケーブル２
３はビニール被覆されたものであり、検査治具２の種類
によっても若干異なるが、通常では数百本もの数となっ
ていて、全て手作業にて接続されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来技術で
は、上述の如く、検査治具２にケーブル２３が手作業に
て配線され、しかもケーブル２３が数百本にも及ぶ膨大
な数となるので、配線作業に労力がかさみ、コスト高を
招く問題があるばかりでなく、ときには誤配線や接続不
良が発生することがあり、そのため、信頼性に欠ける問
題がある。これに加え、ケーブル２３が手作業にて配線
されるので、その配線作業を比較的容易に行えるように
するため、検査治具２そのものが大型になると云う問題
がある。

【０００７】本発明の目的は、上記従来技術の問題点に
鑑み、接触プローブとコネクタ間の接続信頼性を高め、
かつ製造コストの廉価を図り得る電子基板用検査治具を
提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明においては、支持
フレームと、該支持フレームに被検査基板の種類に応じ
択一的に搭載され、検査用治具基板とからなり、該検査
用治具基板は、被検査基板を位置決めし得る位置決めピ
ンと、被検査基板の検査箇所と電気的に接続し得る接触
プローブと、接触プローブと接続された配線パターン
と、該配線パターン及び支持フレーム間を接続するコネ
クタ機構とを有している。

【０００９】

【作用】本発明では、上述の如く、検査治具が支持フレ
ームと、該支持フレームに被検査基板の種類に応じ択一
的に搭載され、検査用治具基板とからなり、該検査用治
具基板が、被検査基板を位置決めし得る位置決めピン
と、被検査基板の検査箇所と電気的に接続し得る接触プ
ローブと、接触プローブと接続された配線パターンと、
該配線パターン及び支持フレーム間を接続するコネクタ
機構とを有しているので、即ち、検査用治具基板を文字
通り基板化し、該基板の配線パターンと支持フレームと
の間がコネクタ機構によって接続されるので、従来技術
のようにケーブルをいちいち手作業で配線することが不
要になる。しかも、配線パターン２５にすると、回路間
の接続を的確なものとすることができるそのため、従来
技術に比較すると、コネクタ接続によって接続作業を極
めて簡略化することができるばかりでなく、誤配線や接
続不良を確実に防止することができる。しかも、基板化
することによって手作業の配線が不要となるので、検査
用治具基板自体を小形にでき、該基板の小形によって検
査治具の小形化を図ることが可能となる。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図１乃至図４によ
り説明する。図１は本発明の検査治具の一実施例を示す
拡大断面図、図２は検査治具に被検査基板をセットした
状態を示す説明図、図３は検査治具の検査用治具基板を
上から見た説明用斜視図、図４は接触プローブを示す正
面図（ａ），接触プローブを検査用治具基板のスルーホ
ールに取付けた状態を示す説明図（ｂ）である。

【００１１】基板検査装置７は、被検査基板１と電気的
接続を得るため該被検査基板を支持する電子基板用検査
治具（以下、単に検査治具と略称する）２と、該検査治
具２に対し被検査基板１を適切に押圧するプレス装置３
と、検査治具２とコネクタ４ａ，４ｂを介して接続され
る電源部５及び各種の測定器６とを有して構成されてい
る（図５参照）。

【００１２】そして、実施例の検査治具２は、大別する
と図１に示すように、検査用治具基板２１と、これを搭
載する支持フレーム２２とを有している。検査用治具基
板２１は、これに被検査基板１をセットしたとき、図２
に示すように、該被検査基板１に挿入することによって
該基板１を位置決めする位置決めピン２３と、図３に示
すように、被検査基板１と電気的に接続し得る接触プロ
ーブ２４とを有している。そして、検査用治具基板２１
は、図３に示す如くガラスエポキシ基材等からなる基板
に、検査用の配線パターン２５が形成されると共に、そ
の配線パターン２５の所定位置に接触プローブ２４を取
付けると共に、電気的に接触し得るスルーホール２６が
設けられ、例えばパネルめっき法等のような公知の製法
により製作されたものである。

【００１３】ここで、検査用治具基板２１に対する接触
プローブ２４の取付けについて説明すると、該接触プロ
ーブ２４は、図４（ａ）に示すように、軸方向の途中位
置に膨出部２４ｂを設けたソケット２４ａと、該ソケッ
ト２４ａの先端に軸方向に移動可能に取付けられたピン
２４ｃとからなっている。そして、検査用治具基板２１
に対し図４（ｂ）に示すように、ソケット２４ａの膨出
部２４ｂをスルーホール２６に圧入することによって接
触プローブ２４が取付けられ、該接触プローブ２４と配
線パターン２５とが電気的に接触している。なお本例で
は、ソケット２４ａをスルーホール２６に圧入後、その
ソケット２４ａの先端にピン２４ｃを差し込むことによ
り組み付けている。

【００１４】また、この検査用治具基板２１には図１に
示すように、配線パターン２５と接続されるコネクタ２
７が設けられている。このコネクタ２７は検査用治具基
版２１に挿入されることによって配線パターン２５と接
続しており、これに受け側コネクタ２８が差し込まれる
と、該受け側コネクタ２８がケーブル２９を介し、支持
フレーム２２に装着された接続パッド３０と接続されて
いる。接続パッド３０には、基板検査装置７の電源部
５，測定器６のコネクタ４ｂが接続されるものである。
従って、基板検査装置７のコネクタ４ｂが接続パッド３
０に接続されると、電源部５，測定器６がケーブル２
９，受け側コネクタ２８，検査用治具基板２１のコネク
タ２７を経て配線パターン２５と接続されることとな
る。即ち、配線パターン２５と接続パッド３０間は、コ
ネクタ２７，受け側コネクタ２８，ケーブル２９のコネ
クタ機構によって構成される。

【００１５】このような検査用治具基板２１は、被検査
基板１の機種変更に伴い、該基板１の検査箇所が異なる
ので、被検査基板１の機種に応じ種々のものが用意さ
れ、夫々選択的に支持フレーム１７に搭載される。

【００１６】実施例の検査治具２は、以上の如き構成と
なるので、次にその作用効果について説明する。まず、
検査に際し、検査治具２の検査用治具基板２１と電源部
５，計測器６とは、コネクタ２７及び２８，ケーブル２
９，接続パッド３０，コネクタ４ｂにより予め接続され
ているものとする。この状態のとき、検査治具２の検査
用治具基板２１上に被検査基板１を位置決めピン２３に
よりセットし、これにプレス装置３を降下させ、該プレ
ス装置３の基板押し治具８により被検査基板１を検査用
治具基板２１に押し付ける。

【００１７】その場合、被検査基板１が押し付けられる
と、検査用治具基板２１の接触プローブ２４のピン２４
ｃが被検査基板１の図示しない貫通穴，パッド等に接触
するので、被検査基板１に対し検査用治具基板２１を介
し電源部５，測定器６が接続されることとなる。

【００１８】次に、電源部５による各種の電圧，信号を
印加する一方、被検査基板１からの信号を測定器６で計
測することにより、被検査基板１の良否を判別する。

【００１９】前記検査治具２は、上述の如く、接続パッ
ド３０，ケーブル２９，受け側コネクタ２８を有する支
持フレーム２２と、これに選択的に搭載される検査用治
具基板２１とからなり、該検査用治具基板２１が非検査
基板１を位置決めする位置決めピン２３と、非検査基板
１の検査箇所と電気的に接続する接触プローブ２４と、
接触プローブ２４を介し電気的に接続するように形成さ
れた配線パターン２５と、受け側コネクタ２８を接続す
るコネクタ２７とを有している。即ち、検査用治具基板
２１を文字通り基板化し、該基板２１の配線パターン２
５と支持フレーム２２の接続パッド３０との間がコネク
タ機構によって接続されるので、従来技術のようにケー
ブルをいちいち手作業で配線することが不要になる。し
かも、配線パターン２５にすると、回路間の接続を的確
なものとすることができる。

【００２０】そのため、従来技術に比較すると、コネク
タ接続によって接続作業を極めて簡略化することができ
るばかりでなく、誤配線や接続不良を確実に防止するこ
とができる。しかも、基板化することによって手作業の
配線が不要となるので、検査用治具基板２１自体を小形
にでき、検査治具２の小形化を図ることが可能となるば
かりでなく、配線パターン２５と受け側コネクタ２８と
をはんだづけするだけとなるので、従来技術のようにコ
ネクタ４ｂと接触プローブとの間をケーブルによって接
続すると云う手間を省くことができる。

【００２１】なお図示実施例では、検査用治具基板２１
の表面に配線パターン２５が形成された例を示したが、
これに限らず、基板２１の内部あるいは底面に配線パタ
ーンが形成されていても同様の効果を得ることができる
のは勿論であり、基板２１の材質もエポキシ樹脂材に限
らず、種々のものでもよいのは当然である。また、検査
用治具基板２１にコネクタ２７が設けられ、支持フレー
ム２２に接続パット３０が設けられ、両者間が受け側コ
ネクタ２８，ケーブル２９によって接続された例を示し
たが、例えば、支持フレーム２２に接続パッド３０を設
け、該支持フレーム２２に検査用治具基板２１をセット
することにより、該基板２１の配線パターン２５と接続
パッド３０とを接続するようにコネクタ機構を構成する
こともできる。

【００２２】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、検
査治具の検査用治具基板が、位置決めピンと接触プロー
ブと配線パターンとコネクタ機構とを有し、検査用治具
基板を文字通り基板化し、該基板の配線パターンと支持
フレームとの間をコネクタ機構によって接続するように
構成したので、従来技術のようにケーブルをいちいち手
作業にて配線することが不要になり、そのため、コネク
タ接続によって接続作業を極めて簡略化できるばかりで
なく、誤配線や接続不良を確実に防止することができ、
しかも検査用治具基板自体を小形にできる結果、接触プ
ローブとコネクタ間の接続信頼性を高め、かつコストの
廉価を図ることができ、しかも検査治具の小形化を図る
ことが可能となる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の検査治具の一実施例を示す拡大断面
図。

【図２】検査治具に被検査基板をセットした状態を示す
説明図。

【図３】検査治具の検査用治具基板を上から見た説明用
斜視図。

【図４】接触プローブを示す正面図（ａ），接触プロー
ブを検査用治具基板のスルーホールに取付けた状態を示
す説明図（ｂ）。

【図５】検査治具を用いた基板検査装置を示す説明図。

【図６】従来技術の検査治具を示す説明図。

【符号の説明】

１…被検査基板、２…検査治具、２１…検査用治具基
板、２２…支持フレーム、２ａ，２３…位置決めピン、
２ｂ，２４…接触プローブ、２５…配線パターン、２６
…スルーホール、２７…コネクタ、２８…受け側コネク
タ、２９…ケーブル、３０…接続パッド。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 支持フレームと、該支持フレームに被検
   査基板の種類に応じ択一的に搭載され、検査用治具基板
   とからなり、該検査用治具基板は、被検査基板を位置決
   めし得る位置決めピンと、被検査基板の検査箇所と電気
   的に接続し得る接触プローブと、接触プローブと接続さ
   れた配線パターンと、該配線パターン及び支持フレーム
   間を接続するコネクタ機構とを有していることを特徴と
   する電子基板用検査治具。