JP4916763B2 - プローブ組立体 - Google Patents

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Description

本発明は、液晶表示パネルのような平板状被検査体の検査に用いるプローブ組立体に関する。
液晶表示パネルのような平板状の被検査体の検査に用いるプローブ組立体の1つとして、帯状の取付け領域(中央領域)並びに該取付け領域の先端及び後端からそれぞれ前方及び後方へ伸びる第1及び第2の針先領域を備えるブレードタイプの複数のプローブ(接触子)を備えるものがある(特許文献1)。
このプローブ組立体では、各プローブは、板状部材からなり、互いに板厚方向に間隔を置いて支持体の下方に並列的に配置される。また前記プローブは、それらの板厚方向に貫通するガイド穴を通りかつ前記支持体に支持された電気絶縁材料からなる支持バーを介して前記支持体に支持される。さらに、前記プローブは、前記支持体の先端および後端に配置されたそれぞれのスリットバーに形成されかつ下方に開放して形成されたスリット溝内に、各針先領域を個々に受け入れられる。前記プローブは、前記スリットバーの各スリット溝を経て、それらの針先をスリットバーの前縁から下方に突出させて配置される。
被検査体の検査では、各プローブはその針先を被検査体の電極に押圧される。このとき両者の電気的接触を確実になすために、プローブの針先領域に僅かな撓み変形が生じる程度の押圧力すなわちオーバドライブ力が各プローブに付加される。前記スリットバーのスリット溝の頂部は、これらのオーバドライブ力によってはプローブが頂部に干渉しないように設定されている。そのため、各プローブに、このオーバドライブ力が作用したとき、この作用力は前記プローブに形成されたガイド穴を貫通する前記支持バーにより受け止められる。
しかしながら、電極の微細ピッチに対応した前記プローブ組立体では、電極数に対応して配置された多数のプローブが支持バーを介して支持体に支持されることから、この支持バーがこれに作用する力が増大し、これにより支持バーが撓み変形を生じることがある。支持バーにこのような撓み変形が生じると、プローブに形成された貫通孔と該貫通孔を通る前記支持バーとの製造上の許容誤差により、プローブに作用するオーバドライブ力によって、該プローブに捩れが生じ易い。この捩れを伴うプローブの撓み変形は、各プローブの均一かつ適正なオーバドライブ力の設定を困難とし、また個々のプローブをスリット溝に受け入れる前記スリットバーの損傷を招く虞がある。
特開平10−132853号公報
そこで、本願出願人は、前記したオーバドライブ力が作用したときにおける前記支持バーの撓み変形を抑制するための弾性体をプローブと支持体との間に配置することを特願2005−30700号で提案した。
これによれば、前記弾性体がプローブを介して前記支持バーの撓み変形を抑制する。しかしながら、オーバドライブ力による前記支持バーの撓み変形をより確実に防止することが望ましいことが判明した。
したがって、本発明の目的は、電気的絶縁材料で形成された支持バーを介して支持体に支持されたプローブにオーバドライブ力が作用したとき、前記支持バーの撓み変形をさらに確実に防止できる電気的接続装置を提供する。
本発明は、支持体と、帯状の取付け領域および該取付け領域の先端から前方に伸びかつ前記取付け領域の幅寸法より小さい幅寸法を有する帯状の針先領域とを備える複数のプローブであって前記取付け領域の幅方向が上下方向となる状態に前記支持体の下側に前記取付け領域を対向させて並列的に配置された複数のプローブと、前記取付け領域を該取付け領域の厚さ方向に貫通して伸びかつ前記支持体に支持された細長い支持バーと、前記支持体の先端縁部に前記支持バーの長手方向に沿って配置されるスリットバーであって該スリットバーの長手方向に相互に間隔をおきかつそれぞれが下方に開放し、対応する前記プローブの前記針先領域をその針先が前縁より突出するように受け入れる複数のスリット溝を有するスリットバーとを含み、該スリットバーまたは前記支持体には、前記プローブが前記スリットバーの前記前縁で前記スリット溝の頂面に当接する前に、前記プローブに当接して該プローブの変形を拘束する剛的支点が設けられていることを特徴とする。
本発明によれば、前記スリットバーまたは前記支持体に設けられた剛的支点が前記プローブのオーバドライブ力による前記針先領域での適正な弾性変形を阻止することなく、前記プローブに作用するオーバドライブ力の少なくとも一部を受け止めることから、前記プローブを支持する前記支持バーに従来のような強い外力が作用することはなく、これによる前記支持バーの撓み変形を確実に防止することができる。
したがって、本発明によれば、各プローブの貫通孔と該貫通孔を貫通する支持バーとの許容誤差に拘わらず、前記支持バーの撓み変形に起因するプローブの捩れ変形およびこの捩れ変形に伴うスリットバーの仕切り壁の損傷あるいは破損が確実に防止される。これにより、各プローブの針先位置の高さ位置のばらつきをより効果的に抑制し、長期の使用によってもすべてのプローブによる安定した電気的接続を実現することができる。
前記剛的支点は、前記スリットバーの前記スリット溝の前記頂面における後縁部分に形成することができる。これにより、前記剛的支点を前記プローブの針先の近傍に設定することができる。この針先近傍に前記剛的支点を設定することにより、各プローブのオーバドライブ力による針先の変位量を比較的高精度に揃えることが可能となり、すべてのプローブでの安定した電気的接触を図る上で、より有利となる。
前記スリットバーの前記頂面における後縁部分に、前記頂面の残りの領域と段状をなす平坦面部分を形成し、また前記プローブには、前記取付け領域と前記針先領域との間で前記平坦面部分に対向する段部を形成することができる。この場合、前記段部に当接する前記平坦面部分が前記剛的支点を構成する。
前記平坦面部分が前記段部に当接するとき、前記スリットバーの前記頂面における前記平坦面部分を除く前記残りの領域は、対応する前記プローブの前記針先領域に間隔を保持されており、これによりオーバドライブ力による各プローブの適正な弾性変位量を保持することができる。
前記スリットバーの前記平坦面部分はその前記残りの領域に対して下方に位置する段差面を形成し、前記プローブの前記段部は前記針先領域の頂部に対して上方に位置する段差面を形成する。これに代えて、前記スリットバーの前記平坦面部分を前記残りの領域に対して上方に位置する段差面とすることができる。この場合、前記スリットバーの前記段差面に対向する前記プローブの前記段差は、下方または上方への段差を有するいずれかの段差とすることができ、あるいは前記プローブのこの段差を不要とすることができる。
前記スリットバーの前記スリット溝の前記頂面を前記スリットバーの前縁から後縁に至る直線状の平坦面で形成することができ、前記プローブには、前記取付け領域と前記針先領域との間で前記平坦面部分に向けての凸状の段部を形成することができる。この場合、前記頂面の前記段部に対向する部分が前記剛的支点を構成する。
前記支持体の下面に、前記剛的支点のために、前記針先領域に近接して配置された前記支持バーの配置位置よりも前記スリットバーの側で前記プローブに当接する段部を形成することができる。
前記支持体の前記段部は、前記スリットバーに沿って下方へ突出する部分により、形成することができる。
また、前記プローブに、前記取付け領域と前記針先領域との間で前記支持体の前記段部の当接面に対向する平坦面を形成する段部を形成することができる。
本発明によれば、前記剛的支点によってプローブに作用するオーバドライブ力の一部を支持することにより、プローブを支持する支持バーに、プローブに捩れを生じさせるような過大な撓み変形が生じることを確実に阻止することができる。したがって、この支持バーの撓み変形に起因するプローブの捩れ変形およびこの捩れ変形に伴うスリットバーの仕切り壁の損傷あるいは破損をより確実に防止することができ、また、各プローブの針先位置の高さ位置のまたばらつきをより効果的に抑制することができるので、長期の使用によってもすべてのプローブによる安定した電気的接続を実現することができる。
図1には、本発明に係る多数のプローブ装置10を組み込んだ検査装置12の平面図が示されている。図1は、矩形の液晶表示パネル14の通電試験に用いられる検査装置12の例を示す。
検査装置12は、液晶表示パネル14の外形に相似の該外形よりも小さな矩形開口16aが設けられた検査台16を有する。液晶表示パネル14は、検査台16の矩形開口16aを通して背面よりバックライト光の照射を受けるように、矩形開口16aを覆って検査台16上に配置される。検査台16上には、その矩形開口16aの一方の長辺および一方の短辺のそれぞれに沿って伸びるプローブベース18(18a、18b)が配置されており、各プローブベース18上には、液晶表示パネル14の表面の縁部に整列して配置された多数の電極パッド(図示せず)に電気的に接続可能のプローブ装置10が支持機構20を介してそれぞれ支持されている。
各支持機構20は、図2に示すように、それぞれのプローブ装置10に設けられた後述する多数のプローブ22の針先を液晶表示パネル14へ向けて突出させるように、対応するそれぞれのプローブ装置10を取り外し可能に支持する。これにより、各プローブ装置10のプローブ22は、その針先を液晶表示パネル14の縁部に配列されたそれぞれに対応する前記電極に接触するように、各支持機構20を介して液晶表示パネル14へ向けて下降可能に保持される。この支持機構20と同様な支持機構の構成は、例えば特開2004−191064号公報に記載されている。
各支持機構20により支持されるプローブ装置10は、図2および図3に示されているように、支持機構20により着脱可能に取り付けられるプローブブロック24と、該プローブブロックの下方に配置される多数の前記プローブ22とを備える。また、プローブ装置10は、図3に示すように、プローブ22をプローブブロック24に支持するための一対の支持バー26(26a、26b)と、支持体たる前記プローブブロック24の下面24aに設けられる一対のスリットバー28(28a、28b)とを備える。
プローブブロック24は、絶縁膜で被覆された金属材料で構成されている。また、一対のスリットバー28(28a、28b)はセラミックのような絶縁材料で構成されている。支持バー26(26a、26b)も、従来におけると同様に、棒状のセラミックのような絶縁材料で構成されている。
プローブブロックすなわち支持体24の下面24aは、全体に矩形形状を有し、その前縁である一辺30aが液晶表示パネル14上で該液晶表示パネル14の縁部に沿って配置されている。一方のスリットバー28aは、支持体24の下面24aの前縁30aに沿って配置されており、該スリットバーの上面で支持体24の下面24aに固定されている。また他方のスリットバー28bは、前記一方のスリットバー28aから間隔を置くように、支持体24の下面24aの後縁30bに沿って配置され、その上面で支持体24の下面24aに固定されている。
各スリットバー28a、28bのそれぞれの下面には、プローブ22の個数に一致した数のスリット溝32a、32bが、各スリットバー28a、28bの長手方向に相互に間隔を置いて、形成されている。各スリット溝32a、32bは、対応するスリットバー28a、28bをその幅方向へ横切って伸び、下方にそれぞれ開放する。一対のスリットバー28a、28bの対応するスリット溝32a、32bは、対応するプローブ22を受け入れるべく相互に整列して配置されている。
後述する各プローブ22の板厚が例えば約15μmであり、その配列ピッチが約30μmであるとき、各スリットバー28のスリット溝32a、32b間の隔壁すなわち仕切り壁32c(図4参照)の厚さ寸法は約10μmに設定される。
支持体24の下面24aの下方に配置される各プローブ22は、図3に示されているように、その長手方向へ一様な幅寸法Wを有し中央領域として作用する帯状の取付け領域34と、該取付け領域の先端および後端からそれぞれさらに先方および後方へ伸長する帯状の一対の針先領域36(36a、36b)とを備える板状の導電部材からなる。
各プローブ22の取付け領域34には、一対の支持バー26(26a、26b)のための一対のガイド穴38(38a、38b)が形成されている。一対のガイド穴38(38a、38b)は、取付け領域34の長手方向へ相互に間隔をおいて配置され、それぞれが取付け領域34を貫通すべく該取付け領域の両端部に形成されている。
各一方の針先領域36aは、取付け領域34の長手方向の一端における下縁部から前方へ伸長し、また各他方の針先領域36bは、取付け領域34の他端における上縁部から後方へ伸長する。各針先領域36(36a、36b)は、各取付け領域34の幅寸法Wよりも小さな幅寸法を有する。
プローブ22は、それらの一方の針先領域36aが一方のスリットバー28aの対応するスリット溝32aに受け入れられ、またそれらの他方の針先領域36bが他方のスリットバー28bの対応するスリット溝32bに受け入れられるように、支持体24の下面24aから間隔をおいて該下面の下方に配置される。これらのプローブ22は、各取付け領域34の幅寸法Wの方向が上下方向となるように、相互に間隔をおいて並列的に揃えられており、また各取付け領域34の各ガイド穴38a、38bが整列する。整列した各ガイド穴38(38a、38b)には、対応する各支持バー26(26a、26b)が貫通する。各支持バー26(26a、26b)は、その両端で、支持体24の両側に固定される一対のサイドカバー40(図2参照)に支持されている。これにより、各プローブ22は、スリットバー28(28a、28b)と平行に配置された各支持バー26(26a、26b)を介して、支持体24の下側に所定の姿勢で保持されている。
プローブ22の前記他方の針先領域36bは、該針先領域の後端に形成された後方の針先42bをスリットバー28bから支持体24の後方へ突出させる。この後方の針先42bは、支持機構20に支持された支持ブロック44の下面に固定された回路板46の対応する接続パッドに接続されることから、各プローブ22は、回路板46を経て図示しないテスタ本体に接続される。針先42bは、図示の例では、回路板46への誤接触を防止するためのガイドフィルム48の穴48aを経て前記接続パッドに接続されている。
プローブ22の前記一方の針先領域36aは、該針先領域の先端に形成された前方の針先42aをスリットバー28aの前方からその下方へ突出させる。すなわち、図4に拡大して示すように、スリットバー28aのスリット溝32aは直線状の頂面を有し、支持体24の前縁30aの側に対応するスリットバー28aの前縁側と反対側の後縁側には、段部50が形成されている。段部50は、平坦な段差面50aを形成する。図示の例では、段部50は、スリット溝32aの前記頂面における段差面50aを除く他の領域に対して、上方に位置する段差面50aを規定する。
また、プローブ22の取付け領域34と一方の針先領域36aとの間には、前記段差面50aに対向する凸状の段部52が形成されており、該段部は前記段差面50aに当接する平坦な段差面52aを規定する。スリットバー28aに形成された段部50の段差面50aと、プローブ22に形成された段部52の段差面52aとは、相互に当接する。この両面50a、52aの当接状態では、スリット溝32aの前記頂面における段差面50aを除く領域が針先領域36aに当接することはなく、段差面50aを除く領域と、針先領域36aとの間には間隔が保持された状態で、該針先領域の針先42aがスリットバー28aの前縁より斜め下方へ突出して保持されている。
したがって、プローブ装置10の各プローブ22の前記一方の針先領域36aが液晶表示パネル14の対応する前記電極パッドに押圧されると、各プローブ22の針先42aに作用する押圧力の少なくとも一部は、その針先領域36aの段差面52aに対向するスリットバー28aの段部50の段差面50aで反力が担われることから、該段差面が剛的支点として作用する。また、各針先領域36aは、スリット溝32aの前記頂における段差面50aを除く領域に当接する迄、針先領域36aにおける弾性変形が許される。
これにより、各プローブ22は、この弾性変形量に応じたオーバドライブ力でもって、液晶表示パネル14の対応する前記電極パッドに押圧される。また、このオーバドライブ力は、剛的支点として作用する段部50の段差面50aのプローブ22の長手方向に沿った位置および高さ位置(段差レベル)を選択することにより、適正に設定することができる。
本発明に係るプローブ装置10が組み込まれた検査装置12では、各プローブ装置10に設けられた各プローブ22の針先42aが液晶表示パネル14の対応する前記電極パッドに押圧される。このとき、各プローブ装置10のプローブ22は、それぞれのスリットバー28aに形成された段差面50aを剛的支点として、弾性を伴う撓み変形を生じ、この撓み変形に応じたオーバドライブ力で対応する前記電極パッドに接続されることから、該各電極パッドはプローブ装置10を経て前記テスタ本体に確実接続される。
また、このとき、前記剛的支点50aによってプローブ22に作用するオーバドライブ力の少なくとも一部が受け止められることから、プローブ22を支持する支持バー26(26a、26b)に従来のような強いオーバドライブ力が作用することはなく、これによる支持バー26(26a、26b)の撓み変形を確実に防止することができる。
したがって、本発明に係るプローブ装置10を備える検査装置12によれば、各プローブ22の貫通孔たる各ガイド穴38(38a、38b)と該ガイド穴を貫通する支持バー26(26a、26b)との製造許容誤差に拘わらず、該支持バーの撓み変形に起因するプローブ22の捩れ変形およびこの捩れ変形に伴うスリットバー28aのスリット溝32a間の仕切り壁32c(図4参照)の損傷あるいは破損が確実に防止される。これにより、各プローブ22の針先42aの位置の高さ方向のばらつき(Δz)および針先42aの平面上でのばらつき(Δx、Δy)をより効果的に抑制し、長期の使用によってもすべてのプローブ22による安定した電気的接続を実現することができる。
プローブ22の針先42aの高さ位置のばらつきについて、より具体的には、支持バーの撓み変形を抑制するために弾性体を用いた場合には、針先42aの高さ位置のばらつきは40μm程度であったが、弾性体に代えて剛的支点を用いた本発明では、そのばらつきを半値である約20μm以下に抑制することができた。
図4に示した例では、スリットバー28aのスリット溝32aの前記頂面における後縁部分に形成された剛的支点は、段差面50aで形成されていた。これに代えて、図示しないが、スリット溝32aの前記頂面における後縁部分が他の前縁部分よりも方に位置する段差面で形成することができる。この場合、針先領域36aの前記段差面に対向する領域が当該段差面に当接するとき、スリット溝32aの前記頂面における前縁部分と針先領域36aとの間には該針先領域の前記したと同様な弾性変形を許す間隔が保持される。また、前記スリットバーの前記段差面に対向するプローブ22の前記したと同様な上方への段差面52aは、これと同様な上方への段差面またはこれとは反対の下方へ段差面のいずれかとすることができる。あるいは、プローブに形成される前記した段差を不要とすることができる。
図5に示すように、スリットバー28aのスリット溝32aの前記頂面をスリットバー28aの前縁から後縁に至る直線状の平坦面で形成することができる。この場合、プローブ22には、取付け領域34と針先領域36aとの間で、平坦面部分に向けての凸状の段部52を形成することができ、前記頂面の段部52の平坦な段面52aに対向する部分が前記したと同様な剛的支点を構成する。
また、スリットバー28aに前記したような剛的支点を設けることに代えて、支持体24に同様な剛的支点を設けることができる。
図6には、支持体24の下面24aに、スリットバー28aの後縁に沿って下方に伸長する伸長部54を形成した例を示す。図6に示す例では、伸長部54の下端面54aは、前記下面24aおよびスリット溝32aの前記頂面の両高さ位置間に在る。伸長部54の下端面54aは、プローブ22に形成された段部52の段差面52aを受ける平坦面で構成されており、前記したと同様なプローブ22のための剛的支点として作用する。
また、図7に示すように、支持体24の下面24aで、スリットバー28aにから間隔をおいてこれに平行に形成される伸長部56を形成することができる。伸長部56は、スリットバー28aに近接する一方の支持バー26aの上方に配置されている。この伸長部56の平坦な下端面56aは、支持バー26aの上方でプローブ22の取付け領域34の上面に当接し、前記したと同様な剛的支点として作用する。
支持バー26aに作用するオーバドライブ力の低減を図る上では、図7に示すように、支持バー26aの上方で取付け領域34に当接する剛的支点を形成することが望ましい。
しかしながら、支持バー26aに作用するオーバドライブ力の低減を図り、しかも各プローブ22のオーバドライブ力をより高精度で適正に設定する上で、図4および図5に示したように、剛的支点を針先42aの近傍位置に設定することが望ましい。これにより、各プローブ22のオーバドライブ力による針先の変位量を比較的高精度に揃えることが可能となり、すべてのプローブ22でのより安定した電気的接触を実現することが可能となる。
図8に示すように、図4に示した各プローブ22の取付け領域34に容量低減用穴58aおよび58bを形成することができる。これらの穴58aおよび58bは、隣接するプローブ22間での静容量の低減を図ることにより、パルス状信号の漏れによる隣接するプローブ22間でのクロストークを低減する。
また、前記したところでは、一対の支持バー26(26a、26b)を介して支持体24に支持されるプローブ22を示したが、図9に示すように、単一のガイド穴38を有し、該ガイド穴を挿通する単一支持バー(図示せず)を介して前記したと同様な支持体に支持されるプローブ22に本発明を適用することができる。
本発明によれば、前記剛的支点(50a、32a、54a、56a)によってプローブ22に作用するオーバドライブ力の一部を支持することができるので、プローブ22を支持する支持バー26に、プローブ22に捩れを生じさせるような過大な撓み変形が生じることを確実に阻止することができる。したがって、この支持バー26の撓み変形に起因するプローブ22の捩れ変形およびこの捩れ変形に伴うスリットバー28aの仕切り壁32cの損傷あるいは破損をより確実に防止することができ、また、各プローブ22の針先42aの高さ位置および針先の平面上の位置のばらつきをより効果的に抑制することができるので、長期の使用によってもすべてのプローブ22による安定した電気的接続を実現することができる。
本発明は、上記実施例に限定されず、その趣旨を逸脱しない限り、種々に変更することができる。
本発明に係るプローブ組立体を組み込んだ電気的接続装置の一例を示す液晶表示パネルの検査装置の一部を示す平面図である。 図1に示した検査装置に組み込まれた多数のプローブ組立体の一つを示す正面図である。 図2に示されたIII-III線に沿って得られたプローブ組立体の部分的な断面図である。 図3に示したプローブ組立体の針先領域を拡大して示す部分的な拡大図である。 本発明の他の例を示す図4と同様な図面である。 本発明のさらに他の例を示す図4と同様な図面である。 本発明のさらに他の例を示す図4と同様な図面である。 図3に示したプローブ組立体のプローブのさらに他の例を示す平面図である。 図8に示したプローブのさらに他の例を示す平面図である。
符号の説明
10 プローブ装置
22 プローブ
24 支持体(プローブブロック)
26(26a、26b) 支持バー
28(28a、28b) スリットバー
30a スリットバーの前縁
32(32a、32b) スリット溝
34 プローブの取付け領域
36(36a、36b) プローブの針先領域
38(38a、38b) ガイド穴
32a、50a、54a、56a 剛的支点

Claims (6)

  1. 支持体と、帯状の取付け領域および該取付け領域の先端から前方に伸びかつ前記取付け領域の幅寸法より小さい幅寸法を有する帯状の針先領域とを備える複数のプローブであって前記取付け領域の幅方向が上下方向となる状態に前記支持体の下側に前記取付け領域を対向させて並列的に配置された複数のプローブと、前記取付け領域を該取付け領域の厚さ方向に貫通して伸びかつ前記支持体に支持された細長い支持バーと、前記支持体の先端縁部に前記支持バーの長手方向に沿って配置されるスリットバーであって該スリットバーの長手方向に相互に間隔をおきかつそれぞれが下方に開放し、対応する前記プローブの前記針先領域をその針先が前縁より突出するように受け入れる複数のスリット溝を有するスリットバーとを含み、該スリットバーまたは前記支持体には、前記プローブが前記スリットバーの前記前縁で前記スリット溝の頂面に当接する前に、前記プローブに当接して該プローブの変形を拘束する剛的支点が設けられており、該剛的支点は、前記スリットバーの前記スリット溝の前記頂面における後縁部分に形成されており、
    前記スリットバーの前記頂面における前記後縁部分には、前記頂面の残りの領域に対して段差をなす平坦面部分が形成されており、前記プローブには、前記取付け領域と前記針先領域との間で前記平坦面部分に対向する段部が形成されており、該段部に当接する前記平坦面部分が前記剛的支点を構成することを特徴とする、プローブ組立体。
  2. 前記平坦面部分が前記段部に当接するとき、前記スリットバーの前記頂面における前記平坦面部分を除く前記残りの領域は、対応する前記プローブの前記針先領域に間隔を保持されている、請求項1に記載のプローブ組立体。
  3. 前記スリットバーの前記平坦面部分は、その前記残りの領域に対して下方に位置する段差面を形成し、前記プローブの前記段部は前記針先領域の頂部に対して上方に位置する段差面を形成する、請求項2に記載のプローブ組立体。
  4. 前記支持体の下面には、前記針先領域に近接して配置された前記支持バーの配置位置よりも前記スリットバーの側で前記プローブに当接する段部が形成されており、該段部が前記剛的支点を構成する、請求項1に記載のプローブ組立体。
  5. 前記支持体の前記段部は、前記スリットバーに沿って下方に突出して形成されている、請求項4に記載のプローブ組立体。
  6. 前記プローブには、前記取付け領域と前記針先領域との間で前記支持体の前記段部の当接面に対向する平坦面を形成する段部が形成されている、請求項5に記載のプローブ組立体。
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