JPS62285072A - プリント基板の配線パタ−ン検査装置 - Google Patents
プリント基板の配線パタ−ン検査装置Info
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- JPS62285072A JPS62285072A JP61127938A JP12793886A JPS62285072A JP S62285072 A JPS62285072 A JP S62285072A JP 61127938 A JP61127938 A JP 61127938A JP 12793886 A JP12793886 A JP 12793886A JP S62285072 A JPS62285072 A JP S62285072A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 14
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 23
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕 。
本発明は、プリント基板の配線パターンにおける断線や
短絡などの発生箇所を検査するのに好適なプリント基板
の配線パターン検査装置に関するものである。
短絡などの発生箇所を検査するのに好適なプリント基板
の配線パターン検査装置に関するものである。
従来この種の検査装置としては、被検査プリント基板の
配線パターンの検査ランドに対し、プローブを介して電
圧を印加し、プリント基板に流れる電流値により、プリ
ント基板の導通検査をするものがある。
配線パターンの検査ランドに対し、プローブを介して電
圧を印加し、プリント基板に流れる電流値により、プリ
ント基板の導通検査をするものがある。
岡、この種の装置に関連する特許としては、特開昭58
−223766 号、特開昭59−218967号など
が挙げられる。。
−223766 号、特開昭59−218967号など
が挙げられる。。
しかし、上記検査装置においては、被検査体であるプリ
ント基板の配線パターンにおける回路の断線不良や短絡
不良の検車は可能であるが、前記各不良の発生箇所を検
査することは困難であった。
ント基板の配線パターンにおける回路の断線不良や短絡
不良の検車は可能であるが、前記各不良の発生箇所を検
査することは困難であった。
これら不良箇所の検査は、主に人手作業によって行なっ
ているため、人為ミスにより、プリント基板の品質が低
下する恐れがある。
ているため、人為ミスにより、プリント基板の品質が低
下する恐れがある。
本発明の目的は、プリント基板の配線パターンにおける
断線や短絡の発生箇所を自動的に検査することにより、
品質向上を図るようにしたプリント基板の配線パターン
検査装置を提供することにある。
断線や短絡の発生箇所を自動的に検査することにより、
品質向上を図るようにしたプリント基板の配線パターン
検査装置を提供することにある。
上記目的は、プローブを有し、かつ配線パターン回路の
任意の位置に移動可能な複数のテストヘッドと、配線パ
ターン回路間の抵抗を測定する抵抗測定器と、配線パタ
ーン回路の正規の配線情報および導通検査情報によりテ
ストヘッドに動作指令を出力する制御器と、制御器から
の制御信号にもとづいて配線パターン゛の不良箇所のパ
ターントレースを施す撮像器とから構成することにより
達成される。
任意の位置に移動可能な複数のテストヘッドと、配線パ
ターン回路間の抵抗を測定する抵抗測定器と、配線パタ
ーン回路の正規の配線情報および導通検査情報によりテ
ストヘッドに動作指令を出力する制御器と、制御器から
の制御信号にもとづいて配線パターン゛の不良箇所のパ
ターントレースを施す撮像器とから構成することにより
達成される。
本発明装置は、複数のプローブをプリント基板の配線パ
ターンの該当箇所に接触させてその時の抵抗値を測定し
ていき、との導通検査情報と正規の配線パターン情報2
′)き合わせて不良箇所をしぼシ込み、次にしぼシ込ん
だ箇所をカメラでパターントレースしてモニタする。こ
れによって、配線パターンに訃ける断線不良や短絡不良
の箇所を確実に検査することができる。
ターンの該当箇所に接触させてその時の抵抗値を測定し
ていき、との導通検査情報と正規の配線パターン情報2
′)き合わせて不良箇所をしぼシ込み、次にしぼシ込ん
だ箇所をカメラでパターントレースしてモニタする。こ
れによって、配線パターンに訃ける断線不良や短絡不良
の箇所を確実に検査することができる。
以下本発明の実施例につき図面を参照して説明する。
第1図および第2図は本発明に基づくプリント基板の配
線パターン検査装置の構成を示す説明図である。
線パターン検査装置の構成を示す説明図である。
゛ 本装置は、プリント基板4の配線パターン上を移動
する2個のテストヘッド1.l’、テストヘッド1,1
′にプローブヘッド23を介して取付けられたプローブ
2、テストヘッドIK取付けられたカメ、93、操作パ
ネル6、モニター用テレビ9などから成る機構部と、高
抵抗測定器7、微小抵抗測定器8などから成る計測部と
、制御装置10、CRTII、キーボード12.プリン
ター13などから成る制御部から構成されている。
する2個のテストヘッド1.l’、テストヘッド1,1
′にプローブヘッド23を介して取付けられたプローブ
2、テストヘッドIK取付けられたカメ、93、操作パ
ネル6、モニター用テレビ9などから成る機構部と、高
抵抗測定器7、微小抵抗測定器8などから成る計測部と
、制御装置10、CRTII、キーボード12.プリン
ター13などから成る制御部から構成されている。
第2図は前記機構部の詳細を示すもので、前記テストヘ
ッド1,1′は駆動機の例えばサーボモータ15および
ボールスクリューネジ16によりガイド14に沿って図
示矢印入方向に移動する。
ッド1,1′は駆動機の例えばサーボモータ15および
ボールスクリューネジ16によりガイド14に沿って図
示矢印入方向に移動する。
これらヘッド、サーボモータ、ガイドおよびボールスク
リューネジはスライダー17によル支持されると共にサ
ーボモータ19およびボールスクリューネジ20によυ
ガイド18に沿って図示矢印B方向に移動する。前記テ
ストヘッド1,1′に取付けられているプローブは、各
々単独に制御して位置決めされる。
リューネジはスライダー17によル支持されると共にサ
ーボモータ19およびボールスクリューネジ20によυ
ガイド18に沿って図示矢印B方向に移動する。前記テ
ストヘッド1,1′に取付けられているプローブは、各
々単独に制御して位置決めされる。
また、前記テストヘッド1には電動式のズームレンズ2
1を備えたカメラ3が上下用移動機構22を介して支持
されておシ、このカメラ3は前記モニター用テレビ9に
接続されている。
1を備えたカメラ3が上下用移動機構22を介して支持
されておシ、このカメラ3は前記モニター用テレビ9に
接続されている。
前記プリント基板4は、テーブル5の内部に配された磁
石に磁性体の治具24により固定されている。
石に磁性体の治具24により固定されている。
前記制御装置10には、後述する配線パターンの正常な
配線情報、プリント基板4t−事前に導通検査した結果
の導通検査情報および検査時に測定する測定値情報が入
力されている。
配線情報、プリント基板4t−事前に導通検査した結果
の導通検査情報および検査時に測定する測定値情報が入
力されている。
次に本発明装置を用いたプリント基板の検査手順につい
て説明する。
て説明する。
検査対象のプリント基板4について、配線パターンの回
路が幾何学的にどのように継がっているかを示す配線情
報が予め制御装置10に入力されている。この配線情報
は、例えば第3図に示す如く配線パターン回路の4A−
4B−40−4Dと一連に継かったネットと、4B−4
F−4G−4Hと一連に継がったネットとの位置関係が
情報として得られる。
路が幾何学的にどのように継がっているかを示す配線情
報が予め制御装置10に入力されている。この配線情報
は、例えば第3図に示す如く配線パターン回路の4A−
4B−40−4Dと一連に継かったネットと、4B−4
F−4G−4Hと一連に継がったネットとの位置関係が
情報として得られる。
第3図に示す配線パターン回路において、例えば第4図
に示すように、回路4B−40と4E−4F間に短絡が
発生し、回路4G−4H間に断線が発生した場合の検査
手順を第5図に示すフローにより説明する。
に示すように、回路4B−40と4E−4F間に短絡が
発生し、回路4G−4H間に断線が発生した場合の検査
手順を第5図に示すフローにより説明する。
まず、検査しようとする配線パターンの正常な配線情報
と導通検査情報を制御装置10に入力する。制御装置1
0では導通検査情報をもとに断線が発生しているかどう
かを判断し、もし第4図に示す如く回路4E−4H間で
断線が発生している場合には、制御装置10からの配線
情報により。
と導通検査情報を制御装置10に入力する。制御装置1
0では導通検査情報をもとに断線が発生しているかどう
かを判断し、もし第4図に示す如く回路4E−4H間で
断線が発生している場合には、制御装置10からの配線
情報により。
機構部の各ヘッド1.1’J−サーボモータ15゜19
の駆動によって図示矢印入方向およびB方向に移動させ
る。そして、一方のヘッド1のプローブ2を回路4Eに
、他方のヘッド1′のプローブ2を回路4Fに接触させ
、この回路間の抵抗値を高抵抗測定器7により計測し、
この測定値情報を制御装置10に入力する。この場合、
正常な回路は4E−4E間が継がっており、第4図にお
いても4E−4Fが継がっているので、このとき制御装
置10は回路4E−4E間において断線は発生してない
と判断する。同様にして回路4F−4G。
の駆動によって図示矢印入方向およびB方向に移動させ
る。そして、一方のヘッド1のプローブ2を回路4Eに
、他方のヘッド1′のプローブ2を回路4Fに接触させ
、この回路間の抵抗値を高抵抗測定器7により計測し、
この測定値情報を制御装置10に入力する。この場合、
正常な回路は4E−4E間が継がっており、第4図にお
いても4E−4Fが継がっているので、このとき制御装
置10は回路4E−4E間において断線は発生してない
と判断する。同様にして回路4F−4G。
4G−4H間の抵抗値をそれぞれ測定していき、4G−
4H間で断線が発生していることを検知する。次に回路
4G−4H間のどこの位置で断線が発生しているかをカ
メラ3によりトレースし、画儂表示装置のモニター用テ
レビ9に表示する。作業者はモニター用テレビ9を監視
していて断線の発生個所を見つけると、キーボード12
t−操作して断線箇所の座標値を制御装置1oに取シ込
むと共にプリンター13に座標値を出力する。この座標
値はサーボモータに取シ付けたエンコーダにょシヘッド
の動きを検出して求める。
4H間で断線が発生していることを検知する。次に回路
4G−4H間のどこの位置で断線が発生しているかをカ
メラ3によりトレースし、画儂表示装置のモニター用テ
レビ9に表示する。作業者はモニター用テレビ9を監視
していて断線の発生個所を見つけると、キーボード12
t−操作して断線箇所の座標値を制御装置1oに取シ込
むと共にプリンター13に座標値を出力する。この座標
値はサーボモータに取シ付けたエンコーダにょシヘッド
の動きを検出して求める。
次に第4図に示す如く配線パターンに短絡が発生してい
る場合には、正規の配線パターンの配線情報をもとに回
路4A−4B、 4A−4F、 4A−4G、4B
−4E、4B−4Fのように順々に微小抵抗測定器8に
より抵抗値を測定する。第4図に示す回路の抵抗値の測
定では、4B−4B。
る場合には、正規の配線パターンの配線情報をもとに回
路4A−4B、 4A−4F、 4A−4G、4B
−4E、4B−4Fのように順々に微小抵抗測定器8に
より抵抗値を測定する。第4図に示す回路の抵抗値の測
定では、4B−4B。
4B−4F、4O−4E、4C−4Fの中で抵抗値が最
小になるものがあり、4B−40間と4E−14E間で
短絡していることはわかるが、短絡箇所を指定すること
はできない。そのため、抵抗値の測定で短絡箇所をしぼ
っておき、次に回路4B−40’iカメラ3でトレース
し、モニター用テレビ9に表示する。このとき、作業者
はモニター用テレビ9を監視していて短絡の発生箇所を
見つけると、キーボード12を操作して短絡箇所の座標
値を制御装置10に取シ込むと共にプリンター13に座
標値を出力する。
小になるものがあり、4B−40間と4E−14E間で
短絡していることはわかるが、短絡箇所を指定すること
はできない。そのため、抵抗値の測定で短絡箇所をしぼ
っておき、次に回路4B−40’iカメラ3でトレース
し、モニター用テレビ9に表示する。このとき、作業者
はモニター用テレビ9を監視していて短絡の発生箇所を
見つけると、キーボード12を操作して短絡箇所の座標
値を制御装置10に取シ込むと共にプリンター13に座
標値を出力する。
ちなみに、従来の導通検査においては、第4図に示す回
路の場合、断線不良として4G−4Hの個所を検出する
ことができず代表ピンである4E−4H間で断線が発生
しているように検出する。
路の場合、断線不良として4G−4Hの個所を検出する
ことができず代表ピンである4E−4H間で断線が発生
しているように検出する。
また、短絡不良としては、回路4A−4B−40−4D
のネットと4B−4F−4G−41(のネット間で短絡
が発生しているのは検出できるが、その発生箇所まで明
確にならないため、各ネットの代表である4人と4E間
で短絡していると検知する。
のネットと4B−4F−4G−41(のネット間で短絡
が発生しているのは検出できるが、その発生箇所まで明
確にならないため、各ネットの代表である4人と4E間
で短絡していると検知する。
本発明の検査装置によれば、プリント基板の配線パター
ン回路における断線不良や短絡不良の発生箇所を自動的
に検査できるように構成したので。
ン回路における断線不良や短絡不良の発生箇所を自動的
に検査できるように構成したので。
省力化およびプリント基板の品質向上が図れるなどの効
果を有する。
果を有する。
第1図は本発明のプリント基板の配線パターン検査装置
を示す全体概略図、第2図は本発明におo1 ける要部構成を示す斜視図、第3図はプリント基板の配
線パターン回路を示す図、第4図は第3図の配線パター
ン回路における不良例を示す図、第5図は本発明装置に
おける検査手順を説明するためのフロー図である。 1.1′・・・テストヘッド、2・・・プローブ、3・
・・カメラ、7,8・・・抵抗測定器、9・・・モニタ
ーテレビ、10・・・制御器。
を示す全体概略図、第2図は本発明におo1 ける要部構成を示す斜視図、第3図はプリント基板の配
線パターン回路を示す図、第4図は第3図の配線パター
ン回路における不良例を示す図、第5図は本発明装置に
おける検査手順を説明するためのフロー図である。 1.1′・・・テストヘッド、2・・・プローブ、3・
・・カメラ、7,8・・・抵抗測定器、9・・・モニタ
ーテレビ、10・・・制御器。
Claims (1)
- 1、プリント基板の配線パターン回路に接触するプロー
ブを有し、該プローブを介してプリント基板に電圧を印
加することにより導通検出するプリント基板の配線パタ
ーン検査装置において、前記プローブを有し、かつ配線
パターンの回路の任意の位置に移動可能な複数のテスト
ヘッドと、配線パターン回路間の抵抗を測定する抵抗測
定器と、配線パターンの正規の配線情報および導通検査
情報によりテストヘッドに動作指令を出力する制御器と
、制御器からの制御信号にもとづいて配線パターンの不
良箇所のパターントレースを施す撮像器とから構成した
ことを特徴とするプリント基板の配線パターン検査装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61127938A JPS62285072A (ja) | 1986-06-04 | 1986-06-04 | プリント基板の配線パタ−ン検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61127938A JPS62285072A (ja) | 1986-06-04 | 1986-06-04 | プリント基板の配線パタ−ン検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62285072A true JPS62285072A (ja) | 1987-12-10 |
Family
ID=14972349
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61127938A Pending JPS62285072A (ja) | 1986-06-04 | 1986-06-04 | プリント基板の配線パタ−ン検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62285072A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0396186U (ja) * | 1990-01-16 | 1991-10-01 | ||
JPH04244973A (ja) * | 1991-01-31 | 1992-09-01 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 導通検査装置 |
EP0864874A2 (de) * | 1997-03-11 | 1998-09-16 | Atg test systems GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten |
JP2000097985A (ja) * | 1998-09-23 | 2000-04-07 | Delaware Capital Formation Inc | 間隔が密な試験場所用走査試験機 |
US6268719B1 (en) | 1998-09-23 | 2001-07-31 | Delaware Capital Formation, Inc. | Printed circuit board test apparatus |
JP2003028908A (ja) * | 2001-07-16 | 2003-01-29 | Onishi Denshi Kk | プリント基板のインピーダンス測定用プロービング装置 |
US6788078B2 (en) | 2001-11-16 | 2004-09-07 | Delaware Capital Formation, Inc. | Apparatus for scan testing printed circuit boards |
-
1986
- 1986-06-04 JP JP61127938A patent/JPS62285072A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0396186U (ja) * | 1990-01-16 | 1991-10-01 | ||
JPH04244973A (ja) * | 1991-01-31 | 1992-09-01 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 導通検査装置 |
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EP0864874A3 (de) * | 1997-03-11 | 1999-06-02 | Atg test systems GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten |
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US7071716B2 (en) | 2001-11-16 | 2006-07-04 | Delaware Capital Formation, Inc. | Apparatus for scan testing printed circuit boards |
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