JPS62240871A - プリント板測定装置のプロービング方法 - Google Patents

プリント板測定装置のプロービング方法

Info

Publication number
JPS62240871A
JPS62240871A JP61085771A JP8577186A JPS62240871A JP S62240871 A JPS62240871 A JP S62240871A JP 61085771 A JP61085771 A JP 61085771A JP 8577186 A JP8577186 A JP 8577186A JP S62240871 A JPS62240871 A JP S62240871A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mark
measured
processed
printed circuit
circuit board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61085771A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0569390B2 (ja
Inventor
Shuichi Kameyama
修一 亀山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP61085771A priority Critical patent/JPS62240871A/ja
Publication of JPS62240871A publication Critical patent/JPS62240871A/ja
Publication of JPH0569390B2 publication Critical patent/JPH0569390B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Manipulator (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 本発明は、処理装置上に設定された板状の処理対象物体
に記された複数の基準マークを夫々個別の固定の撮像装
置にて撮像して該処理対象物体の該処理装置上における
設定位置を認識する方法であって、予め求めた基準マー
クと撮像した基準マークとのずれ量、及び予め求めた基
準マークの絶対位置情報から処理装置上に設定された板
状体処理対象物体の設定位置を認識するようにし、短時
間で高精度の認識を可能としたものである。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば、電子部品回路の実装、自動配線、自
動プロービングを行なう自動装置(処理装置)に設定さ
れたプリント板等の板状の処理対象物体の設定位置認識
方法に関するものである。
プリント板は多層プリント基板上にLSIや抵抗、コン
デンサなどの電子部品を実装し、コネクタを取付けた回
路モジュールで、電子計33:機の重要な構成要素の一
つである。
多品種のプリント板を高品質に、かつ低コストで製造す
るためには、組み立ての自動化と共に、試験の自動化が
重要である。
試験にはプリント板の良否を判定する良否判定試験と、
不良と判定されたプリント板の故障位置を指摘する故障
診断とがある。
良否判定試験では入試から、拭清の捺印に至る全工程を
無人で行なうことは既に実現されているが、故障診断で
は故障位置を調べるためのプリント板内部へのプロービ
ング作業だけは人手に鯨っているのが現状である。
ところが、プリント板を搭載する電子部品の微細化やプ
リント板実装の高密度化等により、人手によるプロービ
ング作業はもはや不可能となってきており、プローブで
の不良箇所の探索作業の自動化が要望されている。
また、50ミル・グリッドのフ゛リント(反の)゛ロー
ビングでは、被試験プリント板の取付誤差やプリント板
の歪みが大きく影響してくるために、ロボットの移動精
度を向上させただけでは精度良く目標位置にプロービン
グさせることはできない。
そこで、自動試験機上へのプリント仮取付状態やプリン
ト基板の歪み量を検出し、そのずれ分を補正する必要が
ある。
〔従来技術〕
第9図は従来のプリント板の設定位置認!装置を説明す
るための図である。
■は被測定プリント板であり、図示しない自動試験装置
に取付けられるものであり、その4隅に基準位置を示す
しマークが予め銅パターンで印刷されているもの、2は
プローブであり、被測定プリント板l上の所望の探索位
置における電子部品回路の特性を測定するためのもの、
3はプローブ保持体であり、プローブ2をZ軸方向に往
復動可能に支持するもの、4はXYテーブルであり、プ
ローブ保持体3をXY平面内の所定の探索位置に位置決
めするもの、5はマークセンサであり、プローブ保持体
3に設けられ、被測定プリント板1上のしマークを認識
するための1次元センサである。
以上説明した構成において、被測定プリント板1の設定
位置の認識は、XYテーブル4を駆動してLマークのス
トロークを横切るようにマークセンサ5を移動させなが
らマークセンサ5の出力電圧を読取る。
そして、ピーク値となった座標位置をLマークの中心位
置とする。この操作をX軸、Y軸方向のストロークにつ
いて行なうことにより、LマークのXY座標を求める。
さらにこれらの1儀作を4隅のしマークのすべてについ
て行なう、このようにして4個のしマークの座標位置を
読取り、被測定プリント板の設定位置及び歪み等を測定
する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前述したように、マークセンサ5がLマークの上空を機
械的に移動しながらLマークの座標を読取るようにして
いたので、座標位置の読取りに長時間を要するといった
問題があった。
本発明は、被測定プリント板の設定位置の認識を短時間
で且つ高精度に行なうことのできる方法の提供を目的と
する。
〔問題点を解決するための手段〕
そして、この目的は、処理装置上に設定された板状の処
理対象物体に記された複数の基準マークを夫々個別の該
基準マークの上方に固定された撮像装置にて撮像して該
処理対象物体の該処理装置上における設定位置を認識す
る方法であって、前記処理対象物体が設定された際に前
記基準マークが存在すべき位置を、位置設定用処理対象
物体上に記されたマークを撮像して算出し、各撮像装置
毎に格納し、認識すべき処理対象物体の基準マークの位
置を撮像して算出し、位置設定用処理対象物体の基準マ
ーク位置情報からの認識すべき処理対象物体の基準マー
ク位置情報のずれ量を各固定撮像装置毎に算出し、該固
定撮像装置毎のずれ量と法準マーク位置の絶対位置情報
との位置関係から前記処理対象物体と前記処理装置との
位置関係を認識することを特徴とする板状体の設定位置
認識方法により達成される。
〔作 用〕
前述したように、本発明においては、プリント板上のし
マークの上空に設置された固定の撮像装置で、Lマーク
全体を撮像してその濃度情報から基準位置を算出し、そ
して予め求めておいた基準位置とのずれ量からしマーク
の絶対座標を求めているので、板状の処理対象物体の設
定位置を短時間で且つ高精度に認識することが可能とな
る。
〔実施例〕
第1図は本発明に係る板状体の設定位置認識方法が適用
されるプリント板故障診断装置の全体構成図である。
図において、1は被測定プリント板であり、4隅に銅パ
ターンで印刷されたしマークを有するもの、10a〜1
0dはそれぞれTVカメラであり、被測定プリント板l
の4隅のしマークにそれぞれ対応して設けられているも
の、11はLマークセンサ制御部であり、各TVカメラ
tOa〜10dからの撮像信号に基づいて各Lマークの
基準位置を認、蟲するためのもの、12はロボット制御
部であり、上位装置からの移動指令に基づいてロボット
13を駆動し、先端に保持しているプローブ14を被測
定プリント板l上の所定のブロービング位置に位置付け
るためのもの、15はプローブ測定ユニットであり、ロ
ボット13により被測定プリン日反l上に位置付けされ
るプローブ14からの信号に基づいて探索箇所の動作状
態を測定するためのもの、16はプリント板測定ユニッ
トであり、被測定プリント板lの端子部とアダプタ16
aを介して接続され、このプリント板1に試験信号を供
給して所定の動作をするか否かをを測定するためのもの
、17は制iTI計算機であり、前記各制御部、測定ユ
ニットを動作制御するためのものであ第2図はLマーク
センサ制御部の説明図であり、各TVカメラloa〜1
0dから撮像信号を切替で入力する切替器I8、切替器
1日を介して入力されてくるTVカメラからの撮像信号
を2値化処理する2値化処理部19.2値化処理部19
の処理結果を、各TVカメラ毎に格納する画像メモリ2
0、各TVカメラ10a 〜10c毎の基準Lマーク座
標を格納する基準座標格納メモリ21、及び切替器1日
乃至基準座標格納メモリ21を制御するプロセッサ22
とから構成されている。
第3図はロボット制御部の説明図であり、ロボット13
の各関節に設けられたモータに対応して設けられるモー
タ駆動回路23、各モータ駆動回路23に駆動パルス信
号を供給するモータ駆動パルス制御部24、制御計算4
i117からの移動量指示が人力され、この移動量を校
正座標格納メモリ26に格納された校正量で校正した値
をモータ駆動パルス制御部に指示する移動量補正回路2
5、制御計算[17により予め求められた校正座標位置
を格納する校正座標格納メモリ26とから構成されてい
るものである。
第4図はテストステーションの説明図であり、同図ta
+はプリント板試験動作時を示す図、同図fblはロボ
−/ ト座標位置等の校正動作時を示す図である。
図において、27はフレームであり、上側の取付枠27
aには、4つのTVカメラ10a〜10dが設定される
被測定プリント板1上のしマーク位置に対応して取付け
られており、また、プローブ14を位置付けするための
多関節型ロボット13が取付られている。
同図+a+に示すプリント板試験動作時には、下側のス
テージ部分27bに設けられたプリント板測定ユニット
16を用い、被測定プリント板lの端子部と結合するア
ダプタ16aを介して試験信号等を供給して試験を行な
う、アダプタ16aは往復動可能に設けられており、順
次搬送されてくる被測定プリント板1の端子部との挿抜
動作を自動的に行なうことによって交換動作を行なう。
また、同図ib)に示すロボット座標系置等の校正動作
時には、ステージ27b上に位置決めビン2B、29.
30により位置決めされる校正用治具31を用いて校正
動作を行なう。
第5図は校正用冶具の説明図であり、同図fatは平面
図、同図(blは正面図である。
図において、校正用冶具31には被測定プリント板lと
同一の位置関係となるようにLマーク(−Ll−L4)
が4隅に印刷されており、また、ロボット座標校正用の
校正ピンP1乃至P4が取付けられている。
この校正用治具31は、第6図に示されるように位置決
め用足31a、31b及び支持足31C。
31dを備え、ステージ27b上に植立された位置決め
ピン28,29.30に対して位置決め用足31a、3
1bを当接させることによってステージ27b上の所定
の校正位置に位置付ける。
更に、校正用ピンPI乃至P4は第7図に示すように、
円錐形状を存し、ロボット13が保持しているプローブ
14の先端と突き合わせることによりロボット13の位
置決めを行なう。
尚、前述した校正用冶具31は前以って治具単体で別の
測定器により、Lマーク相互及び校正ビン相互および両
H間の位置関係(座標)を正確に測定しておく。
以上説明した(l!成を用いて本発明に係る板状体の設
定位置認識方法を説明する。
まず、第4図(b)に示す状態において、ロボット13
に保持させたプローブ14の先端を校正用ビンPI乃至
P4に突き合わせる。この動作は図示しないティーチン
グボックスからの指示を制御計算機17に入力し、制御
計算l117がロボット制御部I2に対して移動指示を
発することにより行なう。そして、突き合わせた時のロ
ボット13の各関節位置を各校圧用ピンP1乃至P4毎
に認識してプローブ14の先端の座標位置を算出する。
そして、突き合わせした校正用ピンの内の一つの座標値
をブロービングする際の原点とすることにより、原点登
録されたことになる。
また、予め別の測定器で求めておいた治具31上におけ
る校正用ピンPI乃至P4座標の相対関係(相対距#)
とこの座標位置との関係がら校正用データを作成して校
正座標格納メモリ26に格納する。すなわち、ロボット
での測定データはかならず誤差を含むものであるから、
校正用ピンの内の一つを原点とし、この原点座標からの
相対距離でロボットの測定データを補正する。
これにより、現在位置から別の指示された位置へ移動す
る場合、移動の方向、移動量を補正することができる。
次に、第4図(blに示す状態において、Lマークセン
サ制御部を動作させ、校正用治具31上の4つのしマー
クの読取りを順次行なう。
そして、第8図のTVカメラの視野説明図に示すように
、撮像したしマークLkの基準点Okを画像メモリ20
内におけるTVカメラの視野の基準点OLvからの画素
数で算出する。尚、第8図において、基準点Okは、座
標XLI、YLIで示す。
このようにして、各TVカメラ毎にLマークの基準点を
算出し、得られた座標を法卓座標格納メモリ21に格納
して保持する。
次いで、第4図[11)に示す状態において、被測定プ
リント板1の4つのしマークLuを順次読取り、前述と
同様にしてLマークLuの基準点Quを画像メモリ20
内におけるTVカメラの視野の基準点Qtvからの画素
数で算出する。そして、対応するしマーク毎に基準点O
kとOuとの座標値の差(相対座標値)ΔX、ΔYを算
出し、制御計算41117へ送出する。制御計算機エフ
では、Lマークセンサ制御部11から送られて来た各L
マーク毎の相対座標値(ΔXI 、ΔY1〜ΔX4 、
ΔY4)に基づいて、被測定プリント板lが基準位置か
らどれだけずれているか、どれ位置転しているか、どの
位プリント仮1が歪んでいるか等を求める。
また、予め測定しである校正用治具上の校正用ピンP1
と各Lマークとの相対距離とこの相対座標値とを加算す
ることにより、被測定プリント板1のロボット座標系に
おける絶対座標値を算出することができる。
次に、被測定プリント板1の所定の箇所をプロービング
する際、制御計17機I7は、前述した各1、マーク毎
の相対座標値から、理論的な座標(被測定プリント板I
が位置付けられるべき座+5)を現実の座標へ変換して
ロボット13へ移動量を指示する。
〔発明の効果〕
以−ヒ説明したように、本発明によれば、被測定プリン
ト板上の複数個のしマークの位置を固定の撮像装置で描
像するようにし、予め求めておいた基準Lマーク情報と
のずれ量によって被測定プリント板の位置を認識するよ
うにしているので、高速な認識処理が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が適用されるプリント板故障診断装置の
全体構成図、第2図はしマークセンサ制御部の説明図、
第3図はロボット制御部の説明図、第4図はテストステ
ーションの説明図、第5図は校正用治具の説明図、第6
図は位置決め用足の説明図、第7図は校正用ビンの説明
図、第8図はT■カメラの視野説明図、第9図は従来の
プリント板の設定位置認識装置の説明図である。 図において、lは被測定プリント板、10a〜10dは
TVカメラ、11はLマークセンサ制御部、12はロボ
ット制御部、13はロボット、14はプローブ、15は
プローブ測定ユニット、16はプリント板測定ユニット
、17は制御計算機、21は基準座標格納メモリである

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  処理装置上に設定された板状の処理対象物体に記され
    た複数の基準マークを夫々個別の該基準マークの上方に
    固定された撮像装置にて撮像して該処理対象物体の該処
    理装置上における設定位置を認識する方法であって、 前記処理対象物体が設定された際に前記基準マークが存
    在すべき位置を、位置設定用処理対象物体上に記された
    マークを撮像して算出し、各撮像装置毎に格納し、 認識すべき処理対象物体の基準マークの位置を撮像して
    算出し、 位置設定用処理対象物体の基準マーク位置情報からの認
    識すべき処理対象物体の基準マーク位置情報のずれ量を
    各固定撮像装置毎に算出し、該固定撮像装置毎のずれ量
    と基準マーク位置の絶対位置情報との位置関係から前記
    処理対象物体と前記処理装置との位置関係を認識するこ
    とを特徴とする板状体の設定位置認識方法。
JP61085771A 1986-04-14 1986-04-14 プリント板測定装置のプロービング方法 Granted JPS62240871A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61085771A JPS62240871A (ja) 1986-04-14 1986-04-14 プリント板測定装置のプロービング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61085771A JPS62240871A (ja) 1986-04-14 1986-04-14 プリント板測定装置のプロービング方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62240871A true JPS62240871A (ja) 1987-10-21
JPH0569390B2 JPH0569390B2 (ja) 1993-09-30

Family

ID=13868136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61085771A Granted JPS62240871A (ja) 1986-04-14 1986-04-14 プリント板測定装置のプロービング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62240871A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02131888A (ja) * 1988-11-14 1990-05-21 Agency Of Ind Science & Technol 布地ハンドリング装置
US6191597B1 (en) 1994-02-28 2001-02-20 Mania Gmbh & Co. Printed circuit board test device with test adapter and method for adjusting the latter
JP2008101937A (ja) * 2006-10-17 2008-05-01 Nidec-Read Corp 基板検査装置及び基板検査方法
JP2008161994A (ja) * 2006-12-29 2008-07-17 Mitsubishi Electric Corp コネクタ自動挿抜装置及びコネクタ挿抜方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59142405A (ja) * 1983-02-02 1984-08-15 Shimizu Constr Co Ltd 鋼板セルの位置検知方法
JPS60233503A (ja) * 1984-05-02 1985-11-20 Matsushita Electric Works Ltd 位置検出方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59142405A (ja) * 1983-02-02 1984-08-15 Shimizu Constr Co Ltd 鋼板セルの位置検知方法
JPS60233503A (ja) * 1984-05-02 1985-11-20 Matsushita Electric Works Ltd 位置検出方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02131888A (ja) * 1988-11-14 1990-05-21 Agency Of Ind Science & Technol 布地ハンドリング装置
US6191597B1 (en) 1994-02-28 2001-02-20 Mania Gmbh & Co. Printed circuit board test device with test adapter and method for adjusting the latter
JP2008101937A (ja) * 2006-10-17 2008-05-01 Nidec-Read Corp 基板検査装置及び基板検査方法
JP2008161994A (ja) * 2006-12-29 2008-07-17 Mitsubishi Electric Corp コネクタ自動挿抜装置及びコネクタ挿抜方法
JP4650411B2 (ja) * 2006-12-29 2011-03-16 三菱電機株式会社 コネクタ自動挿抜装置及びコネクタ挿抜方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0569390B2 (ja) 1993-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3026981B2 (ja) 潜在的歪曲プリント回路板点検のための補償システム
US7346420B2 (en) Component feeder exchange diagnostic tool
JPH01127238A (ja) 可動部材用の限定的再位置決め区域における位置フイードバック向上
KR20130124313A (ko) 스크린 인쇄 장치 및 스크린 인쇄 방법
CN114441942B (zh) Pcb板的飞针测试方法、系统、设备及存储介质
JP3313085B2 (ja) 基板検査装置及び基板検査装置における基板と検査ヘッドとの相対位置調整方法
JP2617378B2 (ja) 部品実装装置
JP3644846B2 (ja) 描画装置の移動誤差検出装置及びその方法
JPS62240871A (ja) プリント板測定装置のプロービング方法
JP2846176B2 (ja) プリント基板検査方法および検査装置
JP3090630B2 (ja) Bga、csp等におけるicチップ実装基板の導通検査システム
JP2633147B2 (ja) 部品実装方法
JP3509040B2 (ja) 回路基板検査装置におけるプローブの移動制御方法
JP2003098216A (ja) 回路基板検査装置
JP3725993B2 (ja) 電子部品実装回路基板の検査方法及びその装置
JP3088146B2 (ja) 基板検査方法及び該方法に用いる基板
JPH06129831A (ja) 基板検査装置
JP4750792B2 (ja) 構成要素フィーダの交換の診断ツール
JP2805191B2 (ja) 部品組立装置
JP2005216974A (ja) 電子部品実装装置における移動台の移動制御方法およびその方法に用いられるマトリックス基板
JPH07140088A (ja) 回路基板検査装置における外観検査用カメラの単位移動量補正方法
JP3062255B2 (ja) 回路基板検査装置における被検査回路基板の基準位置検出方法
JPS5857780A (ja) プリント基板の検査方法とその装置
JPH0278970A (ja) 導体パターンの導通検査機及び導通検査機におけるプローブの座標設定方法
JPH0949862A (ja) プロービング位置検出方法及びプロービング位置補正方法及び電子回路検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees