JP5491789B2 - プローブ装置 - Google Patents

プローブ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5491789B2
JP5491789B2 JP2009174248A JP2009174248A JP5491789B2 JP 5491789 B2 JP5491789 B2 JP 5491789B2 JP 2009174248 A JP2009174248 A JP 2009174248A JP 2009174248 A JP2009174248 A JP 2009174248A JP 5491789 B2 JP5491789 B2 JP 5491789B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
right direction
assembly
extending
block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009174248A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011027579A (ja
Inventor
智昭 久我
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micronics Japan Co Ltd filed Critical Micronics Japan Co Ltd
Priority to JP2009174248A priority Critical patent/JP5491789B2/ja
Publication of JP2011027579A publication Critical patent/JP2011027579A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5491789B2 publication Critical patent/JP5491789B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

本発明は、液晶表示パネルのような平板状被検査体の通電試験に用いられるプローブ装置に関する。
液晶表示パネルのような平板状の被検査体は、一般に、プローブユニットのようなプローブ装置を用いる検査装置すなわち試験装置により検査すなわち試験をされる。そのようなプローブ装置の1つとして、特許文献1及び2に記載されたものがある。
特許文献1に記載されたプローブ装置は、試験装置の本体フレームに取り付けられる板状のプローブベースと、プローブベースに取り付けられた連結ブロックと、高さ位置を調整可能にスライドベースに懸架された支持ブロックと、複数のプローブをプローブホルダに支持させたプローブブロック(プローブ組立体)であって、支持ブロックに組み付けられたプローブブロックとを含む。
プローブホルダは、該プローブホルダから上方に突出する凸部がスライドブロックに形成された凹部に差し込まれた状態に、一対のねじ部材により連結ブロックに取り付けられている。これにより、プローブブロックは支持ブロックに対し解除可能に維持されている。
各プローブは、板状の針中央領域、針中央領域から前方へ一体的に延びる先端領域、先端針先領域から下方へ突出する先端針先、針中央領域から後方へ一体的に延びる後端領域、及び後端領域から上方へ突出する後端針先を有する。そのようなプローブは、針中央領域の厚さ方向が左右方向とされた状態に、プローブホルダに配置されている。
プローブ組立体は、プローブ及びプローブホルダの他に、針中央領域をその厚さ方向に貫通して延びて、両端部においてプローブホルダに支持された一対のガイドバーと、先端針先を受け入れるべく左右方向に間隔をおいた複数のスリットを有する、プローブホルダに支持された先端側スリットバーと、後端針先を受け入れるべく左右方向に間隔をおいた複数のスリットを有する、プローブホルダに支持された後端側スリットバーとを備える。
特許文献1に記載されたプローブ装置において、プローブは、一対のガイドバーによりプローブホルダに支持されている。そのようなプローブ装置においては、先端針先及び後端針先がそれぞれ被検査体の電極及びタブのような配線シートの接続部に押圧されて、オーバードライブが各プローブに作用すると、プローブホルダに対するプローブの変位量が各プローブとガイドバーとの間に存在するギャップの大きさに応じて異なる。
上記のようなギャップがプローブとガイドバーとの間に形成されることは、設計上及び加工上許される公差により、避けることができない。その結果、先端針先と被検査体の電極との間の接触、及び後端針先と配線シートのランドとの間の電気的な接触が不安定になり、正しい試験すなわち検査が行われない。
上記の課題を解決するために、特許文献2に記載されたプローブ装置においては、上記のガイドバーを位置決めピンとし、また前方に向けて開放するコ字状の第1及び第2の凹所をそれぞれ各プローブの針中央部の前端部及び後端部に設け、後方に突出されて第1及び第2の凹部に嵌合された第1及び第2の凸部をそれぞれ先端側スリットバー、及びブロック片の後端部に設けた荷重受けバーに設けている。
特許文献2に記載されたプローブ装置においては、ガイドバーを位置決めピンとしたこと、第1の凹部及び第1の凸部が嵌合されていること、並びに第2の凹部及び第2の凹部が嵌合されていることにより、オーバードライブが各プローブに作用したときのブロック片に対するプローブの変位量の差を低減している。
しかし、上記のようにしても、ピン部材とプローブとの嵌合部、第1の凹部と第1の凸部との嵌合部、及び第2の凹部と第2の凹部との嵌合部のギャップは、設計上及び加工上許されていることであり、またそのようなギャップをゼロにすることは、加工上及び組み立て作業上、困難である。
上記の結果、特許文献2に記載されたプローブ装置においては、オーバードライブが各プローブに作用したときのプローブホルダ(特に、ブロック片)に対するプローブの変位量の差をある程度小さくすることができるにすぎない。このため、特許文献2に記載されたプローブ装置では、先端針先と被検査体の電極との間の接触、及び後端針先と配線シートの接続部との間の接触が不安定になり、正しい試験をすることができない。
特開2004−191064号公報 特開2009−115585号公報
本発明の目的は、プローブホルダに対するプローブの変位量の差を可能な限り小さくして、正しい試験を可能にすることにある。
本発明に係るプローブ装置は、先端針先及び後端針先を有する複数のプローブ及び該プローブが配置されたプローブホルダを備えるプローブ組立体であって、前記プローブを左右方向に間隔をおいて前後方向へ伸びる状態に前記プローブホルダの下側に配置したプローブ組立体と、該プローブ組立体を支持する支持体と、該支持体の下側に配置された配線シートであって、左右方向に間隔をおいた複数の接続部を下面に備える配線シートと、各後端針先が前記接続部に接触された状態に、前記プローブ組立体を前記支持体の下側に組み付ける組み付け具とを含む。
前記プローブホルダ及び各プローブのいずれか一方は、前後方向におけるいずれか一方の側に突出する凸部を備え、また前記プローブホルダ及び各プローブの他方は、前後方向における他方の側にされた凹部であって、前記凸部が嵌合された凹部を備える。
前記凸部及び前記凹部のそれぞれは、コ字状の断面形状を有することができ、また前記凸部及び前記凹部は、それぞれ、前記後端針先が前記接続部に接触された状態において、互いに押圧された縁部であって下縁部及び上縁部のいずれか一方及び他方を有することができる。
前記凸部及び前記凹部は、それぞれ、互いに対向された第2の上縁部及び第2の下縁部のいずれか一方及び他方を有することができる。
前記組み付け具は、前記支持体を上方から下方に貫通して、前記プローブホルダに螺合されたねじ部材を含むことができる。
前記支持体及び前記プローブ組立体のいずれか一方は、左右方向に間隔をおいた一対の位置決めピンであって、前記支持体及び前記プローブ組立体の前記一方から上下方向へ延びて前記穴に嵌合された一対の位置決めピンを備えることができ、また各位置決めピンは、前記支持体及び前記プローブ組立体の他方に形成された位置決め穴に嵌合されていてもよい。
前記プローブホルダは、左右方向へ延びるブロック片であって、前記組み付け装置により前記支持体に組み付けられたブロック片と、該ブロック片の下側に前後方向に間隔をおいて配置されかつ左右方向へ伸びる第1及び第2のスリットバーであって、前記プローブの先端部及び後端部の少なくとも一部をそれぞれ下方側から受け入れるべく左右方向に間隔をおいた複数のスリットをそれぞれ有する第1及び第2のスリットバーとを備えることができる。
前記支持体は、前記プローブ組立体が配置された段部を有するブロックを備えることができる。また、各プローブの前記先端針先及び前記後端針先は、それぞれ、前記プローブホルダから前方及び後方に突出されていてもよい。
各プローブは、さらに、帯状の針主体部と、該針主体部の前端から前方へ一体的に伸びる先端領域と、前記針主体部の後端から後方へ一体的に伸びる後端領域とを備えることができ、また前記先端針先は、前記先端領域の先端部から下方へ延びており、前記後端針先は前記後端領域の後端部から上方へ延びていてもよい。
前記プローブ組立体は、さらに、前後のスリットバーの間にあって、前記プローブの上方を左右方向へ延びるコマ部材を含むことができ、また該コマ部材は、前記プローブの上側を左右方向に延びる板状の主体部と、前記プローブと後側のスリットバーとの間を左右方向へ延びて下方へ突出する板状の突部とにより逆L字状の形状を有することができ、さらに前記プローブホルダ及び各プローブの他方は、さらに、前記凹部の奥底から突出して、前記凸部に当接する第2の凸部と、前記コマ部材の前記主体部の下面及び前記第2の凸部の前面に当接する上側突部とを有することができる。
前記プローブ組立体は、さらに、前記プローブの中央領域を貫通して左右方向へ延びる少なくとも1つのバー部材と、前記プローブホルダの左右方向における各側部に取り外し可能に組み付けられて、前記バー部材をその端部において前記ブロック片に支持させる板状のカバーとを備えることができる。
前記プローブ組立体は、さらに、前記プローブホルダの左右方向における各側部に取り外し可能に組み付けられた板状のカバーを備えることができる。
本発明に係るプローブ装置において、プローブ組立体は、各プローブの後端針先が配線シートの接続部に接触された状態に、支持体の下側に組み付け具により組み付けられている。このため、各プローブの後端針先は、各プローブにオーバードライブが作用しているか否かに関わりなく、配線シートの対応する接続部に確実に電気的に接続されている。
また、本発明に係るプローブ装置において、各プローブ及びプローブホルダの一方はY方向における一方の側に開放する凹部を備え、各プローブ及びホルダの他方はY方向における他方の側に突出されて、前記凹部に嵌合された凸部を備える。このため、各プローブは、その後端針先が配線シートの接続部に接触された状態において、先端針先が上方へ変位され、それにより互いに嵌合されている凹部及び凸部の少なくとも一部が互いに押圧された状態に維持される。
上記のように、本発明に係るプローブ装置においては、互いに嵌合される凹部及び凸部に設計上及び加工上の公差に起因するギャップが存在していても、各プローブの後端針先が配線シートの接続部に接触された状態に維持されていることにより、凹部及び凸部の少なくとも一部が互いに押圧されて、プローブホルダに対するプローブの、左右方向、前後方向及び上下方向における位置が安定する。
上記の結果、本発明に係るプローブ装置によれば、プローブホルダに対するプローブの変位量の差が著しく小さくなり、正しい試験をすることができる。
本発明に係るプローブ装置の一実施例を示す正面図である。 図1に示すプローブ装置の右側面図である。 図1に示すプローブ装置の平面図である。 図3におけるIV部分の拡大図である。 図1におけるV−V線に沿って得た断面図である。 図1に示すプローブ装置を分解して示す断面図である。 プローブ組立体及び結合ブロックを除去した正面図である。 結合ブロックを支持ブロックに組み付ける組み付け装置の一実施例を示す分解斜視図である。 プローブ組立体の一部を拡大して示す正面図である。 図9に示すプローブ組立体の右側面図である。 図9におけるXI―XI線に沿って得た断面図である。 プローブの後端針先及びその近傍の一実施例示す拡大断面図である。 プローブ及びブロック片の凹部及び凸部、並びにそれらの近傍の一実施例を示す拡大断面図である。 エラストマ及びその近傍の拡大断面図である。 プローブ組立体の他の実施例を示す断面図である。
10 プローブ装置
12 表示用基板
14 表示用基板の電極
16 プローブ組立体
18 支持ブロック
20 連結ブロック
22 結合ブロック
24 組み付け装置
26 配線シート
28 接続ブロック
30 ブローブベース
32 プローブ
32a 針主体部
32b 先端領域
32c 後端領域
32d 先端針先
32e 後端針先
34 ブロック片
36 スリットバー
38 バー部材
40 カバー
40a,40b カバー部材
42 スリット
50 凸部
52 凹部
50a,52a 下縁部
50b、52b 上縁部
56 下向き段部
58 雌ねじ穴
60 ねじ部材(組み付け具)
100 固定板
102 集積回路
104 接続ランド(接続部)
106 配線
110 ねじ部材
112 位置決めピン
114 接続シート
120 プローブ組立体
122 プローブ
122a 凸部(第2の突部)
[用語について]
本発明においては、図1において、上下方向を上下方向又はZ方向といい、左右方向を左右方向又はX方向といい、紙背方向を前後方向又はY方向という。しかし、それらの方向は、ワークテーブルのようにパネル受けに受けられた被検査体の姿勢に応じて異なる。
それゆえに、本発明に係るプローブ装置は、本発明でいう上下方向(Z方向)が、実際に、上下方向となる状態、上下逆となる状態、斜めの方向となる状態等、いずれかの方向となる状態に試験装置に取り付けられて、使用される。
[実施例]
図1から図4を参照するに、プローブ装置10は、一部を図2,5,10,11及び15に示す液晶表示パネルを被検査体12とし、被検査体12の点灯検査に用いられる。被検査体12は、長方形の形状を有しており、また複数の電極14(図10,11及び15参照)を少なくとも長方形の隣り合う2つの辺に対応する縁部に所定のピッチで形成している。各電極14は、これが配置された縁部と直交する方向(X方向又はY方向)へ伸びる帯状の形状を有している。
図1から図5を参照するに、プローブ装置10は、プローブ組立体16と、プローブ組立体16を支持する支持ブロック18と、支持ブロック18が連結される連結ブロック20と、支持ブロック18の下側(Z方向におけるいずれか一方の側)に支持された結合ブロック22と、結合ブロック22を支持ブロック18の下側に組み付ける組み付け装置24と、結合ブロック22の下側に支持された配線シート26と、支持ブロック18の下側に取り付けられた接続ブロック28とを含む。
プローブ装置10は、試験装置の本体フレーム(図示せず)に取り付けられる平板状のプローブベース30に、連結ブロック20が組み付けられることにより、試験装置にその一部として組み立てられる。
図9から図11を参照するに、プローブ組立体16は、導電性材料により製作された複数のプローブ32を、ブロック片34の下面に前後方向に間隔をおいて組み付けられた一対のスリットバー36に、左右方向に間隔をおいて後方向に伸びる状態に配置し、円形の横断面形状を有するバー部材38をプローブ32に貫通させ、両バー部材38の端部を一対のカバー40によりブロック片34に組み付けている。
各プローブ32は、図11に示すように、矩形をした板状の針主体部32aと、針主体部32aの前端から前方へ一体的に伸びる先端領域32bと、針主体部32aの後端から後方へ一体的に伸びる後端領域32cと、先端領域32bの先端から下方に曲げられた先端針先32dと、後端領域32cの後端から上方に曲げられた後端針先を32eとを備えるブレードタイプの針とされている。先端針先32d及び後端針先32eは、三角形に形成されて、先鋭にされている。
ブロック片34及び各スリットバー36は、いずれも、電気絶縁性を有するセラミック、合成樹脂等により、左右方向に長い角柱状の形状を有する。
各スリットバー36は、電気絶縁性の材料により角柱状の形状に製作されており、またブロック片34の前部下面又は後部下面に左右方向へ伸びる状態に装着されている。各スリットバー36は、図9から図12に示すように、これの長手方向(左右方向)に所定の間隔をおいて前後方向へ伸びて下方に開放する複数のスリット42を下面に有する。
バー部材38は、図示の例では円形の断面形状を有しており、またセラミックのような硬質の電気絶縁性の材料により形成されている。各バー部材38は、プローブ32の針主体部32aを貫通している。しかし、バー部材38は、導電性の材料を電気絶縁性の材料で被覆したものであってもよく、また矩形、六角形等の多角形のような他の横断面形状を有していてもよい。
各プローブ32は、針主体部32aの厚さ方向を左右方向としかつ前端針先32d及び後端針先32eをそれぞれブロック片34から前方及び後方へ突出させた状態に、スリットバー36に並列的に配置されており、さらに先端領域32b及び後端領域32cをスリットバー36のスリット42に嵌合させている。
各カバー40は、図1及び9に示すように、内側に位置された板状のカバー部材40aと、その外側に位置された板状のカバー部材40bとにより形成されている。
各カバー40は、また図1,2,9及び10に示すように、カバー部材40a,40bを貫通して、ブロック片34の左右方向における端部に螺合された複数のねじ部材44により、ブロック片34の左右方向における側面に取り外し可能に取り付けられている。
各カバー40は、また、複数の位置決めピン46により、ブロック片34に対し位置決められている。各位置決めピン46は、ブロック片34の左右方向における端部に、該端部から左右方向へ突出する状態に取り付けられており、また両カバー部材40a,40bに差し込まれている。
内側の各カバー部材40aは、バー部材38の端部を受け入れる穴48(図9参照)を有する。これにより、バー部材38は、カバー部材40a及び40bと共に、ねじ部材44及び位置決めピン46により、ブロック片34に取り付けられて、位置決めされている。
図10,11及び13に示すように、前側のスリットバー36及び各プローブ32は、それぞれ、後方に突出する凸部50及び前方に開放された凹部52を後端部及び前端部に備える。凸部50及び凹部52は、コ字状の断面形状を有すると共に、互いに嵌合されている。
また、凸部50及び凹部52は、それぞれ、下方(Z方向におけるいずれか一方の側)に位置する下縁部及び上縁部50a及び52aと、上方(Z方向における他方の側)に位置する上縁部及び下縁部50b及び52bとを有する。
凸部50の下縁部50aと凹部52の上縁部52bとは下方に向いており、凸部50の上縁部50bと凹部52の下縁部52aとは上方に向いている。凹部52の上縁部52aは、後方側ほど低くされている。これにより、凹部52の奥底部下側に付加的な凹部52cが形成されている。
プローブ組立体16は、また、左右方向に間隔をおいた複数の位置決めピン54(図1参照)を含む。各位置決めピン54は、ブロック片34に取り付けられており、またブロック片34から上方へ延びている。各位置決めピン54は、さらに、結合ブロック22に設けられた位置決め穴(図示せず)に嵌合されて、その位置決め穴と共に、プローブ組立体16を結合ブロック22に対して位置決めている。
上記とは逆に、位置決めピン54を結合ブロック22に設け、位置決め穴をブロック片34に設けてもよい。
各プローブ32は、凸部50及び凹部52が相互に嵌合され、かつバー部材38がプローブ32を貫通し、さらに先端領域32b及び後端領域32cがスリット42に嵌合された状態に、スリットバー36に配置される。
各プローブ32は、また、そのようなスリットバー36が、ねじ部材、接着剤等により、ブロック片34に上記のように組み付けられると共に、カバー40が34に上記のように組み付けられることにより、ブロック片34に組み付けられて、保持される。
結合ブロック22は、図6及び8に示すように、プローブ組立体16が配置された下向き段部56を有する。下向き段部56は、結合ブロック22の下部の前端部を左右方向へ延びている。
プローブ組立体16は、図1,5及び6に示すように、結合ブロック22の貫通穴57を上方から下方に貫通して、ブロック片34に設けられた雌ねじ穴58に螺合された頭付きのねじ部材60により、位置決めピン54が前記した位置決め穴に挿入された状態に、下向き段部56に維持されている。
図においては、隣り合うプローブ32が左右方向に大きく間隔をおいているように示しているが、実際にはプローブ32の配列ピッチは小さい。プローブ32の数、厚さ寸法及び配列ピッチ、並びに、スリットバー36のスリットの数、配置ピッチ及び幅寸法は、被検査体12の種類、特に電極の配置ピッチと幅寸法とにより異なる。
プローブ組立体16は、両スリットバー36を上記した状態にブロック片34に取り付けた状態で、各プローブ32の両端部をスリットバー36のスリット42に挿し込むと共に、凸部50及び凹部52を嵌合させ、バー部材38をプローブ32とカバー部材40aとに挿し通し、その後各カバー40をねじ部材44及び位置決めピン46でブロック片34に取り付けることにより、組み立てることができる。
一方のカバー40は、両スリットバー36をブロック片34に取り付けた後に、ブロック片34に取り付けてもよい。
プローブ組立体16の分解は、上記と逆の作業を実行することにより、行うことができる。プローブ32の交換は、上記と逆の作業を実行して、元のプローブを新たなプローブに変更した後、上記と同様の作業を実行することにより、行うことができる。
結合ブロック22へのプローブ組立体16の組み付けは、位置決めピン54(図1及び6参照)を結合ブロック22の前記した位置決め穴に差し込んだ状態で、ねじ部材60を、結合ブロック22の貫通穴57に上方から下方に通して、ブロック片34の前記した雌ねじ穴に螺合させることにより、行うことができる。
結合ブロック22からのプローブ組立体16の取り外しは、上記と逆の作業を実行することにより、行うことができる。
この実施例においては、ブロック片34とスリットバー36とは、複数のプローブ32を左右方向における一端面に前後方向に間隔をおいて並列的に配置したプローブホルダを構成している。
図1から7を参照するに、支持ブロック18は、板状の2つ支持部18a及び18bによりL字状の横断面形状に製作されている。連結ブロック20は、プローブベース30に取り付けられる主体部20aと、主体部20aの上部から前方へ伸びる延長部20bとにより、逆L字状の形状を有する。
図示の例では、支持ブロック18は結合ブロック22と共に支持体を形成しており、ねじ部材60はプローブ組立体16を結合ブロック22に組み付ける組み付け具として作用する。
支持ブロック18は、左右方向に間隔をおいて上下方向へ伸びる一対のガイドレール62と、両ガイドレール62の間を上下方向へ延びるガイド64とにより連結ブロック20の主体部20aの前面に上下方向へ移動可能に連結されていると共に、ボルト66により連結ブロック20の延長部20bに上下方向の位置を調整可能に連結されている。
両ガイドレール62及びガイド64は、それぞれ、リニアレール及びリニアガイドである。両ガイドレール62は、支持ブロック18の支持部18aの後端面に取り付けられている。これに対し、ガイド64は、左右方向における両ガイドレール64の間に配置されており、また両ガイドレール64により上下方向へ移動可能に案内されるように、連結ブロック20の主体部20aの前端面に取り付けられている。
ボルト66は、連結ブロック20の延長部20bを上方から下方へ貫通しており、また支持ブロック18に形成されたねじ穴68に螺合されている。支持ブロック18は、図1に示すように、左右方向に間隔をおいて配置された一対の圧縮コイルばね70により下方に付勢されている。
各圧縮コイルばね70は、連結ブロック20の延長部20bの上に複数のねじ部材71(図3及び5参照)により取り付けられた板状のばね押え72と、支持ブロック18との間に、連結ブロック20の延長部20bを上下方向に貫通する状態に、配置されている。これにより、ねじ穴68へのボルト66のねじ込み量を調整することにより、支持ブロック18ひいてはプローブ組立体16の高さ位置を調整することができる。
ばね押え72は、ドライバーのような工具の先端部を上方から差し込んで、ボルト66の回転量を調整する貫通穴72aを有する。これにより、バネオさえ72を支持ブロック18から取り外すことなく、支持ブロック18ひいてはプローブ組立体16の高さ位置の調整を行うことができるから、そのような高さ位置の調整が容易になる。
連結ブロック20は、図5に示すように、連結ブロック20を上方から下方に貫通してプローブベースに螺合された複数のボルト76によりプローブベース30に取り外し可能に取り付けられている。各ボルト76は、連結ブロック20の主体部20aを上方から下方に貫通しており、またプローブベース30に形成されたねじ穴78に螺合されている。
図1から8を参照するに、組み付け装置24は、結合ブロック22に形成された凹所80(図6及び8参照)と、凹所80に嵌合された連結部材82と、連結部材82を支持ブロック18の下側に組み付けて支持ブロック20に支持させる複数のねじ部材84(図3及び7参照)と、連結部材82の貫通穴85を上下方向に貫通して、結合ブロック22のねじ穴88に螺合されたねじ部材86とを含む。
凹所80及び連結部材82は円形の横断面形状を有している。また、ねじ部材84は、図3及び7に示すように、支持ブロック18の支持部18bを上方から下方に貫通して、連結部材82の雌ねじ穴83(図7及び8参照)に螺合されている。さらに、ねじ部材86の下端部は、結合ブロック22に設けられた雌ねじ穴88に螺合されている。
図示の例では、雌ねじ穴88は、図6に示すように、結合ブロック22の主体部22aに変位不能に組み付けられたナット22bであるが、図8に示すように主体部22aに直接形成してもよい。
結合ブロック22へのプローブ組立体16の組み付けは、位置決めピン54(図1参照)を結合ブロック22の前記した位置決め穴に差し込んだ状態で、ねじ部材60を、結合ブロック22の貫通穴57に上方から下方に通して、ブロック片34の雌ねじ穴58に螺合させることにより、行うことができる。
組み付け装置24は、連結部材82がねじ部材84により支持ブロック18に取り付けられ、ねじ部材86が、連結部材82を上下方向に貫通して、雌ねじ穴88に螺合されることにより、結合ブロック22を支持ブロック18の支持部18bの下側に組み付けている。
組み付け装置24は、また、凹所80と連結部材82が勘合されていることにより、結合ブロック22を支持ブロック18に対し、左右方向及び前後方向により形成されるXY面内における所定の位置に維持している。
図示の例では、組み付け装置24は、さらに、結合ブロック22に形成され、XY面内を延びて、凹所80に連通された凹所90と、連結部材82からXY面内を延び、かつ凹所90に受け入られたピン部材92と、支持ブロック18の支持部18bの下面に形成され、かつ連結部材82の側に開放する一対の凹所94と、連結部材82上方に延びて、凹所94に受け入られた一対のピン部材96とを備える。
凹所90及びピン部材92は、XY面内においてねじ部材86より前方の位置を一方向(図示の例では、X方向)に延びている。これに対し、両凹所94及び両ピン部材96のそれぞれは、凹所90及びピン部材92が延びる方向と交差する方向、好ましくは直行する方向(図示の例では、Y方向)に離間されている。
組み付け装置24は、上記凹所90,94及びピン部材92,94により、結合ブロック22を支持ブロック18に対し、左右方向及び前後方向における所定の位置に維持していると共に、上下方向に延びるθ軸線の周りにおける所定の角度位置に維持している。
凹所80を支持ブロック18に設け、連結部材82を結合ブロック22にねじ止めしてもよい。また、凹所90,94と、ピン部材92,96とを上記と逆の部材に設けてもよい。
支持ブロック18への結合ブロック22の組み付けは、ピン部材96を対応する凹所94に位置させた状態で、連結部材82をねじ部材84により支持ブロック18の下側に取り付け、次いで連結部材82を凹所80に勘合させて、ピン部材92を対応する凹所90に位置させた状態で、ねじ持部材86を結合ブロック22の雌ねじ穴88に螺合することにより、行うことができる。
支持ブロック18からの結合ブロック22の取り外しは、上記と逆の作業を実行することにより、行うことができる。
図2,5及び6に示すように、配線シート26は、フレキシブル印刷配線回路(FPC)により形成された前部領域26aと、前部領域26aの後端部に続くタブ(TAB)により形成された中間領域26bと、中間領域26bの後端部に続くフレキシブル印刷配線回路(FPC)により形成された後部領域26cとを有する複合回路シートとされている。
図2,5,6,8,11及び12に示すように、配線シート26は、固定板100により結合ブロック22の下側に位置されており、また被検査体12を駆動する集積回路102を中間領域26bに配置している。
配線シート26の前部領域26aは、左右方向に間隔をおいた複数の接続ランド104(図11,12参照)を先端部下面に備えると共に、接続ランド104から後方へ左右方向に間隔をおいて並列的に延びる複数の配線106(図11,12及び14参照)を備える。
各配線106に設けられた接続ランド104を後端針先32eと配線シート26の配線106との接続部とする代わりに、各配線106の一部をそのような接続部としてもよい。
配線シート26の中間領域26bは、左右方向に間隔をおいた複数の前側配線と、左右方向に間隔をおいた複数の後側配線とを有する。前側配線は、その前端部において配線106の後端部に接続されていると共に、後端部において集積回路102の出力端子に接続されている。これに対し、後側配線は、前端部において集積回路102の入力端子に接続されている。
配線シート26の後部領域26cは左右方向に間隔をおいた複数の配線を有しており、またそれらの配線は、その前端部において中間領域26bの後側配線に接続されている。配線シート26は、後部領域26cの後端部において結合ブロック22の上側に折り返されて、配線106の後端部を上方に向けている(図8及び14参照)。
図2,5及び6を参照するに、接続ブロック28は、支持ブロック18の下側を左右方向へ延びており、また結合ブロック22の後端部と支持ブロック18との間に位置されている。接続ブロック28は、左右方向に間隔をおいた複数のねじ部材110と、前後方向に間隔をおいた複数の位置決めピン112とにより支持ブロック18の下側に分離可能に取り付けられている。
各ねじ部材110は、接続ブロック28を下方から上方へ貫通して、支持ブロック18に螺合されている。各位置決めピン112は、接続ブロック28及び支持ブロック18のいずれか一方に上下方向へ延びる状態に固定されて、接続ブロック28及び支持ブロック18の他方に設けられた位置決め穴に勘合されている。
図2,5,6及び14を参照するに、プローブ装置10は、さらに、接続ブロック28から後方へ延びる状態に先端部において接続ブロック28の下側に装着された接続シート114と、接続ブロックの下側に装着されたエラストマ116とを含む。
接続シート114は、左右方向に間隔をおいて前後方向へ延びる複数の配線118(図14参照)を有する。各配線118の少なくとも先端部は、接続シート114の下面に露出されて、配線シート26の上方に折り返された配線106に接触されている。
接続シート114の配線118は、プローブ装置10が試験装置に組み付けられた状態において、試験装置の電気回路に接続される。このため、各プローブ32は、配線シート26の配線106、集積回路102、及び接続シート114の配線118を介して試験装置の電気回路に接続される。
エラストマ116は、接続ブロック28の下側にあって、配線シート26の配線及び接続シート114の配線118の接触部に対応する箇所に配置されている。このため、エラストマ116、配線シート26の配線106及び接続シート114の配線118は、結合ブロック22及び接続ブロック28が支持ブロック18に組み付けられた状態において、圧縮変形される(図14参照)。これにより、配線シート26の配線106及び接続シート114の配線118は、強く押圧されて、確実に接触する。
支持ブロック18への結合ブロック22の取り付けは、ねじ部材86を連結部材82に通した状態で連結部材82を支持ブロック18に取り付け、プローブ組立体16を結合ブロック22に取り付け、接続ブロック28を支持ブロック18に取り付けた後、ねじ部材86を結合ブロック22の雌ねじ穴58にねじ込むことにより、行われる。
支持ブロック18への結合ブロック22の取り外しは、雌ねじ穴58へのねじ部材86の螺合を解除することにより行うことができる。
このため、プローブ組立体18及び配線シート26の交換は、結合ブロック22を支持ブロック18から分離した状態で行うことができる。また、プローブ32の交換は、結合ブロック22を支持ブロック18から分離し、プローブ組立体16を結合ブロック22から分離した状態で行うことができる。さらに、接続シート114の交換は、結合ブロック22を支持ブロック18から分離し、接続ブロック28を支持ブロック18から分離した状態で行うことができる。
上記の結果として、プローブ装置10によれば、従来技術に比べ、組み付け装置24の形状及び構造が簡略化すると共に、プローブ32を含む消耗品の交換作業が容易になる。
結合ブロック22が上記のように支持ブロック18に組み付けられると、各プローブ32の後端針先32eは、図12に示すように配線シート26の接続ランド104に押圧される。接続ランド104への後端針先32eの押圧は、各プローブ32に以下のように作用する。
各プローブ32は、先端針先32dが上方へ変位するように、図11において時計方向への回転力を受けて、図13に示すように、凹部52の下縁部52aがスリットバー36の凸部50の下縁部50aに押圧されると共に、凹部52の上縁部52bがスリットバー36の凸部50の上縁部50bに押圧される。
これにより、プローブ32は、互いに嵌合される凸部50及び凹部52に設計上及び加工上の公差に起因するギャップが存在していても、先端針先32dを同じ高さ位置に維持される。その結果、プローブホルダに対するプローブの変位量の差が著しく小さくなり、正しい試験をすることができる。
プローブ32の先端針先が上方へ変位するとき、凹所52の付加的な凹部52aは、凸部50の後端下部の逃げ空間として作用する。またプローブ32は、スリットバー36に押圧されて、左右方向への変位を防止される。
被検査体を試験する試験装置においては、上記のような形状構造を有する複数のプローブ装置10をプローブベース30に配置した複数のプローブユニットが用いられる。
図15を参照するに、プローブ組立体120は、さらに、前後のスリットバー36,36の間にあって、プローブ122の上方を左右方向へ延びるコマ部材124を含む。コマ部材124は、プローブ122の上側を左右方向に延びる板状の主体部124aと、プローブ122と後側のスリットバー36との間を左右方向へ延びて下方へ突出する板状の突部124bとにより逆L字状の断面形状に製作されている。
各プローブ122は、先端側の凹部52の奥底から前端にまで突出して、前側のスリットバー36の凸部50に当接する前側凸部122aと、コマ部材124の主体部124aの下面及び突部124bの前面に当接する上側突部122bとを有する。
各プローブ122は、後端針先32eが接続シート26の接続ランド104に押圧された状態で、端針先32dが被検査体12の電極14に押圧されたとき、凸部122aが前側のスリットバー36の凸部50に強く押圧される。それにより、プローブホルダに対するプローブ122の、左右方向、前後方向及び上下方向への変位が確実に防止される。
図15に示すプローブ組立体120は、左右方向に延びてプローブ122を貫通するバー部材38を備えていない。しかし、そのようなバー部材38を備えていてもよい。
上記実施例において、凸部50及び凹部52を、上記とは逆に、それぞれ、プローブ及びプローブホルダのいずれの側に設けてもよい。この場合、図15における実施例において、凸部122aは前側のスリットバー36に設けることができる。
また、ブレードタイプのプローブに代えて、金属細線により製作したニードルタイプのプローブ、各配線の一部をプローブとして用いるプローブ要素等、他のプローブを用いてもよい。
本発明は、液晶表示パネル用のプローブ装置のみならず、薄膜トランジスタが形成されたガラス基板のような他の表示用基板用のプローブ装置、集積回路のような他の平板状被検査体用のプローブ装置にも適用することができる。
本発明は、上記実施例に限定されず、特許請求の範囲に記載された趣旨を逸脱しない限り、種々に変更することができる。

Claims (12)

  1. 先端針先及び後端針先を有し、円形横断面形状を有するバー部材が貫通する複数のプローブ及び該プローブが配置されたプローブホルダを備えるプローブ組立体であって、前記プローブを左右方向に間隔をおいて前後方向へ伸びる状態に前記プローブホルダに配置したプローブ組立体と、該プローブ組立体を支持する支持体と、該支持体の下側に配置された配線シートであって、左右方向に間隔をおいた複数の接続部を下面に備える配線シートと、各後端針先が前記接続部に接触された状態に、前記プローブ組立体を前記支持体の下側に組み付ける組み付け具とを含み、
    前記プローブホルダ及び各プローブのいずれか一方は、前後方向におけるいずれか一方の側に突出する凸部を備え、
    前記プローブホルダ及び各プローブの他方は、前後方向における他方の側に形成された凹部であって、前記凸部が嵌合された凹部を備え、
    前記凸部及び前記凹部のそれぞれは、コ字状の断面形状を有し、
    前記凸部及び前記凹部は、それぞれ、前記後端針先が前記接続部に接触された状態において、互いに押圧された縁部であって下縁部及び上縁部のいずれか一方及び他方を有し、
    前記凸部及び前記凹部は、それぞれ、互いに対向された第2の上縁部及び第2の下縁部のいずれか一方及び他方を有し、前記第2の上縁部には、前記凹部に付加的な凹部を形成すべく後方側ほど低い傾斜が与えられている、プローブ装置。
  2. 先端針先及び後端針先を有する複数のプローブ及び該プローブが配置されたプローブホルダを備えるプローブ組立体であって、前記プローブを左右方向に間隔をおいて前後方向へ伸びる状態に前記プローブホルダに配置したプローブ組立体と、該プローブ組立体を支持する支持体と、該支持体の下側に配置された配線シートであって、左右方向に間隔をおいた複数の接続部を下面に備える配線シートと、各後端針先が前記接続部に接触された状態に、前記プローブ組立体を前記支持体の下側に組み付ける組み付け具とを含み、
    前記プローブホルダ及び各プローブのいずれか一方は、前後方向におけるいずれか一方の側に突出する凸部を備え、
    前記プローブホルダ及び各プローブの他方は、前後方向における他方の側に形成された凹部であって、前記凸部が嵌合された凹部を備え、
    前記プローブ組立体は、さらに、前後のスリットバーの間にあって、前記プローブの上方を左右方向へ延びるコマ部材を含み、
    該コマ部材は、前記プローブの上側を左右方向に延びる板状の主体部と、前記プローブと後側のスリットバーとの間を左右方向へ延びて下方へ突出する板状の突部とにより逆L字状の形状を有しており、
    前記プローブホルダ及び各プローブの他方は、さらに、前記凹部の奥底から突出して、前記凸部に当接する第2の凸部と、前記コマ部材の前記主体部の下面及び前記第2の凸部の前面に当接する上側突部とを有する、プローブ装置。
  3. 前記凸部及び前記凹部のそれぞれは、コ字状の断面形状を有し、
    前記凸部及び前記凹部は、それぞれ、前記後端針先が前記接続部に接触された状態において、互いに押圧された縁部であって下縁部及び上縁部のいずれか一方及び他方を有し、
    前記凸部及び前記凹部は、それぞれ、互いに対向された第2の上縁部及び第2の下縁部のいずれか一方及び他方を有する、請求項2に記載のプローブ装置。
  4. 前記組み付け具は、前記支持体を上方から下方に貫通して、前記プローブホルダに螺合されたねじ部材を含む、請求項1又は2に記載のプローブ装置。
  5. 前記支持体及び前記プローブ組立体のいずれか一方は、左右方向に間隔をおいた一対の位置決めピンであって、前記支持体及び前記プローブ組立体の前記一方から上下方向へ延びる一対の位置決めピンを備え、
    各位置決めピンは、前記支持体及び前記プローブ組立体の他方に形成された位置決め穴に嵌合されている、請求項1又は2に記載のプローブ装置。
  6. 前記プローブホルダは、左右方向へ延びるブロック片であって、前記組み付け装置により前記支持体に組み付けられたブロック片と、該ブロック片の下側に前後方向に間隔をおいて配置されかつ左右方向へ伸びる第1及び第2のスリットバーであって、前記プローブの先端部及び後端部の少なくとも一部をそれぞれ下方側から受け入れるべく左右方向に間隔をおいた複数のスリットをそれぞれ有する第1及び第2のスリットバーとを備える、請求項1又は2に記載のプローブ装置。
  7. 前記支持体は、前記プローブ組立体が配置された段部を有するブロックを備える、請求項1又は2に記載のプローブ装置。
  8. 各プローブの前記先端針先及び前記後端針先は、それぞれ、前記プローブホルダから前方及び後方に突出されている、請求項1又は2に記載のプローブ装置。
  9. 各プローブは、さらに、帯状の針主体部と、該針主体部の前端から前方へ一体的に伸びる先端領域と、前記針主体部の後端から後方へ一体的に伸びる後端領域とを備えており、
    前記先端針先は、前記先端領域の先端部から下方へ延びており、前記後端針先は前記後端領域の後端部から上方へ延びている、請求項1又は2に記載のプローブ装置。
  10. 前記プローブ組立体は、さらに、前後のスリットバーの間にあって、前記プローブの上方を左右方向へ延びるコマ部材を含み、
    該コマ部材は、前記プローブの上側を左右方向に延びる板状の主体部と、前記プローブと後側のスリットバーとの間を左右方向へ延びて下方へ突出する板状の突部とにより逆L字状の形状を有しており、
    前記プローブホルダ及び各プローブの他方は、さらに、前記凹部の奥底から突出して、前記凸部に当接する第2の凸部と、前記コマ部材の前記主体部の下面及び前記第2の凸部の前面に当接する上側突部とを有する、請求項1に記載のプローブ装置。
  11. 前記プローブ組立体は、さらに、前記プローブの中央領域を貫通して左右方向へ延びる少なくとも1つのバー部材と、前記プローブホルダの左右方向における各側部に取り外し可能に組み付けられて、前記バー部材をその端部において前記ブロック片に支持させる板状のカバーとを備える、請求項に記載のプローブ装置。
  12. 前記プローブ組立体は、さらに、前記プローブホルダの左右方向における各側部に取り外し可能に組み付けられた板状のカバーを備える、請求項1又は2に記載のプローブ装置。
JP2009174248A 2009-07-27 2009-07-27 プローブ装置 Active JP5491789B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009174248A JP5491789B2 (ja) 2009-07-27 2009-07-27 プローブ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009174248A JP5491789B2 (ja) 2009-07-27 2009-07-27 プローブ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011027579A JP2011027579A (ja) 2011-02-10
JP5491789B2 true JP5491789B2 (ja) 2014-05-14

Family

ID=43636495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009174248A Active JP5491789B2 (ja) 2009-07-27 2009-07-27 プローブ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5491789B2 (ja)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4369201B2 (ja) * 2003-10-22 2009-11-18 株式会社日本マイクロニクス プローブ組立体
JP2009115585A (ja) * 2007-11-06 2009-05-28 Micronics Japan Co Ltd プローブ組立体及び検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011027579A (ja) 2011-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101049767B1 (ko) 전기적 접속장치
JP4571517B2 (ja) プローブ組立体
KR101001642B1 (ko) 접촉자 및 이를 이용한 전기적 접속 장치
KR100966499B1 (ko) 프로브 조립체
JP5690105B2 (ja) プローブ装置
JP5417265B2 (ja) プローブ組立体
JP4313565B2 (ja) プローブ装置
KR19980032242A (ko) 프로브 조립체 및 프로브
JP4916763B2 (ja) プローブ組立体
JP5491790B2 (ja) プローブ装置
WO2006085388A1 (ja) 電気的接続装置
JP5491789B2 (ja) プローブ装置
JP5396104B2 (ja) プローブ組立体
JP2011112491A (ja) プローブ装置
JP5406790B2 (ja) プローブユニット及びこれを用いる試験装置
JPWO2005069447A1 (ja) 電気的接続装置
KR101279825B1 (ko) 프로브 조립체
JP5308958B2 (ja) 表示パネルのためのワークテーブル及び試験装置
JP2011122942A (ja) プローブ装置
CN212514717U (zh) 一种微小间距压接检测用弹性扁平探针及检测工具
KR20080100601A (ko) 반도체 소자 테스트용 프로브 카드
KR101309169B1 (ko) 프로브 장치
KR100889146B1 (ko) 반도체 소자 테스트용 프로브 카드
KR20090092971A (ko) 반도체 소자 테스트용 프로브 카드
KR100840878B1 (ko) 반도체 소자 테스트용 프로브 카드

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120601

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20120601

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130430

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130507

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130531

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130723

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130812

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140225

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140228

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5491789

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250