KR960006912Y1 - 초고주파 회로용 회로기판 시험장치 - Google Patents

Abstract

요약 없음

Description

초고주파 회로용 회로기판 시험장치

제1도는 종래 회로기판 시험장치의 개략적 사시도

제2도는 본 고안에 따른 회로기판 시험장치의 개략적 사시도

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 지지대11 : 도브테일 홈

20 : 회로기판30 : 가이드 판

40 : 고정대50 : 콘넥터

60 : 가압대

본 고안은 회로기판 시험장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 초고주파의 회로를 시험하기 위한 회로기판 시험장치에 관한 것이다.

일반적으로 초고주파의 신호를 검출함에 있어서는 이를 위한 각종 회로 즉, 초고주파 회로의 정확성을 미연에 측정하여 사용하고 있다.

이와 같이 초고주파 회로를 시험함에 있어서는, 기기의 각 입, 출력포트 사이에 시험용 패턴이 형성된 회로기판을 연결하여 시험가동함으로써 이를 통해 측정하고 있다.

제1도에는 종래 초고주파 회로를 측정하기 위한 회로기판 시험장치가 되시되어 있다.

이는, 그 양측면에 고정구멍(1a)이 형성된 지지대(1)를 구비한다. 이 지지대(1)의 상면에는 그 상면에 시험용 패턴(미도시)이 형성된 회로기판(2)이 안착된다. 그리고 전술한 지지대(1)의 양측면에 형성된 고정구멍(1a)으로는 기기의 입, 출력 포트(미도시)에 연결되며 그 전면에 각각 회로기판(2)의 시험용 패턴에 납땜에 의해 접촉되는 접촉핀(3a)이 마련된 콘넥터(3)가 고정 설치된다.

따라서 콘넥터(3)의 접촉핀(3a)과 회로기판(2)의 시험용 패턴을 상호 납땜을 통해 접촉시킨 상태에서 시험 가동함으로써 초고주파회로를 측정하여 왔다.

그러나 이와 같은 종래 회로기판 시험장치에 있어서는, 시험하고자 하는 초고주파 회로에 따라 각각 달리하는 회로기판의 크기에 따라 별도의 지지대를 구비하여야 하는 것이어서, 단가상승의 요인이 되었으며, 특히 콘넥터의 접촉핀과 회로기판의 패턴 상호간의 접속이 납땜에 의해 이루어 짐으로써 반복된 시험과정에서 납땜에 의해 시험용 패턴에 손상을 주는 것은 물론이고 그 작업이 매우 번거로운 문제점이 있다.

본 고안은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 회로기판의 종류에 관계없이 시험을 행할 수 있으며, 특히 회로기판의 시험용 패턴의 손상을 미연에 방지할 수 있고 특히 그 작업이 매우 간편한 회로기판 시험장치를 제공함에 그 목적이 있다.

또한 본 고안은 적어도 2포트(port) 뿐만 아니라 멀티포트(multi-port) 회로의 시험도 용이하게 행할 수 있는 시험장치를 제공함에 그 목적이 있다.

이와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 고안에 따른 회로기판 시험장치는, 그 상면에 서로 직교되는 방향으로 도브테일 홈이 형성된 지지대 ; 상기 지지대의 상부에 안착되며 그 상면에 시험용 패턴이 다수 형성된 회로기판 ; 상기 지지대의 서로 직교되는 방향으로 형성된 도브테일 홈에 슬라이딩 가능하게 삽입되는 가이드 판 ; 상기 가이드 판으로부터 상방으로 소정길이 돌출 형성되며 그 상, 하 양단부에 상, 하부 고정턱이 형성되고 상기 하부 고정턱과 인접된 부위에는 상기 회로기판의 시험용 패턴과 접촉되는 접촉핀이 연장 형성된 콘넥터가 고정 설치되는 고정대 ; 상기 고정대의 상, 하부 고정턱 사이에 위치되며 그 일측단에 상기 콘텍터의 접촉핀과 접촉되는 가압핀이 연장 형성된 가압대 ; 상기 상, 하부 고정턱 사이에 개재되며 상기 가압대의 가압핀을 회로기판을 향해 가압하는 스프링 ; 을 포함하여 된 것을 그 특징으로 한다.

이와 같은 본 고안의 구성에 따른 특징 및 그 작용효과는 후술하는 첨부된 도면을 참조한 상세한 설명을 통해 더욱 명확해질 것이다.

제2도에서 본 고안에 따른 회로기판 시험장치는, 그 상면에 서로 직교되는 방향으로 도브테일 홈(11)이 형성된 지지대(10)를 구비한다.

지지대(10)의 상부에는 그 상면에 시험용 패턴(미도시)이 다수 형성된 회로기판(20)이 안착된다.

지지대(10)의 서로 직교되는 방향으로 형성된 도브테일 홈(11)에는 가이드 판(30)이 슬라이딩 가능하게 삽입된다. 이때 가이드 판(30)의 크기는 도시된 바와 같이 도브 테일 홈(11)의 내측을 향해 길게 연장 형성됨이 바람직한 것이다. 이는, 가이드 판(30)이 도브테일 홈(11)을 따라 슬라이딩 이송되는 과정에서 도브테일 홈(11)에 대해 좌, 우 및 상, 하 방향으로의 유동을 최소화 하기 위해서이다.

한편, 전술한 가이드 판(30)의 중심부위로부터는 그 상부를 향하여 즉, 지지대(10)의 상부로 돌출되는 고정대(40)가 연장 형성된다. 이 고정대(40)의 상, 하 양단부위에는 상, 하부 고정턱(41, 42)이 소정길이 연장 형성되며 특히 하부 고정턱(42)과 인접된 일측에는 기기의 입, 출력 포트(미도시)와 연결되는 콘넥터(50)가 고정설치된다.

이때 콘넥터(50)의 전면에는 지지대(10)에 안착된 회로기판(20)의 시험용 패턴과 후술하는 가압핀(61)에 의해 접촉되는 접촉핀(51)이 마련된다.

전술한 고정대(40)의 상, 하부 고정턱(41, 42) 사이에는 그 일측단이 콘넥터(50)의 전면에 돌출 형성된 접촉핀(51)의 상면과 접촉되는 가압핀(61)이 마련된 가압대(60)가 위치되며, 특히 이 가압대(60)는 상, 하부 고정턱(41, 42) 사이에 개재된 스프링(70)에 의해 하방으로 탄성 지지되어 있어 전술한 가압핀(61)이 접촉핀(51)과 접촉된채 회로기판(20)을 향해 가압하게 된다.

이때 바람직하게는 시험도중 신호의 누설방지를 위하여 가압핀(61)의 재질은 절연성 물질로 형성함이 바람직할 것이다.

이와 같이 구성된 본 고안은, 먼저 시험하고자 하는 회로기판(20)을 지지대(10)의 상부에 안착시킨다. 그리고 시험하고자 하는 회로기판(20)의 패턴 위치에 대응되는 지지대(10)에 형성된 도브테일 홈(11)을 따라 가이드 판(30)을 이송시키게 되면, 이 가이드 판(30)의 상부로 돌출 형성된 고정대(40)가 동시에 이송되게 되고 따라서 이 고정대(40)의 하부에 고정 설치된 콘넥터(50)의 접촉핀(51)이 회로기판(20)의 시험용 패턴과 인접된 위치에 위치되게 된다. 이때 접촉핀(51)은 가압대(60)의 일단에 마련된 가압핀(61)에 의해 하방으로 탄성지지됨으로써 결과적으로 접촉핀(51)은 회로기판(20)의 시험용 패턴과 접촉되게 된다.

이때 지지대(10)의 상부에는 서로 교착되는 도브테일 홈(11)이 형성되어 있어 적어도 4곳에 형성된 회로기판(20)의 시험용 패턴을 동시에 시험할 수 있다.

또한 가이드 판(30)과 콘넥터(50)가 고정 설치된 고정대(40) 및 가압대(60)가 가이드판(30)이 도브테일홈(11)을 따라 이송되는 것과 동시에의 이송됨으로써 결과적으로 시험하고자 하는 회로기판(20)의 크기에 관계없이 용이하게 시험할 수 있는 이점이 있다.

상술한 바와 같이 본 고안에 따른 초고주파 회로용 회로기판 시험장치에 의하면, 그 시험이 매우 용이하고 특히 회로기판의 크기에 관계없이 용이하게 측정할 수 있는 이점이 있다. 또한 종래와 같이 회로기판의 패턴과 콘넥터의 접촉핀을 상호 납땜에 의해 접촉시키지 않는 것이어서 반복된 시험에 의해서도 회로기판의 패턴에 손상이 가해지는 것을 미연에 방지할 수 있다.

Claims (1)

1. 그 상면에 서로 직교되는 방향으로 도브테일 홈이 형성된 지지대 ;

   상기 지지대의 상부에 안착되며 그 상면에 시험용 패턴이 다수 형성된 회로기판 ;

   상기 지지대의 서로 직교되는 방향으로 형성된 도브테일 홈에 슬라이딩 가능하게 삽입되는 가이드 판 ;

   상기 가이드 판으로부터 상방으로 소정길이 돌출 형성되며 그 상, 하 양단부에 상, 하부 고정턱이 형성되고 상기 하부 고정턱과 인접된 부위에는 상기 회로기판의 시험용 패턴과 접촉되는 접촉핀이 연장 형성된 콘넥터가 고정 설치되는 고정대 ;

   상기 고정대의 상, 하부 고정턱 사이에 위치되며 그 일측단에 상기 콘넥터의 접촉핀과 접촉되는 가압핀이 연장 형성된 가압대 ;

   상기 상, 하부 고정턱 사이에 개재되어 상기 가압대의 가압핀을 회로기판을 향해 가압하는 스프링 ; 을 포함하여 된 것을 특징으로하는 초고주파 회로 측정용 회로기판 시험장치