KR0139952Y1 - 회로기판 검사장치 - Google Patents

Abstract

검사대상인 회로기판이 안착되는 픽스쳐의 교환작업이 수월하도록 그 구조가 개선된 회로기판 검사장치에 대해 개시한다. 이 검사장치는 픽스쳐(50)를 공급라인(100)으로부터 이탈시켜서 교환작업이 이루어지도록 하는 바, 픽스쳐(50)와 함께 이동되는 이동블럭(60)을 구비한다. 이 이동블럭(60)은 가이드레일(65)(66)을 따라 슬라이딩 이동이 가능하다.

Description

회로기판 검사장치

제1도는 종래 회로기판 검상장치를 나타낸 개략도.

제2도는 본 고안에 따른 회로기판 검사장치를 나타낸 개략도.

제3도는 본 고안에 따른 회로기판 검사장치를 나타낸 사시도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

50 : 픽스쳐 60 : 이동블럭

61, 62 : 지지대 65, 66 : 가이드레일

70 : 콘넥터

본 고안은 회로기판 검사장치에 관한 것으로서, 특히 검사대상 회로기판이 안착되는 지그(jig)인 픽스쳐(fixture)의 교환이 수월하도록 그 구조가 개선된 회로기판 검사장치에 관한 것이다.

통상 전자제품 등에 채용되는 회로기판은 전자부품이 조립완성된 후 제품에 채용되기 전에 그 성능 테스트가 요구된다. 이러한 회로기판의 성능 테스트를 위한 회로기판 검사장치가 제1도에 개략적으로 도시되어 있다.

이 검사장치는 회로기판이 자동적으로 공급되는 공급라인(20)의 하부에 공급된 회로기판(미도시)이 안착되는 픽스쳐(30)가 위치되는 바, 이 픽스쳐(30)는 베이스(10)에 형성된 가이드핀(11)에 결합되어 고정된다. 그리고 픽스쳐(30)의 배면측에는 전원 접속을 위한 콘넥터(40)가 결합되어진다.

그런데, 상기와 같은 구성의 회로기판 검사장치는 다음과 같은 문제점을 가진다. 크기가 다른 회로기판을 검사하고자 할시에는 상기한 픽스쳐(30)를 검사대상 회로기판과 대응된 크기의 픽스쳐(30)로 교환되어야 하는 바, 이와 같이 픽스쳐(30)를 교환시에 픽스쳐(30)를 상부로 들어올려서 베이스(10)로부터 분리해내어야 한다. 이 경우 픽스쳐(30)는 회로기판 공급라인(20)과 간섭됨으로써 그 분리작업이 번거롭게 된다. 또한, 픽스쳐(30)에 콘넥터(40)의 접속이 후방측에서 이루어지므로 작업이 번거롭게 된다.

본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 검사대상 회로기판에 대응되는 크기의 픽스쳐로 교환이 용이하도록 그 구조가 개선된 회로기판 검사장치를 제공하는 데 그 목적이 있는 것이다.

상기 목적을 달성하는 본 고안은 공급라인으로부터 공급된 회로기판이 안착되는 픽스쳐와, 상기 픽스쳐에 테스트용 회로기판과 전기적으로 접속시키는 콘넥터를 구비하는 회로기판 검사장치에 있어서, 상기 공급라인의 이동방향과 교차하는 방향으로 설치되는 복수의 가이드레일과; 상기 픽스쳐가 지지되며, 그 저면에 상기 가이드레일이 슬라이딩 가능하게 결합되는 가이드홈이 형성된 이동블럭; 을 포함한 이동수단을 더 구비하여 픽스쳐를 교체하는 경우, 상기 픽스쳐를 상기 공급라인으로부터 이탈시킬 수 있도록 된 것을 특징으로 한다.

그리고 상기 이동블럭에는 상기 콘넥터가 진입되는 개구가 형성되고, 그 개구를 통해 상기 콘넥터가 상기 픽스쳐의 저면에 접속되도록 되는 것이 바람직하다.

상기와 같은 본 고안의 특징에 따르면, 본 고안에 따른 검사장치는 검사 대상인 회로기판이 안착되기 적합한 픽스쳐를 교환시에 상기 이동수단에 의해서 픽스쳐를 공급라인으로부터 이탈시켜서 교환할 수 있게 되므로 그 교환작업이 공급라인과 간섭없이 간편하게 교환할 수 있는 이점을 가진다.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 고안에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.

본 고안에 따른 회로기판 검사장치를 개략적인 분리사시도 및 그 결합사시도를 나타낸 제2도 및 제3도를 참조하면, 검사대상인 회로기판(미도시)이 공급되는 공급라인(100)의 하부에는 공급된 회로기판이 안착되는 픽스쳐(50)가 마련되어 있다. 상기 픽스쳐(50)는 소정의 이동수단에 의해서 상기 공급라인(100)으로부터 이탈될 수 있도록 되어 있다. 여기서, 상기 공급라인(100)은 검사대상 회로기판의 양측을 가이드하여 상기 회로기판을 공급하므로, 공급된 검사대상 회로기판이 상기 픽스쳐에 안착시 상기 공급라인이 간섭하지 않는다. 상기 공급라인의 구성은 널리 알려져 있으므로 그 자세한 설명은 생략한다.

상기 이동수단은 상기 공급라인(100)의 이동방향과 교차하는 방향으로 설치되는 복수의 가이드레일(65)(66)과, 상기 픽스쳐(50)가 지지되며 그 저면에 상기 가이드레일(65)(66)이 슬라이딩 가능하게 결합되는 가이드홈(60a)(60b)이 형성된 이동블럭(60)을 설치하여 된 구조를 가진다. 여기서 상기 이동블럭(60)에는 상기 픽스쳐(50)가 지지되는 지지대(61)(62)가 설치되어 있고, 그 지지대(61)(62)에는 픽스쳐(50)의 결합공(51)(52)이 결합되는 결합핀(63)(64)이 형성되어 있다.

한편, 상기 이동블럭(60)에는 콘넥터(70)가 진입되는 개구(67)가 형성되어 있고, 상기 콘넥터(70)는 그 개구(67)를 통해 상기 픽스쳐(50)의 저면에 접속될 수 있도록 되어 있다. 상기 콘넥터(70)에는 픽스쳐(50)와 접속되는 단자(71)가 형성되어 있으며, 픽스쳐(50)와의 접속상태를 안정하게 유지시키기 위한 클램퍼(73)(74)가 마련되어 있다. 그리고 콘넥터(70)에는 가이드핀(72)이 형성되어 있고, 상기 픽스쳐(50)에는 그 가이드핀(72)이 슬라이딩 결합될 수 있는 가이드홈(53)이 형성되어 있다. 상기 가이드핀(72)이 상기 가이드홈(53)에 진입됨으로써 상기 콘넥터(70)가 픽스쳐(50)로부터 낙하되지 않도록 되어 있다.

상기와 같은 구성을 가지는 본 고안에 따른 회로기판 검사장치는 다음과 같은 작용효과를 가진다.

상기한 공급라인(100)에 탑재한 채로 검사 대상인 회로기판이 이송되어서 상기 픽스쳐(50)에 안착되면, 그 픽스쳐(50)에 접속된 콘넥터(70)를 통해 시그널이 입력되어 그 회로기판의 성능을 테스트하게 된다. 한편, 크기가 다른 회로기판을 검사하고자 할 때에는 그 검사 대상인 회로기판에 적합한 픽스쳐(50)로 교환하여야 하는 바, 이 경우 상기 이동블럭(60)을 가이드레일(65)(66)에 슬라이딩 이동시켜서 교환하고자 하는 픽스쳐(50)를 공급라인(100)으로부터 이탈시킨다. 이어서, 픽스쳐(50)를 상부로 들어올려서 이동블럭(60)으로부터 분리해낸 후 다른 픽스쳐로 교환한다. 그리고 이동블럭(60)을 가이드레일(65)(66)에 슬라이딩 이동시켜서 검사위치로 픽스쳐(50)을 이동시킨다. 한편, 콘넥터(70)의 착탈은 상기 픽스쳐(50)을 공급라인(100)으로부터 이탈시켰을 때 클램퍼(73)(74)를 해제시키고 가이드핀(72)을 가이드홈(53)으로부터 분리시켜서 착탈시킨다. 이때 콘넥터(70)는 이동블럭(60)의 개구(67)를 통하여 수월하게 착탈시킬 수 있게 된다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 고안에 따른 회로기판 검사장치는 검사대상인 회로기판의 크기에 대응되는 픽스쳐(50)로 교환하고자 하는 경우, 상기 픽스쳐(50)를 지지하는 이동블럭(60)을 가이드레일(65)(66)을 통해 이동시킴에 의해 상기 픽스쳐(50)를 공급라인(100)으로부터 이탈시킨 상태에서 교환작업을 수행할 수 있으므로, 작업성을 향상시킬 수 있다.

Claims (3)

1. 공급라인(100)으로부터 공급된 회로기판이 안착되는 픽스쳐(50)와, 상기 픽스쳐(50)에 테스트용 회로기판과 전기적으로 접속시키는 콘텍터(70)를 구비하는 회로기판 검사장치에 있어서, 상기 공급라인(100)의 이동방향과 교차하는 방향으로 설치되는 복수의 가이드레일(65)(66)과; 상기 픽스쳐(50)가 지지되며, 그 저면에 상기 가이드레일(65)(66)이 슬라이딩 가능하게 결합되는 가이드홈(53)이 형성된 이동블럭(60); 을 포함한 이동수단을 더 구비하여 픽스쳐(50)를 교체하는 경우, 상기 픽스쳐(50)를 상기 공급라인으로부터 이탈시킬 수 있도로 된 것을 특징으로 하는 회로기판 검사장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 이동블럭(60)에는 상기 콘넥터(70)가 진입되는 개구(67)가 형성되고, 상기 개구(67)를 통해 상기 콘넥터(70)가 상기 픽스쳐(50)의 저면에 접속되도록 된 것을 특징으로 하는 회로기판 검사장치.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 콘넥터(70)를 상기 픽스쳐(50)에 클램핑시키는 클램퍼(73)(74)가 더 구비된 것을 특징으로 하는 회로기판 검사장치.