KR101979903B1 - 패널 검사용 가이드 어셈블리 및 이를 포함하는 트레이 - Google Patents

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Abstract

가이드 어셈블리는 탑가이드, 바텀가이드 및 슬라이드 가이드를 포함한다. 상기 탑가이드는 프레임 형상을 갖는다. 상기 바텀가이드는 상기 탑가이드와 동일한 프레임 형상을 가지며, 상면이 상기 탑가이드의 하면과 결합하여 패널의 측면들을 둘러싸고, 상기 탑가이드와 결합하여 상부에 개구부를 형성한다. 상기 슬라이드 가이드는 상기 패널의 하부에 배치되어 상기 패널을 지지하며, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 내면에 형성된 홈을 따라서 미끄러진다. 따라서 패널의 불량이 감소한다.

Description

패널 검사용 가이드 어셈블리 및 이를 포함하는 트레이{GUIDE FOR INSPECTING PANEL AND TRAY HAVING THE SAME}
본 발명은 패널 검사용 가이드 어셈블리 및 이를 포함하는 트레이에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 패널 검사중 손이 패널에 터치되지 않는 패널 검사용 가이드 어셈블리 및 이를 포함하여 불량률을 감소시키는 트레이에 관한 것이다
평판표시장치는 적은 소비전력, 얇은 두께, 작은 크기 등으로 인하여 널리 사용되고 있다. 상기 평판표시장치는 얇은 두께의 패널, 이에 신호를 인가하는 회로들, 모듈, 케이스 등을 포함한다. 상기 평판표시장치가 완전히 조립된 이후에 상기 패널의 불량이 발견되는 경우, 패널을 제외한 나머지 부품들까지 폐기되는 문제가 생긴다. 따라서 상기 패널은 상기 평판표시장치를 조립하기 전에 불량이 없는지 검사된다.
상기 패널의 크기가 작은 경우 육안으로는 완벽하게 검사할 수 없기 때문에, 검사용 지그를 이용하여 검사한다. 상기 패널을 상기 검사용 지그로 이동하기 위해서는 손가락이나 집게 등을 이용하여 상기 패널을 이동시킨다. 그러나 상기 패널의 두께가 점차 얇아지면서 상기 패널의 이동과정에서 패널이 휘어지거나 깨지는 불량이 발생한다. 특히 상기 패널의 크기가 작으면 진공척 등의 자동화 패널 이송장비의 사용이 제한되기 때문에 검사과정 자체로 인하여 패널의 수율이 저하되고 있다.
본 발명의 일 목적은 패널 검사중 손이 패널에 터치되지 않는 패널 검사용 가이드 어셈블리을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 패널 검사용 가이드 어셈블리를 포함하여 불량률을 감소시키는 트레이를 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제가 상술한 과제들에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
상술한 본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 가이드 어셈블리는 탑가이드, 바텀가이드 및 슬라이드 가이드를 포함한다. 상기 탑가이드는 프레임 형상을 갖는다. 상기 바텀가이드는 상기 탑가이드와 동일한 프레임 형상을 가지며, 상면이 상기 탑가이드의 하면과 결합하여 패널의 측면들을 둘러싸고, 상기 탑가이드와 결합하여 상부에 개구부를 형성한다. 상기 슬라이드 가이드는 상기 패널의 하부에 배치되어 상기 패널을 지지하며, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 내면에 형성된 홈을 따라서 미끄러진다. 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 하부에 상기 패널의 하부에 연결되는 연성회로기판이 인출되는 인출부가 형성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 개구부는 슬릿 모양일 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드는 관통 핀에 의해 결합될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드는 일체로 형성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 내측 코너에는 상기 패널의 각 코너에 대응되는 보호홀이 형성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 슬라이드 가이드는 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 사이에서 세로방향으로만 미끄러질 수 있다.
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예시적인 실시예들에 있어서, 상기 슬라이드 가이드의 상면에 걸림턱이 형성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 탑가이드의 상부 중 상기 개구부에는 상기 걸림턱에 대응되는 가이드홈이 형성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 슬라이드 가이드가 완전히 인출되면, 상기 슬라이드 가이드는 상기 탑가이드 및 상기 바텀가이드로부터 분리될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 슬라이드 가이드의 하부에 이탈방지턱이 형성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 슬라이드 가이드가 완전히 당겨지더라도, 상기 슬라이드 가이드는 상기 탑가이드 및 상기 바텀가이드로부터 분리되지 않을 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 평면상에서 보았을 때 상기 바텀가이드의 내면은 상기 패널의 외곽보다 클 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 슬라이드 가이드가 완전히 인출되는 경우, 상기 패널은 자중에 의해 상기 바텀가이드의 하부로 낙하할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 낙하된 패널은 검사용 지그 상에 배치될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 탑가이드의 내면에 배치되어 상기 패널이 상기 탑가이드 쪽으로 이탈하는 것을 방지하는 완충부를 더 포함할 수 있다.
상술한 본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 다른 예시적인 실시예들에 따른 가이드 어셈블리는 복수개의 가이드 수납부들을 포함하고 상기 각 가이드 수납부에는 가이드 어셈블리가 수납된다. 상기 가이드 어셈블리는 탑가이드, 바텀가이드 및 슬라이드 가이드를 포함한다. 상기 탑가이드는 프레임 형상을 갖는다. 상기 바텀가이드는 상기 탑가이드와 동일한 프레임 형상을 가지며, 상면이 상기 탑가이드의 하면과 결합하여 패널의 측면들을 둘러싸고, 상기 탑가이드와 결합하여 상부에 개구부를 형성한다. 상기 슬라이드 가이드는 상기 패널의 하부에 배치되어 상기 패널을 지지하며, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 내면에 형성된 홈을 따라서 미끄러진다. 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 하부에 상기 패널의 하부에 연결되는 연성회로기판이 인출되는 인출부가 형성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 각 가이드 수납부의 양 측면에 상기 가이드 어셈블리를 집기 위한 그립 리세스가 형성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 각 가이드 수납부의 하부에는 상기 패널에 연결된 상기 연성회로기판이 수납되는 연성회로기판 수납부가 형성될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 연성회로기판의 하부에는 회로기판이 연결되고, 상기 연성회로기판 수납부에 상기 회로기판이 더 수납될 수 있다.
본 발명의 예시적인 실시예들에 따르면, 패널을 이동하는 과정에서 패널을 가이드 어셈블리에 수납시킨다. 검사자는 패널을 직접 터치하지 않고 가이드 어셈블리만을 터치함으로써 패널을 트레이에서 지그(Jig)로 이동시킬 수 있다. 따라서 패널의 터치에 의한 휨, 크렉 등의 불량이 감소하고 수율이 향상된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 트레이를 나타내는 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 가이드 어셈블리 및 가이드 어셈블리에 수납된 패널을 나타내는 사시도이다.
도 3은 도 1에 도시된 가이드 어셈블리 및 가이드 어셈블리에 수납된 패널을 나타내는 평면도이다.
도 4는 도 1에 도시된 가이드 어셈블리를 나타내는 평면도이다.
도 5a는 도 4에 도시된 가이드 어셈블리를 나타내는 측면도이다.
도 5b는 도 4에 도시된 가이드 어셈블리를 나타내는 분해측면도이다.
도 6a 및 도 6b는 도 1에 도시된 가이드 어셈블리를 이용하여 패널을 지그에 안착시키는 방법을 나타내는 사시도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 가이드 어셈블리를 나타내는 분해 측면도이다.
도 8a 내지 도 8e는 도 7에 도시된 가이드 어셈블리를 이용하여 패널을 검사하는 방법을 나타내는 평면도이다.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 가이드 어셈블리를 나타내는 사시도이다.
이하, 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 도너 기판 및 도너 기판을 이용한 유기 발광 표시 장치의 제조 방법에 대하여 첨부된 도면들을 참조하여 상세하게 설명하지만, 본 발명이 하기 실시예들에 의해 제한되는 것은 아니며, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양한 다른 형태로 구현할 수 있을 것이다.
본 명세서에 있어서, 특정한 구조적 내지 기능적 설명들은 단지 본 발명의 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이며, 본 발명의 실시예들은 다양한 형태로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시예들에 한정되는 것으로 해석되지 않으며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "연결되어" 있다거나 "접촉되어"있다고 기재된 경우, 다른 구성 요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접촉되어 있을 수도 있지만, 중간에 또 다른 구성 요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 또한, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접촉되어"있다고 기재된 경우에는, 중간에 또 다른 구성 요소가 존재하지 않는 것으로 이해될 수 있다. 구성 요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 예를 들면, "~사이에"와 "직접 ~사이에" 또는 "~에 인접하는"과 "~에 직접 인접하는" 등도 마찬가지로 해석될 수 있다.
본 명세서에서 사용되는 용어는 단지 예시적인 실시예들을 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도는 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다", "구비하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 실시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지는 않는다.
제1, 제2 및 제3 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 이러한 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되는 것은 아니다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로 사용된다. 예를 들면, 본 발명의 권리 범위로부터 벗어나지 않고, 제1 구성 요소가 제2 또는 제3 구성 요소 등으로 명명될 수 있으며, 유사하게 제2 또는 제3 구성 요소도 교호적으로 명명될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 트레이를 나타내는 평면도이다.
도 1을 참조하면, 상기 트레이(100)는 복수개의 가이드 수납부들(112)을 포함한다. 본 실시예에서, 상기 트레이(100)는 복수개의 가이드 수납부들(112)을 포함하고 있으나, 다른 실시예로서 상기 트레이(100)는 하나의 가이드 수납부만을 포함할 수도 있다. 상기 트레이(100)는 플라스틱, 금속 등의 휘어지지 않는 물질을 포함한다. 상기 트레이(100)가 휘어지는 경우 가이드 어셈블리(200)가 상기 트레이(100)로부터 이탈될 수도 있다.
이때, 상기 각 가이드 수납부(112)의 양 측면에 상기 가이드 어셈블리(200)를 집기 위한 그립 리세스(114)가 형성될 수 있다. 상기 그립 리세스(114)는 상기 각 가이드 수납부(112)의 양측면에 형성되어 손가락 또는 집게(도시되지 않음)의 양단부를 수납한다. 손가락 또는 집게를 상기 그립 리세스(114)에 집어넣은 후에 상기 가이드 어셈블리(200)를 그립하여 상기 가이드 수납부(112)로부터 상기 가이드 어셈블리(200)를 용이하게 이탈시킬 수 있다.
본 실시예에서, 상기 가이드 수납부(112)의 하부에는 패널(10)에 연결된 연성회로기판(Flexible Printed Circuit; FPC, 12) 및 상기 연성회로기판(12)에 연결된 회로기판(14)이 수납되는 연성회로기판 수납부(116)이 형성된다. 상기 연성회포기판 수납부(116)는 상기 연성회로기판(12) 및 상기 회로기판(14)을 수납하여 이송중 상기 연성회로기판(12) 및 상기 회로기판(14)이 상기 패널(10)로부터 분리되는 것을 방지한다.
상기 가이드 어셈블리(200)는 상기 트레이(100)의 상기 가이드 수납부(112) 내에 수납된다.
도 2는 도 1에 도시된 가이드 어셈블리 및 가이드 어셈블리에 수납된 패널을 나타내는 사시도이고, 도 3은 도 1에 도시된 가이드 어셈블리 및 가이드 어셈블리에 수납된 패널을 나타내는 평면도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 상기 가이드 어셈블리(200)는 상기 패널(10)을 수납한다.
상기 가이드 어셈블리(200)는 탑가이드(210), 바텀가이드(220) 및 슬라이드 가이드(230)를 포함한다. 상기 탑가이드(210), 상기 바텀가이드(220) 및 상기 슬라이드 가이드(230)는 플라스틱, 금속 등의 휘어지지 않는 고체를 포함한다. 상기 가이드 어셈블리(200)의 상기 탑가이드(210), 상기 바텀가이드(220) 및 상기 슬라이드 가이드(230)가 연성이 높은 물질을 포함하는 경우, 상기 가이드 어셈블리(200)에 안착된 패널(10)이 휘어져서 깨지는 불량이 발생할 수 있다.
상기 탑가이드(210)는 상기 바텀가이드(220)와 결합된다. 본 실시예에서, 상기 탑가이드(210) 및 상기 바텀가이드(220)는 동일한 프레임 형상을 갖는다. 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 상부에는 개구부가 형성되어 상기 슬라이드 가이드(230)를 수납한다. 예를 들어 상기 개구부는 슬릿 모양을 가질 수 있다. 본 실시예에서 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)는 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)를 관통하는 관통 핀(202)을 이용하여 결합된다. 다른 실시예로서 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)가 일체로 형성될 수도 있다.
상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 내측 코너에는 보호홀(250)이 형성된다. 상기 보호홀(250)은 상기 패널(10)의 각 코너에 대응된다. 상기 보호홀(250)은 상기 패널(10)의 코너보다 바깥쪽으로 후퇴되어 있다. 따라서 상기 패널(10)의 코너가 상기 탑가이드(210) 또는 상기 바텀가이드(220)의 내측면과 마찰하여 깨지는 불량이 방지된다.
본 실시예에서, 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 하부에는 연성회로기판 인출부(260)가 형성된다. 상기 패널(10)의 하부에 부착된 연성회로기판(12) 및 회로기판(14)은 상기 연성회로기판 인출부(260)를 통하여 상기 가이드 어셈블리(200)의 외부로 인출된다. 상기 가이드 어셈블리(200)의 외부로 인출된 상기 연성회로기판(12) 및 상기 회로기판(14)은 상기 트레이(100)의 상기 연성회로기판 수납부(116)에 안착된다.
평면상에서 보았을 때 상기 바텀가이드(220)의 내면은 상기 패널(10)의 외곽보다 크다. 따라서 상기 슬라이드 가이드(230)가 완전히 인출되는 경우, 상기 패널(10)은 자중에 의해 상기 바텀가이드(220)의 하부로 낙하한다.
상기 슬라이드 가이드(230)는 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 상부에 형성된 개구부를 슬라이드하여 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 내부로 수납된다. 상기 슬라이드 가이드(230)의 측면은 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 내면에 형성된 홈을 통하여 슬라이딩된다. 따라서 상기 슬라이드 가이드(230)는 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 수직방향으로만 이동된다.
본 실시예에서 상기 슬라이드 가이드(230)의 상면에는 걸림턱(232)이 형성되고, 상기 탑가이드(210)의 상부 중 상기 개구부에는 가이드홈(212)이 형성된다. 상기 슬라이드 가이드(230)가 부정확한 위치로 미끌어지는 경우 상기 걸림턱(232)은 상기 탑가이드(210)의 상부에 걸리게 된다. 이때 상기 슬라이드 가이드(230)를 정확한 위치로 잡아당기는 경우에만 상기 걸림턱(232)이 상기 가이드홈(212)을 통과할 수 있다. 따라서 상기 걸림턱(232) 및 상기 가이드홈(212)에 의해, 상기 패널(10)이 이동중 상기 바텀가이드(220)의 하부로 빠지는 것이 방지된다.
예를 들어, 상기 슬라이드 가이드(230)의 상부에는 손가락으로 잡을 수 있도록 돌출된다.
본 실시예에서 상기 탑가이드(210)의 내면에는 완충부(240)가 형성된다. 상기 완충부(240)는 상기 패널(10)이 상기 탑가이드(210) 쪽으로 이탈하는 것을 방지하고 이동중 충격으로부터 상기 패널(10)을 보호한다. 상기 완충부(240)는 실리콘, 고무, 우레탄 등의 충격을 흡수하는 소재를 포함한다.
상기 패널(10)은 상기 슬라이드 가이드(230)의 상면에 배치된다. 본 실시예에서 상기 패널(10)의 하면은 상기 슬라이드 가이드(230)의 상면 상에 안착된다. 상기 패널(10)의 측면은 상기 탑가이드(210) 및 상기 바텀가이드(220)의 내면에 의해 고정된다. 상기 패널(10)의 상면 중 가장자리 부분은 상기 완충부(240)의 하면 또는 상기 탑가이드(210)의 홈에 의해 고정된다.
도 4는 도 1에 도시된 가이드 어셈블리를 나타내는 평면도이고, 도 5a는 도 4에 도시된 가이드 어셈블리를 나타내는 측면도이며, 도 5b는 도 4에 도시된 가이드 어셈블리를 나타내는 분해측면도이다.
도 4 내지 도 5b를 참조하면, 상기 탑가이드(210)의 하면은 상기 바텀가이드(220)의 상면과 수직방향으로 결합한다. 상기 슬라이드 가이드(230)는 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 사이에 배치되어 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 사이를 미끄러진다.
도 6a 및 도 6b는 도 1에 도시된 가이드 어셈블리를 이용하여 패널을 지그에 안착시키는 방법을 나타내는 사시도이다.
도 6a를 참조하면, 상기 패널(10)을 상기 지그(50) 상에 안착하기 위하여, 먼저 상기 패널(10)이 안착된 상기 가이드 어셈블리(200)를 상기 지그(50) 상에 배치한다.
이어서 상기 가이드 어셈블리(200)의 상부로부터 상기 슬라이드 가이드(230)를 인출한다. 상기 슬라이드 가이드(230)가 인출되는 동안, 상기 패널(10)의 상부 측면은 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 내측 상부에 걸려서 이동하지 않는다. 따라서 상기 패널(10)은 상기 슬라이드 가이드(230)의 상면을 미끄러진다.
상기 슬라이드 가이드(230)가 계속하여 이동하여 상기 패널(10)로부터 이탈되면, 상기 패널(10)은 중력에 의해 상기 바텀가이드(220)의 하부로 낙하한다. 이때 상기 바텀가이드(220)의 높이가 낮기 때문에 상기 패널(10)이 상기 바텀가이드(220)의 하부로 낙하하더라도 상기 패널(10)은 손상되지 않는다.
상기 패널(10)이 상기 바텀가이드(220)의 하부로 낙하하여 상기 지그(50)의 상면에 배치된 이후, 상기 탑가이드(210) 및 상기 바텀가이드(220)는 상기 지그(50)로부터 이탈된다.
따라서 상기 패널(10)은 상기 지그(50) 상에 잔류한다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 가이드 어셈블리를 나타내는 분해 측면도이다. 본 실시예에서, 도 1 내지 도 5에 도시된 구성요소와 동일한 구성요소에 대한 중복되는 설명은 생략한다.
도 7을 참조하면, 상기 가이드 어셈블리(200')는 상기 패널(도 1의 10)을 수납한다.
상기 가이드 어셈블리(200')는 탑가이드(210), 바텀가이드(220) 및 슬라이드 가이드(230')를 포함한다.
상기 탑가이드(210)는 상기 바텀가이드(220)와 결합된다. 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 상부에는 개구부가 형성되어 상기 슬라이드 가이드(230')를 수납한다.
상기 슬라이드 가이드(230')는 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 상부에 형성된 개구부를 슬라이드하여 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 내부로 수납된다. 상기 슬라이드 가이드(230')의 측면은 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 내면에 형성된 홈을 통하여 슬라이딩된다. 따라서 상기 슬라이드 가이드(230')는 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 수직방향으로만 이동된다.
본 실시예에서 상기 슬라이드 가이드(230')의 하부에는 이탈방지턱(231)이 형성된다. 상기 이탈방지턱(231)은 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)에 의해 상부에 형성된 개구부를 통과하지 못한다. 따라서 상기 슬라이드 가이드(230')가 슬라이딩되더라도 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 외측으로 이탈되지 않는다.
상기와 같은 본 실시예에 따르면, 상기 슬라이딩 가이드(230')가 상기 가이드 어셈블리(200)로부터 이탈하지 않아서 관리가 용이하다.
도 8a 내지 도 8e는 도 7에 도시된 가이드 어셈블리를 이용하여 패널을 검사하는 방법을 나타내는 평면도이다.
도 1, 7 및 도 8a를 참조하면, 검사자의 손(70) 중에서 엄지손가락과 집게손가락을 상기 그립리세스(114)에 삽입한다. 상기 엄지손가락과 상기 집게손가락을 이용하여 상기 가이드 어셈블리(200')의 양 측면을 그립한다.
이어서 상기 엄지손가락과 상기 집게손가락을 이용하여 상기 가이드 어셈블리(200')를 상기 트레이(100)로부터 이탈시킨다. 상기 트레이(100)로부터 이탈된 상기 가이드 어셈블리(200')는 상기 지그(50) 상으로 이동된다.
도 8b를 참조하면, 상기 지그(50) 상으로 이동된 상기 가이드 어셈블리(200)를 상기 지그(50) 상에 안착시킨다. 이때 상기 패널(10)에 연결된 상기 연성회로기판(12) 및 상기 연성회로기판(12)에 연결된 상기 회로기판(14)는 상기 가이드 어셈블리(200')의 외부로 돌출된다.
도 8c를 참조하면, 이후에 손을 이용하여 상기 슬라이드 가이드(230')의 상부를 잡아당겨서, 상기 가이드 어셈블리(200')로부터 상기 슬라이드 가이드(230')을 인출한다. 상기 슬라이드 가이드(230')가 상기 가이드 어셈블리(200')로부터 인출되는 동안 상기 패널(10)은 상기 슬라이드 가이드(230') 상을 미끄러진다. 상기 슬라이드 가이드(230')가 상기 패널(10)로부터 이탈하면 상기 패널(10)은 중력에 의해 상기 바텀가이드(220)의 하부로 낙하한다.
본 실시예에서 상기 슬라이드 가이드(230')는 완전히 잡아당겨지더라도 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)로부터 이탈하지 않는다. 예를 들어, 상기 슬라이드 가이드(230')의 단부에 돌기(도시되지 않음)가 형성되어 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)의 상부에 걸릴 수 있다. 상기 슬라이드 가이드(230')가 상기 탑가이드(210)와 상기 바텀가이드(220)로부터 이탈하지 않는 경우, 상기 가이드 어셈블리(200')의 보관 및 이용이 편리해진다.
도 8d를 참조하면, 이어서 상기 탑가이드(210) 및 상기 바텀가이드(220)를 상기 지그(50)로부터 이탈시킨다.
도 8e를 참조하면, 상기 가이드 어셈블리(200')가 제거되어 상기 패널(10)만이 상기 지그(50) 상에 잔류한다.
상기와 같은 본 실시예에 따르면, 상기 패널(10)을 직접 접촉하지 않고 검사할 수 있어서 불량률이 감소한다. 또한 상기 슬라이드 가이드(230')가 상기 가이드 어셈블리(200')로부터 이탈하지 않아서 관리가 용이하다.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 가이드 어셈블리를 나타내는 사시도이다. 본 실시예에서 도 1 내지 도 5의 실시예와 동일한 구성요소들에 관한 중복되는 설명은 생략한다.
도 1 및 도 9를 참조하면, 상기 가이드 어셈블리(201)는 상기 패널(10)을 수납한다.
상기 가이드 어셈블리(201)는 사이드가이드(215) 및 슬라이드 가이드(230)를 포함한다. 상기 사이드가이드(215) 및 상기 슬라이드 가이드(230)는 플라스틱, 금속 등의 휘어지지 않는 고체를 포함한다. 상기 가이드 어셈블리(200)의 상기 사이드가이드(215) 및 상기 슬라이드 가이드(230)가 연성이 높은 물질을 포함하는 경우, 상기 가이드 어셈블리(201)에 안착된 패널(10)이 휘어져서 깨지는 불량이 발생할 수 있다.
상기 사이드가이드(215)는 일체로 형성된다. 상기 사이드가이드(215)의 상부에는 개구부가 형성되어 상기 슬라이드 가이드(230)를 수납한다. 본 실시예에서 상기 사이드가이드(215)는 플라스틱을 포함하고 인젝션몰드 등을 통하여 일체로 형성된다.
상기 사이드가이드(215)의 내측 코너에는 보호홀(250)이 형성된다. 상기 보호홀(250)은 상기 패널(10)의 각 코너에 대응된다. 따라서 상기 패널(10)의 코너가 상기 사이드가이드(215)의 내측면과 마찰하여 깨지는 불량이 방지된다.
본 실시예에서, 상기 사이드가이드(215)의 하부에는 연성회로기판 인출부(260)가 형성된다. 상기 패널(10)의 하부에 부착된 연성회로기판(12) 및 회로기판(14)은 상기 연성회로기판 인출부(260)를 통하여 상기 가이드 어셈블리(201)의 외부로 인출된다. 상기 가이드 어셈블리(201)의 외부로 인출된 상기 연성회로기판(12) 및 상기 회로기판(14)은 상기 트레이(100)의 상기 연성회로기판 수납부(116)에 안착된다.
상기 슬라이드 가이드(230)는 상기 사이드가이드(215)의 상부에 형성된 개구부를 슬라이드하여 상기 사이드가이드(215)의 내부로 수납된다. 상기 슬라이드 가이드(230)의 측면은 상기 사이드가이드(215)의 내면에 형성된 홈을 통하여 슬라이딩된다. 따라서 상기 슬라이드 가이드(230)는 상기 사이드가이드(215)의 수직방향으로만 이동된다.
본 실시예에서 상기 슬라이드 가이드(230)의 상면에는 걸림턱(232)이 형성되고, 상기 사이드가이드(215)의 상부에는 가이드홈(212)이 형성된다. 상기 슬라이드 가이드(230)가 부정확한 위치로 미끌어지는 경우 상기 걸림턱(232)은 상기 사이드가이드(215)의 상부에 걸리게 된다. 이때 상기 슬라이드 가이드(230)를 정확한 위치로 잡아당기는 경우에만 상기 걸림턱(232)이 상기 가이드홈(212)을 통과할 수 있다. 따라서 상기 걸림턱(232) 및 상기 가이드홈(212)에 의해, 상기 패널(10)이 이동중 상기 바텀가이드(220)의 하부로 빠지는 것이 방지된다.
본 실시예에서 상기 사이드가이드(215)의 내면에는 완충부(240)가 형성된다. 상기 완충부(240)는 상기 패널(10)이 상기 사이드가이드(215)의 앞쪽으로 이탈하는 것을 방지하고 이동중 충격으로부터 상기 패널(10)을 보호한다.
상기 패널(10)은 상기 슬라이드 가이드(230)의 상면에 배치된다. 본 실시예에서 상기 패널(10)의 하면은 상기 슬라이드 가이드(230)의 상면 상에 안착된다. 상기 패널(10)의 측면은 상기 사이드가이드(215)의 내면에 의해 고정된다. 상기 패널(10)의 상면 중 가장자리 부분은 상기 완충부(240)의 하면 또는 상기 사이드가이드(215)의 홈에 의해 고정된다.
상기와 같은 본 실시예에 따르면, 탑가이드와 바텀가이드가 일체로 형성된 상기 사이드 가이드(215)로 대체된다. 따라서 상기 가이드 어셈블리(200')의 부품수가 감소하여 조립성이 향상된다.
본 발명에 따른 가이드 어셈블리 및 이를 수납하는 트레이의 효과를 검사하기 위하여 패널의 크랙(Crack) 발생을 다음과 같은 실험예들을 통하여 검사하였다. 크랙의 발생여부는 현미경을 통하여 검사하였다.
실험예 1
초기에 아무런 이동이 가해지지 않은 패널을 검사하여 크랙이 없는 패널을 준비했다.
이어서 도 3을 참조하여 상기 패널(10)을 상기 가이드 어셈블리(200)에 수납하였다. 이후에 도 1을 참조하여 상기 가이드 어셈블리(200)를 상기 트레이(100)의 가이드 수납부(112)에 수납하였다.
이어서 도 1 및 도 7a를 참조하여 상기 가이드 어셈블리(200)를 상기 트레이(100)로부터 이탈시켰다.
이후에 도 7b를 참조하여 상기 가이드 어셈블리(200)를 지그(50) 상에 배치하였다.
이어서 도 7c를 참조하여 상기 가이드 어셈블리(200)로부터 슬라이드 가이드(230)를 잡아당겨 상기 패널(10)을 상기 지그(50)상에 낙하시켰다.
이후에 도 7d를 참조하여 상기 가이드 어셈블리(200)를 상기 지그(50)로부터 이탈시켰다.
따라서 도 7e와 같이 패널(10)이 상기 지그(50) 상에 안착되었다.
계속하여 위 과정을 10회 반복하였다.
검사결과 상기 패널(10)에 아무런 크랙이 발생하지 않았다.
실험예 2
본 실험예 2는 실험예 1과 동일하되 다만 반복횟수를 30회로 증가시켰다. 실험결과 아무런 크랙이 발생하지 않았다.
상술한 바에 있어서, 본 발명의 예시적인 실시예들을 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되지 않으며 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 다음에 기재하는 특허 청구 범위의 개념과 범위를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변경 및 변형이 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
본 발명의 예시적인 실시예들에 따르면, 검사를 위해 패널을 이동시키는 동안 손이나 집게가 패널에 직접 접촉되는 것이 방지되어 휨이나 깨짐에 의한 불량이 감소한다.
또한 상기 가이드 어셈블리의 내측에 보호 홀을 형성하여 패널의 코너가 깨지는 것이 방지된다.
또한 복수개의 가이드 어셈블리들을 트레이에 안착시켜서 복수개의 패널들을 한번이 이동시킬 수 있다.
10 : 패널 12 : FPC
100：트레이 112 : 가이드수납부
114 : 그립리세스 116 : FPC 수납부
200 : 가이드 어셈블리 202 : 결합 핀
210 : 탑가이드 212 : 가이드홈
215 : 사이드 가이드 220 : 바텀가이드
230 : 슬라이드 가이드 231 : 이탈방지턱
232 : 걸림턱 240 : 완충부
250 : 보호 홀 260 : 연성회로기판 인출부

Claims (20)

  1. 프레임 형상을 갖는 탑가이드;
    상기 탑가이드와 동일한 프레임 형상을 가지며, 상면이 상기 탑가이드의 하면과 결합하여 패널의 측면들을 둘러싸고, 상기 탑가이드와 결합하여 상부에 개구부를 형성하는 바텀가이드; 및
    상기 패널의 하부에 배치되어 상기 패널을 지지하며, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 내면에 형성된 홈을 따라서 미끄러지는 슬라이드 가이드를 포함하고,
    상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 하부에 상기 패널의 하부에 연결되는 연성회로기판이 인출되는 인출부가 형성되는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  2. 제1항에 있어서, 상기 개구부는 슬릿 모양인 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  3. 제1항에 있어서, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드는 관통 핀에 의해 결합되는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  4. 제1항에 있어서, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드는 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  5. 제1항에 있어서, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 내측 코너에는 상기 패널의 각 코너에 대응되는 보호홀이 형성되는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  6. 삭제
  7. 제1항에 있어서, 상기 슬라이드 가이드는 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 사이에서 세로방향으로만 미끄러지는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  8. 제7항에 있어서, 상기 슬라이드 가이드의 상면에 걸림턱이 형성되는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  9. 제8항에 있어서, 상기 탑가이드의 상부 중 상기 개구부에는 상기 걸림턱에 대응되는 가이드홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  10. 제7항에 있어서, 상기 슬라이드 가이드가 완전히 인출되면, 상기 슬라이드 가이드는 상기 탑가이드 및 상기 바텀가이드로부터 분리되는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  11. 제7항에 있어서, 상기 슬라이드 가이드의 하부에 이탈방지턱이 형성되는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  12. 제11항에 있어서, 상기 슬라이드 가이드가 완전히 당겨지더라도, 상기 슬라이드 가이드는 상기 탑가이드 및 상기 바텀가이드로부터 분리되지 않는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  13. 제1항에 있어서, 평면상에서 보았을 때 상기 바텀가이드의 내면은 상기 패널의 외곽보다 큰 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  14. 제13항에 있어서, 상기 슬라이드 가이드가 완전히 인출되는 경우, 상기 패널은 자중에 의해 상기 바텀가이드의 하부로 낙하하는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  15. 제14항에 있어서, 상기 낙하된 패널은 검사용 지그 상에 배치되는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  16. 제1항에 있어서, 상기 탑가이드의 내면에 배치되어 상기 패널이 상기 탑가이드 쪽으로 이탈하는 것을 방지하는 완충부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 가이드 어셈블리.
  17. 복수개의 가이드 수납부들을 포함하고,
    상기 각 가이드 수납부에는,
    프레임 형상을 갖는 탑가이드;
    상기 탑가이드와 동일한 프레임 형상을 가지며, 상면이 상기 탑가이드의 하면과 결합하여 패널의 측면들을 둘러싸고, 상기 탑가이드와 결합하여 상부에 개구부를 형성하는 바텀가이드; 및
    상기 패널의 하부에 배치되어 상기 패널을 지지하며, 상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 내면에 형성된 홈을 따라서 미끄러지는 슬라이드 가이드를 포함하는 가이드 어셈블리가 수납되고,
    상기 탑가이드와 상기 바텀가이드의 하부에 상기 패널의 하부에 연결되는 연성회로기판이 인출되는 인출부가 형성되는 것을 특징으로 하는 트레이.
  18. 제17항에 있어서, 상기 각 가이드 수납부의 양 측면에 상기 가이드 어셈블리를 집기 위한 그립 리세스가 형성되는 것을 특징으로 하는 트레이.
  19. 제17항에 있어서, 상기 각 가이드 수납부의 하부에는 상기 패널에 연결된 상기 연성회로기판이 수납되는 연성회로기판 수납부가 형성되는 것을 특징으로 하는 트레이.
  20. 제19항에 있어서, 상기 연성회로기판의 하부에는 회로기판이 연결되고, 상기 연성회로기판 수납부에 상기 회로기판이 더 수납되는 것을 특징으로 하는 트레이.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11377261B2 (en) 2020-02-11 2022-07-05 Samsung Display Co., Ltd. Tray for display apparatus and method of transporting display apparatus by using the same

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104391206B (zh) * 2014-12-04 2017-02-22 昆山精讯电子技术有限公司 一种oled面板测试装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0139952Y1 (ko) * 1995-10-19 1999-04-01 김광호 회로기판 검사장치
US7129694B2 (en) * 2002-05-23 2006-10-31 Applied Materials, Inc. Large substrate test system
CN2580503Y (zh) * 2002-10-30 2003-10-15 智邦科技股份有限公司 扩展模块的固定架构
JP4490066B2 (ja) * 2003-09-18 2010-06-23 株式会社日本マイクロニクス 表示用パネルの検査装置
JP2005187178A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Nec Engineering Ltd パネル移載機構
US8281674B2 (en) * 2005-08-26 2012-10-09 Camtek Ltd. Wafer inspection system and a method for translating wafers [PD]
KR101188427B1 (ko) * 2005-12-07 2012-10-05 엘지디스플레이 주식회사 트레이
CN100510872C (zh) * 2005-12-28 2009-07-08 中华映管股份有限公司 面板移载装置
JP4956328B2 (ja) * 2007-08-24 2012-06-20 東京エレクトロン株式会社 搬送アームの移動位置の調整方法及び位置検出用治具
KR100913182B1 (ko) * 2008-01-09 2009-08-19 삼성모바일디스플레이주식회사 평판 표시장치의 낙하 테스트용 지그 프레임
WO2010064342A1 (ja) * 2008-12-04 2010-06-10 シャープ株式会社 搬送用トレイ
JP2015061049A (ja) * 2013-09-20 2015-03-30 日本電産リード株式会社 処理対象物搬送システム、及び基板検査システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11377261B2 (en) 2020-02-11 2022-07-05 Samsung Display Co., Ltd. Tray for display apparatus and method of transporting display apparatus by using the same

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