JP4916763B2 - プローブ組立体 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 164
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 15
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 13
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 8
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 6
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 3
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 3
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 2
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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Description
22 プローブ
24 支持体(プローブブロック)
26(26a、26b) 支持バー
28(28a、28b) スリットバー
30a スリットバーの前縁
32(32a、32b) スリット溝
34 プローブの取付け領域
36(36a、36b) プローブの針先領域
38(38a、38b) ガイド穴
32a、50a、54a、56a 剛的支点
Claims (6)
- 支持体と、帯状の取付け領域および該取付け領域の先端から前方に伸びかつ前記取付け領域の幅寸法より小さい幅寸法を有する帯状の針先領域とを備える複数のプローブであって前記取付け領域の幅方向が上下方向となる状態に前記支持体の下側に前記取付け領域を対向させて並列的に配置された複数のプローブと、前記取付け領域を該取付け領域の厚さ方向に貫通して伸びかつ前記支持体に支持された細長い支持バーと、前記支持体の先端縁部に前記支持バーの長手方向に沿って配置されるスリットバーであって該スリットバーの長手方向に相互に間隔をおきかつそれぞれが下方に開放し、対応する前記プローブの前記針先領域をその針先が前縁より突出するように受け入れる複数のスリット溝を有するスリットバーとを含み、該スリットバーまたは前記支持体には、前記プローブが前記スリットバーの前記前縁で前記スリット溝の頂面に当接する前に、前記プローブに当接して該プローブの変形を拘束する剛的支点が設けられており、該剛的支点は、前記スリットバーの前記スリット溝の前記頂面における後縁部分に形成されており、
前記スリットバーの前記頂面における前記後縁部分には、前記頂面の残りの領域に対して段差をなす平坦面部分が形成されており、前記プローブには、前記取付け領域と前記針先領域との間で前記平坦面部分に対向する段部が形成されており、該段部に当接する前記平坦面部分が前記剛的支点を構成することを特徴とする、プローブ組立体。 - 前記平坦面部分が前記段部に当接するとき、前記スリットバーの前記頂面における前記平坦面部分を除く前記残りの領域は、対応する前記プローブの前記針先領域に間隔を保持されている、請求項1に記載のプローブ組立体。
- 前記スリットバーの前記平坦面部分は、その前記残りの領域に対して下方に位置する段差面を形成し、前記プローブの前記段部は前記針先領域の頂部に対して上方に位置する段差面を形成する、請求項2に記載のプローブ組立体。
- 前記支持体の下面には、前記針先領域に近接して配置された前記支持バーの配置位置よりも前記スリットバーの側で前記プローブに当接する段部が形成されており、該段部が前記剛的支点を構成する、請求項1に記載のプローブ組立体。
- 前記支持体の前記段部は、前記スリットバーに沿って下方に突出して形成されている、請求項4に記載のプローブ組立体。
- 前記プローブには、前記取付け領域と前記針先領域との間で前記支持体の前記段部の当接面に対向する平坦面を形成する段部が形成されている、請求項5に記載のプローブ組立体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006129333A JP4916763B2 (ja) | 2006-05-08 | 2006-05-08 | プローブ組立体 |
TW096112792A TW200745567A (en) | 2006-05-08 | 2007-04-12 | Probe assembly |
KR1020070044361A KR100863987B1 (ko) | 2006-05-08 | 2007-05-08 | 프로브 조립체 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006129333A JP4916763B2 (ja) | 2006-05-08 | 2006-05-08 | プローブ組立体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007303834A JP2007303834A (ja) | 2007-11-22 |
JP4916763B2 true JP4916763B2 (ja) | 2012-04-18 |
Family
ID=38837893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006129333A Active JP4916763B2 (ja) | 2006-05-08 | 2006-05-08 | プローブ組立体 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4916763B2 (ja) |
KR (1) | KR100863987B1 (ja) |
TW (1) | TW200745567A (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5396104B2 (ja) * | 2009-03-05 | 2014-01-22 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
JP5690105B2 (ja) * | 2009-11-26 | 2015-03-25 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ装置 |
JP5588892B2 (ja) * | 2010-12-03 | 2014-09-10 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
KR102265960B1 (ko) * | 2020-12-29 | 2021-06-17 | 주식회사 프로이천 | 프로브 블록 |
KR102477553B1 (ko) * | 2021-01-22 | 2022-12-15 | 주식회사 디앤에스시스템 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록 |
KR102294168B1 (ko) * | 2021-06-18 | 2021-08-25 | 이시훈 | 블레이드형 프로브 블록 |
CN116908500B (zh) * | 2023-09-12 | 2023-12-01 | 上海泽丰半导体科技有限公司 | 一种通用测试平台探针塔的拆装方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3750831B2 (ja) * | 1996-10-28 | 2006-03-01 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
JP2000111574A (ja) * | 1998-10-01 | 2000-04-21 | Mitsubishi Electric Corp | プローブカード |
JP2004069485A (ja) * | 2002-08-06 | 2004-03-04 | Yamaha Corp | プローブユニットおよびその製造方法、プローブカードおよびその製造方法 |
JP2006098278A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ及びプローブ組立体 |
KR100615907B1 (ko) | 2005-12-12 | 2006-08-28 | (주)엠씨티코리아 | 평판표시패널 검사용 프로브 장치 |
-
2006
- 2006-05-08 JP JP2006129333A patent/JP4916763B2/ja active Active
-
2007
- 2007-04-12 TW TW096112792A patent/TW200745567A/zh unknown
- 2007-05-08 KR KR1020070044361A patent/KR100863987B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007303834A (ja) | 2007-11-22 |
KR100863987B1 (ko) | 2008-10-16 |
KR20070108824A (ko) | 2007-11-13 |
TW200745567A (en) | 2007-12-16 |
TWI325963B (ja) | 2010-06-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090402 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110628 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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