JPH06294841A - 回路素子検査用治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡易な構成で、精度よく検査を行うことので
きる回路素子用検査治具を提供することを目的とする。 【構成】 ＩＣ４を、上下逆にして、保持穴２２に挿入
する。これにより、ＩＣ４の端子８が、対応する導電パ
ッド１０に接触する。この際、図２に示すように、突起
２４、２６によってＸ方向の位置決めが行われ、突起２
８、３０によってＹ方向の位置決めが行われる。ＩＣ４
を保持穴２２に挿入した後、弾力性のある部材によって
押圧する。これにより、端子８と導電パッド１０とが確
実に接続される。この状態で、導電パッド１０を介して
所定の端子に信号を与え、所定の端子に出力される信号
を導電パッド１０を介して取り込み、検査を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は回路素子検査用治具に
関し、特にその検査精度の向上に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＩＣの特性を検査する際には、ＩＣの各
端子に信号を与え所望の動作を行うか否かを判定する。
ここで、ＩＣの各端子に確実に信号を与えるために、治
具が用いられる。

【０００３】図６に、従来の治具の一例を示す。この例
では、検査用の回路が形成された検査用基板２にソケッ
ト６を設け、このソケット６にＩＣ４の端子８を挿入す
るようにしている。

【０００４】また、図７に示すように、検査用基板２の
上面にＩＣ４の端子８に対応した導電パッド１０を設け
るものもある。この場合には、導電パッド１０の上に端
子８を置いた後、押圧具１２によって押圧する。これに
より、端子８を確実に導電パッド１０に接触させること
ができる。なお、この方法を用いる場合には、図８に示
すように、基板２上に位置決めピン１４を設けて、正確
な位置決めが可能となるようにしている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の検査用治具には次のような問題点があっ
た。

【０００６】図６に示すようなソケット６を用いる方法
は、ＩＣ４の端子８と検査用基板２との間に、ソケット
６の端子（図示せず）が挿入されることとなり、ＩＣ４
の特性を正確に測定できないおそれがあった。特に、高
周波領域においては、ソケット６の端子のインダクタン
スが無視できなくなり、測定誤差が大きくなるという問
題があった。

【０００７】また、図８に示すような治具においては、
位置決めピン１４の機械的強度が弱く、検査を繰り返し
ているうちに、位置決めピン１４が破損するおそれがあ
った。位置決めピン１４が破損すると、ＩＣ４の端子８
を正確に導電パッド１０に接触させることが困難であっ
た。

【０００８】この発明は、上記の問題点を解決して、正
確な検査を行うことのできる回路素子検査用基板を提供
することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１の回路素子検査
用治具は、導電パッドを有し、検査対象である回路素子
の端子が導電パッド上に位置するよう該回路素子を保持
する保持穴が形成された検査用基板、回路素子の端子を
導電パッドと接触するように押圧する押圧手段、を備え
ている。

【００１０】請求項２の回路素子検査用治具は、検査用
基板の保持穴に回路素子の本体側面とほぼ接触するガイ
ドを設けたこと、を特徴としている。

【００１１】

【作用】保持穴によって、回路素子が適正な位置に位置
決めされる。その後、押圧手段により、回路素子の端子
が導電パッドに押圧される。保持穴は、位置決めピンと
異なり、破損するおそれが無い。

【００１２】さらに、保持穴に回路素子の本体側面とほ
ぼ接触するガイドを設けることによって、より正確に位
置決めを行うことが可能となる。

【００１３】

【実施例】図１に、この発明の一実施例による回路素子
用検査治具の構成を示す。検査用基板２０には、保持穴
２２が形成されている。保持穴２２の内壁には、ガイド
である突起２４、２６、２８、３０が設けられている。
また、保持穴２２の周囲には、導電パッド１０が設けら
れている。導電パッド１０は、検査用基板２０に設けら
れた検査回路（図示せず）と接続されており、検査用の
信号をＩＣ４との間でやり取りする。

【００１４】この検査用治具を用いて検査を行う場合
を、以下に説明する。ＩＣ４を、図１に示すように上下
逆にして、保持穴２２に挿入する。これにより、ＩＣ４
の端子８が、対応する導電パッド１０に接触する。この
際、図２に示すように、突起２４、２６によってＸ方向
の位置決めが行われ、突起２８、３０によってＹ方向の
位置決めが行われる。なお、ＩＣ４の挿入時に障害とな
らないように、突起２８、３０は、隣接する端子８と端
子８との間に設けられ、その幅Ｗ_pは端子８間の幅より
もやや小さく形成されている。

【００１５】上記のようにしてＩＣ４を保持穴２２に挿
入した後、図３に示すように、弾力性のある部材４０に
よって押圧する。これにより、端子８と導電パッド１０
とが確実に接続される。この状態で、導電パッド１０を
介して所定の端子に信号を与え、所定の端子に出力され
る信号を導電パッド１０を介して取り込み、検査を行
う。

【００１６】なお、上記実施例においては、突起を４ケ
所に設けているが、３ケ所以下、５ケ所以上でもよい。

【００１７】他の実施例による回路素子用検査治具を図
４に示す。この実施例においては、保持穴２２の長さＷ
_pを、ＩＣ４の長さＷ_ICよりやや大きい程度にしてい
る。したがって、図２のように突起２４、２６を設ける
必要がない。また、図５の断面図に示すように、保持穴
２２の幅Ｗ_Lを、端子８の垂直部分の幅Ｗ_LDよりやや大
きい程度にしている。したがって、図２のように突起２
８、３０を設ける必要がない。

【００１８】なお、上記実施例では、保持穴２２を貫通
穴としたが、底部を有する穴としてもよい。

【００１９】また、上記各実施例では、回路素子として
ＩＣを用いた場合について説明したが、モジュール抵抗
等の同様の端子を有する回路素子にも適用することがで
きる

【００２０】。

【発明の効果】請求項１の回路素子用検査基板は、保持
穴によって、回路素子を適正な位置に位置決めするよう
にしている。したがって、位置決めのためにピン等を設
ける必要がなく、簡素な構成でありながら正確な位置決
めを実現できる。また、ピン等のように、破損するおそ
れがない。

【００２１】請求項２の回路素子検査用基板は、保持穴
に回路素子の本体側面とほぼ接触するガイドを設けてい
る。したがって、より正確に位置決めを行うことが可能
となる。

【００２２】すなわち、この発明によれば、簡易な構成
で正確な位置決めを行うことのできる回路素子用検査治
具を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例による回路素子用検査治具
を示す斜視図である。

【図２】図１の回路素子用検査治具の平面を示す図であ
る。

【図３】図２の回路素子用検査治具の線III-IIIにおけ
る断面を示す図である。

【図４】他の実施例における回路素子用検査治具の平面
を示す図である。

【図５】図４の回路素子用検査治具の線V-Vにおける断
面を示す図である。

【図６】従来の回路素子用検査治具を示す斜視図であ
る。

【図７】従来の回路素子用検査治具を示す断面図であ
る。

【図８】従来の回路素子用検査治具を示す斜視図であ
る。

【符号の説明】

４・・・ＩＣ ８・・・端子 １０・・・導電パッド ２０・・・検査用基板 ２２・・・保持穴 ２４、２６、２８、３０・・・突起

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】導電パッドを有し、検査対象である回路素
   子の端子が導電パッド上に位置するよう該回路素子を保
   持する保持穴が形成された検査用基板、 回路素子の端子を導電パッドと接触するように押圧する
   押圧手段、 を備えた回路素子検査用治具。
2. 【請求項２】請求項１の回路素子検査用治具において、 検査用基板の保持穴に回路素子の本体側面とほぼ接触す
   るガイドを設けたこと、を特徴とする回路素子検査用治
   具。