JPS5937785B2 - 電子部品検査装置 - Google Patents
電子部品検査装置Info
- Publication number
- JPS5937785B2 JPS5937785B2 JP10110778A JP10110778A JPS5937785B2 JP S5937785 B2 JPS5937785 B2 JP S5937785B2 JP 10110778 A JP10110778 A JP 10110778A JP 10110778 A JP10110778 A JP 10110778A JP S5937785 B2 JPS5937785 B2 JP S5937785B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- guide groove
- electronic component
- inspected
- block body
- predetermined position
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は複数本の外部接続用端子を所定のピッチで有し
てなる電子部品の特性を自動的に検査する装置に関する
ものである。
てなる電子部品の特性を自動的に検査する装置に関する
ものである。
以下、本発明について説明するが、その前に本発明にお
ける被検査物の一例について第１図、第２図を参照して
説明しておく。
ける被検査物の一例について第１図、第２図を参照して
説明しておく。
第１図、第２図は複数本の外部接続用端子を有する電子
部品１００の未外装状態における正面図と外装状態にお
ける断面図である。これはエネルギー閉じ込め型圧電磁
器Ｐ波素子を示し、四角形状の圧電磁器基板１の一方の
主平面にそれぞれ入力用および出力用の電極２および３
を所定の間隔を有するごとく、そして他方の主平面にア
ース用の電極（共通電極）４を図示のようなパターンで
対向して配設し、この基板１を、一方の主平面に所定の
パターン銅箔２’、３’、４’を設けた絶縁物基板５上
に導電性接着剤、例えば銀ペースト８で所定の位置に接
着したもので、銅箔２’、３’、４’と基板１の各電極
２、３、４とは、それぞれ電気的導通状態に接続されて
いる。さらに絶縁物基板５の各銅箔２’、３’、４’の
端部には外部接続用端子６ａ、６ｂ、６ｃが半田Ｔなど
で取付けられている。そして、基板１が外装樹脂１５に
直接触れないように空隙１１を有する状態に両面粘着テ
ープ９を介して蓋板１２を接着したのち、絶縁物基板全
体をエポキシ樹脂１５等で粉体塗装し、所定の温度で硬
化することにより、電子部品１００の外装が完了する。
その後、上記電子部品１００の電気的特性を検査し、選
別することで電子部品１００は完成する。前述のような
電子部品１００の特性検査は、従来、手作業で実施され
てきたが、これでは作業能率が悪く、誤判定を生じやす
かつた。
部品１００の未外装状態における正面図と外装状態にお
ける断面図である。これはエネルギー閉じ込め型圧電磁
器Ｐ波素子を示し、四角形状の圧電磁器基板１の一方の
主平面にそれぞれ入力用および出力用の電極２および３
を所定の間隔を有するごとく、そして他方の主平面にア
ース用の電極（共通電極）４を図示のようなパターンで
対向して配設し、この基板１を、一方の主平面に所定の
パターン銅箔２’、３’、４’を設けた絶縁物基板５上
に導電性接着剤、例えば銀ペースト８で所定の位置に接
着したもので、銅箔２’、３’、４’と基板１の各電極
２、３、４とは、それぞれ電気的導通状態に接続されて
いる。さらに絶縁物基板５の各銅箔２’、３’、４’の
端部には外部接続用端子６ａ、６ｂ、６ｃが半田Ｔなど
で取付けられている。そして、基板１が外装樹脂１５に
直接触れないように空隙１１を有する状態に両面粘着テ
ープ９を介して蓋板１２を接着したのち、絶縁物基板全
体をエポキシ樹脂１５等で粉体塗装し、所定の温度で硬
化することにより、電子部品１００の外装が完了する。
その後、上記電子部品１００の電気的特性を検査し、選
別することで電子部品１００は完成する。前述のような
電子部品１００の特性検査は、従来、手作業で実施され
てきたが、これでは作業能率が悪く、誤判定を生じやす
かつた。
本発明は上述のような電子部品の特性の良否を自動的に
正確に判定し選別するようにして、上述の従来の問題を
解決したもので、以下、実施例として示した図面に基い
て説明する。
正確に判定し選別するようにして、上述の従来の問題を
解決したもので、以下、実施例として示した図面に基い
て説明する。
第３図は本発明装置の要部概略側断面図を示し、第４図
は第３図を矢印Ａ−Ａから見た平面図を示す。
は第３図を矢印Ａ−Ａから見た平面図を示す。
第３図および第４図において、第１図、第２図に示した
ごとき電子部品１００は矢印Ｚ方向の電磁振動を利用し
たフイーダ−２１により、断面が凹状の樋内を一定方向
に整列、搬送される。フイーダ−２１の端部には、上面
が水平面に対し所定の角度（θ）だけ傾斜せられたブロ
ツク体２２が配設されている。上記ブロツク体２２の上
面には断面が凹状の第１、第２なる２列の案内溝２３，
２４が平行に設けられ、またそれらの案内溝２３，２４
と直交して同じく断面が凹状の第３の案内溝２７が形成
されている。上記案内溝２７には断面が凹状の案内溝２
６を有する摺動子２５が摺動可能に嵌合され、エヤシリ
ンダ−３０により矢印ａ，ａ″方向に駆動されるように
構成されている。
ごとき電子部品１００は矢印Ｚ方向の電磁振動を利用し
たフイーダ−２１により、断面が凹状の樋内を一定方向
に整列、搬送される。フイーダ−２１の端部には、上面
が水平面に対し所定の角度（θ）だけ傾斜せられたブロ
ツク体２２が配設されている。上記ブロツク体２２の上
面には断面が凹状の第１、第２なる２列の案内溝２３，
２４が平行に設けられ、またそれらの案内溝２３，２４
と直交して同じく断面が凹状の第３の案内溝２７が形成
されている。上記案内溝２７には断面が凹状の案内溝２
６を有する摺動子２５が摺動可能に嵌合され、エヤシリ
ンダ−３０により矢印ａ，ａ″方向に駆動されるように
構成されている。
フイーダ−２１により搬送された電子部品１００は、傾
斜したブロツク体２２の第１の案内溝２３を経て、該第
１の案内溝の延長線上の所定位置に位置する摺動子２５
の案内溝２６内へ外装樹脂部分が先行するごとく滑落し
、案内溝２７の壁面に当接して静止する。
斜したブロツク体２２の第１の案内溝２３を経て、該第
１の案内溝の延長線上の所定位置に位置する摺動子２５
の案内溝２６内へ外装樹脂部分が先行するごとく滑落し
、案内溝２７の壁面に当接して静止する。
摺動子２５およびブロツク体２２に形成した貫通穴２８
，２９が滑落してきた電子部品によつて塞がれると、貫
通穴２８，２９の上下に配設したフオトセンサ−Ｐ１が
感応し、フイーダ−２１の電磁振動が停止すると共にエ
アシリンダ−３０が作動して電子部品１００は摺動子２
５によつて第４図の２点鎖線位置まで平行に移送される
。摺動子２５の溝２６とブロツク体２２の第２の案内溝
２４とが合致して一直線となると、摺動子２５の溝内の
電子部品はブロツク体２２の第２の案内溝２４内へ滑落
し、シャツター３４に当接して停止すると共に穴３３を
塞ぐ。上記第２の案内溝２４の所定位置に停止した電子
部品の下部には突上体３１が第２の案内溝２４内を上下
動可能に嵌合している。穴３３が電子部品１００で塞が
れたことをフオトセンサ−Ｐ２で検出すると、エアシリ
ンダ−４０が作動し、電子部品１００は突上体３１によ
つて第３図に２点鎖線で示す位置まで上昇し、計測器４
１と接続する測定接点３６に外部接続端子部分６ａ，６
ｂ，６ｃが弾性ゴム部材３２を介して圧接される。計測
器４１により電子部品１００の特性が検査されて分類信
号が出ると、シヤツタ−３４がロータリーソレノイド３
５により駆動されて第３図に示す２点鎖線位置まで開き
、突上体３１が下降して電子部品１００はブロツク体２
２の第２の案内溝２４内を滑落する。
，２９が滑落してきた電子部品によつて塞がれると、貫
通穴２８，２９の上下に配設したフオトセンサ−Ｐ１が
感応し、フイーダ−２１の電磁振動が停止すると共にエ
アシリンダ−３０が作動して電子部品１００は摺動子２
５によつて第４図の２点鎖線位置まで平行に移送される
。摺動子２５の溝２６とブロツク体２２の第２の案内溝
２４とが合致して一直線となると、摺動子２５の溝内の
電子部品はブロツク体２２の第２の案内溝２４内へ滑落
し、シャツター３４に当接して停止すると共に穴３３を
塞ぐ。上記第２の案内溝２４の所定位置に停止した電子
部品の下部には突上体３１が第２の案内溝２４内を上下
動可能に嵌合している。穴３３が電子部品１００で塞が
れたことをフオトセンサ−Ｐ２で検出すると、エアシリ
ンダ−４０が作動し、電子部品１００は突上体３１によ
つて第３図に２点鎖線で示す位置まで上昇し、計測器４
１と接続する測定接点３６に外部接続端子部分６ａ，６
ｂ，６ｃが弾性ゴム部材３２を介して圧接される。計測
器４１により電子部品１００の特性が検査されて分類信
号が出ると、シヤツタ−３４がロータリーソレノイド３
５により駆動されて第３図に示す２点鎖線位置まで開き
、突上体３１が下降して電子部品１００はブロツク体２
２の第２の案内溝２４内を滑落する。
ここで、計測器４１の分類信号の発信によつてシヤツタ
ーが開く前にブロツク体２２の下部に位置する分類収納
部３９の分類信号に対応したーつのゲート（本実施例で
はブロツク体に近い側から２番目）がロータリーソレノ
イド３８を介して開くように構成されているので上述の
測定を終えて第２の案内溝２４を滑落す電子部品は所定
の収納箱内へ落下する。
ーが開く前にブロツク体２２の下部に位置する分類収納
部３９の分類信号に対応したーつのゲート（本実施例で
はブロツク体に近い側から２番目）がロータリーソレノ
イド３８を介して開くように構成されているので上述の
測定を終えて第２の案内溝２４を滑落す電子部品は所定
の収納箱内へ落下する。
分類収納部３９は所定の分類数に仕切られていると共に
、仕切の上方に位置するゲートは常態において閉じてお
り、当然のことながら、水平面に対して傾斜角度θを有
する第２の案内溝２４の底面の延長線上の近傍にゲート
上面が位置するように構成されている。
、仕切の上方に位置するゲートは常態において閉じてお
り、当然のことながら、水平面に対して傾斜角度θを有
する第２の案内溝２４の底面の延長線上の近傍にゲート
上面が位置するように構成されている。
なお、本発明の実施例においては、測定した電子部品が
分類収納されると、再びフイーダ−２１が作動してブロ
ツク体２２の第１の案内溝２３ヘ新しい電子部品が供給
され、上述の測定動作が順次繰り返されるようにシーケ
ンス制御（図示せず）されている。
分類収納されると、再びフイーダ−２１が作動してブロ
ツク体２２の第１の案内溝２３ヘ新しい電子部品が供給
され、上述の測定動作が順次繰り返されるようにシーケ
ンス制御（図示せず）されている。
上述のごとく本発明は、フイーダーへ予め大量の電子部
品を供給しておけば、後は自動的に特性が検査されて分
類収納できるので、検査の自動化が可能となる。
品を供給しておけば、後は自動的に特性が検査されて分
類収納できるので、検査の自動化が可能となる。
さらに本発明は電子部品の外装形状が流動浸漬槽を用い
た粉体樹脂塗装のごとく不定形の場合にも適用できると
いう特長を有している。なお、本発明で検査できる電子
部品の形状は直方体、楕円形状等任意であり、外部接続
端子の本数についても同様である。
た粉体樹脂塗装のごとく不定形の場合にも適用できると
いう特長を有している。なお、本発明で検査できる電子
部品の形状は直方体、楕円形状等任意であり、外部接続
端子の本数についても同様である。
さらに、ブロツク体の溝へ送りこむ部品の姿勢について
も外装樹脂部分が先行する必要はなく、フイーダーで搬
送するのに最適な任意の姿勢で実施すればよい。また、
電磁振動を用いたフイーダ一についても円筒型、直進型
あるいは円筒型と直進型の組合せたもの等任意であり、
電磁振動を用いない他の整列搬送装置を用いても良い。
も外装樹脂部分が先行する必要はなく、フイーダーで搬
送するのに最適な任意の姿勢で実施すればよい。また、
電磁振動を用いたフイーダ一についても円筒型、直進型
あるいは円筒型と直進型の組合せたもの等任意であり、
電磁振動を用いない他の整列搬送装置を用いても良い。
第１図および第２図は本発明の実施例で用いる被検査物
の一例の要部正面図と側断面図、第３図は本発明の一実
施例を示す要部側断面図、第４図は第３図を矢視Ａ−Ａ
から見た平面図である。 ２１・・・・・・７イーダ一、２２・・・・・・プロツ
ク体、２３，２４，２６，２７・・・・・・案内溝、２
５・・・・・・摺動子、３０，４０・・・・・・エアシ
リンダー、３１・・・・・・突止体、３４・・・・・・
シヤツタ一、３５，３８・・・・・・ロータリーソレノ
イド、３６・・・・・・測定接点、３７・・・・・・ゲ
ート、Ｐ，，Ｐ２・・・・・・７オトセンサ一、３９・
・・・・・分類収納部、４１・・・・・・計測器、１０
０・・・・・・電子部品。
の一例の要部正面図と側断面図、第３図は本発明の一実
施例を示す要部側断面図、第４図は第３図を矢視Ａ−Ａ
から見た平面図である。 ２１・・・・・・７イーダ一、２２・・・・・・プロツ
ク体、２３，２４，２６，２７・・・・・・案内溝、２
５・・・・・・摺動子、３０，４０・・・・・・エアシ
リンダー、３１・・・・・・突止体、３４・・・・・・
シヤツタ一、３５，３８・・・・・・ロータリーソレノ
イド、３６・・・・・・測定接点、３７・・・・・・ゲ
ート、Ｐ，，Ｐ２・・・・・・７オトセンサ一、３９・
・・・・・分類収納部、４１・・・・・・計測器、１０
０・・・・・・電子部品。
Claims (1)
- １ 水平面に対し傾斜せる上面部に第１および第２の２
列の案内溝を平行状に有し、かつ前記第１および第２の
案内溝と直交して第３の案内溝が形成されたブロック体
と、上記ブロック体の第１の案内溝へ被検査物を一定方
向に整列して搬送する装置と、上記ブロック体の第１お
よび第２の案内溝の所定位置に被検査物が搬送されたこ
とを非接触の手段で検出する検出装置と、上記第３の溝
に摺動可能に嵌合する摺動子により上記第１の案内溝か
ら上記第２の案内溝へ被検査物を平行移送する装置と、
上記第２の案内溝の所定位置に被検査物を停止させるシ
ャッタ装置と、上記第２の案内溝の所定位置に位置した
被検査物を上記第２の案内溝の上方の所定位置に位置す
る測定接点部へ被検査物の端子が接触するように上下動
させる装置と、電子部品の特性を検査、分類する計測装
置と、測定した被検査物を分類収納する装置とを具備し
てなることを特徴とする電子部品検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10110778A JPS5937785B2 (ja) | 1978-08-18 | 1978-08-18 | 電子部品検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10110778A JPS5937785B2 (ja) | 1978-08-18 | 1978-08-18 | 電子部品検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5527955A JPS5527955A (en) | 1980-02-28 |
| JPS5937785B2 true JPS5937785B2 (ja) | 1984-09-12 |
Family
ID=14291842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10110778A Expired JPS5937785B2 (ja) | 1978-08-18 | 1978-08-18 | 電子部品検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5937785B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3340183A1 (de) * | 1983-11-07 | 1985-05-15 | Ekkehard Ing.(Grad.) 8011 Zorneding Ueberreiter | Vorrichtung zum weiterleiten von bauteilen, insbesondere von integrierten chips, von einem eingangsmagazin zu einem ausgangsmagazin |
| US4564110A (en) * | 1984-06-22 | 1986-01-14 | At&T Technologies, Inc. | Apparatus for positioning gravity fed components in an electrical test facility |
| US5348164A (en) * | 1993-04-13 | 1994-09-20 | Micron Semiconductor, Inc. | Method and apparatus for testing integrated circuits |
| CN105182133A (zh) * | 2015-09-16 | 2015-12-23 | 东莞联宝光电科技有限公司 | 变压器自动测试设备 |
-
1978
- 1978-08-18 JP JP10110778A patent/JPS5937785B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5527955A (en) | 1980-02-28 |
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