JPH0278970A - 導体パターンの導通検査機及び導通検査機におけるプローブの座標設定方法 - Google Patents

導体パターンの導通検査機及び導通検査機におけるプローブの座標設定方法

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JPH0278970A
JPH0278970A JP63231279A JP23127988A JPH0278970A JP H0278970 A JPH0278970 A JP H0278970A JP 63231279 A JP63231279 A JP 63231279A JP 23127988 A JP23127988 A JP 23127988A JP H0278970 A JPH0278970 A JP H0278970A
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conductor pattern
probes
amount
deviation
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JP63231279A
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Koichi Morita
耕一 森田
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NSK Ltd
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NSK Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、導体パターンの導通検査機、特に導通検査を
開始する前に各プローブの座標を設定し得る導通検査機
及び導通検査機におけるプローブの座標設定方法に関す
る。
(従来の技術) 従来、導体パターンの導通検査機としては、例えば架体
上に装着された供試プリント板上を2次元的に移動可能
な一対のプローバを、あらかじめ設定されたプログラム
に従って供試プリント板上の所定位置に移動させること
により、供試プリント板上の導体パターンの電気的導通
を検査するものがある(実開昭52−138257号公
報)。
また、プリント板回路の導通チエツク方法とし。
て、例えば、XYステージに連結した少なくとも2つの
検査用プローブをチエツクすべきプリント板上に配置し
、該プリント板回路のチエツクすべき部分のデータを記
録媒体に予め記録し、該データに基いて制御装置により
上記両XYステージをプログラム制御して駆動し、両プ
ローブをプリント板のチエツク点に接触させ両プローブ
間の導通をチエツクするようにしたものがある(特開昭
57−98869号公報)。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記従来の導通検査機及び導通チエツク
方法では、各プローブ(ブローバ、プローブ)の座標系
はプリン[・基板の座標系とは別に定められているので
、■導通テストにおける欠陥がある位置を、各プローブ
の座標値を人間が絶対座標に変換して°rf1定するか
、又は各プローブ毎の座標系の中で個々に判定する必要
があり、欠陥位置の判定が煩雑であり且つ判定に誤りを
伴い易く、■各プローブの位置をデイスプレィに表示す
る場合に、各デイスプレィには対応する各プローブの座
標1f1が各プローブ毎の座標系で表示されるので、人
間がデイスプレィを見てプリント基板のどの位置に欠陥
があるのかを判断しいくいと共にその判断に時間がかか
り、さらに、■プローブ先端の摩耗により各プローブを
新しいものに交換する場合、各プローブの取4=1け誤
差により各プローブ先端の位置が交換前と異なってしま
い、各プローブの座標系毎にプローブ先端の座標値を人
間が補正しなければならず、プローブの交換が煩雑であ
るという問題点があった。
本発明は、このような従来の問題点に着目して為された
もので、導通検査開始前に各プローブの座標値を同一の
座標系で設定することにより、プリント基板の欠陥位置
を人間が判定する場合にその判定を楽に且つ誤りなく行
うことができ、人間がデイスプレィを見てプリント基板
のどの位置に欠陥があるのかを判断する場合にその判断
を早く且つ正しくでき、且つプローブの交換を楽にでき
るようにした導体パターンの導通検査機及び導通検査機
におけるプローブの座標設定方法を提供することを目的
としている。
(課題を解決するための手段) かかる目的を達成するために、本発明に係る導体パター
ンの導通検査機は、プリント基板の導体パターンの電気
的導通を、各々独立したXY子テーブル−に載置された
少なくとも2つのプローブを検査データに基いて導体パ
ターンの各検査ポイントに移動させて接触させることに
より検査する導体パターンの導通検査機において、前記
各XY子テーブル駆動する駆動手段と、前記XY子テー
ブル載置され、前記各プローブをその原位置から所定の
位置へ移動させる際に前記導体パターン上を視認する少
なくとも1つの撮像部と、前記各XY子テーブル2次元
的移動量を検出する移動量検出手段と、該検出手段によ
り検出された移動量及び1つのプローブと前記プリント
基板の取付基準となる原点位置との偏位量に基づき、該
原点位置に対する他のプローブの原位置の偏位量を求め
る演算手段とを設けたものである。
また、上記目的を達成するために、本発明に係る導通検
査機におけるプローブの座標設定力法は、プリント基板
の導体パターンの電気的導通を、各々独立したXY子テ
ーブル上載置された少なくとも2つのプローブを検査デ
ータに基いて導体パターンの各検査ポイントに移動させ
て接触させることにより検査する導体パターンの導通検
査機における各プローブの座標設定方法で、 (1)  前記導体パターン上を視認する撮像部を、前
記プローブの少なくとも2つに対応させて該各プローブ
と同一のXY子テーブル上載置し、(2)各プローブを
所定の原位置へ移動させ、(3)前記撮像部を有する各
1つのプローブを任意の点に移動し、この点に該各1つ
のプローブに対応する各1つの撮像部の中心が合致する
までXY子テーブル移動させてその2次元的移動量を検
出することにより、該各1つの撮像部の中心と前記各1
つのプローブ先端との偏位量を夫々求め、(4)  前
記各!つの撮像部の中i0が導体パターン上の任意の基
準点に合致するまでXY子テーブル手動で移動させてそ
の2次元的移動量を夫々検出し、 (5)前記プリント基板の取(;J基準となる原点位置
から前記プローブのいずれか1つの原位置までの偏位量
と、前記撮像部の中心と前記各1つのプローブ先端との
偏位量及び前記2次元的移動量とに基いて、前記原点位
置から他のプローブの原位置までの偏位量を演算する、 ことから成るもの、又は、 (1)  前記導体パターン上の位置を視認する1つの
Wk像部を、前記プローブの1つと同一のXY子テーブ
ル上載置し、 (2)各プローブを所定の原位置へ変位させ、(3)前
記1つのプローブを導体パターン上の任意の点に移動し
、この点に前記撮像部の中心が合致するまでXY子テー
ブル移動させてその2次元的移動量を検出することによ
り、該撮像部の中心と前記1つのプローブ先端との偏位
量を求め、(4)他のプローブを前記任意の点に移動し
、該プローブの原位置から該任意の点までの2次元的移
動量を求め、 15)  前記撮像部の中心を前記任意の点に合゛致す
るまでXY子テーブル移動させてその2次元的移動量を
検出し、 (6)  Of記プリント基板の取イー1基準となる原
点位置から前記プローブのいずれか1つの原位置までの
偏位量と、前記撮像部の中心と前記各1つのプローブ先
端との偏位量及びniI記2次元的移動量とに基いて、
前記原点位置から他のプローブの原位置までの(li位
量を演算する、 ことから成るものである。
(作用) そして、」二記導体パターンの導通検rF機では、導通
検査n;jに、演算手段によりプリンI・基板の取付語
学となる原点位置に対する各プローブの原位置の偏位量
が求められ、これによって各プローブの座標値が同一の
座標系で設定される。従って、導通検査において各プロ
ーブの座標値が同一の座標系で表わされる。
また、上記座標設定方法では、導通検査n;1に、前記
原点位置から各プローブの原位置までの偏位量を演算し
、これによって各プローブの座標値を同一の座標系で設
定する。
(実施例) 以下、図面に基いて本発明の各実施例を説明する。なお
、各実施例の説明において同様の部位には同一の符号を
付して重複した説明を省略する。
第1図乃至第4図は、本発明の第1実施例に係る導体パ
ターンの導通検査機を示している。この導通検査機は、
表面から裏面へ経由する回路を持つ両面プリント基板の
導通検査に適するものである。
第1図乃至第3図に示すように、導通検査機lは、」−
四人プローブ2.1−側石プローブ3、及びF側プロー
ブ4の3つのプローブを有し、左プローブ2と右プロー
ブ3とによりプリント基板5の表面側に形成された導体
パターンの各検査ポイント間の導通を検査すると共に、
左プローブ2及び右プローブ3の一方と下側プローブ4
とによりプリント基板5の裏面側に形成された導体パタ
ーンの各検査ポイントと表面側導体パターンの各検査ポ
イントとの間の導通を検査するように成っている。各プ
ローブ2,3.4は、上側左XYテーブル6、上側右X
Yテーブル7、下側XY子テーブル上にプローブヘッド
9.to、11を介して夫々載置されている。各XY子
テーブル、7.8は、左X軸モータ12.右X軸−E−
’213.−FX軸モータ14により夫々X軸方向に移
動可能であると共に、左Y軸モータ15.右Y軸モータ
16.下Y@モータ17により夫々X軸方向に移動可能
に成っている。左、右、下の各プローブヘッド9゜10
.11は、プローブへラドモータ18,19゜20を有
するプローブ駆動装置21,22.23(第3図を参照
)により各X′Yテーブル6.7゜8に対し上下動可能
に取付けられている。
さらに、第1図及び第3図に示すように、左右のXY子
テーブル、7には、プリント基板の導体パターン上を視
認する固体撮像素子等を用いた左右のカメラ(撮像部)
24.25が左右のプローブ2,3に対応させて装着さ
れている。そして、前記プリント基板5は基板ボルダ2
6」二にセットされ、この基板ホルダ26には、基板5
の1−下位置を調整するための調整ネジ27と、セット
された基板5を基板ホルダ26に固定するための止めネ
ジ28が設けられている。
第3図及び第4図に示すように、前記左右のカメラ24
.25で得られた光電信号は、画像処理装置29で画像
処理されて左右のモニタテレビ30゜31に送られ、各
カメラ24.25で得られた映像を左右のモニタテレビ
30.31で見れるように成っている。
第4図に示すように、制御装置32には、各種のプログ
ラムの実行を指令するキーボード33、導通検査を行う
ための検査データが人力される検査データ入力装置34
及び前記各XY子テーブル。
7.8を手動で動かすためのジョグスイッチ35からの
各出力信号が入力される。また、制御装置32には、左
X軸、左Y軸、右X軸、右Y軸、下X軸及びFY軸の各
原位置検出センサ36〜41から各xY子テーブル、7
.8のX軸及びY軸の原位置信号(各XY子テーブル、
7.8の各X軸及びY軸が原位置に達したときに出力さ
れる検知信号)が入力される。該制御装置32は、キー
ボード33からの指令に基づき、電源をオンした後に各
プローブ2,3.4を後述する原位置Hし。
11g、 lieに夫々移動させるように成っている。
すなわち各XY子テーブル、7.8のX軸及びY軸の各
方向のストロークの最小位置に各原位置検出センサ36
〜41を設けてあり、該原位置検出センサ36〜41か
ら前記検知信号が出力される迄前記各XYテーブル6.
7.8をそのストローク量が減少する方向に移動させる
ように、左X軸。
左Ylllll、右X軸、右Y軸、下X軸及び下Y軸モ
ータ12.15,13.+6.’+4及び17川の各モ
ータ駆動装W142〜47が制御装置32により駆動さ
れるように成っている。なお、前記ジョグスイッチ35
は、各プローブ2,3.4及び左右のカメラ24.25
を任意の位置に移動させるために各XY子テーブル、7
.8を手動操作する部材で、XYテーブル6.7.8の
どのテーブルがジョグスイッチ35により手動操作され
るかはキーボード33かも制御装置32に出力される指
令信号により決定される。また、ジョグスイッチ35に
よる移動量はこのスイッチ35から出力されるスイッチ
のON10 F F及びスイッチのONの時間、パルス
発生速度(パルス/5ec)により制御装置32でd1
数演算することにより算出される。
前記各プローブヘッド9,10.11を上下動させる前
記各プローブ駆動装置21,22.23には制御装置3
2から制御信号が出力され、各プローブ2,3.4が所
定の検査ポイントに移動した際に各プローブヘッド9,
10.!1を下降させて各プローブ2,3.4の先端を
検査ポイントに接触させるように成っている。
また、制御装置32には、測定切換回路48及び測定器
49を介して各プローブ2.3.4からの導通信号が入
力され、各検査ポイントでの導通、非導通の検査結果が
制御装置32から表示装置50及びプリンタ51に夫々
出力されるように成っている。
次に、上記構成を有する導通検査機1において、導通検
査を開始する前に各プローブ2,3.4の座標を設定す
る方法を説明する。
(1)  まず、電源をオンした後に各プローブ2.゛
3.4を第6図に示す所定の原位置HL、 IIR,I
f aに夫々移動させる。この移動は、キーボード33
からの指令に基づいて制御装置32により実行される。
ずなわち、制御装置32が、前記原位置検出センサ36
〜41から前記検知信号が出力される迄各XYテーブル
6.7.8をそのストローク量が減少する方向に移動さ
せることによりなされる。なお、本実施例では、基板ボ
ルダ26にプリント基板5を取付ける際の基準点を絶対
座標系の原点位W10としく以後単に原点位置という)
、該原点位置から上記原位置11Lまでの偏位量(ベク
トル情報)OIILを予め所定値に設定しておき、この
偏位量011Lを制御装置32に記憶しである。
(2)  次に、左プローブ2の先端I’Lと左カメラ
24の中心CLとの偏位量PLCL、及び右プローブ3
の先端Piと右カメラ25の中心CRとの偏位量P R
CRを求める(第5図を参照)。
このために、O;i記プリント基板5に代えて第6図に
示すガラス板50を配置し、この上に紙を固定し、この
紙の上にカーボン紙を載せる。そして、左プローブ2の
先端PLをジョグスイッチ35又は予め制御装置32に
入力された座標情報に基づき第6図に示す任意の点Aに
移動しSこの点へに左プローブ2を下降させてその先端
で打点跡をつけ、次にカーボン紙のみを取り除き、前記
ジョグスイッチ35の手動操作により左カメラ24の中
心CLを左モニタテレビ30をみて打点跡へに合致させ
る。このとき、左プローブ2の先端PLが点へにある位
置から左カメラ24の中心CLが打点跡へに合致するま
での移動量は、ジョグスイッチ35の操作から制御装置
32の計数演算により得られるので、前記偏位量PLC
Lが求められる。
0;1記憶位量PRCRについても偏位量PtCtと同
様に得られる。即ち、右プローブ3の先端PRを第6図
に示す任意の点Bに移動し、この点I3に右プローブ3
を下降させてその先端で打点跡をつけ、ジョグスイッチ
35の手動操作により右カメラ25の中心CRを打点跡
Bに合致させることにより偏位mPlICRが求められ
る。
(3)左右のプローブ2,3を夫々原位置II L。
+1!!に戻し、ガラス板50に固定しである紙を取り
除く。このガラス板50には第6図に示すように十字マ
ークMが刻設されている。
(4)  次に、ジョグスイッチ35の手動操作により
左カメラ24の中心CLをマークMの中心点に合致させ
る(第7図を参照)。このとき、左プローブ2の先端P
Lの移動量fI下、即ち左XYテーブル6の2次元的移
動量は、」ユ記と同様にジョグスイッチ35の操作から
制御装置32の計数演算により得られる。又、この移動
量はM点の座標を制御装置32に入力しておいて、M点
の近傍に左カメラ24の中心CLを移動し前記ジョグス
イッチで正確な位置決めを行ってもよい。
(5)左プローブ2の先端PLを原位置+ILに戻す。
(6)右カメラ25の中心CRをマークMの中心点に合
致させる(第8図を参照)。このとき、右プローブ3の
先端Pl!の移動量11gF、即ち右XYテーブル7の
2次元的移動量は、上記と同様にジョグスイッチ35の
操作から制御装置32の計数演算により得られる。又、
この移動量はM点の座標を制御装置32に入力しておい
て、M点の近傍に右カメラ25の中心CI!を移動し前
記ジョグスイッチで正確な位置決めを行ってもよい。
(7)右プローブ3の先端PRを原位置!■!!に戻す
(8)次に、ジョグスイッチ35を操作することにより
又は予め制御装置32に入力された座標情報に基づき下
プローブ4の先端をガラス板50の任意の点Gへ移動さ
せる(第9図を参照)。もっともガラス板50を用いず
直に下プローブ4の先端を検出してもよい。この移動に
より、−ドブローブ4の先端の移動量11sGが得られ
る。
(9)  この移動の後、ジョブスイッチ35の手動操
作により左カメラ24の中心CLを左モニタテレビ30
、ガラス板50を通して見える下プローブ4の先端(点
Gの位置)に合致させる(第9図を参照)。これによっ
て、左プローブ2の先端PLの移動量雨コが得られる。
なお、ここでIOはPLCLと同じである。
(10)左プローブ2の先端Pt及び下プローブ4の先
端を夫々原位置[I L、 HBに戻す。
(I+)ここで、原点位置0から左プローブ2の先端P
Lの原位置11Lまでの偏位量011Lを予め所定値に
決めてあり、この所定値を制御装置32に記憶させであ
るので、原点位置Oから右プローブ3の先端Pkの原位
置I■kまでの偏位、l0IIRと、原点位置0から下
プローブ4の先端の原位置JIBまでの偏位量011a
が、下記のベクトル演算式■。
■に基いて制御装置32により演算される(第9図及び
第1O図を参照)。
OflR=o I(t+ IILE+ PLCL −P
RCR−11RF・・・■ 011B=OHt+IItl +r’tCt−ITBG
・・・■ このようにして、01(t、OHR,01lBは同一の
座標系の座標値として下記のように求められる。
OHt、= (IIQx、Hay) 0)1g= (It r x、  IT r y)01
1B= (Ilbx、Hby) 即ち、各プローブ2,3.4の先端の原位置の座標値を
同一の座標系で(絶対座標系である原点位置0に対して
)表わすことができる。
従って、その後の導通検査において、各プローブ2,3
.4の実際の先端位置は上記同一座標系における各原位
置の座標値を基準として求めることができる。
このようにして各プローブ2,3.4の先端の原位置の
座標値を設定した後に、前記プリント基板5を基板ホル
ダ26上にセツ、トしてその導通検査を開始する。
この導通検査は、前記キーボード33からの指令により
開始され、制御装置32が検査データ入力装置34から
の検査データに基いて各プローブ2.3.4を導体パタ
ーンの各検査ポイントに移動させて接触させることによ
り行う。この導通検査による導体パターンの欠陥位置は
、各プローブ2.3.4の座標値が同一の座標系で設定
されているので、前記表示装置50を見ることにより又
はプリンタ5!から出力されるテープを見ることにより
迅速に且つ誤りなく判定することができる。
また、プローブ先端の摩耗により各プローブ2゜3.4
を新しいものに交換する場合、各プローブの取付は誤差
により前記偏位量PLCL、PRCI!が交換前と異な
るが、各プローブの交換後にこの偏位fiPLc+、、
PlICgを新たに求め、この新たな偏位量PLCL、
)’RCRを用いて前記■、■式の演算を制御装置32
に実行させればよい。従って、プローブの交換にf′1
2い各プローブ先端の座標値を人間が補正する必要がな
くなり、プローブの交換が簡単になる。
次に、左カメラ24によってのみ各プローブ先端の原点
位置との関係を求める本発明の第2実施例を説明する。
この第2実施例は、両面プリント基板の導通検査に適す
るもので、左右2つのプローブ2.3を備え、且つ左プ
ローブ2と同じXY子テーブル−上に1つのカメラ24
を設けた導通検査機におけるプローブの座標設定方法に
関する。
以下、この第2実施例に係る座標設定方法を第11図及
び第12図に基いて説明する。
(りまず、電源をオンした後に各プローブ2゜3の先端
PL、PRを上記第1実施例の場合と同様に第11図に
示す所定の原位置Hし、Ilgに夫々移動させる。
(2)次に、左プローブ2の先端PLとカメラ24の中
心Cとの偏位量菖7を求める(第11図を参照)。この
ために、前記プリント基板5に代えて第11図に示す銅
板51を配置し、この銅板51」二にカーボン紙を載せ
る。そして、左プローブ2の先端PLを第1t図に示す
任意の点へに移動し、この点へに左プローブ2をF降さ
せてその先端で打点跡をつけ、次にカーボン紙を取り除
き、前記ジョグスイッチ35の手動操作によりカメラ2
4の中心Cを打点跡へに合致させる。このとき、左プロ
ーブ2の先端PLが点へにある位置からカメラ24の中
心Cが打点跡へに合致するまでの移動量は、ジョグスイ
ッチ35の操作から制御装置32の計数演算により得ら
れるので、前記偏位量PLOが求められる。
(3)左プローブ2を原位置1(tに戻す。
(4)  カーボン紙を再び銅板51上に載せ、右プロ
ーブ3の先端PRを第12図に示す11意の点Bに移動
し、この点Bに右プローブ3を下降させてその先端で打
点跡をつけ、カーボン紙を取り除く。
ここで、右プローブ3の先端Pi!の移動量11RBが
、上記と同様にジョグスイッチ35の操作から制御装置
32の計数演算により得られるか、又は実施例1の様な
座標設定によって最終位置決めをジョブスイッチ35に
依って行ってもよい。
(5)右プローブ3の先端Pgを原位置11Rに戻す。
(6)次に、ジョグスイッチj5を操作して左XYテー
ブル6を移動することにより、カメラ24の中心Cを打
点跡Bに合致させる(第12図を参照)。このとき、左
プローブ2の先端PLの移動量W下、即ち左XYテーブ
ル6の2次元的移動量は、上記と同様にジョグスイッチ
35の操作から制御装置32の81数演算により得られ
るか、又は実施例1の様な座標設定によって最終位置決
めをジョグスイッチ35に依って行ってもよい。
(7)左プローブ2の先端PLを原位置11tに戻す。
(8)  ここで、前記原点位置0から左プローブ2の
先端1’Lの原位置litまでの偏位量011tを予め
所定値に決めておき、この所定値を制御装置32に予め
記憶させておくことにより、前記原点位置0から右プロ
ーブ3の先端PRの属僚it?tllIl!までの偏位
量OHRが、下記の弐〇に基いて制御装置32により演
算される(第12図を参照)。
011R=OIIL+IILF+PLC−1(iB・・
・■ 同一の座標系の座標値で求められる。
011t= (HQ x、 II Q y)即ち、左右
のプローブ2,3の先端の座標が同一の座標系(導体パ
ターン5の絶対座標系)で表わされる。
(発明の効果) 以上詳述したように、本発明に係る導体パターンの導通
検査機によれば、導通検査前に、移動量検出手段により
検出された各XY子テーブル2次元的移動量及び予め定
められた1つのプローブとn;i記プリント基板の取付
基準となる原点位置との偏位量に基づき、演算手段によ
り前記原点位置に対する他のプローブの原位置の偏位量
を求め、これによって各プローブの座標値を同一の座標
系で設定するので、導通検査において各プローブの座標
値を同一の座標系で表わすことができる。従って、導通
検査においてプリント基板の欠陥位置を人間が判定する
場合にその判定を楽に且つ誤りなく行うことができると
共に、人間がデイスプレィを見てプリント基板のどの位
置に欠陥があるのかを判断する場合にその判断を早く且
つ正しく行うことができる。
また、本発明に係る導体パターンの導通検査機における
プローブの座標設定方法によれば、導通検査前に、各X
Y子テーブル2次元的移動量及び予め定められた1つの
プローブとプリント基板の取4=J基(lljとなる原
点fq置との偏位量に基づき、該原点位置から能のプロ
ーブの原位置までの偏位量を演算し、これによって各プ
ローブの座標1直を同一の座標系で設定するので、導通
検査において各プローブの座標値を同一の座標系で表わ
すことができる。従って、導通検査においてプリント基
板の欠陥位置を人間が判定する場合にその判定を楽に且
つ誤りなく行うことができると共に、人間がデイスプレ
ィを見てプリント基板のどの位置に欠陥があるのかを判
断する場合にその判断を早く且つ正しく行うことができ
る。
さらに、本発明に係る導体パターンの導通検査機におけ
るプローブの座標設定方法によれば、各撮像部の中心と
対応する各プローブ先端との偏位量を求めるので、各プ
ローブを新しいものと交換する場合、各プローブの取付
は誤差により各プローブの先端位置がその交換n;1と
異なったとしても、各プローブの座標値を新たに演算す
ればよいので、プローブの交換に伴い各プローブ先端の
座標値を人間が補正する必要がなく、プロー1の交換を
楽に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第4図は本発明の第1実施ρ1に係る導体バ
ター・ンの導通検査機を示し、第1図は導通検査機を概
略的に示す平面図、ff12図は第1図の側面図、第3
図は導通検査機を詳細に示す斜視図で、下側のXYステ
ージ・ユニットのみを取り出して示しである、第4図は
導通検査機の制御部を示す概略構成図、第5図乃至第1
0図は第1実施例に係る導体パターンの導通検査機にお
いてプローブの座標を設定する方法を説明するための説
明図、第H図及び第12図は本発明の第2実施例に係る
導通検査機においてプローブの座標を設定する方法を説
明するための説す1図である。 1・・・導通検査機、2,3.4・・・プローブ、6゜
7.8・・・xyテーブル、24.25・・・カメラ(
撮像部ン、32・・・制御装置(移動量検出手段、演算
手段)、35・・・ジョグスイッチ(手動駆動手段)。 算5図 ネ9凹 Ox

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.プリント基板の導体パターンの電気的導通を、各々
    独立したXYテーブル上に載置された少なくとも2つの
    プローブを検査データに基いて導体パターンの各検査ポ
    イントに移動させて接触させることにより検査する導体
    パターンの導通検査機において、前記各XYテーブルを
    駆動する駆動手段と、前記XYテーブルに載置され、前
    記各プローブをその原位置から所定の位置へ移動させる
    際に前記導体パターン上を視認する少なくとも1つの撮
    像部と、前記各XYテーブルの2次元的移動量を検出す
    る移動量検出手段と、該検出手段により検出された移動
    量及び1つのプローブと前記プリント基板の取付基準と
    なる原点位置との偏位量に基づき、該原点位置に対する
    他のプローブの原位置の偏位量を求める演算手段とを設
    けたことを特徴とする導体パターンの導通検査機。 2.請求項1に記載の導通検査機において、前記プリン
    ト基板は、その表面から裏面へ経由する回路を持つ基板
    で、該基板の表面側の導体パターンに接触し得る少なく
    とも2つのプローブと、その裏面側の導体パターンに接
    触し得る1つ以上のプローブとを備えて成ることを特徴
    とする導体パターンの導通検査機。 3.プリント基板の導体パターンの電気的導通を、各々
    独立したXYテーブル上に載置された少なくとも2っの
    プローブを検査データに基いて導体パターンの各検査ポ
    イントに移動させて接触させることにより検査する導体
    パターンの導通検査機における各プローブの座標設定方
    法で、 (1) 前記導体パターン上を視認する撮像部を、前記
    プローブの少なくとも2つに対応させて該各プローブと
    同一のXYテーブル上に載置し、(2)各プローブを所
    定の原位置へ移動させ、(3)前記撮像部を有する各1
    つのプローブを任意の点に移動し、この点に該各1つの
    プローブに対応する各1つの撮像部の中心が合致するま
    でXYテーブルを移動させてその2次元的移動量を検出
    することにより、該各1つの撮像部の中心と前記各1つ
    のプローブ先端との偏位量を夫々求め、(4)前記各1
    つの撮像部の巾心が導体パターン上の任意の基準点に合
    致するまでXYテーブルを手動で移動させてその2次元
    的移動量を夫々検出し、 (5)前記プリント基板の取付基準となる原点位置から
    前記プローブのいずれか1つの原位置までの偏位量と、
    前記撮像部の中心と前記各1つのプローブ先端との偏位
    量及び前記2次元的移動量とに基いて、前記原点位置か
    ら他のプローブの原位置までの偏位量を演算する、こと
    から成ることを特徴とする導通検査機におけるプローブ
    の座標設定方法。 4.プリント基板の導体パターンの電気的導通を、各々
    独立したXYテーブル上に載置された少なくとも2つの
    プローブを検査データに基いて導体パターンの各検査ポ
    イントに移動させて接触させることにより検査する導体
    パターンの導通検査機における各プローブの座標設定方
    法で、 (1)前記導体パターン上の位置を視認する1つの撮像
    部を、前記プローブの1つと同一のXYテーブル上に載
    置し、 (2)各プローブを所定の原位置へ変位させ、(3)前
    記1つのプローブを導体パターン上の任意の点に移動し
    、この点に前記撮像部の中心が合致するまでXYテーブ
    ルを移動させてその2次元的移動量を検出することによ
    り、該撮像部の中心と前記1つのプローブ先端との偏位
    量を求め、(4)他のプローブを前記任意の点に移動し
    、該プローブの原位置から該任意の点までの2次元的移
    動量を求め、 (5)前記撮像部の中心を前記任意の点に合致するまで
    XYテーブルを移動させてその2次元的移動量を検出し
    、 (6)前記プリント基板の取付基準となる原点位置から
    前記プローブのいずれか1つの原位置までの偏位量と、
    前記撮像部の中心と前記各1つのプローブ先端との偏位
    量及び前記2次元的移動量とに基いて、前記原点位置か
    ら他のプローブの原位置までの偏位量を演算する、 ことから成ることを特徴とする導通検査機におけるプロ
    ーブの座標設定方法。
JP63231279A 1988-09-14 1988-09-14 導体パターンの導通検査機及び導通検査機におけるプローブの座標設定方法 Pending JPH0278970A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241491A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Nidec-Read Corp 基板検査装置、位置調整方法
JP2009156676A (ja) * 2007-12-26 2009-07-16 Tokyo Cathode Laboratory Co Ltd 基板検査装置
US7778566B2 (en) 2005-06-21 2010-08-17 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Belt cleaning device and image forming apparatus
JP2012189347A (ja) * 2011-03-09 2012-10-04 Hioki Ee Corp 基板検査装置および基板検査方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241491A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Nidec-Read Corp 基板検査装置、位置調整方法
US7778566B2 (en) 2005-06-21 2010-08-17 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Belt cleaning device and image forming apparatus
JP2009156676A (ja) * 2007-12-26 2009-07-16 Tokyo Cathode Laboratory Co Ltd 基板検査装置
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