JPH10260214A - チップ状回路部品の計測装置 - Google Patents
チップ状回路部品の計測装置Info
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- JPH10260214A JPH10260214A JP9063196A JP6319697A JPH10260214A JP H10260214 A JPH10260214 A JP H10260214A JP 9063196 A JP9063196 A JP 9063196A JP 6319697 A JP6319697 A JP 6319697A JP H10260214 A JPH10260214 A JP H10260214A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 チップ状回路部品の長さ寸法に多少のばらつ
きがあっても、チップ状回路部品のキャリアにおける保
持位置を補正して確実に接触端子を電極に接触させて、
チップ状回路部品の電気的特性を計測する。 【解決手段】 チップ状回路部品の計測装置は、チップ
状回路部品１４を所定の間隔で搬送するキャリア１１
と、このキャリア１１で搬送されるチップ状回路部品１
４の両端の電極１５、１５に接触する接触端子１７、１
７と、この接触端子１７、１７に接続され、同接触端子
１７、１７を介して導通したチップ状回路部品１４の電
極１５、１５の間でチップ状回路部品１４の電気的特性
を計測する計測器１８とを有する。キャリア１１は、チ
ップ状回路部品１４がその長手方向に移動自在に保持さ
れる保持溝１３を有し、前記接触端子１７、１７がチッ
プ状回路部品１４の電極１５、１５に接触する位置また
はその手前で、チップ状回路部品１４の接触端子１７、
１７に対する長手方向の位置ずれを補正する位置補正機
構を備える。
きがあっても、チップ状回路部品のキャリアにおける保
持位置を補正して確実に接触端子を電極に接触させて、
チップ状回路部品の電気的特性を計測する。 【解決手段】 チップ状回路部品の計測装置は、チップ
状回路部品１４を所定の間隔で搬送するキャリア１１
と、このキャリア１１で搬送されるチップ状回路部品１
４の両端の電極１５、１５に接触する接触端子１７、１
７と、この接触端子１７、１７に接続され、同接触端子
１７、１７を介して導通したチップ状回路部品１４の電
極１５、１５の間でチップ状回路部品１４の電気的特性
を計測する計測器１８とを有する。キャリア１１は、チ
ップ状回路部品１４がその長手方向に移動自在に保持さ
れる保持溝１３を有し、前記接触端子１７、１７がチッ
プ状回路部品１４の電極１５、１５に接触する位置また
はその手前で、チップ状回路部品１４の接触端子１７、
１７に対する長手方向の位置ずれを補正する位置補正機
構を備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサ、イン
ダクタ或いは抵抗器等のチップ状回路部品の製造工程に
おける電気的特性の検査のため、キャリアにより搬送さ
れてくるチップ状回路部品の両端の電極に接触端子を接
触させて、チップ状回路部品の電気的特性を計測する装
置に関する。
ダクタ或いは抵抗器等のチップ状回路部品の製造工程に
おける電気的特性の検査のため、キャリアにより搬送さ
れてくるチップ状回路部品の両端の電極に接触端子を接
触させて、チップ状回路部品の電気的特性を計測する装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】積層セラミックコンデンサや積層セラミ
ックインダクタは、通常角柱形のチップ素体を有し、こ
の両端に導体膜からなる外部電極を設けたものである。
また、円筒磁器コンデンサは、円柱形のチップ素体を有
し、この両端に導体膜からなる外部電極を設けたもので
ある。このようなチップ状回路部品の製造は自動化が進
んでおり、最終工程に近い特性検査工程でも自動検査が
行われている。
ックインダクタは、通常角柱形のチップ素体を有し、こ
の両端に導体膜からなる外部電極を設けたものである。
また、円筒磁器コンデンサは、円柱形のチップ素体を有
し、この両端に導体膜からなる外部電極を設けたもので
ある。このようなチップ状回路部品の製造は自動化が進
んでおり、最終工程に近い特性検査工程でも自動検査が
行われている。
【０００３】図６は、このようなチップ状回路部品の計
測装置とそれを使用したチップ状回路部品の検査工程の
例を示す概略図である。矢印に示す方向に一定の角度毎
に間欠回転するターンテーブル状のキャリア１が備えら
れ、その上面外周部分に、チップ状回路部品１が保持さ
れるような凹状の保持溝３が一定の角度毎に設けられて
いる。図示の例では、保持溝３がキャリア１の外周に４
５゜間隔で放射状に設けられ、キャリア１は４５゜間隔
で間欠回転する。この保持溝３は、チップ状回路部品４
の受け入れのため、キャリア１の外周側に開放し、その
内周側が閉じている。
測装置とそれを使用したチップ状回路部品の検査工程の
例を示す概略図である。矢印に示す方向に一定の角度毎
に間欠回転するターンテーブル状のキャリア１が備えら
れ、その上面外周部分に、チップ状回路部品１が保持さ
れるような凹状の保持溝３が一定の角度毎に設けられて
いる。図示の例では、保持溝３がキャリア１の外周に４
５゜間隔で放射状に設けられ、キャリア１は４５゜間隔
で間欠回転する。この保持溝３は、チップ状回路部品４
の受け入れのため、キャリア１の外周側に開放し、その
内周側が閉じている。
【０００４】キャリア１の保持溝３が停止するローディ
ングステーションに供給シュート２が接続され、キャリ
ア１が停止したとき、供給シュート２に沿って一列に搬
送されてきたチップ状回路部品４が、停止した保持溝３
にキャリア１の外周側から送り込まれ、保持溝３の最奥
部で位置決めされる。こうして、キャリア１の保持溝３
に保持されたチップ状回路部品４は、キャリア１の間欠
回転により送られ、計測ステーションに移動する。
ングステーションに供給シュート２が接続され、キャリ
ア１が停止したとき、供給シュート２に沿って一列に搬
送されてきたチップ状回路部品４が、停止した保持溝３
にキャリア１の外周側から送り込まれ、保持溝３の最奥
部で位置決めされる。こうして、キャリア１の保持溝３
に保持されたチップ状回路部品４は、キャリア１の間欠
回転により送られ、計測ステーションに移動する。
【０００５】計測ステーションの真上には端子ユニット
６が配置され、この端子ユニット６から下方に接触端子
７、７が突設されている。この端子ユニット６は、図６
に矢印で示すように上下動し、下降したとき計測ステー
ションに停止したチップ状回路部品４の両端の電極５、
５に接触端子７、７が接触し、導通する。この接触端子
７、７には計測器８が接続されており、このようにして
接触端子７、７がチップ状回路部品４の電極５、５に接
触することにより、チップ状回路部品４の電極５、５が
計測器８に接続され、そこでチップ状回路部品４の電気
的特性が計測される。
６が配置され、この端子ユニット６から下方に接触端子
７、７が突設されている。この端子ユニット６は、図６
に矢印で示すように上下動し、下降したとき計測ステー
ションに停止したチップ状回路部品４の両端の電極５、
５に接触端子７、７が接触し、導通する。この接触端子
７、７には計測器８が接続されており、このようにして
接触端子７、７がチップ状回路部品４の電極５、５に接
触することにより、チップ状回路部品４の電極５、５が
計測器８に接続され、そこでチップ状回路部品４の電気
的特性が計測される。
【０００６】電気的特性の計測の結果、所要の特性値範
囲に収まらないチップ状回路部品４は、図示してない取
出機構によりキャリア１から排出される。電気的特性の
計測の結果、所要の特性値範囲に収まっており、キャリ
ア１から排出されなかったチップ状回路部品４は、キャ
リア１によってアンローディングステーションに移動
し、そこでチップ状回路部品４が排出シュート９に排出
され、次の工程に搬送される。
囲に収まらないチップ状回路部品４は、図示してない取
出機構によりキャリア１から排出される。電気的特性の
計測の結果、所要の特性値範囲に収まっており、キャリ
ア１から排出されなかったチップ状回路部品４は、キャ
リア１によってアンローディングステーションに移動
し、そこでチップ状回路部品４が排出シュート９に排出
され、次の工程に搬送される。
【０００７】
【発明が解決しようとしている課題】前記のチップ状回
路部品の計測装置において、保持溝３の最奥部で位置決
めされるチップ状回路部品４の一方の端部の電極５につ
いては一定の位置に位置決めすることが出来る。ところ
が、チップ状回路部品４には寸法のばらつきがあるた
め、他方の端部の電極５については、チップ状回路部品
４の長さ寸法のばらつきによって、計測ステーションに
おける接触端子７に対する位置のズレが起こることがあ
る。そのため、接触端子７の電極５への接触不良等が生
じ、計測困難になることがまれにあった。
路部品の計測装置において、保持溝３の最奥部で位置決
めされるチップ状回路部品４の一方の端部の電極５につ
いては一定の位置に位置決めすることが出来る。ところ
が、チップ状回路部品４には寸法のばらつきがあるた
め、他方の端部の電極５については、チップ状回路部品
４の長さ寸法のばらつきによって、計測ステーションに
おける接触端子７に対する位置のズレが起こることがあ
る。そのため、接触端子７の電極５への接触不良等が生
じ、計測困難になることがまれにあった。
【０００８】さらに、前記従来のチップ状回路部品の計
測装置では、チップ状回路部品４をキャリア１の保持溝
３に挿入する度に、チップ状回路部品４の端部が保持溝
３の奥に突き当たり、保持溝３が次第に磨耗してくる。
そうすると、保持溝３の深さが変わり、その最奥部で位
置決めされるチップ状回路部品４の一方の端部の電極５
の位置も変動する。これによって、接触端子７の電極５
への接触の確実性が次第に失われる。
測装置では、チップ状回路部品４をキャリア１の保持溝
３に挿入する度に、チップ状回路部品４の端部が保持溝
３の奥に突き当たり、保持溝３が次第に磨耗してくる。
そうすると、保持溝３の深さが変わり、その最奥部で位
置決めされるチップ状回路部品４の一方の端部の電極５
の位置も変動する。これによって、接触端子７の電極５
への接触の確実性が次第に失われる。
【０００９】本発明は、このような従来のチップ状回路
部品の計測装置における課題に鑑み、チップ状回路部品
の長さ寸法に多少のばらつきがあっても、チップ状回路
部品のキャリアにおける保持位置を補正して確実に接触
端子を電極に接触させて、チップ状回路部品の電気的特
性の計測を可能とするものである。
部品の計測装置における課題に鑑み、チップ状回路部品
の長さ寸法に多少のばらつきがあっても、チップ状回路
部品のキャリアにおける保持位置を補正して確実に接触
端子を電極に接触させて、チップ状回路部品の電気的特
性の計測を可能とするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明では、
キャリア１１の保持溝１３に長手方向に移動自在にチッ
プ状回路部品１４を保持し、その長手方向の位置を位置
補正機構によって補正したうえで、或いは補正すると同
時にチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接
触端子１７、１７を接触させて計測器１８との導通を図
るようにした。これにより、接触不良を起こすことな
く、確実にチップ状回路部品１４の電気的特性を計測す
ることを可能とした。
キャリア１１の保持溝１３に長手方向に移動自在にチッ
プ状回路部品１４を保持し、その長手方向の位置を位置
補正機構によって補正したうえで、或いは補正すると同
時にチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接
触端子１７、１７を接触させて計測器１８との導通を図
るようにした。これにより、接触不良を起こすことな
く、確実にチップ状回路部品１４の電気的特性を計測す
ることを可能とした。
【００１１】すなわち、本発明によるチップ状回路部品
の計測装置は、チップ状回路部品１４を所定の間隔で搬
送するキャリア１１と、このキャリア１１で搬送される
チップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接触す
る接触端子１７、１７と、この接触端子１７、１７に接
続され、同接触端子１７、１７を介して導通したチップ
状回路部品１４の電極１５、１５の間でチップ状回路部
品１４の電気的特性を計測する計測器１８とを有する。
キャリア１１は、チップ状回路部品１４がその長手方向
に移動自在に保持される保持溝１３を有し、前記接触端
子１７、１７がチップ状回路部品１４の電極１５、１５
に接触する位置またはその手前で、チップ状回路部品１
４の接触端子１７、１７に対する長手方向の位置ずれを
補正する位置補正機構を備える。
の計測装置は、チップ状回路部品１４を所定の間隔で搬
送するキャリア１１と、このキャリア１１で搬送される
チップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接触す
る接触端子１７、１７と、この接触端子１７、１７に接
続され、同接触端子１７、１７を介して導通したチップ
状回路部品１４の電極１５、１５の間でチップ状回路部
品１４の電気的特性を計測する計測器１８とを有する。
キャリア１１は、チップ状回路部品１４がその長手方向
に移動自在に保持される保持溝１３を有し、前記接触端
子１７、１７がチップ状回路部品１４の電極１５、１５
に接触する位置またはその手前で、チップ状回路部品１
４の接触端子１７、１７に対する長手方向の位置ずれを
補正する位置補正機構を備える。
【００１２】キャリア１１は、例えば環状の搬送路に沿
って所定の間隔でチップ状回路部品１４を間欠搬送する
ターンテーブル状のものからなり、保持溝１３がキャリ
ア１１の径方向に設けられ、両端が開放した溝からな
る。接触端子１７、１７は、キャリア１１に保持された
チップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に向けて
昇降するものからなり、この接触端子１７、１７の先端
部が位置補正機能を兼ねることが出来る。すなわち、接
触端子１７、１７の先端部に互いに対向する勾配が形成
され、接触端子１７、１７がその先端部の勾配によって
チップ状回路部品１４の位置を補正する。
って所定の間隔でチップ状回路部品１４を間欠搬送する
ターンテーブル状のものからなり、保持溝１３がキャリ
ア１１の径方向に設けられ、両端が開放した溝からな
る。接触端子１７、１７は、キャリア１１に保持された
チップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に向けて
昇降するものからなり、この接触端子１７、１７の先端
部が位置補正機能を兼ねることが出来る。すなわち、接
触端子１７、１７の先端部に互いに対向する勾配が形成
され、接触端子１７、１７がその先端部の勾配によって
チップ状回路部品１４の位置を補正する。
【００１３】また、位置補正機構を、接触端子１７、１
７と別に設けてもよい。例えば、キャリア１１によって
搬送されてくるチップ状回路部品１４の両側に配置さ
れ、チップ状回路部品１４を両側から押して位置を修正
する一対のプッシャ１９、１９によりチップ状回路部品
１４の位置を補正するようにしてもよい。この場合は、
位置補正機構を構成する一対のプッシャ１９、１９を、
接触端子１７、１７が配置された計測ステーションの手
前に設けても良い。但し、チップ状回路部品１４の位置
補正の後、電極１５、１５への接触端子１７、１７の接
触前に再びチップ状回路部品１４がずれることがないよ
うに、チップ状回路部品１４の位置補正は、電極１５、
１５への接触端子１７、１７の接触のごく直前になされ
るのがよい。
７と別に設けてもよい。例えば、キャリア１１によって
搬送されてくるチップ状回路部品１４の両側に配置さ
れ、チップ状回路部品１４を両側から押して位置を修正
する一対のプッシャ１９、１９によりチップ状回路部品
１４の位置を補正するようにしてもよい。この場合は、
位置補正機構を構成する一対のプッシャ１９、１９を、
接触端子１７、１７が配置された計測ステーションの手
前に設けても良い。但し、チップ状回路部品１４の位置
補正の後、電極１５、１５への接触端子１７、１７の接
触前に再びチップ状回路部品１４がずれることがないよ
うに、チップ状回路部品１４の位置補正は、電極１５、
１５への接触端子１７、１７の接触のごく直前になされ
るのがよい。
【００１４】このようなチップ状回路部品の計測装置で
は、キャリア１１の保持溝１３に長手方向に移動自在に
チップ状回路部品１４が保持されており、その長手方向
の位置が、接触端子１７、１７との接触の前または接触
と同時に補正される。このため、チップ状回路部品１４
の長さ寸法にばらつきがあっても、接触端子１７、１７
を確実にチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５
に接触させて計測器１８との導通を図ることが出来る。
すなわち、接触不良を起こすことなく、チップ状回路部
品１４の電気的特性の計測が確実に行える。さらに、キ
ャリア１１の保持溝１３は、チップ状回路部品１４をそ
の長手方向に移動自在に保持するだけでよいので、チッ
プ状回路部品１４の突き当てによる保持溝１３の磨耗等
も起こらない。
は、キャリア１１の保持溝１３に長手方向に移動自在に
チップ状回路部品１４が保持されており、その長手方向
の位置が、接触端子１７、１７との接触の前または接触
と同時に補正される。このため、チップ状回路部品１４
の長さ寸法にばらつきがあっても、接触端子１７、１７
を確実にチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５
に接触させて計測器１８との導通を図ることが出来る。
すなわち、接触不良を起こすことなく、チップ状回路部
品１４の電気的特性の計測が確実に行える。さらに、キ
ャリア１１の保持溝１３は、チップ状回路部品１４をそ
の長手方向に移動自在に保持するだけでよいので、チッ
プ状回路部品１４の突き当てによる保持溝１３の磨耗等
も起こらない。
【００１５】
【発明の実施の形態】次に、図面を参照しながら、本発
明の実施の形態について、具体的且つ詳細に説明する。
図１は、本発明によるチップ状回路部品の計測装置とそ
れを使用したチップ状回路部品の検査工程の例を示す概
略図である。矢印に示す方向に一定の角度毎に間欠回転
するターンテーブル状のキャリア１１が備えられ、その
上面外周部分に、チップ状回路部品１１がその長手方向
に移動自在に嵌め込まれて保持されるような保持溝１３
が一定の角度毎に設けられている。図示の例では、保持
溝１３がキャリア１１の外周に４５゜間隔で設けられ、
キャリア１１は４５゜間隔で間欠回転する。
明の実施の形態について、具体的且つ詳細に説明する。
図１は、本発明によるチップ状回路部品の計測装置とそ
れを使用したチップ状回路部品の検査工程の例を示す概
略図である。矢印に示す方向に一定の角度毎に間欠回転
するターンテーブル状のキャリア１１が備えられ、その
上面外周部分に、チップ状回路部品１１がその長手方向
に移動自在に嵌め込まれて保持されるような保持溝１３
が一定の角度毎に設けられている。図示の例では、保持
溝１３がキャリア１１の外周に４５゜間隔で設けられ、
キャリア１１は４５゜間隔で間欠回転する。
【００１６】図示のキャリア１１はリング状になってお
り、その幅はチップ状回路部品１４より狭い。保持溝１
３は、このリング状のキャリア１１を横切るように放射
状に設けられた凹状の矩形溝であり、その幅はチップ状
回路部品１４の幅より僅かに広い。また、保持溝１３の
両端は、それぞれキャリア１１の内周側と外周側とにそ
れぞれ開いている。
り、その幅はチップ状回路部品１４より狭い。保持溝１
３は、このリング状のキャリア１１を横切るように放射
状に設けられた凹状の矩形溝であり、その幅はチップ状
回路部品１４の幅より僅かに広い。また、保持溝１３の
両端は、それぞれキャリア１１の内周側と外周側とにそ
れぞれ開いている。
【００１７】キャリア１１の保持溝１３が停止するロー
ディングステーションに供給シュート１２が接続され、
キャリア１１が停止したとき、供給シュート１２に沿っ
て一列に搬送されてきたチップ状回路部品１４が、停止
した保持溝１３にキャリア１の外周側から送り込まれ、
チップ状回路部品１４が保持溝１３に挿入される。こう
して、供給シュート１２からキャリア１１の保持溝１３
に保持されたチップ状回路部品１４は、キャリア１１の
間欠回転により送られ、計測ステーションに移動する。
ディングステーションに供給シュート１２が接続され、
キャリア１１が停止したとき、供給シュート１２に沿っ
て一列に搬送されてきたチップ状回路部品１４が、停止
した保持溝１３にキャリア１の外周側から送り込まれ、
チップ状回路部品１４が保持溝１３に挿入される。こう
して、供給シュート１２からキャリア１１の保持溝１３
に保持されたチップ状回路部品１４は、キャリア１１の
間欠回転により送られ、計測ステーションに移動する。
【００１８】計測ステーションの真上には端子ユニット
１６が配置され、この端子ユニット１６から下方に接触
端子１７、１７が突設されている。この端子ユニット１
６は、図６に矢印で示すように上下動し、下降したとき
計測ステーションに停止したチップ状回路部品１４の両
端の電極１５、１５に接触端子１７、１７が接触し、導
通する。この接触端子１７、１７には計測器１８が接続
されており、このようにして接触端子１７、１７がチッ
プ状回路部品１４の電極１５、１５に接触することによ
り、チップ状回路部品１４の電極１５、１５が計測器１
８と接続され、そこでチップ状回路部品１４の電気的特
性が計測される。
１６が配置され、この端子ユニット１６から下方に接触
端子１７、１７が突設されている。この端子ユニット１
６は、図６に矢印で示すように上下動し、下降したとき
計測ステーションに停止したチップ状回路部品１４の両
端の電極１５、１５に接触端子１７、１７が接触し、導
通する。この接触端子１７、１７には計測器１８が接続
されており、このようにして接触端子１７、１７がチッ
プ状回路部品１４の電極１５、１５に接触することによ
り、チップ状回路部品１４の電極１５、１５が計測器１
８と接続され、そこでチップ状回路部品１４の電気的特
性が計測される。
【００１９】図２に示すように、前記接触端子１７、１
７の下端は半球形となっており、対向する面に半球形状
のテーパが形成されている。このため、図２に示すよう
に、チップ状回路部品１４の中心位置が、双方の接触端
子１７、１７の中間位置からずれていると、接触端子１
７、１７の下端の半球形状のテーパによってチップ状回
路部品１４が矢印で示すように一方に押され、チップ状
回路部品１４の中心位置が、双方の接触端子１７、１７
の中間位置とほぼ一致するようにセンタリングされる。
これによって、双方の接触端子１７、１７が確実にチッ
プ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接触して導
通する。
７の下端は半球形となっており、対向する面に半球形状
のテーパが形成されている。このため、図２に示すよう
に、チップ状回路部品１４の中心位置が、双方の接触端
子１７、１７の中間位置からずれていると、接触端子１
７、１７の下端の半球形状のテーパによってチップ状回
路部品１４が矢印で示すように一方に押され、チップ状
回路部品１４の中心位置が、双方の接触端子１７、１７
の中間位置とほぼ一致するようにセンタリングされる。
これによって、双方の接触端子１７、１７が確実にチッ
プ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接触して導
通する。
【００２０】このようにしてチップ状回路部品１４の電
気的特性の計測の結果、所要の特性値範囲に収まらない
チップ状回路部品４は、図示してない取出機構によりキ
ャリア１から排出される。電気的特性の計測の結果、所
要の特性値範囲に収まっており、キャリア１１から排出
されなかったチップ状回路部品１４は、キャリア１１に
よってアンローディングステーションに移動し、そこで
チップ状回路部品１４が排出シュート１９に排出され、
次工程に搬送される。
気的特性の計測の結果、所要の特性値範囲に収まらない
チップ状回路部品４は、図示してない取出機構によりキ
ャリア１から排出される。電気的特性の計測の結果、所
要の特性値範囲に収まっており、キャリア１１から排出
されなかったチップ状回路部品１４は、キャリア１１に
よってアンローディングステーションに移動し、そこで
チップ状回路部品１４が排出シュート１９に排出され、
次工程に搬送される。
【００２１】図３（ａ）は、接触端子１７、１７の他の
例を示すもので、この例では接触端子１７、１７の下端
の対向する面に、上方へいくに従って対向間隔が狭くな
るような平坦な勾配が形成されている。キャリア１１の
保持溝１３内のチップ状回路部品１４の長手方向の位置
は、この接触端子１７、１７の先端の勾配面によって補
正される。
例を示すもので、この例では接触端子１７、１７の下端
の対向する面に、上方へいくに従って対向間隔が狭くな
るような平坦な勾配が形成されている。キャリア１１の
保持溝１３内のチップ状回路部品１４の長手方向の位置
は、この接触端子１７、１７の先端の勾配面によって補
正される。
【００２２】前記の例は、何れも接触端子１７、１７そ
のものにチップ状回路部品１４の位置補正機能を持た
せ、接触端子１７、１７が下降するとき、チップ状回路
部品１４の位置補正を行うと共に、接触端子１７、１７
とチップ状回路部品１４の電極１５、１５との接触を行
っている。これに対し例えば、図３（ｂ）に示すよう
に、接触端子１７、１７と別にチップ状回路部品１４の
位置補正機構を設けることも出来る。例えば、図示の例
は、キャリア１１の保持溝１３に保持されたチップ状回
路部品１４が停止する位置の両側に一対のプッシャ１
９、１９を設けている。このプッシャ１９、１９を同期
して同じストロークだけ接触端子１７、１７の中間位置
に向けて移動させ、これによって保持溝１３に保持され
たチップ状回路部品１４の位置を補正する。
のものにチップ状回路部品１４の位置補正機能を持た
せ、接触端子１７、１７が下降するとき、チップ状回路
部品１４の位置補正を行うと共に、接触端子１７、１７
とチップ状回路部品１４の電極１５、１５との接触を行
っている。これに対し例えば、図３（ｂ）に示すよう
に、接触端子１７、１７と別にチップ状回路部品１４の
位置補正機構を設けることも出来る。例えば、図示の例
は、キャリア１１の保持溝１３に保持されたチップ状回
路部品１４が停止する位置の両側に一対のプッシャ１
９、１９を設けている。このプッシャ１９、１９を同期
して同じストロークだけ接触端子１７、１７の中間位置
に向けて移動させ、これによって保持溝１３に保持され
たチップ状回路部品１４の位置を補正する。
【００２３】図４（ａ）に示したキャリア１１の例は、
前記の例のチップ状回路部品１４に比べて、チップ状回
路部品１４を中心軸の回りに４５゜回転させた姿勢で保
持溝１３に嵌め込んで保持したものである。もちろんこ
の例では、２つの平坦な面が直行するＶ字形の壁面を有
する保持溝１３が使用される。図４（ｂ）に示したキャ
リア１１の例は、円柱形のチップ状回路部品１４を搬送
するものである。もちろんこの例では、部分円筒形の壁
面を有する保持溝１３が使用される。
前記の例のチップ状回路部品１４に比べて、チップ状回
路部品１４を中心軸の回りに４５゜回転させた姿勢で保
持溝１３に嵌め込んで保持したものである。もちろんこ
の例では、２つの平坦な面が直行するＶ字形の壁面を有
する保持溝１３が使用される。図４（ｂ）に示したキャ
リア１１の例は、円柱形のチップ状回路部品１４を搬送
するものである。もちろんこの例では、部分円筒形の壁
面を有する保持溝１３が使用される。
【００２４】図５に示した例は、キャリア１１の保持溝
１３にチップ状回路部品１４を固定する場合の例であ
る。図５（ａ）では、キャリア１１の保持溝１３の底に
通気孔２１を設け、キャリア１１の底面を負圧にするこ
とで、矢印で示すように空気を吸引し、真空吸引手段に
よってチップ状回路部品１４を保持溝１３に固定する例
である。また、図５（ｂ）では、キャリア１１の保持溝
１３の底に磁石２２を設け、磁力によって磁性体製のチ
ップ状回路部品１４を保持溝１３に固定する例である。
何れの場合も、チップ状回路部品１４を保持溝１３内に
保持し、チップ状回路部品１４が保持溝１３からずれな
いようにする。また、前述のようにしてチップ状回路部
品１４の位置を補正した後に、チップ状回路部品１４の
位置が簡単にずれないようにする。
１３にチップ状回路部品１４を固定する場合の例であ
る。図５（ａ）では、キャリア１１の保持溝１３の底に
通気孔２１を設け、キャリア１１の底面を負圧にするこ
とで、矢印で示すように空気を吸引し、真空吸引手段に
よってチップ状回路部品１４を保持溝１３に固定する例
である。また、図５（ｂ）では、キャリア１１の保持溝
１３の底に磁石２２を設け、磁力によって磁性体製のチ
ップ状回路部品１４を保持溝１３に固定する例である。
何れの場合も、チップ状回路部品１４を保持溝１３内に
保持し、チップ状回路部品１４が保持溝１３からずれな
いようにする。また、前述のようにしてチップ状回路部
品１４の位置を補正した後に、チップ状回路部品１４の
位置が簡単にずれないようにする。
【００２５】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によるチップ
状回路部品の計測装置では、チップ状回路部品１４の寸
法のばらつきやキャリア１１の保持溝１３の磨耗等の影
響を受けることなく、チップ状回路部品１４の両端の電
極１５、１５に計測用の接触端子１７、１７を確実に接
触させてチップ状回路部品１４の電気的特性を計測する
ことが出来る。このため、特にチップ状回路部品の自動
検査工程において、効率の向上と信頼性の向上を図るこ
とが可能となる。
状回路部品の計測装置では、チップ状回路部品１４の寸
法のばらつきやキャリア１１の保持溝１３の磨耗等の影
響を受けることなく、チップ状回路部品１４の両端の電
極１５、１５に計測用の接触端子１７、１７を確実に接
触させてチップ状回路部品１４の電気的特性を計測する
ことが出来る。このため、特にチップ状回路部品の自動
検査工程において、効率の向上と信頼性の向上を図るこ
とが可能となる。
【図１】本発明によるチップ状回路部品の計測装置の例
を示す概略斜視図である。
を示す概略斜視図である。
【図２】同チップ状回路部品の計測装置の計測ステーシ
ョンの部分を示す要部縦断正面図である。
ョンの部分を示す要部縦断正面図である。
【図３】同チップ状回路部品の計測装置の計測ステーシ
ョンの部分の他の各例を示す要部縦断正面図である。
ョンの部分の他の各例を示す要部縦断正面図である。
【図４】同チップ状回路部品の計測装置のキャリアの他
の各例を示す要部斜視図である。
の各例を示す要部斜視図である。
【図５】同チップ状回路部品の計測装置のキャリアの他
の各例を示す要部縦断側面図である。
の各例を示す要部縦断側面図である。
【図６】チップ状回路部品の計測装置の従来例を示す概
略斜視図である。
略斜視図である。
１４ チップ状回路部品 １１ キャリア １５ チップ状回路部品の電極 １７ 接触端子 １８ 計測器 １３ キャリアの保持溝 １９ プッシャ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ // Ｈ０１Ｇ 4/252 Ｈ０１Ｇ 1/14 Ｃ
Claims (6)
- 【請求項１】 チップ状回路部品（１４）を所定の間隔
で搬送するキャリア（１１）と、このキャリア（１１）
で搬送されるチップ状回路部品（１４）の両端の電極
（１５）、（１５）に接触する接触端子（１７）、（１
７）と、この接触端子（１７）、（１７）に接続され、
同接触端子（１７）、（１７）を介して導通したチップ
状回路部品（１４）の電極（１５）、（１５）の間でチ
ップ状回路部品（１４）の電気的特性を計測する計測器
（１８）とを有するチップ状回路部品の計測装置におい
て、キャリア（１１）は、チップ状回路部品（１４）が
その長手方向に移動自在に保持される保持溝（１３）を
有し、前記接触端子（１７）、（１７）がチップ状回路
部品（１４）の電極（１５）、（１５）に接触する位置
またはその手前に、チップ状回路部品（１４）の接触端
子（１７）、（１７）に対する長手方向の位置ずれを補
正する位置補正機構を備えることを特徴とするチップ状
回路部品の計測装置。 - 【請求項２】 キャリア（１１）が環状の搬送路に沿っ
て所定の間隔でチップ状回路部品（１４）を間欠搬送す
るターンテーブル状のものからなることを特徴とする請
求項１に記載のチップ状回路部品の計測装置。 - 【請求項３】 保持溝（１３）がキャリア（１１）の回
転中心に対して放射状に設けられ、両端が開放した溝か
らなることを特徴とする請求項１または２に記載のチッ
プ状回路部品の計測装置。 - 【請求項４】 接触端子（１７）、（１７）がキャリア
（１１）に保持されたチップ状回路部品（１４）の両端
の電極（１５）、（１５）に向けて昇降するものからな
ることを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載のチッ
プ状回路部品の計測装置。 - 【請求項５】 接触端子（１７）、（１７）の先端部に
互いに対向する勾配が形成され、接触端子（１７）、
（１７）がその先端部の勾配によってチップ状回路部品
（１４）の位置を修正する位置補正機構を兼ねているこ
とを特徴とする請求項４に記載のチップ状回路部品の計
測装置。 - 【請求項６】 位置補正機構が、キャリア（１１）によ
って搬送されてくるチップ状回路部品（１４）の両側に
配置され、チップ状回路部品（１４）を両側から押して
位置を修正する一対のプッシャ（１９）、（１９）から
なることを特徴とする請求項１〜４の何れかに記載のチ
ップ状回路部品の計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06319697A JP3896186B2 (ja) | 1997-03-17 | 1997-03-17 | チップ状回路部品の計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06319697A JP3896186B2 (ja) | 1997-03-17 | 1997-03-17 | チップ状回路部品の計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10260214A true JPH10260214A (ja) | 1998-09-29 |
| JP3896186B2 JP3896186B2 (ja) | 2007-03-22 |
Family
ID=13222235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06319697A Expired - Fee Related JP3896186B2 (ja) | 1997-03-17 | 1997-03-17 | チップ状回路部品の計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3896186B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017056300A1 (ja) * | 2015-10-01 | 2017-04-06 | 富士機械製造株式会社 | 検査装置 |
| CN109664598A (zh) * | 2017-10-16 | 2019-04-23 | Tdk株式会社 | 工件保持夹具、电子部件处理装置及电子部件的制造方法 |
| JP2021012201A (ja) * | 2020-09-22 | 2021-02-04 | 株式会社Ｆｕｊｉ | 電子部品実装機 |
| JP2022008579A (ja) * | 2020-09-22 | 2022-01-13 | 株式会社Fuji | 電子部品装着機および検査方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5026054A (ja) * | 1973-07-07 | 1975-03-18 | ||
| JPS6140041A (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-26 | Yokowo Mfg Co Ltd | 電子部品の検査装置 |
| JPH0495778A (ja) * | 1990-08-06 | 1992-03-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チップ型電子部品の挟持装置 |
| JPH0886833A (ja) * | 1994-07-22 | 1996-04-02 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体素子の自動検査装置 |
-
1997
- 1997-03-17 JP JP06319697A patent/JP3896186B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5026054A (ja) * | 1973-07-07 | 1975-03-18 | ||
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| JPWO2017056300A1 (ja) * | 2015-10-01 | 2018-07-19 | 株式会社Ｆｕｊｉ | 検査装置 |
| CN109664598A (zh) * | 2017-10-16 | 2019-04-23 | Tdk株式会社 | 工件保持夹具、电子部件处理装置及电子部件的制造方法 |
| JP2019072925A (ja) * | 2017-10-16 | 2019-05-16 | Tdk株式会社 | ワーク保持治具、電子部品処理装置および電子部品の製造方法 |
| JP2021012201A (ja) * | 2020-09-22 | 2021-02-04 | 株式会社Ｆｕｊｉ | 電子部品実装機 |
| JP2022008579A (ja) * | 2020-09-22 | 2022-01-13 | 株式会社Fuji | 電子部品装着機および検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3896186B2 (ja) | 2007-03-22 |
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