CN103808983A - 用于检查面板的引导组件和具有引导组件的托盘 - Google Patents
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- 230000004308 accommodation Effects 0.000 claims description 33
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 7
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims description 7
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims description 7
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 17
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 210000003811 finger Anatomy 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 4
- 210000005224 forefinger Anatomy 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 4
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 4
- 210000003813 thumb Anatomy 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 210000004247 hand Anatomy 0.000 description 2
- 230000003116 impacting effect Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-n-(2,6-diethylphenyl)-n-(methoxymethyl)acetamide;2,6-dinitro-n,n-dipropyl-4-(trifluoromethyl)aniline Chemical compound CCC1=CC=CC(CC)=C1N(COC)C(=O)CCl.CCCN(CCC)C1=C([N+]([O-])=O)C=C(C(F)(F)F)C=C1[N+]([O-])=O CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000013228 contact guidance Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 238000005549 size reduction Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
- G01R31/013—Testing passive components
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
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- H—ELECTRICITY
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
- H01L21/67333—Trays for chips
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
- H01L21/6735—Closed carriers
- H01L21/67356—Closed carriers specially adapted for containing chips, dies or ICs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67721—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrates to be conveyed not being semiconductor wafers or large planar substrates, e.g. chips, lead frames
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Packaging Frangible Articles (AREA)
- Packaging Of Annular Or Rod-Shaped Articles, Wearing Apparel, Cassettes, Or The Like (AREA)
Abstract
提供了一种引导组件和一种具有引导组件的托盘。所述引导组件包括顶引导件、底引导件和滑动引导件。顶引导件具有框架形状。底引导件具有与顶引导件基本相同的框架形状。底引导件与顶引导件的下表面结合以围绕面板的侧表面。底引导件与顶引导件在顶引导件和底引导件的上部上形成开口。滑动引导件设置在面板下面以支撑面板。滑动引导件沿着形成在顶引导件和底引导件的内表面上形成的凹槽滑动。从而，减少面板的缺陷。
Description
本申请要求于2012年11月8日在韩国知识产权局（KIPO）提交的第10-2012-0126104号韩国专利申请的权益，该申请的内容通过引用全部包含于此。
技术领域
示例实施例通常涉及一种用于检查面板的引导组件和一种具有引导组件的托盘。更具体地讲，本发明构思的实施例涉及一种用于在面板检查过程中手不接触面板的情况下检查面板的引导组件和一种具有该引导组件的托盘，以提高产量。
背景技术
平板显示装置具有诸如功耗低、厚度薄、尺寸小等的各种特性，从而已经被广泛地用在各个领域中。平板显示装置包括薄面板、模块、壳、向面板施加信号的多个电路等。当完成平板显示装置的制造后再检测面板的缺陷时，除了有缺陷的面板以外剩余的元件还被废弃。因此，在制造平板显示装置之前检查面板。
当面板的尺寸小时，人眼不可以执行所述检查。因此，需要用于检查的夹具来检查小的面板。指状物或钳子可用来朝着夹具传输面板以进行检查。然而，当面板的厚度减小时，在传输过程中可能使面板弯曲或破损。具体地讲，当面板的尺寸减小时，诸如真空夹盘的自动面板传输装置不能用于小型面板。因此，在检查过程中面板的产量下降。
发明内容
一些示例实施例提供了一种用于在面板检查过程中手不接触面板的情况下检查所述面板的引导组件。
一些示例实施例提供了一种具有引导组件的托盘以提高产量。
根据本发明的一个实施例，引导组件包括顶引导件、底引导件和滑动引导件。顶引导件具有框架形状。底引导件具有与顶引导件基本相同的框架形状。底引导件与顶引导件的下表面结合以围绕面板的侧表面。底引导件与顶引导件在顶引导件和底引导件的上部上形成开口。滑动引导件设置在面板的下面以支撑面板。滑动引导件沿着形成在顶引导件和底引导件的内表面上的凹槽滑动。
在示例实施例中，开口可具有狭缝形状。
在示例实施例中，顶引导件可通过销与底引导件结合。
在示例实施例中，顶引导件可与底引导件一体地形成。
在示例实施例中，保护孔可形成在顶引导件和底引导件的内角上，保护孔可与面板的角对应。
在示例实施例中，柔性印刷电路板可连接到面板的下部，穿过其使柔性印刷电路板伸出的伸出部可形成在顶引导件和底引导件的下部上。
在示例实施例中，滑动引导件可沿着竖直方向在顶引导件和底引导件之间滑动。
在示例实施例中，突起可形成在滑动引导件的上表面上。
在示例实施例中，引导凹槽可形成在对应于开口的顶引导件上，引导凹槽可与滑动引导件的突起相对应。
在示例实施例中，当滑动引导件完全抽出时，滑动引导件可与顶引导件和底引导件分离。
在示例实施例中，突起可形成在滑动引导件的下部上。
在示例实施例中，尽管滑动引导件完全拉出，但是滑动引导件可以不与顶引导件和底引导件分离。
在示例实施例中，当在平面图上观看时，底引导件的内表面可以比面板的外围大。
在示例实施例中，当滑动引导件完全拉出时，面板可以因重力作用从顶引导件落到底部。
在示例实施例中，因重力作用掉落到底部的面板可被置于夹具上以用于检查。
在示例实施例中，引导组件可以还包括设置在顶引导件中的缓冲部以防止面板朝向顶引导件分离。
根据本发明的另一实施例，托盘包括多个引导容纳部。引导组件容纳在各个引导容纳部中。引导组件包括顶引导件、底引导件和滑动引导件。顶引导件具有框架形状。底引导件具有与顶引导件基本相同的框架形状。底引导件与顶引导件的下表面结合以围绕面板的侧表面。底引导件与顶引导件在顶引导件和底引导件的上部上形成开口。滑动引导件设置在面板的下面以支撑面板。滑动引导件沿着形成在顶引导件和底引导件的内表面上的凹槽滑动。
在示例实施例中，多个握凹口可形成在各个引导容纳部的侧面上。
在示例实施例中，柔性印刷电路板容纳部可形成在各个引导容纳部的下部上，连接到面板的柔性印刷电路板可被容纳在柔性印刷电路板容纳部中。
在示例实施例中，电路板可连接到柔性印刷电路板，电路板可被容纳在柔性印刷电路板容纳部中。
因此，面板在传输面板过程中被容纳在引导组件中。检查员可以不接触面板而仅接触引导组件，从而将面板从托盘传输到夹具。因此，防止面板的弯曲或破裂，从而减少缺陷并增加产量。
附图说明
结合附图从下面详细的描述中将更加清晰地理解说明性的、非限制性的示例实施例。
图1是示出根据本发明的一个示例实施例的托盘的平面图。
图2是示出了容纳在图1的引导容纳部中的面板和引导组件的透视图。
图3是示出了容纳在图1的引导容纳部中的面板和引导组件的平面图。
图4是示出了图1的引导组件的平面图。
图5A是示出了图4的引导组件的侧视图。
图5B是示出了图4的引导组件的分解侧视图。
图6A和6B是示出了利用图1的引导组件将面板容纳到夹具中的方法的透视图。
图7是示出了根据本发明的另一示例实施例的引导组件的分解侧视图。
图8A至图8E是示出了利用图7的引导构件检查面板的方法的平面图。
图9是示出了根据本发明又一示例性实施例的引导组件的透视图。
具体实施方式
在下文中将参照附图更完全地描述各个示例实施例，在附图中示出了一些示例实施例。然而，本发明构思可以以许多不同的形式来实施，并且不应被解释为限制于这里阐述的示例实施例。相反，提供这些示例实施例使得所述公开将是完全的且彻底的，并将向本领域技术人员充分地传达本发明的范围。在附图中，为清晰起见可能夸大层或区域的尺寸和相对尺寸。相似的标号始终表示相似的元件。
将理解的是，尽管这里可以使用术语第一、第二、第三等来描述各个元件，但是这些元件不应被这些术语限制。这些术语用来将一个元件与另一元件相区分。因此，下面讨论的第一元件可以在不脱离本发明构思的教导情况下被称为第二元件。如这里所使用的，术语“和/或”包括相关列出项目中的一个或多个项目的任意和所有组合。
将理解的是，当元件被称为“连接”或“结合”到另一元件时，它可以直接连接到或直接结合到其他元件或者可以存在中间元件。相反，当元件被称为“直接连接”或“直接结合”到另一元件时，则不存在中间元件。用来描述元件之间的关系的其他词语应以相似的方式（例如，“在……之间”对“直接在……之间”，“邻近”对“直接邻近”等）来解释。
这里使用的术语仅出于描述具体示例实施例的目的，而不意图限制本发明构思。除非上下文另外明确指出，否则如这里所使用的单数形式也意图包括复数形式。进一步将理解的是，当在本说明书中使用术语“包括”时，说明存在陈述的特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或添加一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。
除非另外定义，否则这里使用的所有术语（包括技术术语和科学术语）具有与本发明构思所属的技术领域中的普通技术人员所通常理解的含义相同的含义。还将理解的是，诸如在通常使用的字典中定义的这些术语应该被解释为具有与现有技术的背景下它们的含义一致的含义，并且除非这里明确这样定义，否则将不以理想化的或过于正式的意义来解释。
图1是示出了根据本发明的一个示例实施例的托盘的平面图。
参照图1，托盘100包括多个引导容纳部112。可选择地是，托盘100可仅包括一个引导容纳部。托盘100包括不可以弯曲的刚性材料。可用于托盘100的刚性材料可包括塑料、金属等。当托盘100弯曲时，引导组件200可与托盘100分离。
例如，用于夹紧引导组件200的多个握凹口114可形成在每个引导容纳部112的两侧上。握凹口114形成在引导容纳部112的两侧上以容纳指状物或钳子（未示出）。指状物或钳子（未示出）可容纳在握凹口114中以抓握引导组件200，使得引导组件200可以与引导容纳部112分离。
例如，柔性印刷电路板（FPC）容纳部116可形成在引导容纳部112下方。连接到面板10的FPC12和连接到FPC12的电路板14可容纳在FPC容纳部116中。FPC容纳部116容纳FPC12和电路板14，从而FPC12和电路板14可以不与面板10分离。
引导组件200容纳在托盘100的引导容纳部112中。
图2是示出容纳在图1的引导容纳部中的引导组件和面板的透视图。图3是示出了容纳在图1的引导容纳部中的引导组件和面板的平面图。
参照图1至图3，引导组件200容纳面板10。
引导组件200包括顶引导件210，底引导件220和滑动引导件230。顶引导件210、底引导件220和滑动引导件230可包括不可以弯曲的刚性材料。可用于顶引导件210、底引导件220和滑动引导件230的刚性材料可包括塑料、金属等。当顶引导件210、底引导件220和滑动引导件230可包括柔性材料时，容纳在引导组件200中的面板10可能弯曲断裂。
顶引导件210与底引导件220结合。例如，顶引导件210具有与底引导件220基本相同的形状。顶引导件210和底引导件220的上部具有开口以容纳滑动引导件230。例如，形成在顶引导件210和底引导件220的上部上的开口可具有狭缝形状。在本实施例中，顶引导件210和底引导件220可通过销（未示出）彼此结合。可选择地，顶引导件和底引导件可一体地形成。
保护孔250可形成在顶引导件210和底引导件220的内角上。例如，保护孔250可形成在顶引导件210和底引导件220的各个角上。保护孔250从面板10的角处向外凹入。因此，面板10的角可以不因面板10与顶引导件210或底引导件220之间的摩擦而损坏。
例如，FPC伸出部260形成在顶引导件210和底引导件220的下方。附着到面板10的下部的FPC12和电路板14容纳在FPC容纳部116中并通过FPC伸出部260向引导组件200的外部伸出。从引导组件200伸出的FPC12和电路板14容纳在托盘100的FPC容纳部116中。
当观看平面图时，底引导件220的内表面比面板10的外轮廓大。因此，当完全抽出滑动引导件230时，面板10在重力作用下从底引导件220落到底部。
滑动引导件230沿穿过顶引导件210和底引导件220的上部的开口滑动，以被容纳在顶引导件210和底引导件220的内部。滑动引导件230的侧面沿形成在顶引导件210和底引导件220的内部的凹槽滑动。因此，滑动引导件230沿着顶引导件210与底引导件220的竖直方向移动。
例如，突起232可形成在滑动引导件230的上表面上，引导凹槽212形成在顶引导件210的上部上。当滑动引导件230在不适当的位置中滑动时，突起232可被顶引导件210的上部阻挡。然而，当滑动引导件230在适当的位置中滑动时，突起232可穿过引导凹槽212。因此，在传输过程中通过突起232和引导凹槽212可以不使面板10与底引导件220分离。
例如，滑动引导件230的上部突出，使得指状物可抓握滑动引导件230的上部。
在本实施例中，缓冲部240形成在顶引导件210中。缓冲部240防止面板10朝向顶引导件210的分离，并在传输过程中保护面板10免受冲击的影响。缓冲部240可包括冲击吸收材料。可用于缓冲部240的冲击吸收材料的示例可包括硅树脂、橡胶、聚氨酯等。
面板10设置在滑动引导件230的上表面上。例如，面板的下表面容纳在滑动引导件230的上表面上。面板10的侧表面被顶引导件210和底引导件220的内表面固定。面板10的上部的外围被缓冲部240的下表面和/或顶引导件210的凹槽束缚。
图4是示出了图1的引导组件的平面图，图5A是示出了图4的引导组件的侧视图，图5B是示出了图4的引导组件的分解侧视图。
参照图4至图5B，顶引导件210的下表面与底引导件220的上表面结合。滑动引导件230设置在顶引导件210和底引导件220之间以在顶引导件210和底引导件230之间滑动。
图6A和图6B是示出了利用图1的引导组件将面板容纳到夹具中的方法的透视图。
参照图6A，为了将面板10容纳在夹具50上，将其上容纳有面板10的引导组件200设置在夹具50上。
将滑动引导件230从引导组件200的上部抽出。在抽出滑动引导件230的过程中，顶引导件210和底引导件220的上部的内表面阻挡面板10的上部的侧面，从而面板10不沿着面板10的侧向移动。因此，面板10沿滑动引导件230的上表面滑动。
滑动引导件230继续移动，使得滑动引导件230与面板10分离。面板10则在重力作用下从底引导件220落到底部。底引导件220的高度低，从而尽管面板10从底引导件220落到底部，但是面板10不会损坏。
当面板10从底引导件220落到底部时，面板10被置于夹具50的上表面上。顶引导件210和底引导件220与夹具50分离。
面板10仍然在夹具50上。
图7是示出根据本发明的另一示例性实施例的引导组件的分解侧视图。图7中示出的引导组件与图1至图6B中示出的引导组件基本相同。因此，将参照图7示出引导组件，将省略任何重复的描述。
参照图7，引导组件200＇容纳面板10（图1中示出）。
引导组件200＇包括顶引导件210、底引导件220和滑动引导件230＇。
顶引导件210与底引导件220结合。穿过顶引导件210和底引导件220的上部形成开口以容纳滑动引导件230＇。
滑动引导件230＇沿穿过顶引导件210和底引导件220形成的开口滑动以被容纳在顶引导件210和底引导件220中。滑动引导件230＇的侧表面沿形成在顶引导件210和底引导件220的内表面上的凹槽滑动。从而，滑动引导件230＇沿着顶引导件210和底引导件220的竖直方向移动。
例如，突起231形成在滑动引导件230＇的下部上。突起231不可以经过穿过顶引导件210和底引导件220的上部形成的开口。因此，尽管滑动引导件230＇滑动，但是滑动引导件230＇可以不与顶引导件210和底引导件220的外部分离。
根据本示例性实施例，滑动引导件230＇可以不与引导组件200＇分离，从而可以容易地控制引导组件200＇。
图8A至图8E是示出利用图7的引导组件检查面板的方法的平面图。
参照图1、图7和图8A，检查员的手70的拇指和食指容纳在握凹口114中。拇指和食指抓握引导组件200＇的侧面。
拇指和食指使引导组件200＇与托盘100分离。与托盘100分离的引导组件200＇向夹具传输。
参照图8B，将向夹具50传输的引导组件200设置在夹具50上。连接到面板10的FPC12和连接到FPC12电路板14从引导组件200＇伸出。
参照图8C，拇指和食指将滑动引导件230＇的上部拉出，滑动引导件230＇从引导组件200抽出。在将滑动引导件230＇从引导组件200＇抽出的过程中，面板10沿滑动引导件230＇滑动。当滑动引导件230＇与面板10分离时，面板10因重力作用从底引导件220落到底部。
在本示例性实施例中，尽管滑动引导件230＇从顶引导件210和底引导件220完全拉出，但是滑动引导件230＇可以不与顶引导件210和底引导件220分离。例如，突起（未示出）可以形成在滑动引导件230＇的端部上，使得滑动引导件230＇的突起被阻挡在顶引导件210和底引导件220的上部处。当滑动引导件230＇不与顶引导件210和底引导件220分离时，可以容易地控制引导组件200＇。
参照图8D，将顶引导件210和底引导件220与夹具50分离。
参照图8E，移去引导组件200＇，使得面板10仍然在夹具50上。
根据本示例实施例，在指状物不接触面板10的情况下可以对面板10进行检查，使得产量增加。另外，滑动引导件230＇可以不与引导组件200＇分离，从而可以容易地控制引导组件200＇。
图9是示出根据本发明又一示例实施例的引导组件的透视图。图9中示出的引导组件与图1至图5中示出的引导组件基本相同。因此，将参照图9示出引导组件，并将省略任何重复的描述。
参照图1至图9，引导组件201容纳面板10。
引导组件201包括侧引导件215和滑动引导件230。侧引导件215和滑动引导件230可包括不可以弯曲的刚性材料。可用于侧引导件215和滑动引导件230的刚性材料可包括塑料、金属等。当侧引导件215和滑动引导件230可包括柔性材料时，容纳在引导组件201中的面板10可能弯曲断裂。
侧引导件215一体地形成。侧引导件215的上部具有容纳滑动引导件230的开口。例如，侧引导件215包括塑料，并通过注塑成型一体地形成。
保护孔250可形成在侧引导件215的内角上。例如，保护孔250可形成在侧引导件215的各个角上。面板10的角可以不因面板10和侧引导件215之间的摩擦而损坏。
例如，FPC伸出部260形成在侧引导件215之下。附着到面板10的下部的FPC12和电路板14被容纳在FPC容纳部116中，并通过FPC伸出部260向引导组件201的外部伸出。从引导组件201伸出的FPC12和电路板14被容纳在托盘100的FPC容纳部116中。
滑动引导件230沿穿过侧引导件215的上部的开口滑动，以被容纳在侧引导件215的内部。滑动引导件230的侧面沿相对形成在侧引导件215的内部的凹槽滑动。从而，滑动引导件230沿着侧引导件215的竖直方向移动。
例如，突起232可形成在滑动引导件230的上表面上，引导凹槽212形成在侧引导件215的上部上。当滑动引导件230在不适当的位置中滑动时，突起232可被侧引导件215的上部阻挡。然而，当滑动引导件230在合适位置中滑动时，突起232可穿过引导凹槽212。因此，在传输过程中通过突起232和引导凹槽212可以使面板10不与侧引导件215分离。
在本实施例中，缓冲部240形成在侧引导件215中。缓冲部240防止面板10朝向侧引导件215的分离，并在传输过程中保护面板10免受冲击的影响。
面板10设置在滑动引导件230的上表面上。例如，面板10的下表面容纳在滑动引导件230的上表面上。面板10的侧表面被侧引导件215的内表面固定。面板10的上部的外围被缓冲部240的下表面和/或侧引导件215的凹槽束缚。
根据本示例实施例，顶引导件和底引导件由一体地形成的侧引导件215代替。因此，引导组件201的元件的数量减少，从而可以简化制造过程。
为了测试引导组件和具有本发明的引导组件的托盘的效果，用以下实验来测试面板。用显微镜来检查面板中产生的裂缝。
实验1
准备未被传输并且没有裂缝的面板。
参照图3，将面板10容纳在引导组件200＇中。参照图1，将引导组件200容纳在托盘100的引导容纳部112中。
参照图1和图8A，将引导组件200＇与托盘100分离。
参照图8B，将引导组件200＇设置在夹具50上。
参照图8C，将滑动引导件230＇从引导组件200拉出，从而面板10因重力作用掉落到夹具10。
参照图8D，将引导组件200＇与夹具50分离。
参照图8E，面板10设置在夹具50上。
重复上述步骤十次。
10次测试后，在面板10中没有形成裂缝。
实验2
在实验2中，重复实验1的步骤30次。
30次测试后，在面板10中没有形成裂缝。
根据本发明的示例实施例，在面板的传输过程中指状物或钳子可以不接触所述面板。因此，防止了面板的弯曲或破裂，从而减少的缺陷并增加了产量。
另外，保护孔形成在引导组件的内表面上以保护面板的角。
另外，多个引导组件容纳在托盘中，从而一次可以传输多个面板。
前述是示例性实施例的举例说明，且不被解释为限制于示例性实施例。尽管已经描述了一些示例性实施例，但本领域技术人员应容易理解的是，可在没有实质地背离本发明构思的新颖性教导和优点的情况下对示例性实施例进行多种修改。因此，在如权利要求中限定的本发明构思的范围中意图包括所有这些修改。因此，将理解的是，前述是各个示例性实施例的举例说明，并且不被解释为限制于公开的具体示例性实施例，对公开的示例性实施例的修改和其他示例性实施例一样也意图被包括在权利要求的范围内。
Claims (20)
1.一种引导组件，所述引导组件包括：
顶引导件，具有框架形状；
底引导件，具有与顶引导件基本相同的框架形状，底引导件与顶引导件的下表面结合以围绕面板的侧表面，底引导件与顶引导件在顶引导件和底引导件的上部上形成开口；以及
滑动引导件，设置在面板的下面以支撑面板，滑动引导件沿着形成在顶引导件和底引导件的内表面上的凹槽滑动。
2.如权利要求1所述的引导组件，其中，所述开口具有狭缝形状。
3.如权利要求1所述的引导组件，其中，顶引导件通过销与底引导件结合。
4.如权利要求1所述的引导组件，其中，顶引导件与底引导件一体地形成。
5.如权利要求1所述的引导组件，其中，保护孔形成在顶引导件和底引导件的内角上，保护孔与面板的角对应。
6.如权利要求1所述的引导组件，其中，柔性印刷电路板连接到面板的下部，伸出部形成在顶引导件和底引导件的下部上，柔性印刷电路板穿过所述伸出部伸出。
7.如权利要求1所述的引导组件，其中，滑动引导件沿着竖直方向在顶引导件和底引导件之间滑动。
8.如权利要求7所述的引导组件，其中，突起形成在滑动引导件的上表面上。
9.如权利要求8所述的引导组件，其中，引导凹槽形成在对应于开口的顶引导件上，引导凹槽与滑动引导件的突起对应。
10.如权利要求7所述的引导组件，其中，当滑动引导件完全抽出时，滑动引导件与顶引导件和底引导件分离。
11.如权利要求7所述的引导组件，其中，突起形成在滑动引导件的下部上。
12.如权利要求11所述的引导组件，其中，尽管滑动引导件完全拉出，但是滑动引导件与顶引导件和底引导件不分离。
13.如权利要求1所述的引导组件，其中，当在平面图上观看时，顶引导件的内表面比面板的外围大。
14.如权利要求13所述的引导组件，其中，当滑动引导件完全拉出时，面板从顶引导件落到底部。
15.如权利要求14所述的引导组件，其中，因重力作用掉落到底部的面板被置于夹具上以用于检查。
16.如权利要求1所述的引导组件，所述引导组件还包括设置在顶引导件中的缓冲部以防止面板朝向顶引导件分离。
17.一种托盘，所述托盘包括多个引导容纳部、被容纳在每个引导容纳部中的引导组件，所述引导组件包括：
顶引导件，具有框架形状；
底引导件，具有与顶引导件基本相同的框架形状，底引导件与顶引导件的下表面结合以围绕面板的侧表面，底引导件与顶引导件在顶引导件和底引导件的上部上形成开口，以及
滑动引导件设置在面板的下面以支撑面板，滑动引导件沿着形成在顶引导件和底引导件的内表面上的凹槽滑动。
18.如权利要求17所述的托盘，其中，多个握凹口形成在各个引导容纳部的侧面上。
19.如权利要求17所述的托盘，其中，柔性印刷电路板容纳部形成在各个引导容纳部的下部上，连接到面板的柔性印刷电路板被容纳在柔性印刷电路板容纳部中。
20.如权利要求19所述的托盘，其中，电路板连接到柔性印刷电路板，电路板被容纳在柔性印刷电路板容纳部中。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020120126104A KR101979903B1 (ko) | 2012-11-08 | 2012-11-08 | 패널 검사용 가이드 어셈블리 및 이를 포함하는 트레이 |
| KR10-2012-0126104 | 2012-11-08 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103808983A true CN103808983A (zh) | 2014-05-21 |
| CN103808983B CN103808983B (zh) | 2018-03-27 |
Family
ID=50706054
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201310471224.6A Expired - Fee Related CN103808983B (zh) | 2012-11-08 | 2013-10-10 | 用于检查面板的引导组件和具有引导组件的托盘 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101979903B1 (zh) |
| CN (1) | CN103808983B (zh) |
| TW (1) | TWI617803B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104391206B (zh) * | 2014-12-04 | 2017-02-22 | 昆山精讯电子技术有限公司 | 一种oled面板测试装置 |
| KR20210102538A (ko) | 2020-02-11 | 2021-08-20 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치용 트레이 및 이를 이용한 표시 장치의 운송 방법 |
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| CN104459425A (zh) * | 2013-09-20 | 2015-03-25 | 日本电产理德股份有限公司 | 处理对象物搬送系统及基板检测系统 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0139952Y1 (ko) * | 1995-10-19 | 1999-04-01 | 김광호 | 회로기판 검사장치 |
| CN2580503Y (zh) * | 2002-10-30 | 2003-10-15 | 智邦科技股份有限公司 | 扩展模块的固定架构 |
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-
2012
- 2012-11-08 KR KR1020120126104A patent/KR101979903B1/ko active IP Right Grant
-
2013
- 2013-10-10 CN CN201310471224.6A patent/CN103808983B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2013-11-01 TW TW102139700A patent/TWI617803B/zh not_active IP Right Cessation
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| CN1991473A (zh) * | 2005-12-28 | 2007-07-04 | 中华映管股份有限公司 | 面板移载装置 |
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| WO2010064342A1 (ja) * | 2008-12-04 | 2010-06-10 | シャープ株式会社 | 搬送用トレイ |
| CN104459425A (zh) * | 2013-09-20 | 2015-03-25 | 日本电产理德股份有限公司 | 处理对象物搬送系统及基板检测系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW201423092A (zh) | 2014-06-16 |
| KR101979903B1 (ko) | 2019-05-20 |
| TWI617803B (zh) | 2018-03-11 |
| KR20140059539A (ko) | 2014-05-16 |
| CN103808983B (zh) | 2018-03-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20180327 |