KR960006910Y1 - 초고주파 회로시험용 회로기판 지지대 - Google Patents
초고주파 회로시험용 회로기판 지지대 Download PDFInfo
- Publication number
- KR960006910Y1 KR960006910Y1 KR2019940010970U KR19940010970U KR960006910Y1 KR 960006910 Y1 KR960006910 Y1 KR 960006910Y1 KR 2019940010970 U KR2019940010970 U KR 2019940010970U KR 19940010970 U KR19940010970 U KR 19940010970U KR 960006910 Y1 KR960006910 Y1 KR 960006910Y1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit board
- support
- test
- frequency circuit
- connector
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
요약 없음
Description
제1도는 종래 회로기판 시험장치의 개략적 사시도
제2도는 본 고안에 따른 회로기판 지지대의 개략적 사시도
제3도는 본 고안의 사용 상태를 보인 정면도
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 몸체11 : 삽입구멍
12 : 가이드홈20 : 콘넥터
21 : 접촉핀30,30' : 상부 지지턱
40 : 회로기판41 : 시험용 패턴
50 : 하부 지지턱
본 고안은 회로기판 시험장치에 관한 것으로서, 초고주파의 회로를 시험하기 위한 회로기판 지지대에 관한 것이다.
일반적으로 초고주파의 신호를 검출함에 있어서는 이를 위한 각종 회로 즉, 초고주파 회로의 정확성을 미연에 측정하여 사용하고 있다.
이와 같이 초고주파 회로를 시험함에 있어서는, 기기의 각 입, 출력포트 사이에 시험용 패턴이 형성된 회로 기판을 연결하여 시험가동함으로써 이를 통해 측정하고 있다.
제1도에는 종래 초고주파 회로를 측정하기 위한 회로기판 시험장치가 도시되어 있다.
이는, 그 양측면에 고정구멍(1a)이 형성된 지지대(1)를 구비한다. 이 지지대(1)의 상면에는 그 상면에 시험용 패턴(미도시)이 형성된 회로기판(2)이 안착된다.
그리고 전술한 지지대(1)의 양측면에 형성된 고정구멍(1a)으로는 기기의 입, 출력 포트(미도시)에 연결되며 그 전면에 각각 회로기판(2)의 시험용 패턴에 납땝에 의해 접촉되는 접촉핀(3a)이 마련된 콘넥터(3)가 고정 설치된다.
따라서 콘넥터(3)의 접촉핀(3a)과 회로기판(2)의 시험용 패턴을 상호 납땜을 통해 접촉시킨 상태에서 시험 가동함으로써 초고주파 회로를 측정하여 왔다.
그러나 이와 같은 종래 회로기판 시험장치에 있어서는, 시험하고자 하는 초고주파 회로에 따라 각각 달리하는 회로기판의 크기에 맞게 지지대를 정밀가공하거나 별도의 지지대를 구비해야 함으로써 작업의 번거로움 및 생산단가의 상승을 초래하였으며, 특히 회로기판의 폭에 따라 콘넥터의 접촉핀과 회로기판의 패턴 상호간에 미세하나마 유격이 발생됨으로써 이를 위하여 납땜을 통해 상호 접속시키는 것이어서, 반복된 시험과정에서 납땜에 의해 시험용 패턴에 손상을 주는 것은 물론이고 그 작업이 매우 번거로운 문제점이 있다.
본 고안은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 회로기판의 종류에 관계없이 시험을 행할 수 있으며, 특히 회로기판의 시험용 패턴과 콘넥터의 접촉핀간의 접속을 용이하게 실현할 수 있는 초고주파 회로 시험용 회로기판 지지대를 제공함에 그 목적이 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 고안에 따른 회로기판 지지대는, 소정 길이와 폭을 가지며, 그 중심면에 콘넥터 삽입구멍이 형성되고 그 하부 양측면에 소정길이의 가이드 홈이 형성된 몸체 ; 상기 몸체의 상부 일측면에 상기 콘넥터 삽입구멍을 중심으로 하여 서로 나란하게 돌출 형성되는 상부 지지턱 ; 상기 몸체의 가이드 홈을 따라 슬라이딩 가능하게 설치되는 하부 지지턱 ; 을 포함하여 된 것을 그 특징으로 한다.
이와 같은 본 고안은, 회로기판의 크기와 폭에 관계없이 용이하게 지지할 수 있으며, 특히 회로기판의 시험용 패턴과 콘넥터의 접촉핀을 정확하게 접속할 수 있는 이점이 있다.
이하 본 고안에 따른 초고주파 회로 시험용 회로기판 지지대의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
제2도는 본 고안에 따른 회로기판 지지대의 개략적 사시도이고, 제3도는 본 고안의 사용예를 보인 정면도이다.
이에 도시된 바와 같이 본 고안에 따른 회로기판 지지대는, 소정 길이와 폭을 가지며 그 중심면에 콘텍터(20) 삽입구멍(11)이 형성된 몸체(10)를 구비한다.
그리고 이 몸체(10)의 하부 양측에는 그 상부를 향해 소정길이 절개 형성된 가이드 홈(12)이 형성된다.
한편, 전술한 몸체(10)의 상부 일측면에는 콘텍터(20) 삽입구멍(11)을 중심으로 하여 서로 나란하게 상부 지지턱(30, 30')이 돌출 형성된다.
이때 전술한 몸체(10)의 삽입구멍(11)으로 삽입되는 콘텍터(20)의 접촉핀(21) 위치와 상부 지지턱(30, 30')의 하단부 위치는 서로 동일한 평면상에 위치됨이 바람직하다.
이는 회로기판(40)의 체결시 회로기판(40)의 시험용 패턴(41)과 콘텍터(20)의 접촉핀(21)을 정확하게 접속시키기 위해서이다.
한편, 몸체(10)의 하부 양측면에 마련된 가이드 홈(12)으로는 회로기판(40)의 하부를 지지하는 하부 지지턱(50)이 슬라이딩 가능하게 설치되는바, 이 하부 지지턱(50)의 일측면에는 선택적으로 하부 지지턱(50)을 몸체(10)에 고정시키기 위한 고정나사(51)가 마련된다.
이와 같이 구성된 본 고안에 의하면, 제3도에 도시된 바와 같이 몸체(10)를 복수개 구비하여 서로 대면하도록 위치시킨다. 그리고 각 몸체(10)에 마련된 상부 지지턱(30)에 시험하고자 하는 회로기판(40)을 삽입한뒤 각 몸체(10)의 하부에 마련된 하부 지지턱(50)을 회로기판(40)의 두께에 맞게 상, 하 슬라이딩 이송시킨뒤 고정나사(51)를 통해 몸체(10)에 고정시킨다.
이에 의해 회로기판(40)은 몸체(10)에 견고히 지지되게 된다. 이와 같은 상태에서 각 몸체(10)의 중심 일측면에 마련된 삽입구멍(11)을 통해 콘넥터(20)를 삽입시키게 되면, 이 콘넥터(20)의 접촉핀(21)이 정확하게 회로기판(40)의 시험용 패턴(41)에 접속되게 되는 것이다. 이는 상부 지지턱(30, 30')의 하단부와 콘넥터(20)의 접촉핀(21)이 동일 평면상에 위치되기 때문이다.
상술한 바와 같이 본 고안에 따른 초고주파 회로 시험용 회로기판 지지대에 의하면, 회로기판의 크기와 폭에 관계없이 용이하게 지지할 수 있으며, 특히 회로기판의 시험용 패턴과 콘넥터의 접속핀을 정확하게 접속할 수 있는 이점이 있다.
또한 회로기판을 직접 지지 고정하는 것이어서 그 작업 위치설정이 매우 용이하다.
Claims (1)
- 소정 길이와 폭을 가지며, 그 중심면에 콘넥터 삽입구멍이 형성되고 그 하부 양측면에 소정길이의 가이드홈이 형성된 몸체 ;상기 몸체의 상부 일측면에 상기 콘넥터 삽입구멍을 중심으로 하여 서로 나란하게 돌출 형성되는 상부 지지턱 ;상기 몸체의 가이드 홈을 따라 슬라이딩 가능하게 설치되는 하부 지지턱을 포함하여 된 것을 특징으로 하는 초고주파 회로 시험용 회로기판 지지대
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019940010970U KR960006910Y1 (ko) | 1994-05-17 | 1994-05-17 | 초고주파 회로시험용 회로기판 지지대 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019940010970U KR960006910Y1 (ko) | 1994-05-17 | 1994-05-17 | 초고주파 회로시험용 회로기판 지지대 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950034016U KR950034016U (ko) | 1995-12-18 |
KR960006910Y1 true KR960006910Y1 (ko) | 1996-08-12 |
Family
ID=19383419
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2019940010970U KR960006910Y1 (ko) | 1994-05-17 | 1994-05-17 | 초고주파 회로시험용 회로기판 지지대 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR960006910Y1 (ko) |
-
1994
- 1994-05-17 KR KR2019940010970U patent/KR960006910Y1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR950034016U (ko) | 1995-12-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4232262A (en) | Connector contact terminal contamination probe | |
JP7441478B2 (ja) | 接続装置 | |
ATE45427T1 (de) | Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet. | |
CN111707929A (zh) | 一种pga封装微波测试夹具 | |
US5038100A (en) | Microwave test fixture | |
KR960006910Y1 (ko) | 초고주파 회로시험용 회로기판 지지대 | |
KR960006912Y1 (ko) | 초고주파 회로용 회로기판 시험장치 | |
TW200728728A (en) | A test card for integrated circuit (1) | |
CN212567877U (zh) | 一种激光器测试装置 | |
CN210665818U (zh) | 一种用于半导体测试机的转接装置 | |
CN217181009U (zh) | 一种电路板一体式检测装置 | |
US4136457A (en) | Pin micrometer adapter | |
US7525299B1 (en) | Apparatus for accessing and probing the connections between a chip package and a printed circuit board | |
KR0127183Y1 (ko) | 클램프 지그 장치 | |
CN215493724U (zh) | 一种用于兼容多种老化机台测试的转接板 | |
CN219737691U (zh) | 探针卡基座结构 | |
US5519315A (en) | Printed wiring assembly coplanarity inspection fixture | |
KR200156803Y1 (ko) | 반도체 패키지 검사용 로드보드 | |
JPH0755505Y2 (ja) | インサーキットテスタ | |
CN214953780U (zh) | 一种用于插件式电阻的测试治具 | |
JPH01254872A (ja) | 電子部品実装基板の検査方法及び検査プローブ | |
KR200145194Y1 (ko) | 반도체칩 검사장치 | |
KR200293350Y1 (ko) | 측정 위치 변경이 가능한 프로브 유니트 | |
KR900000330Y1 (ko) | 전자 회로 검사를 위한 인쇄회로 기판(pcb) 고정구 | |
JPH06294841A (ja) | 回路素子検査用治具 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
REGI | Registration of establishment | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 19990731 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |