JP2000097985A

JP2000097985A - 間隔が密な試験場所用走査試験機

Info

Publication number: JP2000097985A
Application number: JP10330822A
Authority: JP
Inventors: Mark A Swart; エー．スワートマーク
Original assignee: Delaware Capital Formation Inc; Capital Formation Inc
Current assignee: Delaware Capital Formation Inc; Capital Formation Inc
Priority date: 1998-09-23
Filing date: 1998-11-20
Publication date: 2000-04-07
Also published as: EP0989409A1; TW381180B

Abstract

(57)【要約】【課題】小さな寸法又は間隔が密な試験場所を有する
プリント回路板を正確かつ安全に試験できる。【解決手段】プリント回路板１６上の間隔が密な試験
位置を試験することができるプリント回路板用走査テス
タ１０は、３次元で移動でき、回路板の上方に設けられ
た試験ヘッド１４を有しているデスクトップのロボット
１２を含む。試験ヘッドはプリント回路板の試験位置を
擦るためのワイパーブラシ５２を含む。該回路板は、試
験信号を電気試験アナライザーに移すために、該回路板
の第２の面に接触する多数のトランスレーター板７８及
びトランスレーターピン８２を有する試験固定装置１８
に載せられる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント回路板の
自動化試験に関し、特に試験信号を走査するために、試
験場所と接触してプリント回路板の表面を横切って移動
するロボット制御のワイパーブラシの使用により、プリ
ント回路板の表面上に密に配置された試験場所を試験す
る走査試験機に関する。

【０００２】

【従来の技術】プリント回路板を検査する自動試験装置
は、試験中に回路板が取り付けられる“ネイル基盤”の
試験固定装置を長い間使用してきていた。この試験固定
装置は、試験ユニット又は“ＵＵＴ”として言われてい
る、試験下で回路板の指定の試験個所に、スプリング圧
で電気的に接触するように設けられた、多数のネイル状
のスプリング負荷の試験プローブを含んでいる。プリン
ト回路板上のどの特定の回路も他の回路とは異なってい
るようであり、その結果、この板の試験個所に接触する
ためのネイル配置の基盤が、その特定の回路板のために
作られなければならない。

【０００３】試験される回路が指定されると、検査に使
用される試験個所のパターンが選択され、一致して整列
した試験プローブが試験固定装置に配置される。これ
は、典型的には、作られて整列した試験プローブを合わ
せるために、プローブ板にパターンの穴を明けること、
及びそれからプローブ板の明けられた穴に試験プローブ
を取り付けることを含んでいる。回路板が整列した試験
プローブに置かれて、固定装置に取り付けられる。

【０００４】試験中、スプリング負荷のプローブは、試
験下の回路板の試験個所とスプリング圧で接触してい
る。電気試験信号がこの板から試験プローブに送られ、
それからこの板の回路の様々の試験個所間で連続又は間
欠に検出する高速電気試験アナライザーと接続するた
め、固定装置の外部へと送られる。

【０００５】試験下の試験プローブと回路板とを試験の
ために圧力接触させる様々の試みが、過去になされてき
た。これらの固定装置の１組は、試験信号をプローブか
ら外部の電気的に制御される試験アナライザーまで送る
のに用いる別々のインターフェース接触に、試験プロー
ブが個々に配線されている“配線された試験固定装置”
である。これらの配線された固定装置は、回路板を試験
プローブに押圧接触させるために、試験中、試験固定装
置のハウジングの内部が真空にされるので、しばしば
“真空試験固定装置”と称されている。同じような構造
の特製の配線された試験固定装置は、試験中に回路板を
プローブと圧力接触させるのに必要なスプリング力を提
供する真空以外の機械的な手段を使用することによって
もまた行える。

【０００６】配線された試験固定装置で使用するため
に、試験プローブ、接触ピン及び接続ピンのワイヤラッ
ピング又は他の接続は、緊張した時間が必要である。し
かしながら特製の配線された試験固定装置は、より大き
くて、更に複雑で高価な電気試験アナライザーが実用的
でない低生産量の板や、複雑な配置の試験個所をもつ回
路板を試験するのに特に有用である。

【０００７】前述したように、特製の配線された試験固
定装置は、この固定装置から外部の回路テスタに信号を
送るための一組の固定装置である。更に別の組の試験固
定装置は、板上のランダムなパターンの試験個所に、受
信機の格子状パターンに配置されたピンを接触させ、試
験信号を送るトランスレーターピンによって接触する
“格子型固定装置”としてもよく知られている所謂“専
用”の試験固定装置である。これらの格子型テスタで
は、固定装置は一般的には特製の配線された試験固定装
置におけるよりは、複雑でなく、単純である。

【０００８】典型的な専用の又は格子の固定装置は、電
気試験アナライザー内の対応する試験回路に格子基体の
試験プローブを接続している非常に多量のスイッチをも
つ試験電子機器を含んでいる。格子テスタの一実施の形
態では、４００００ものスイッチが用いられている。そ
のようなテスタで露出板を試験する場合、トランスレー
ター固定装置は、試験下で、格子基体内の格子パターン
の試験プローブと、格子パターンでない板上の試験個所
との間で接続するトランスレーターピンを支持してい
る。

【０００９】従来技術の格子固定装置では、所謂“チル
トピン”が、トランスレーターピンとして使用されてい
る。このチルトピンは、トランスレーター固定装置の一
部であるトランスレーター板の対応する所定の穴に設け
られた真直ぐな固体ピンである。このチルトピンは、板
の格子状でないランダムなパターンの試験個所から、格
子基体の格子パターンの試験プローブに別々の試験信号
に移すために、様々な方向に傾く。

【００１０】トランスレーター固定装置は、レクサン
（ポリカーボネートの商品名（ＧＥ社））のようなプラ
スチック材料から作られた複数のトランスレーター板で
構成され、組み立てられている。トランスレーター板
は、固定装置の周囲から離れて間隔があけられた“スタ
ンド−オフ”を形成するために、互いに垂直に整列し
た、対応する組のスペーサの間で、固定装置内に積層さ
れている。スペーサは、互いに垂直方向に離れて、相互
に平行に間隔があけられた固定位置にトランスレーター
板を保持している。固定装置の各々の高さで、トランス
レーター板は、トランスレーター固定装置の各々のチル
トピンの位置を制御する所定のパターンの整列穴を有し
ている。

【００１１】いくつかの問題は、プリント回路板の試験
個所が非常に接近して位置付けられ、非常に薄い場合
に、これらの型の試験固定装置と関連している。個々の
試験個所は、通常試験パッドとして言われており、１グ
ループの試験パッドが通常は試験パックとして知られて
いる。チルトピンが非常に薄い試験パッドに接触する
と、そのパッドは、チルトピンによってつぶされるか又
は曲げられる。試験パッドの損傷程度及びそれらがどれ
だけ近くに位置しているかによって、個々のパッドは、
試験中、一緒に永久的に短絡される。

【００１２】これらの型の試験固定装置に起きる第２の
問題は、パッドが非常に接近している場合に、試験パッ
クの正確な試験結果を達成するのが困難であることであ
る。パッドがそれ程接近している場合には、チルトピン
をパック内の各々のパッドに向けることが、非常にむず
かしくなる。試験ピンの僅かな不整列が試験結果に影響
し、試験の正確性を減らす。

【００１３】第３の問題は、試験パックが、球格子整列
（ＢＧＡ）又は四平面パック（ＱＦＰ）として形成され
る場合のように、試験グローブの格子密度よりも大きい
格子密度のパッドを有するパックに対して直面する。そ
のような場合には、各々の試験パッドを試験するのに利
用できる十分な移行ピンがなく、パックの完全な試験は
不可能である。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】これらの問題を解決す
るために、小さい寸法の試験パックを有する回路板を正
確に、安全に試験できるプリント回路板の試験固定装置
が開発され、これは、非常に接近した１グループの試験
個所が試験されることになっているプリント回路板の場
所に一致して、固定装置に置かれる空気作用の短絡板を
含んでいる。短絡板が試験ユニットに係合できるよう
に、短絡板の寸法に一致して上部トランスレーター板を
貫通して穴が明けられている。伝導媒体の層が、短絡板
の上面を越えて試験個所へと電気的結合のために設けら
れている。短絡板は、トランスレーター板の層を通って
下方に延在している空気筒に取り付けるためのスナップ
を含んでいる。空気筒は、固定装置の下部トランスレー
ター板にしっかりと固定された底部ソケットにはめ込ん
でいる底部プラグによって、固定装置の底部で取り付け
られている。

【００１５】試験ユニットを試験している間、空気筒
は、エネルギを与えられ、試験パックと接触するように
短絡板を上昇させ、試験個所を曲げたり又は損傷させた
りすることなく、それらを試験のために一緒に効果的に
短絡する。

【００１６】この方法での問題は、全ての試験場所が試
験中に一緒に短絡されるので、パック内の１つ又はそれ
以上の個々の試験場所が、一緒に不正確に短絡されるこ
とである。

【００１７】間隔が密な試験パックを試験する別の方法
は、パック内で各々個々のパッドに振れるプローバをも
つことである。この方法は、極端な時間浪費の過程があ
るので好ましくない。

【００１８】従って、小さな寸法又は間隔が密な試験場
所を有するプリント回路板を試験し、その試験結果を正
確に、安全にかつ速く出す試験装置を必要としている。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明は、プリント回路
板の近接した間隔の試験場所を試験する走査試験機を提
供している。この走査試験機は、試験位置を走査するた
めに、試験場所の頂部を横切って移動するロボット制御
のワイパーブラシを備えている。走査試験機は、試験さ
れるプリント回路板上に位置付けされた試験ヘッドを有
するデスクトップの組立ロボットを備えている。この試
験ヘッドは、プリント回路板の表面を横切って移動し、
プリント回路板の表面上の試験場所を走査するために、
試験パッドと接触するワイパーブラシを含んでいる。プ
リント回路板は、組立ロボットの底部上に設置された試
験固定装置上に置かれ、この試験固定装置は、プリント
回路板の対向面上に設置された試験場所に接触する多数
の試験プローブを含んでいる。ワイパーブラシと専用固
定装置の両者から発生した試験信号が、外部の電気的に
制御される試験アナライザーに送られる。ワイパーブラ
シは、フライングプローバとの接続にもまた使用され
る。

【００２０】別の実施の形態では、伝導ローラ組立体
が、試験固定装置上のプリント回路板の押さえブロック
の１つに隣接して置かれている。このローラ組立体は、
試験場所から試験アナライザーに試験信号を送るため
に、回路板の表面を横切って移動するローラの回りに置
かれた伝導布地を含んでいる。本発明のこれらの形態及
び他の形態は、添付図面による以下の詳細な説明によ
り、一層十分に理解されるであろう。

【００２１】

【発明の実施の形態】本発明の走査試験機１０が図１に
示されている。この走査試験機は、試験されるプリント
回路板又はＵＵＴ１６より上に位置される試験ヘッド１
４を有するデスクトップ組立ロボット１２を備えてい
る。ＵＵＴは、ロボット１２の底部２０上に設置された
試験固定装置１８上に置かれる。このロボット１２は、
底部２０の各々の側に結合された垂直な支持体２２を含
んでいる。垂直な支持体は、底部の両側に沿って設置さ
れた軌道（図示されていない）に沿って、底部２０の両
側に結合され、それによって垂直な支持体は、底部の両
側に沿って前後に移動できる。

【００２２】架台（ガントリー）２４が、底部２０より
上方で垂直な支持体の上部部分間でしっかりと結合され
ている。架台に沿って左右に動くことのできるロボット
ヘッド２６が、架台２４上に設置されている。ロボット
ヘッドに結合されたワイヤ線２８によって、ロボットヘ
ッドに電力が供給される。どちらの方向へも３６０度回
転できるスピンドル３０が、ロボットヘッドの下端部に
ある。架台２４は、軌道（図示されていない）に沿って
垂直な支持体２２に結合されており、これにより架台と
ロボットヘッドとは、垂直な支持体の長さに沿って垂直
方向に上下動できる。適当なロボットは、ソニーのＣＡ
ＳＴＰＲＯ機である。

【００２３】試験ヘッド１４がスピンドルに結合されて
おり、図２と３に更に詳細に示されている。図２と３を
参照すると、試験ヘッド１４はロボットスピンドル３０
に固定された取付ブロック３２を含んでいる。プリント
回路板又は試験ユニット１６に向って下方に延在してい
る支持アーム３４が、取付ブロックの１側部に結合され
ている。図４に更に詳細に示されるように、傾斜台３６
が支持アーム３４の下端部上に設けられている。調整ア
ーム３８が傾斜台３４の下に設けられ、傾斜台３６から
下方に延在しているフランジ４０（図３を参照）によっ
て、傾斜台に結合されている。

【００２４】フランジ４０は、傾斜台３６にフランジ４
０を締結しているプレート４２によって、傾斜台の側部
の凹部に沿ってしっかりと固定されている。調整アーム
３８は、ボルト４４によってフランジ４０の下端部に固
定されている。調整アームの角度は、傾斜台３６を貫通
し、調整アームの上部面にぶつかっているボルト４６に
よって調整できる。ボルト４６は、調整アーム３８の上
部面を押している取付ブロック３６の通路５０内にも置
かれるスプリング４８を圧縮して調整される。

【００２５】ワイパーブラシ５２が調整アーム３６の端
部に設けられ、図５に最もよく示されるように調整アー
ムの上部面に固定されたクランプ５４によって、適所で
保持される。ワイパーブラシ５２は、ブラシワイヤ５８
の長さを横切って延在しているワイパー棒５６によっ
て、クランプ５４と調整アーム３８との間で保持され
る。図６に最もよく見られるように、ワイパーブラシ５
２は、好ましくは各々直径が０．００３インチの多数の
個々のブラシワイヤ５８を含んでいる。

【００２６】多数の小さな直径のブラシワイヤは、互い
に独立しており、各々のワイヤは、試験パッド又は試験
場所よりも小さな接触面を含んでいる。ワイパーブラシ
は、試験ユニットの特定の要求に応じて、どんな望まし
い数のブラシワイヤをも含むことができる。ブラシを使
用するのに加えて、ワイパーは、変更された伸縮回路
か、伝導布地又は他の伝導材料でもよい。従って更に詳
細に述べるように、ワイパーブラシは、試験ユニット１
６の上面を横切って移動され、それにより試験信号を走
査するために、試験場所６０に連続して接触する。

【００２７】再び図１と２を参照すると、試験ヘッド
は、取付ブロック３２の下部面に結合されたカメラ装置
６２をもまた含んでいる。図７にも示されるように、カ
メラ装置６２は、カメラ６６を取付ブロック３２に締結
するためのハウジング６４を含んでいる。カメラは典型
的にはエルモ（Ｅｌｍｏ）４２１Ｅのような小型のＣＣ
Ｄカメラである。ハウジングは、試験中に試験場所の位
置を見るのに、コンピューター端末７２に試験場所の位
置の像を反射するための、照明６８とミラー７０とを含
んでいる。

【００２８】前述したように、試験ユニット１６は、図
８と９に更に詳細に示されるように試験固定装置１８上
に置かれる。図示されている試験固定装置は、試験ユニ
ットが、スペーサ８０によって別けられた多数のトラン
スレーター板７８を有するトランスレーター固定装置７
６の頂部板７４上に置かれる専用固定装置である。トラ
ンスレーター板は、試験ユニットの下部面上に位置する
試験場所のパターンに一致している横列と縦行とで間隔
があけられている多数の所定の穴を含んでいる。トラン
スレーター固定装置は、トランスレーター板の所定の穴
の中に置かれた多数のトランスレーターピン又は試験プ
ローブ８２を支持している。

【００２９】特定の用途によっては、試験プローブは、
真直な固体トランスレーターピン又は従来のスプリング
プローブであってもよい。試験プローブは、試験ユニッ
トの底部面に位置する試験場所と接触するために、頂部
板７４を通って延在している。試験プローブの低端部
は、下部固定装置８８内に置かれた試験プローブ８６に
試験信号を移すために、固定装置のワイヤ８４を収容す
るワイヤ包装尾部を有している。

【００３０】トランスレーター固定装置は、レクサン
（ポリカーボネートの商品名（ＧＥ社））のようなプラ
スチック材料から作られた多数のトランスレーター板で
構成され、組み立てられている。トランスレーター板
は、下部固定装置８８より上方でトランスレーター固定
装置を支持するスペーサ８０によって別けられている。

【００３１】下部固定装置は、付加の試験電子機器を含
むハウジング９０を含んでいる。端末ブロック９４を載
せた第２のボード上に載置された端末ブロックが、ハウ
ジング内に設けられている。端末ブロック９２と端末ブ
ロック９４を載せたボードとは、試験プローブ８６を受
け入れるように整列されている多数の所定の穴を有して
いる。ブロック９２と９４とは、スイッチカード回路板
９６上に置かれる。スイッチカード回路板は、端部カー
ドコネクタ１００によってスイッチカード回路板の下部
面に結合したスイッチカード９８に、試験信号を移すた
めの電気的結合を含んでいる。

【００３２】スイッチカードは、コンジット１０２によ
って外部の電気試験アナライザー（図示されていない）
の対応する試験回路に試験プローブ８６を接続する多数
のスイッチをもつ電子機器９９を含んでいる。スイッチ
カード回路板９６は、垂直な支持体１０４によっハウジ
ング９０内で支持されている。全部の専用固定装置１８
が、軌道（図示されていない）を通って底部に取り付け
られた支持ブロック１０６によって、ロボット１２の底
部２０に結合されており、それにより全部のトランスレ
ーター固定装置が底部に沿ってロボットの前後に移動で
きる。

【００３３】専用固定装置が、試験ユニットの両側が試
験されるようにロボット上に置かれているが、試験ユニ
ットの一側のみが試験場所の位置を含んでいるならば、
試験ユニットがロボットの底部の支持体上に置かれ、ワ
イパーブラシが望ましい試験位置を走査するのに用いら
れることが解る。代りに他の型の試験固定装置をロボッ
トの底部に試験ユニットを支持するのに用いることもで
きる。

【００３４】図１０を参照すると、本発明の走査テスタ
が、試験信号を試験場所から外部の試験電子機器へと送
るための伝導ローラ組立体１０８もまた含むことができ
る。伝導ローラ組立体は、試験ユニットを押し付けるブ
ロック１１２の上に置かれているハウジング１１０を含
んでいる。このハウジングは、伝導ローラ１１４を前後
に動かすために、リニアモータ又は空気圧アキュムレー
タ（図示されていない）を含んでいる。ローラは試験信
号を送るために、布地又はラバーのような伝導性材料の
層を有している。伝導ローラは、リニアモータ又は空気
圧アキュムレータに結合されている指部１１６に取り付
けられる。

【００３５】指部１１６は、試験ユニットの表面を横切
って前後に動けるように、ハウジングの側部に沿って設
けられたスロット１１８を通ってハウジング１１０の中
に延在している。伝導ローラは、ワイパーブラシと平行
に配線されており、試験信号を送るために、ワイパーブ
ラシと共に、又はこれと別かれて用いられる。伝導ロー
ラは、その引込位置１２０と延出位置１２２の両方で図
示されている。

【００３６】使用において、ロボットは、ワイパーブラ
シが試験信号を外部の試験電子機器に送るために、試験
ユニット上の試験場所に連続的に接触するような位置
に、試験ヘッドを動かす。試験ユニットの下部面の試験
場所からの試験信号は、専用固定装置を通って外部の試
験電子機器に送られる。更に加えて試験信号は、伝導ロ
ーラを通って外部の試験電子機器へもまた送られる。ロ
ボットによる試験ヘッドの動きは、試験ユニット上の特
定の試験場所のパターンに対してプログラムされたソフ
トウェアにより制御される。ワイパーブラシは、もし望
まれるなら、各々の試験位置に別々に接触することによ
って、近接した試験場所の素早い試験を与えている。

【００３７】図１１は、フライングプローバ１３２と組
み合わせたワイパー組立体１３０を示している。フライ
ングプローバ１３２は、ロッド１３６上に置かれた本体
部分１３４と、ワイパー組立体１３０を支持するために
本体部分から延在しているアーム１３８とを含んでい
る。フライングプローバは、試験場所を横切ってワイパ
ーブラシ１４０を動かすために回転できると同様に、
ｘ，ｙ，ｚ方向にも動く従来のプローバである。

【００３８】本発明は、好ましい実施の形態に対して図
示され、説明されているが、これに限定されるものでは
なく、請求の範囲に記載されるように本発明の十分に意
図された範囲内で、変更及び修正が可能であるものであ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、本発明の走査試験機の正面図である。

【図２】図２は、図１の走査試験機の試験ヘッド組立体
の正面図である。

【図３】図３は、図２の試験ヘッドの側面図である。

【図４】図４は、図３の試験ヘッドのワイパーブラシ組
立体の正面図である。

【図５】図５は、図４のワイパーブラシ組立体の拡大細
部図である。

【図６】図６は、図５のワイパーブラシの平面図であ
る。

【図７】図７は、図２の試験ヘッドのカメラ装置の側面
図である。

【図８】図８は、図１の試験固定装置の正面図である。

【図９】図９は、図８の試験固定装置の側面図である。

【図１０】図１０は、図１の走査試験機のための任意の
ローラ組立体の細部側面図である。

【図１１】図１１は、フライングプローバと組み合わせ
たワイパーブラシ組立体の概略側面図である。

【符号の説明】

１０…走査試験機１２…ロボット１４…試験ヘッド１６…プリント回路板又は試験ユニット（ＵＵＴ）１８…試験固定装置２６…ロボットヘッド３０…ロボットスピンドル３４…支持アーム３８…調整アーム５２…ワイパーブラシ５８…ブラシワイヤ６２…カメラ装置７６…トランスレーター固定装置７８…トランスレーター板８２…試験プローブ又はトランスレーターピン９２，９４…端末ブロック９６…スイッチカード回路板９８…スイッチカード１１４…伝導ローラ１３０…ワイパー組立体１３２…フライングプローバ１４０…ワイパーブラシ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】プリント回路板用走査テスタにおいて、
この走査テスタが、プリント回路板を載せる固定装置と、該回路板上の試験場所を走査するために、回路板の表面
を横切って擦る、該固定装置の上方に設けられた試験ヘ
ッドと、を具備する走査テスタ。
【請求項２】３次元の面で試験ヘッドを動かすよう
に、試験ヘッドに結合されたロボットを更に具備する請
求項１に記載の走査テスタ。
【請求項３】該固定装置が、該回路板の第２の面に接
触する試験プローブを入れて支持するために、トランス
レーター板内に整列された選択されたパターンの穴を有
している、多数の本質的に平行で垂直に間隔があけられ
たトランスレーター板を有しているトランスレーター固
定装置であるところの請求項１に記載の走査テスタ。
【請求項４】試験ヘッドがロボットのスピンドルに設
けられ、かつワイパー手段が、ロボットのスピンドルか
ら離れた試験ヘッドの端部にしっかりと設置されたブラ
シであるところの請求項２に記載の走査テスタ。
【請求項５】試験ヘッドが、試験場所から試験信号を
受け取るために、該回路板の表面を横切って移動できる
伝導ローラを有している、プリント回路板に隣接して設
けられた分離ローラ組立体を更に含んでいるところの請
求項１に記載の走査テスタ。
【請求項６】試験ヘッドが、試験場所の像をコンピュ
ータースクリーンに投影するために、該回路板の上方に
設置されたカメラ装置を含んでいるところの請求項１に
記載の走査テスタ。
【請求項７】プリント回路板用走査テスタにおいて、
この走査テスタが、試験されるプリント回路板を載せるための専用固定装置
と、該回路板上の試験場所を走査するために、該回路板の表
面を横切って擦るための手段を有している該固定装置の
上方に設けられた試験ヘッドと、かつ試験場所から試験
信号を受け取るために、該回路板の表面を横切って移動
できる伝導ローラを有している、プリント回路板に隣接
して設けられたローラ組立体と、を具備している走査テ
スタ。
【請求項８】３次元の面内で試験ヘッドを動かすよう
に、この試験ヘッドに結合されたロボットを更に具備し
ている請求項７に記載の走査テスタ。
【請求項９】専用固定装置が、該回路板の第２の面に
接触する試験プローブを入れて支持するために、固定板
内に整列された選択されたパターンの穴を有している、
多数の本質的に平行で垂直に間隔があけられた固定板を
含んでいるところの請求項７に記載の走査テスタ。
【請求項１０】ワイパー手段が、試験場所に接触する
ために、試験ヘッドの端部にしっかりと設置されたブラ
シであるところの請求項７に記載の走査テスタ。
【請求項１１】試験ヘッドが、試験場所の像をコンピ
ュータースクリーンに投影するために、該回路板の上方
に設置されたカメラ装置を含んでいるところの請求項７
に記載の走査テスタ。
【請求項１２】伝導ローラが、該ローラの回りに伝導
布地の層を含んでいるところの請求項７に記載の走査テ
スタ。
【請求項１３】伝導ローラが、該ローラの回りに伝導
ラバーの層を含んでいるところの請求項７に記載の走査
テスタ。
【請求項１４】試験ヘッドが回転可能であって、かつ
プリント回路板に対してワイパー手段の角度を調整する
手段を含んでいるところの請求項７に記載の走査テス
タ。
【請求項１５】ワイパー手段がブラシであるところの
請求項１に記載の走査テスタ。
【請求項１６】ワイパー手段がブラシであるところの
請求項７に記載の走査テスタ。
【請求項１７】プリント回路板用走査テスタにおい
て、この走査テスタが、プリント回路板を載せる固定装
置と、かつ該回路板上の試験場所から試験信号を受け取
るために、該回路板の表面を横切って移動することがで
きる伝導ローラを有する、該回路板に近接して設けられ
たローラ組立体と、を具備する走査テスタ。
【請求項１８】ローラ組立体が、固定装置上の押付け
ブロック上に設けられているところの請求項１７に記載
の走査テスタ。
【請求項１９】伝導ローラが、該ローラの回りに伝導
布地の層を含んでいるところの請求項１７に記載の走査
テスタ。
【請求項２０】伝導ローラが、該ローラの回りに伝導
ラバーの層を含んでいるところの請求項１７に記載の走
査テスタ。
【請求項２１】プリント回路板用走査テスタにおい
て、この走査テスタが、プリント回路板を支持する取付板と、かつこのテスタに
結合され、該回路板上の試験場所を走査するために、該
回路板の表面を横切って移動できるワイパーと、を具備
する走査テスタ。
【請求項２２】ワイパーが、フライングプローバに結
合されているところの請求項２１に記載の走査テスタ。