JP2002048828A - チップ部品測定冶具および測定方法 - Google Patents
チップ部品測定冶具および測定方法Info
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- JP2002048828A JP2002048828A JP2000235223A JP2000235223A JP2002048828A JP 2002048828 A JP2002048828 A JP 2002048828A JP 2000235223 A JP2000235223 A JP 2000235223A JP 2000235223 A JP2000235223 A JP 2000235223A JP 2002048828 A JP2002048828 A JP 2002048828A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来のチップ部品測定冶具を用いた場合の、
検査前の部品を並べたトレイから測定冶具に搬送する時
間と、測定冶具から分類トレイに搬送するロスタイムを
短縮できるチップ部品測定冶具と検査方法を提供し、検
査作業の能率を上げることである。 【解決手段】 中央部に吸引穴を備え、先端の外周部に
チップ部品に適合した測定端子を備えた可動式チップ部
品測定冶具の、前記測定端子をフレキシブルケーブルで
測定器に接続し、前記吸引穴よりチップ部品を真空吸引
して前記測定端子にチップ部品の端子を接触させて、チ
ップ部品を搬送中に測定させる。
検査前の部品を並べたトレイから測定冶具に搬送する時
間と、測定冶具から分類トレイに搬送するロスタイムを
短縮できるチップ部品測定冶具と検査方法を提供し、検
査作業の能率を上げることである。 【解決手段】 中央部に吸引穴を備え、先端の外周部に
チップ部品に適合した測定端子を備えた可動式チップ部
品測定冶具の、前記測定端子をフレキシブルケーブルで
測定器に接続し、前記吸引穴よりチップ部品を真空吸引
して前記測定端子にチップ部品の端子を接触させて、チ
ップ部品を搬送中に測定させる。
Description
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、チップ電子部品の
測定冶具、および測定方法に関するものである。
測定冶具、および測定方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のチップ状電子部品の測定冶具は、
図2に示すように抵抗、コンデンサ、インダクタなどの
2端子部品や、複合部品、フィルタなどの多端子部品の
端子に対応する接触端子を測定用基板の上に形成しケー
ブルで測定器に接続して、前記接触端子にチップ部品の
端子を当接させ加圧して接触させていた。
図2に示すように抵抗、コンデンサ、インダクタなどの
2端子部品や、複合部品、フィルタなどの多端子部品の
端子に対応する接触端子を測定用基板の上に形成しケー
ブルで測定器に接続して、前記接触端子にチップ部品の
端子を当接させ加圧して接触させていた。
【0003】検査作業は、チップ部品の並んだトレイか
らバキュームピンセットを用い、真空吸引してチャッキ
ングして前記測定冶具に搬送し、冶具端子にチップ部品
の端子を当接させ上から加圧して測定し、測定値に基い
て分類トレイに搬送していた。この方法では、検査前の
部品を並べたトレイから測定冶具に搬送する時間と、測
定冶具から分類トレイに搬送する時間が、実測定時間に
加算されて1個の部品を測定するタクトタイムとなるの
で、2度の搬送時間はロスタイムとなっていた。
らバキュームピンセットを用い、真空吸引してチャッキ
ングして前記測定冶具に搬送し、冶具端子にチップ部品
の端子を当接させ上から加圧して測定し、測定値に基い
て分類トレイに搬送していた。この方法では、検査前の
部品を並べたトレイから測定冶具に搬送する時間と、測
定冶具から分類トレイに搬送する時間が、実測定時間に
加算されて1個の部品を測定するタクトタイムとなるの
で、2度の搬送時間はロスタイムとなっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図2に示す従来のチッ
プ部品測定冶具を用いた場合の、図3の従来の検査作業
説明図に示すように、検査前の部品を並べたトレイから
測定冶具に搬送する時間と、測定冶具から分類トレイに
搬送する時間がロスタイムとなるので、このようなロス
タイムを短縮できるチップ部品測定冶具と測定方法を提
供することである。
プ部品測定冶具を用いた場合の、図3の従来の検査作業
説明図に示すように、検査前の部品を並べたトレイから
測定冶具に搬送する時間と、測定冶具から分類トレイに
搬送する時間がロスタイムとなるので、このようなロス
タイムを短縮できるチップ部品測定冶具と測定方法を提
供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、可動式測
定冶具であって、中央部に吸引穴と、先端の外周部にチ
ップ部品に適合した測定端子を備え、前記吸引穴よりチ
ップ部品を吸引して測定回路に接続することを特徴とす
るチップ部品測定冶具である。
定冶具であって、中央部に吸引穴と、先端の外周部にチ
ップ部品に適合した測定端子を備え、前記吸引穴よりチ
ップ部品を吸引して測定回路に接続することを特徴とす
るチップ部品測定冶具である。
【0006】たとえば、端子面を上にして整列したチッ
プ部品に、測定冶具を上方より当接させ吸引して、チッ
プ部品の端子を測定冶具の端子に接触させて測定させ
る。チップ部品を測定しながら、分類箱やテーピング機
の近くまで搬送し、測定結果に基いて、良品、不良品な
どの分類箱への仕分けや、テーピング機のテープへの装
着をすることで、検査分類やテーピング作業の時間短縮
ができる。
プ部品に、測定冶具を上方より当接させ吸引して、チッ
プ部品の端子を測定冶具の端子に接触させて測定させ
る。チップ部品を測定しながら、分類箱やテーピング機
の近くまで搬送し、測定結果に基いて、良品、不良品な
どの分類箱への仕分けや、テーピング機のテープへの装
着をすることで、検査分類やテーピング作業の時間短縮
ができる。
【0007】前記吸引穴の端面は、ゴムなどの柔らかい
弾力性のある物で構成し、チップ部品に当接したとき真
空漏れが無く、確実にチップ部品を吸着するようにして
おく。また、測定冶具の接触端子は、適当な弾力性のあ
るバネ板などを用い、チップ部品の端子の接触部分には
金メッキを施しておき、チップ部品を吸着したときにチ
ップ部品の接続端子が、確実に測定冶具の接触端子に接
触するようにしておく。このとき、吸引穴の柔らかい端
面が、チップ部品を吸着して収縮しチップ部品の接続端
子と測定冶具の接触端子が接触するように、吸引穴の端
面と接触端子の位置関係を調節することが重要である。
弾力性のある物で構成し、チップ部品に当接したとき真
空漏れが無く、確実にチップ部品を吸着するようにして
おく。また、測定冶具の接触端子は、適当な弾力性のあ
るバネ板などを用い、チップ部品の端子の接触部分には
金メッキを施しておき、チップ部品を吸着したときにチ
ップ部品の接続端子が、確実に測定冶具の接触端子に接
触するようにしておく。このとき、吸引穴の柔らかい端
面が、チップ部品を吸着して収縮しチップ部品の接続端
子と測定冶具の接触端子が接触するように、吸引穴の端
面と接触端子の位置関係を調節することが重要である。
【0008】第2の発明は、可動式測定冶具であって、
中央部に吸引穴と、先端の外周部にチップ部品に適合し
た測定端子を備え、前記吸引穴よりチップ部品を吸引し
て測定回路に接続することを特徴とするチップ部品測定
冶具において、前記吸引穴に、さらに気密状態でスライ
ド可能な吸引口を備えたことを特徴とするチップ部品測
定冶具である。
中央部に吸引穴と、先端の外周部にチップ部品に適合し
た測定端子を備え、前記吸引穴よりチップ部品を吸引し
て測定回路に接続することを特徴とするチップ部品測定
冶具において、前記吸引穴に、さらに気密状態でスライ
ド可能な吸引口を備えたことを特徴とするチップ部品測
定冶具である。
【0009】前記したように、吸引穴の端面はゴムなど
の柔らかい弾力性のある物で構成し、チップ部品に当接
したとき真空漏れが無く、確実にチップ部品を吸着する
ようにしておき、吸引穴の柔らかい端面が、チップ部品
を吸着して収縮して、チップ部品の接続端子と測定冶具
の接触端子が接触するように、吸引穴の端面と接触端子
の位置関係を調節することが重要であるが微妙な位置関
係となる。
の柔らかい弾力性のある物で構成し、チップ部品に当接
したとき真空漏れが無く、確実にチップ部品を吸着する
ようにしておき、吸引穴の柔らかい端面が、チップ部品
を吸着して収縮して、チップ部品の接続端子と測定冶具
の接触端子が接触するように、吸引穴の端面と接触端子
の位置関係を調節することが重要であるが微妙な位置関
係となる。
【0010】そこで前記チップ部品測定冶具の吸引穴
に、さらに気密状態でスライド可能な吸引口を備え、前
記吸引口を前記接触端子面より多少突出させておき、チ
ップ部品に当接して吸引し、チップ部品の接続端子が前
記測定冶具の接触端子に当接するまで真空吸引力により
気密状態でスライドさせ、さらに真空吸引力で接触圧力
を加えることで、確実に測定することができる。
に、さらに気密状態でスライド可能な吸引口を備え、前
記吸引口を前記接触端子面より多少突出させておき、チ
ップ部品に当接して吸引し、チップ部品の接続端子が前
記測定冶具の接触端子に当接するまで真空吸引力により
気密状態でスライドさせ、さらに真空吸引力で接触圧力
を加えることで、確実に測定することができる。
【0011】第3の発明は、可動式測定冶具であって、
中央部に吸引穴と、先端の外周部にチップ部品に適合し
た測定端子を備え、前記吸引穴よりチップ部品を吸引し
て測定回路に接続することを特徴とするチップ部品測定
冶具、あるいは前記吸引穴に気密状態でスライド可能な
吸引口を備えるチップ部品測定冶具のいずれかにおい
て、前記測定端子の外周部にチップ部品の位置決め手段
を備えたことを特徴とするチップ部品測定冶具である。
中央部に吸引穴と、先端の外周部にチップ部品に適合し
た測定端子を備え、前記吸引穴よりチップ部品を吸引し
て測定回路に接続することを特徴とするチップ部品測定
冶具、あるいは前記吸引穴に気密状態でスライド可能な
吸引口を備えるチップ部品測定冶具のいずれかにおい
て、前記測定端子の外周部にチップ部品の位置決め手段
を備えたことを特徴とするチップ部品測定冶具である。
【0012】前述のチップ部品の接続端子が前記測定冶
具の接触端子に確実に当接する位置関係で、チップ部品
測定冶具にチップ部品を吸着する必要がある。チップ部
品が多少変位した位置にあっても、また、多少回転して
いても、確実にチップ部品の接続端子が前記測定冶具の
接触端子に当接するように、チップ部品を位置決めしな
がら吸着して、常に所定の位置関係に吸着させる。
具の接触端子に確実に当接する位置関係で、チップ部品
測定冶具にチップ部品を吸着する必要がある。チップ部
品が多少変位した位置にあっても、また、多少回転して
いても、確実にチップ部品の接続端子が前記測定冶具の
接触端子に当接するように、チップ部品を位置決めしな
がら吸着して、常に所定の位置関係に吸着させる。
【0013】位置決め手段としては、矩形のチップ部品
の場合は、外縁の直交する2辺をチップ部品測定冶具に
備えられたガイドにチップ部品を当接させて吸引する方
法や、チップ部品を吸引してから4辺を、前記測定冶具
に備えられた4本のフィンガーで摘んで位置決めする方
法などがあり、市販のチップマウンターに用いられてい
る方法でよい。
の場合は、外縁の直交する2辺をチップ部品測定冶具に
備えられたガイドにチップ部品を当接させて吸引する方
法や、チップ部品を吸引してから4辺を、前記測定冶具
に備えられた4本のフィンガーで摘んで位置決めする方
法などがあり、市販のチップマウンターに用いられてい
る方法でよい。
【0014】第4の発明は、前記のチップ部品の吸引穴
を備えるチップ部品測定冶具を用いて、該測定冶具でチ
ップ部品を吸着し、搬送しながら測定することを特徴と
するチップ部品の測定方法である。
を備えるチップ部品測定冶具を用いて、該測定冶具でチ
ップ部品を吸着し、搬送しながら測定することを特徴と
するチップ部品の測定方法である。
【0015】従来の検査作業では、前述したように検査
前の部品を並べたトレイから測定冶具に搬送する時間
と、測定冶具から分類トレイに搬送する2度の搬送時間
はロスタイムとなっていたが、本発明では搬送が1度で
済み、かつ搬送と測定が同時進行で行われるので時間短
縮ができ、検査作業の能率が向上する。特に高速の自動
検査分類機の検査方法に適し、測定機の稼動率を向上さ
せるために、2つの前記測定冶具を交互に動作させ、測
定器に交互にスキャンさせて、能率を上げることもでき
る。
前の部品を並べたトレイから測定冶具に搬送する時間
と、測定冶具から分類トレイに搬送する2度の搬送時間
はロスタイムとなっていたが、本発明では搬送が1度で
済み、かつ搬送と測定が同時進行で行われるので時間短
縮ができ、検査作業の能率が向上する。特に高速の自動
検査分類機の検査方法に適し、測定機の稼動率を向上さ
せるために、2つの前記測定冶具を交互に動作させ、測
定器に交互にスキャンさせて、能率を上げることもでき
る。
【0016】
【発明の実施の形態】中央部に吸引穴を備え、先端外周
部にチップ部品に適合した測定端子を備えた可動式チッ
プ部品測定冶具の、前記測定端子をフレキシブルケーブ
ルで測定器に接続し、前記吸引穴よりチップ部品を真空
吸引して前記測定端子にチップ部品の端子を接触させ
て、チップ部品測定冶具を移動中に測定させる。
部にチップ部品に適合した測定端子を備えた可動式チッ
プ部品測定冶具の、前記測定端子をフレキシブルケーブ
ルで測定器に接続し、前記吸引穴よりチップ部品を真空
吸引して前記測定端子にチップ部品の端子を接触させ
て、チップ部品測定冶具を移動中に測定させる。
【0017】
【実施例1】図1に示すように先端がチップ部品と同一
寸法の絶縁樹脂の中央部に真空吸引穴5を貫通させ、斜
線部に示す測定端子電極部が凹部となるよう溝加工し
た。次に、部品端子との接触部に金メッキを施した、厚
さ;0.1mmのりん青銅板を前記溝に合わせて加工
し、溝に敷設し樹脂固定した測定端子2の後端部に測定
器に接続する同軸ケーブルをはんだ接続し、中央部の真
空吸引穴5に真空ホースを嵌め込んでから、さらに樹脂
管に挿入して先端の測定部を突出させた鉛筆状の手作業
用測定冶具を構成した。
寸法の絶縁樹脂の中央部に真空吸引穴5を貫通させ、斜
線部に示す測定端子電極部が凹部となるよう溝加工し
た。次に、部品端子との接触部に金メッキを施した、厚
さ;0.1mmのりん青銅板を前記溝に合わせて加工
し、溝に敷設し樹脂固定した測定端子2の後端部に測定
器に接続する同軸ケーブルをはんだ接続し、中央部の真
空吸引穴5に真空ホースを嵌め込んでから、さらに樹脂
管に挿入して先端の測定部を突出させた鉛筆状の手作業
用測定冶具を構成した。
【0018】
【実施例2】先端がチップ部品と同一寸法の絶縁樹脂の
中央部に図4に示すように真空吸引穴5の内径に段差を
つけて形成し、断面図に示すようにスライド可能な吸引
管9を挿入してから、クッションゴム12を前記吸引管
の先端に嵌め込んで樹脂固定して、抜け落ちを防止し、
且つチップ部品に柔軟に接触し吸着してからの真空漏れ
を防止した。次に、実施例1と同様に部品端子との接触
部に金メッキを施した、厚さ;0.1mmのりん青銅板
を前記溝に合わせて加工し、溝に敷設し樹脂固定した後
端部に測定機に接続する同軸ケーブルをはんだ接続し、
中央部の真空吸引穴に真空ホースを嵌め込んでから、さ
らに樹脂管に挿入して先端の測定部を突出させ、鉛筆状
の手作業用測定冶具を構成した。
中央部に図4に示すように真空吸引穴5の内径に段差を
つけて形成し、断面図に示すようにスライド可能な吸引
管9を挿入してから、クッションゴム12を前記吸引管
の先端に嵌め込んで樹脂固定して、抜け落ちを防止し、
且つチップ部品に柔軟に接触し吸着してからの真空漏れ
を防止した。次に、実施例1と同様に部品端子との接触
部に金メッキを施した、厚さ;0.1mmのりん青銅板
を前記溝に合わせて加工し、溝に敷設し樹脂固定した後
端部に測定機に接続する同軸ケーブルをはんだ接続し、
中央部の真空吸引穴に真空ホースを嵌め込んでから、さ
らに樹脂管に挿入して先端の測定部を突出させ、鉛筆状
の手作業用測定冶具を構成した。
【0019】
【実施例3】実施例1のチップ部品測定冶具の外周に、
図5に示す位置決め用の可動フィンガー10を備えた外
管を同心状に配設したチップ部品測定冶具を構成した。
位置決め用手段は、市販されているチップマウンターと
同様な動作をさせ、さらにチップ部品の吸着時と分類収
納時に邪魔にならないように引き込ませる機構を設ける
こともできる。
図5に示す位置決め用の可動フィンガー10を備えた外
管を同心状に配設したチップ部品測定冶具を構成した。
位置決め用手段は、市販されているチップマウンターと
同様な動作をさせ、さらにチップ部品の吸着時と分類収
納時に邪魔にならないように引き込ませる機構を設ける
こともできる。
【0020】
【実施例4】図6のように、未検査部品箱からチップ部
品を吸着し、測定しながら良否分類箱に向けて移動さ
せ、測定結果に基づいてランプ表示した箱上で真空バル
ブを開放して収納させた。自動検査機では、パーツフィ
ーダで整列したチップ部品を前記測定冶具で吸着し、測
定しながら移動させて良品のみをテーピング機に懸けて
テーピングすることができる。
品を吸着し、測定しながら良否分類箱に向けて移動さ
せ、測定結果に基づいてランプ表示した箱上で真空バル
ブを開放して収納させた。自動検査機では、パーツフィ
ーダで整列したチップ部品を前記測定冶具で吸着し、測
定しながら移動させて良品のみをテーピング機に懸けて
テーピングすることができる。
【0021】
【発明の効果】従来のチップ部品測定冶具を用いた場合
のように、検査前の部品を並べたトレイから測定冶具に
搬送する時間と、測定冶具から分類トレイに搬送する時
間がロスタイムとなることなく、検査前のチップ部品を
並べたトレイから、チップ部品を搬送しながら測定し、
分類トレイに収納することが出来るので、前記のロスタ
イムを短縮でき検査作業の能率を向上させることが出来
る。
のように、検査前の部品を並べたトレイから測定冶具に
搬送する時間と、測定冶具から分類トレイに搬送する時
間がロスタイムとなることなく、検査前のチップ部品を
並べたトレイから、チップ部品を搬送しながら測定し、
分類トレイに収納することが出来るので、前記のロスタ
イムを短縮でき検査作業の能率を向上させることが出来
る。
【0022】
【図1】実施例1のチップ部品測定冶具の平面図と側面
図を示す。
図を示す。
【図2】従来のチップ部品測定冶具の平面図を示す。
【図3】従来の検査方法の説明図を示す。
【図4】実施例2のチップ部品測定冶具の平面図と断面
図を示す。
図を示す。
【図5】実施例3のチップ部品測定冶具の平面図と側面
図を示す。
図を示す。
【図6】本発明のチップ部品測定冶具を用いた検査方法
の説明図を示す。
の説明図を示す。
1・・・・・従来冶具の測定基板 2・・・・・測定端子電極部 3・・・・・ケーブル接続コネクタ 4・・・・・チップ部品 5・・・・・真空吸引穴 6・・・・・バキュームピンセット 7・・・・・ケーブル接続コネクタ 8・・・・・本発明の測定冶具 9・・・・・スライド可能な吸引管 10・・・・位置決め用の可動フィンガー 11・・・・吸引穴つき測定冶具 12・・・・クッションゴム
Claims (4)
- 【請求項1】 可動式測定冶具であって、中央部に吸引
穴と、先端の外周部にチップ部品に適合した測定端子を
備え、前記吸引穴よりチップ部品を吸引して前記測定端
子にチップ部品の端子を接触させて測定回路に接続する
ことを特徴とするチップ部品測定冶具。 - 【請求項2】 可動式測定冶具であって、中央部に吸引
穴と、先端の外周部にチップ部品に適合した測定端子を
備え、前記吸引穴よりチップ部品を吸引して測定回路に
接続することを特徴とするチップ部品測定冶具におい
て、前記吸引穴に、さらに気密状態でスライド可能な吸
引口を備えたことを特徴とするチップ部品測定冶具。 - 【請求項3】 可動式測定冶具であって、中央部に吸引
穴と、先端の外周部にチップ部品に適合した測定端子を
備え、前記吸引穴よりチップ部品を吸引して測定回路に
接続することを特徴とするチップ部品測定冶具、あるい
は前記吸引穴に気密状態でスライド可能な吸引口を備え
るチップ部品測定冶具のいずれかにおいて、前記測定端
子の外周部にチップ部品の位置決め手段を備えたことを
特徴とするチップ部品測定冶具。 - 【請求項4】 請求項1から3のいずれかのチップ部品
測定冶具を用いて、該測定冶具でチップ部品を吸着し、
測定しながら搬送することを特徴とするチップ部品の測
定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000235223A JP2002048828A (ja) | 2000-08-03 | 2000-08-03 | チップ部品測定冶具および測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000235223A JP2002048828A (ja) | 2000-08-03 | 2000-08-03 | チップ部品測定冶具および測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002048828A true JP2002048828A (ja) | 2002-02-15 |
Family
ID=18727470
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000235223A Pending JP2002048828A (ja) | 2000-08-03 | 2000-08-03 | チップ部品測定冶具および測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002048828A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014059925A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Nhk Spring Co Ltd | 圧電素子供給装置及び圧電素子の電気的特性測定方法 |
-
2000
- 2000-08-03 JP JP2000235223A patent/JP2002048828A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014059925A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Nhk Spring Co Ltd | 圧電素子供給装置及び圧電素子の電気的特性測定方法 |
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