KR100886458B1

KR100886458B1 - 프로브 블록

Info

Publication number: KR100886458B1
Application number: KR1020070100870A
Authority: KR
Inventors: 이성률; 변수룡; 최상수; 김도균; 정혜란
Original assignee: 주식회사 크라또
Priority date: 2007-10-08
Filing date: 2007-10-08
Publication date: 2009-03-04
Also published as: KR20070104500A

Abstract

본 발명은 프로브 블록에 관한 것으로, 상부가이드의 상측과 하부가이드의 하측에 동일한 형태의 프로브 핀이 서로 대응되는 형태로 각각 삽입되어 디스플레이 패널과의 접촉상태를 용이하게 확인하여 결함 및 불량 유무를 정확히 파악할 수 있도록 한 특징이 있다.

이에 본 발명은, 크게 일곱 부분으로 구성되어 있는바, 최상단에 설치되되, 저면이 경사지게 형성된 직육면 형태의 블록베이스(10)와; 상기 블록베이스(10)의 저부에 설치되는 상부베이스(20)와; 상기 상부베이스(20)의 전면에 설치되되, 외부 충격에 의한 파손을 방지하도록 구성된 전방보호대(30)와; 상기 상부베이스(20)의 저부에 설치되되, 상면에 일정한 간격으로 슬릿(41)이 다수 개 형성된 실리콘 재질의 상부가이드(40)와; 상기 상부가이드(40)의 저부에 설치되되, 저면에 일정한 간격으로 슬릿(51)이 다수 개 형성된 실리콘 재질의 하부가이드(50)와; 상기 상·하부가이드(40, 50)에 형성된 슬릿(41, 51)에 설치되되, 상·하부가 서로 대응되는 형태로 각각의 슬릿(41, 51)에 삽착된 프로브 핀(60)과; 상기 하부가이드(50)의 저부에 설치되되, 상면이 경사지게 형성되고, 상면 양측에는 단차부(72)가 형성되며, 저부 양측으로 고정나사(71)가 체결되어 상부베이스(20)와 결합되도록 구성된 하부베이스(70)로 구성되어, 프로브 유닛과 디스플레이 패널의 접촉 확인이 용이하고, 프로브 핀의 교체 또한 가능한 대략적인 구성을 갖는다.

상기와 같이 구성된 본 발명은, 프로브 블록에 삽착되는 프로브 핀의 중앙에서 일정부분만큼 이격된 위치에서부터 끝단으로 향할수록 전진적으로 경사진 형태로 가공되어, 장기간 사용 시에도 프로브 핀의 탄성력이 약화되지 않아 장기간 사용이 가능한 효과가 있다.

또한, 상·하부베이스가 고정나사로 체결된 형태로 구성되어, 프로브 핀의 탄성력이 약화될 경우, 상·하부베이스를 분해 후 프로브 핀만 별도로 교체하여 재사용이 가능하며, 상부베이스의 전측으로는 전방보호대가 결합되어 있어서, 디스플레이 패널의 접촉부와 결합할 시 훼손을 방지하는 또 다른 효과가 있다.

프로브 유닛, 프로브 블록, 프로브 핀, 디스플레이 패널, LCD

Description

프로브 블록 {PROBE BLOCK}

본 발명은 프로브 블록에 관한 것으로, 더욱 상세하게 설명하면, 디스플레이 패널에 접촉되어, 인가되는 전기적 신호를 통해 결함 또는 여러 가지 불량을 검사하기 위한 프로브 유닛에 설치되는 프로브 블록에 관한 것으로, 상부가이드의 상측과 하부가이드의 하측에 동일한 형태의 프로브 핀이 서로 대응되는 형태로 각각 삽입되어 디스플레이 패널과의 접촉상태를 정확히 확인하여 결함 및 불량 유무를 정확히 파악할 수 있도록 한 프로브 블록에 관한 것이다.

통상 디스플레이 패널이라 함은, TV나 모니터에 주로 사용되는 영상표시장치로, 전기적 신호가 인가되면 신호에 따라 다양한 영상을 구현하도록 구성되며, 이러한 디스플레이 패널이 제조된 후에는 화면의 불량 여부를 검사 및 시험하기 위하여 프로브 유닛이 사용된다.

상기 디스플레이 패널의 결함이나 불량을 검사하기 위한 프로브 유닛은, 그 대략적인 구성이 도 1에 도시된 바와 같이, 어셈블리 블록(1)과, 어셈블리 블록(1)의 저면에 체결 고정되는 기판 홀더(2)와, 기판 홀더(2)의 저면에 체결되는 니들 홀더(3)와, 니들 홀더(3)의 저면에 부착되며, 상부면에는 드라이브 IC가 부착되고, 패턴이 형성되는 필름(4)과, 니들 홀더(3)의 저면에 부착되는 프로브 블록(5)으로 구성된다.

상기 구성들 중, 가장 핵심적인 부품이라 할 수 있는 프로브 블록의 내부에는 프로브 핀이 내재되어 있는바, 프로브 핀의 역할은 회로기판의 신호를 디스플레이 패널에 인가함으로써 디스플레이 상에 일정한 패턴을 표시하는 역할을 수행하게 된다.

상기와 같이 구성된 종래 프로브 블록은, 디스플레이 패널과 프로브 유닛의 접촉 시, 접촉 돌기가 보이지 않기 때문에 육안으로 확인이 불가능하여 정렬 불량이 발생하는 문제점을 내포하고 있을 뿐만 아니라, 제대로 정렬되었다 하더라도 프로브 핀의 탄성력이 부족하여 정확한 접촉이 이루어지지 않는 문제점을 내포하고 있었다.

뿐만 아니라, 수차례 사용함에 따라 프로브 핀이 탄성력을 잃게 되면 프로브 블록의 전체를 교체해야 하는 문제점이 있었고, 프로브 블록에 디스플레이 패널을 착탈시킬 시, 프로브 블록의 전방이 빈번하게 훼손 또는 파손되는 또 다른 문제점을 내포하고 있었다.

이에 본 발명은, 크게 일곱 부분으로 구성되어 있는바, 최상단에 설치되되, 저면이 경사지게 형성된 직육면 형태의 블록베이스(10)와; 상기 블록베이스(10)의 저부에 설치되는 상부베이스(20)와; 상기 상부베이스(20)의 전면에 설치되되, 외부 충격에 의한 파손을 방지하도록 구성된 전방보호대(30)와; 상기 상부베이스(20)의 저부에 설치되되, 상면에 일정한 간격으로 슬릿(41)이 다수 개 형성된 실리콘 재질의 상부가이드(40)와; 상기 상부가이드(40)의 저부에 설치되되, 저면에 일정한 간격으로 슬릿(51)이 다수 개 형성된 실리콘 재질의 하부가이드(50)와; 상기 상·하 부가이드(40, 50)에 형성된 슬릿(41, 51)에 설치되되, 상·하부가 서로 대응되는 형태로 각각의 슬릿(41, 51)에 삽착된 프로브 핀(60)과; 상기 하부가이드(50)의 저부에 설치되되, 상면이 경사지게 형성되고, 상면 양측에는 단차부(72)가 형성되며, 저부 양측으로 고정나사(71)가 체결되어 상부베이스(20)와 결합되도록 구성된 하부베이스(70)로 구성되어, 프로브 유닛과 디스플레이 패널의 접촉 확인이 용이하고, 프로브 핀의 교체 또한 가능한 대략적인 구성을 갖는다.

본 발명은 프로브 블록에 관한 것으로, 상부가이드의 상측과 하부가이드의 하측에 동일한 형태의 프로브 핀이 서로 대응되는 형태로 각각 삽입되어 디스플레 이 패널과의 접촉상태를 용이하게 확인하여 결함 및 불량 유무를 정확히 파악할 수 있도록 한 특징이 있다.

이하 본 발명의 실시 예를 예시도면을 통해 살펴보면 다음과 같다.

우선, 도 2는 본 발명의 전체 사시도를 나타낸 것이고, 도 3은 본 발명의 분해 사시도를 나타낸 것이며, 도 4는 본 발명의 측단면도를 나타낸 것이고, 도 5는 본 발명 상·하부가이드와 프로브 핀의 결합과정을 보여주는 단면도를 나타낸 것이며, 도 6은 본 발명 프로브 핀의 정면도를 나타낸 것이고, 도 7은 본 발명의 사용상태 사시도를 나타낸 것으로, 도시한 바와 같이, 최상단으로는 블록베이스(10)가 형성되고, 그 하부로 상부베이스(20)와 상부가이드(40), 하부가이드(50) 및 하부베이스(70)가 순차적으로 적층 결합되되, 상부베이스(20)의 전방으로는 전방보호대(30)가 구비되고, 상·하부가이드(40, 50)에는 프로브 핀(60)이 삽착되는 구성을 갖는다.

우선, 본 발명의 최상부에 설치되는 블록베이스(10)의 구성을 살펴보면, 통상적으로 사용되는 블록베이스(10)와 대동소이한 형태로 형성되는바, 저면이 경사진 형태로 형성된 금속재질의 직육면체로 구성된다.

또한, 블록베이스(10)의 상면 중앙으로는 어셈블리 블록(1)과 결합될 수 있도록 나사골이 형성된 원형홈(11)이 형성되며, 원형홈(11)의 양측으로는 가이드 홈(12)이 형성되고, 그 내부로는 가이드링(13)이 수장되어 기판 홀더(2)와의 결합을 돕도록 구성된다.

한편, 상기 블록베이스(10)의 저부에 설치되는 상부베이스(20)의 구성을 살펴보면, 직육면체 형태의 금속으로 제작되며, 그 전방으로는 후술하는 전방보호대(30)가 설치되고, 그 저부로는 후술하는 상부가이드(40)가 설치되는 구성을 갖는다.

상기 상부베이스(20)의 전측에 볼트체결되는 전방보호대(30)의 구성을 살펴보면, 합성수지재질로 제작되되, 전면은 하측으로 향할수록 점진적으로 깎여진 경사진 형태로 형성되고, 양측면으로는 단차부(31)가 형성되어 디스플레이 패널(6)을 반복적으로 검사를 수행할 시 프로브 블록(5)의 훼손을 방지하도록 구성된다.

다시 말해, 전방보호대(30)의 전측으로 삽입되는 디스플레이 패널(6)의 접촉단자가 전방보호대(30)에 의해 높이의 불안정과 좌우 위치의 불안정이 해소되어, 반복적인 탈착과 외부충격에 따른 프로브 블록(5)의 파손을 현격히 줄일 수 있는 구성을 갖는다.

한편, 상기 상부베이스(20)의 저부에 순차적으로 설치되는 상·하부가이드(40, 50)의 구성을 살펴보면, 그 형태가 동일한 형태로 제작되되, 실리콘 재질로 구성된 시트형태로 제작되며, 상부가이드(40)의 상면과 하부가이드(50)의 저면에는 일정간격으로 장홈 형태의 슬릿(41, 51)이 형성되어 있어서 후술하는 프로브 핀(60)이 삽착되도록 구성된다.

또한, 상기 상·하부가이드(40, 50)에 삽착되는 프로브 핀(60)의 구성을 살펴보면, 양측단에 접촉부가 형성된 통상의 핀 형태로 구성되되, 일측단으로는 패널접촉부(61)가 형성되고, 타측단으로는 TCP접촉부(62)가 형성되며, 중앙 상면으로는 집게부(63)가 형성되고, 중앙 하면으로는 삽입부(64)가 형성되어 상·하부가이드(40, 50)에 형성된 슬릿(41, 51)에 삽입부(64)측이 삽착되도록 결합된다.

상기 집게부(63)와 이격된 위치에서부터 패널접촉부(61)가 형성된 위치 사이에는 하부로 향할수록 점진적으로 낮아지는 경사진 형태로 구성되고, 삽입부(64)와 이격된 위치에서부터 TCP접촉부(62)가 형성된 위치 사이에는 상부로 향할수록 점진적으로 높아지는 경사진 형태로 제작되어, 탄성력이 향상된 구성을 갖는다.

뿐만 아니라, 프로브 핀(60) 전체 표면에는 실리콘 산화막 또는 실리콘 질화막이 형성되어 있어서, 프로브 핀(60)의 완벽한 절연을 구현할 수 있을 뿐만 아니라, 절연막 자체가 가지는 탄성력에 의해 탄성력이 일층 향상되도록 구성된다.

마지막으로, 하부가이드(50)의 저면에 설치되는 하부베이스(70)의 구성을 살펴보면, 상면이 경사지게 형성되되, 양측단으로는 단차부(72)가 형성되어 있어서 상부베이스(20)와 하부베이스(70)가 고정나사(71)에 의해 결합될 시, 공간부를 형성시키게 되며, 그 공간부에 상기 상·하부가이드(40, 50)와 프로브 핀(60)이 내재 되는 구성을 갖는다.

상기와 같이 구성된 본 발명의 조립과정을 살펴보면, 우선, 상·하부가이드(40, 50)에 형성된 슬릿(41, 51)에 프로브 핀(60)을 각각 삽착한 후, 하부베이스(70)의 상면에 하부가이드(50)와 상부가이드(40)를 순차적으로 적층시킨다.

그런 다음, 상부가이드(40)의 상면에 상부베이스(20)를 적층시킨 후, 하부베이스(70)의 저부에 고정나사(71)를 체결하여 상·하부베이스(20, 70)를 결합한다.

그 후, 상부베이스(20)의 전방으로는 전방보호대(30)를 나사를 통해 결합고정시키고, 상부베이스(20)의 상부에 블록베이스(10)를 재치한 후, 나사 결합함으로써 프로브 블록(5)의 조립을 완료한다.

상기와 같이 조립된 프로브 블록(5)의 설치 및 사용상태를 살펴보면, 블록베이스(10)의 상면에 형성된 원형홈(11)에, 어셈블리 블록(1)과 결합된 기판 홀더(2)의 끝단부를 고정나사를 통해 고정시킨다.

그런 다음, 프로브 블록(5)의 전방으로는 디스플레이 패널(6)의 접촉단자를, 프로브 블록(5)의 후방으로는 필름(4)과 결합된 니들 홀더(3)를 삽착하되, 외부로 돌출된 프로브 핀(60)과 정확히 접촉되는지 확인하면서 삽착하도록 하며, 이후, 필름(4)을 통해 입력되는 전기적인 신호를 디스플레이 패널(6)로 인가하여 결함 또는 불량을 검출하는 전체적인 구성을 갖는다.

도 1은 종래 프로브 유닛의 전체 사시도

도 2는 본 발명의 전체 사시도

도 3은 본 발명의 분해 사시도

도 4는 본 발명의 측단면도

도 5는 본 발명 상·하부가이드와 프로브 핀의 결합과정을 보여주는 단면도

도 6은 본 발명 프로브 핀의 정면도

도 7은 본 발명의 사용상태 사시도

[도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명]

1: 어셈블리 블록 2: 기판 홀더

3: 니들 홀더 4: 필름

5: 프로브 블록 6: 디스플레이 패널

10: 블록베이스 11: 원형홈

12: 가이드홈 13: 가이드링

20: 상부베이스 30: 전방보호대

31: 단차부 40: 상부가이드

41, 51: 슬릿 50: 하부가이드

60: 프로브 핀 61: 패널접촉부

62: TCP접촉부 63: 집게부

64: 삽입부 65: 전측탄성부

66: 후측탄성부 70: 하부베이스

71: 고정나사 72: 단차부

Claims

프로브 블록에 있어서,

최상단에 설치되되, 저면이 경사지게 형성된 직육면 형태의 블록베이스(10)와;

상기 블록베이스(10)의 저부에 설치되는 상부베이스(20)와;

상기 상부베이스(20)의 전면에 설치되되, 외부 충격에 의한 파손을 방지하도록 구성된 전방보호대(30)와;

상기 상부베이스(20)의 저부에 설치되되, 상면에 일정한 간격으로 슬릿(41)이 다수 개 형성된 실리콘 재질의 상부가이드(40)와;

상기 상부가이드(40)의 저부에 설치되되, 저면에 일정한 간격으로 슬릿(51)이 다수 개 형성된 실리콘 재질의 하부가이드(50)와;

상기 상·하부가이드(40, 50)에 형성된 슬릿(41, 51)에 설치되되, 상·하부가 서로 대응되는 형태로 각각의 슬릿(41, 51)에 삽착된 프로브 핀(60)과;

상기 하부가이드(50)의 저부에 설치되되, 상면이 경사지게 형성되고, 상면 양측에는 단차부(72)가 형성되며, 저부 양측으로 고정나사(71)가 체결되어 상부베이스(20)와 결합되도록 구성된 하부베이스(70)로 구성됨을 특징으로 하는 프로브 블록.
제 1항에 있어서,

전방보호대(30)는, 합성수지재질로 제작되되, 전면은 하측으로 향할수록 점진적으로 깎여진 경사진 형태로 형성되고, 전면 양측으로는 단차부(31)가 형성되어 디스플레이 패널(6)을 반복적으로 검사를 수행할 시 프로브 블록(5)의 훼손을 방지하도록 구성됨을 특징으로 하는 프로브 블록.
제 1항에 있어서,

프로브 핀(60)은, 양단이 꺾임 가공된 형태로 얇고 긴 핀의 형태로 제작되되, 일측단으로는 패널접촉부(61)가 형성되고, 타측단으로는 TCP접촉부(62)가 형성되며, 중앙 상면으로는 집게부(63)가 형성되고, 중앙 하면으로는 삽입부(64)가 형성되며, 집게부(63)와 이격된 위치에서부터 패널접촉부(61)가 형성된 위치 사이에는 하부로 향할수록 점진적으로 낮아지는 경사진 형태로 구성되고, 삽입부(64)와 이격된 위치에서부터 TCP접촉부(62)가 형성된 위치 사이에는 상부로 향할수록 점진적으로 높아지는 경사진 형태로 제작되어, 상·하부가이드(40, 50)에 형성된 슬릿(41, 51)에 삽입부(64)측이 삽착됨을 특징으로 하는 프로브 블록.