JPS60233503A - 位置検出方法 - Google Patents
位置検出方法Info
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- JPS60233503A JPS60233503A JP8897584A JP8897584A JPS60233503A JP S60233503 A JPS60233503 A JP S60233503A JP 8897584 A JP8897584 A JP 8897584A JP 8897584 A JP8897584 A JP 8897584A JP S60233503 A JPS60233503 A JP S60233503A
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
対象物を撮像し、その画像信号をデジタル処理する画像
処理装置において、対象物の位置を検出する位置検出方
法に関する。
処理装置において、対象物の位置を検出する位置検出方
法に関する。
背景技術
第1図は、従来技術の画像処理を説明するためのブロッ
ク図である。工業用テレビカメフ1は、被検出物体から
の反射光によってイメージセンサ2上にレンズ3で像を
結んで被検出物体を撮像する。イメージセンサ2上の一
画面分の画像は、アドレス発生手段4によってアドレス
を与えられて読み出され、画像信号として2値化回路5
に入力される。2値化回路5によってデジタル化された
画像信号は、被検出物体の画像データとしてメモリ6に
ストアされる。画像処理子Pi7は、メモリ6にストア
された画像データに基づいて画像を処理する。
ク図である。工業用テレビカメフ1は、被検出物体から
の反射光によってイメージセンサ2上にレンズ3で像を
結んで被検出物体を撮像する。イメージセンサ2上の一
画面分の画像は、アドレス発生手段4によってアドレス
を与えられて読み出され、画像信号として2値化回路5
に入力される。2値化回路5によってデジタル化された
画像信号は、被検出物体の画像データとしてメモリ6に
ストアされる。画像処理子Pi7は、メモリ6にストア
された画像データに基づいて画像を処理する。
このような画像処理装置において、被検出物体が撮像さ
れた1画面分の画像データをメモリ6にストアしておき
、その画像データの中から被検出物体の必要である部分
のデータのみ読み出す。被検出物体が標準位置からずれ
た位置にあって撮像された場合、被検出物体の画像に与
えられたアドレスを補正する必要が生じる。たとえば被
検出物体の一部分の形状を検査するとき、標準位置にあ
る標準物体の7ドレスに基づいて、その検査部分を走査
するので、被検出物体が標準位置よりずれていると走査
されるべき部分が走査されないということがある。
れた1画面分の画像データをメモリ6にストアしておき
、その画像データの中から被検出物体の必要である部分
のデータのみ読み出す。被検出物体が標準位置からずれ
た位置にあって撮像された場合、被検出物体の画像に与
えられたアドレスを補正する必要が生じる。たとえば被
検出物体の一部分の形状を検査するとき、標準位置にあ
る標準物体の7ドレスに基づいて、その検査部分を走査
するので、被検出物体が標準位置よりずれていると走査
されるべき部分が走査されないということがある。
従来技術では、予め標準物体の撮像された画像データを
メモリ6にストアしておき、そのデータに基づいて被検
出物体の画像データを補正するプログラムを画像処理手
段7に入力して、位置補正された画像データを得ている
。この上、うな従来技術では、撮像された画像の画像デ
ータをメモリ6にストアしておき、プログラムによって
位置補正を行なうので、その処理に時間を要し、作業効
率が悪いという問題がある。
メモリ6にストアしておき、そのデータに基づいて被検
出物体の画像データを補正するプログラムを画像処理手
段7に入力して、位置補正された画像データを得ている
。この上、うな従来技術では、撮像された画像の画像デ
ータをメモリ6にストアしておき、プログラムによって
位置補正を行なうので、その処理に時間を要し、作業効
率が悪いという問題がある。
目 的
本発明の目的は、上述の技術的課題を解決し、被検出物
体の位置ずれを簡単に、しかも高速に補正することがで
きる位置検出方法を提供することである。
体の位置ずれを簡単に、しかも高速に補正することがで
きる位置検出方法を提供することである。
実施例
第2図は、本発明が実施されて構成される画像処理装置
のブロック図である。工業用テレビカメラTは撮像レン
ズ10とイメージセンサ11とを含む。撮像レンズ10
は被検出物体からの反射光によって、被検出物体の像を
イメージセンサ11上に結像する。
のブロック図である。工業用テレビカメラTは撮像レン
ズ10とイメージセンサ11とを含む。撮像レンズ10
は被検出物体からの反射光によって、被検出物体の像を
イメージセンサ11上に結像する。
イメージセンサ11は、マトリクス状に配列された感光
素子を含む。その感光素子は感光コンデンサによって実
現され、予め充電される。各感光コンデンサは被検出物
体からの反射光が照射されると放電する。感光コンデン
サの電圧がしきい値以上のときを論理値「1」とし、そ
の電圧がしきい値以下のときを論理値「0」とすること
で、イメージセンサ11は、被検出物体の影像をストア
する。このイメージセンサ11に2値化してストアされ
た画像の各画素は、マトリクスの行Yと列Xによって現
わされる座標を持つ。前記画像の必要な部分のアドレス
をイメージセンサ11に与えることによって、必要な部
分の画像データを読み出すことができる。
素子を含む。その感光素子は感光コンデンサによって実
現され、予め充電される。各感光コンデンサは被検出物
体からの反射光が照射されると放電する。感光コンデン
サの電圧がしきい値以上のときを論理値「1」とし、そ
の電圧がしきい値以下のときを論理値「0」とすること
で、イメージセンサ11は、被検出物体の影像をストア
する。このイメージセンサ11に2値化してストアされ
た画像の各画素は、マトリクスの行Yと列Xによって現
わされる座標を持つ。前記画像の必要な部分のアドレス
をイメージセンサ11に与えることによって、必要な部
分の画像データを読み出すことができる。
第3図は、標準物体01が撮像されてイメージセンサ1
1上にストアされた一画面Aを示す図である。画面Aに
おいて、クロスハツチで示される標準物体01の影像部
分は、論理値「0」であり、その他の部分は論理値「1
」である。図中において、左上部の隅を座標(0,0)
とし、横軸が列X1縦軸が行Yとする。たとえば参照符
Pで示される一感光素子である一画素の座標は (Xi
、Yl)である。第4図は、被検出物体02が撮像され
てイメージセンサ11上にストアされた一画面Bを示す
。クロスハツチで示される被検出物体02の影像の位置
は、前記標準物体01の影像の位置と異なる。被検出物
体02の影像の形状は、標準物体o1の影像の形状にほ
ぼ一致する。
1上にストアされた一画面Aを示す図である。画面Aに
おいて、クロスハツチで示される標準物体01の影像部
分は、論理値「0」であり、その他の部分は論理値「1
」である。図中において、左上部の隅を座標(0,0)
とし、横軸が列X1縦軸が行Yとする。たとえば参照符
Pで示される一感光素子である一画素の座標は (Xi
、Yl)である。第4図は、被検出物体02が撮像され
てイメージセンサ11上にストアされた一画面Bを示す
。クロスハツチで示される被検出物体02の影像の位置
は、前記標準物体01の影像の位置と異なる。被検出物
体02の影像の形状は、標準物体o1の影像の形状にほ
ぼ一致する。
第2図、第3図および第4図を参照して、本発明におけ
る標準物体01および被検出物体02の影像位置の検出
について説明する。また第3図示の画面Aの標準物体0
1の影像の位置を標準位置とし、第4図示の被検出物体
02の影像の位置が゛その標準位置とどれだけずれてい
るかを検出することについても述べる。
る標準物体01および被検出物体02の影像位置の検出
について説明する。また第3図示の画面Aの標準物体0
1の影像の位置を標準位置とし、第4図示の被検出物体
02の影像の位置が゛その標準位置とどれだけずれてい
るかを検出することについても述べる。
中央処理装置12は、ライン11にイメージセンサ11
の画面の座標(X、Y)値を出力する。
の画面の座標(X、Y)値を出力する。
選択回路13は、中央処理装置12から出力された選択
信号によってライン!1を選択し、前記座標(X、Y)
値をイメージセンサ11に与える。
信号によってライン!1を選択し、前記座標(X、Y)
値をイメージセンサ11に与える。
第6図示の画面Aを参照して、イメージセンサ11に座
標値を (0,0)、(1,0)、(2,OL・・・、
(Xn、0)と与えることによって、水平走査ラインL
XOが得られる。参照符P1で示される被検出物体01
の影像の一点を予め定められた基準点として、中央処理
装置12は、その基準点P1の位置を検出する。
標値を (0,0)、(1,0)、(2,OL・・・、
(Xn、0)と与えることによって、水平走査ラインL
XOが得られる。参照符P1で示される被検出物体01
の影像の一点を予め定められた基準点として、中央処理
装置12は、その基準点P1の位置を検出する。
走査開始点の座標を (0,Y)とする水平走査ライン
LXをY輪方向 (図中において下方向)へ移動するこ
とによって、基準点P1の座標(xl。
LXをY輪方向 (図中において下方向)へ移動するこ
とによって、基準点P1の座標(xl。
Yl)を含む水平走査ラインLXIを得る。中央処理装
置12は一水平走査うインLXによって読み出される画
像データに含まれる影像部分である論理値「0」の数N
Xを予め与えられている。この数NXが含まれる水平走
査ラインLXIによる画像データが得られたら、中央処
理装置12はY軸方向の水平走査をやめ、基準点P1の
X座標X1をストアする。
置12は一水平走査うインLXによって読み出される画
像データに含まれる影像部分である論理値「0」の数N
Xを予め与えられている。この数NXが含まれる水平走
査ラインLXIによる画像データが得られたら、中央処
理装置12はY軸方向の水平走査をやめ、基準点P1の
X座標X1をストアする。
次に中央処理装置12は、前記水平走査と同様に、X軸
方向 (図中において右方)に垂直走査を垂直走査ライ
ンLYOから行なう。垂直走査ラインLYが右方に移動
して走査ラインLYIとなったとき、つまり予め与えら
れた論理値rOJの数NYが得られたら、中央処理装置
12.は、垂直走査をやめ、基準点P1のYsA楳Y1
をストアする。
方向 (図中において右方)に垂直走査を垂直走査ライ
ンLYOから行なう。垂直走査ラインLYが右方に移動
して走査ラインLYIとなったとき、つまり予め与えら
れた論理値rOJの数NYが得られたら、中央処理装置
12.は、垂直走査をやめ、基準点P1のYsA楳Y1
をストアする。
このようにして中火処理装置12は基準点P1の座標(
Xi、Yl)値をストアする。ここで標準物体01の影
像形状などのデータは、中央処理装置12に予めストア
されているものとする。
Xi、Yl)値をストアする。ここで標準物体01の影
像形状などのデータは、中央処理装置12に予めストア
されているものとする。
標準物体01の標準位置を示す基準点P1の座標(Xl
、Yl)値が中火処理装置12にストアされた後、被検
出物体02が撮像され、第4図示のようにイメージセン
サ11、にストアされる。第3図示の画面Aの走査の場
合と同様に、第4図示の画面Bの走査が行なわれる。中
央処理装置12は画面Bを走査して、被検出物体02の
影像の基準点P2の影像の基準点P2の座標(X2.Y
2)をストアする。被検出物体02の基準点P2は、標
準物体01の基準点P1に対応する部分である。
、Yl)値が中火処理装置12にストアされた後、被検
出物体02が撮像され、第4図示のようにイメージセン
サ11、にストアされる。第3図示の画面Aの走査の場
合と同様に、第4図示の画面Bの走査が行なわれる。中
央処理装置12は画面Bを走査して、被検出物体02の
影像の基準点P2の影像の基準点P2の座標(X2.Y
2)をストアする。被検出物体02の基準点P2は、標
準物体01の基準点P1に対応する部分である。
中央処理装置12は、標準位置に対して被検出管体02
の位置を補正するために、前記基準点P1、P2の座標
値から補正値/Xおよび補正値7Yを演算する。補正値
/Xは次の第1式で表わされる。
の位置を補正するために、前記基準点P1、P2の座標
値から補正値/Xおよび補正値7Yを演算する。補正値
/Xは次の第1式で表わされる。
〆X= l X2−Xi l −(1)また補正値/Y
は次の第2式で表わされる。
は次の第2式で表わされる。
メY=lY2−Yll ・・・(2)
補正値/Xは第1ラッチ回路14に出力され、補正値/
Yは第2ラッチ回路15に出力される。出力された補正
値/X、 /Yは、各ラッチ回路14゜15にそれぞれ
保持される。
Yは第2ラッチ回路15に出力される。出力された補正
値/X、 /Yは、各ラッチ回路14゜15にそれぞれ
保持される。
被検出物体02の部分検査などのために、その影像の一
部分を走査すると仮定する。中央処理装置12には、標
準物体01の影像データに基づいいて、tIIJ3図示
におけるS分走査うインL1の座標値が入力される。入
力された部分走査ラインL1を示す座標値は、中央処理
装置12からメモリ16に入力される。カウンタ17が
クロック信号によってカウントアツプしてしメモリアド
レスをメモリ16に与えることによって、そのアドレス
に前記座標値がストアされる。この処理は、被検出物体
01が撮像される前でも後でもよい。
部分を走査すると仮定する。中央処理装置12には、標
準物体01の影像データに基づいいて、tIIJ3図示
におけるS分走査うインL1の座標値が入力される。入
力された部分走査ラインL1を示す座標値は、中央処理
装置12からメモリ16に入力される。カウンタ17が
クロック信号によってカウントアツプしてしメモリアド
レスをメモリ16に与えることによって、そのアドレス
に前記座標値がストアされる。この処理は、被検出物体
01が撮像される前でも後でもよい。
中央処理装置12に被検出物体02の部分走査指令が出
されると、メモリ16にスト、アされていた部分走査ラ
インL1の座標値が演算回路18に入力される。このと
きラッチ回路14.15に保持されていた補正値dX、
、dYも演算回路18に入力され、前記座標値に補正値
/X、 /Yが加算または減算される。この演算回路で
前記部分走査ラインL1の座標値が補正され、第4図示
の走査ラインL2の座標値に変換される。
されると、メモリ16にスト、アされていた部分走査ラ
インL1の座標値が演算回路18に入力される。このと
きラッチ回路14.15に保持されていた補正値dX、
、dYも演算回路18に入力され、前記座標値に補正値
/X、 /Yが加算または減算される。この演算回路で
前記部分走査ラインL1の座標値が補正され、第4図示
の走査ラインL2の座標値に変換される。
演算回路18は走査ラインL2の座標値をライン!4に
出力する。選択回路13は中央処理装置12からの選択
信号によってライン!4の出力をイメージセンサ11に
与える。走査ラインL2の座標値が画面Bに与えられる
ことによって、中央処理装置12は走査ラインL2で得
られた画像データを読み出す。このようにして標準物体
01の影像に対応する被検出物体02の影像の部分デー
タを得ることができる。
出力する。選択回路13は中央処理装置12からの選択
信号によってライン!4の出力をイメージセンサ11に
与える。走査ラインL2の座標値が画面Bに与えられる
ことによって、中央処理装置12は走査ラインL2で得
られた画像データを読み出す。このようにして標準物体
01の影像に対応する被検出物体02の影像の部分デー
タを得ることができる。
上述の実施例において、標準物体01の姿勢と被検出物
体02の姿勢は一致するものとする。
体02の姿勢は一致するものとする。
従来技術においてプログツムで行なわれている位置補正
処理の一部を簡単な構成で行なうことによって高速にそ
の処理されることができる。
処理の一部を簡単な構成で行なうことによって高速にそ
の処理されることができる。
効 果
以上のように本発明によれば、被検出物体の標準位置の
ずれを演算して、標準物体の被検出位置を補正して被検
出位置を検出するので、簡単に、しかも高速に位置補正
をすることができる。
ずれを演算して、標準物体の被検出位置を補正して被検
出位置を検出するので、簡単に、しかも高速に位置補正
をすることができる。
第1図は従来技術の画像処理を説明するためのブロック
図、第2図は本発明が実施されて構成される画像処理装
置のブロック図、第3図はイメージセンサ11の画面A
の画像を示す図、第4図はその画面Bの画像を示す図で
ある。 11・・・イメージセンサ、12・・・中央処理装置、
14.15・・・ラッチ回路、18・・・演算回路代理
人 弁理士西教圭一部 第2図 グロック 第3図 4rIII 手続補正書 昭不1160年 2月18日 特許庁長官殿 2、発明の名称 検出位置補正方法 3、補正をする者 事件との関係 出願人 住所 名称(583)松下電工株式会社 代表者 電話(06)538−0263(代表)氏名弁理士−(
7555)西教圭一部 5、補正命令の日付 6、補正の対象 願書および明細書の発明の名称の欄、明細書の特許請求
の範囲の欄および発明の詳細な説明の欄正の内容 明の名称を下記のとおりに訂正する。 記 検出位置補正方法 (2、特許請求の範囲は別紙のとおり。 (3)明細書第1頁第17行目〜第18行目を下記のと
おりに訂正する。 記 する画像処理装置において、対象物の位置を検出昌位置
を補正する方法に関する。 1置県3頁第16行目において「位置検出あるを、 「
検出位置補正方法」に訂正す(5)明細書第4頁第13
行目において「2値化して」と゛あるを、 「2値化さ
れて」に訂正する。 (6)明細書第5頁第5行目において「参照符P」(7
)明細書!@7頁第11行目〜第13行目において[こ
こで標準物体01の・・・されているものとする。]と
あるを削除する。 (8)明細書第9頁第5行目〜第6行目において「この
処理は、・・・後でもよい。」とあるを削除する。 以 上 特許請求の範囲 撮像するイ〆−7センサを備え、 標準となる物体のある特定の位置をストアしておき、 被検出物体の画像内容に基づいて、標準物体と被検出物
体との対応する標準位置のずれを演算し、被検出物体の
検出すべき被検出位置を前記演算結果と、被検出位置に
対応した標準物体の位置とに基づいて演算することをv
f徴とする検出位置補正方法。
図、第2図は本発明が実施されて構成される画像処理装
置のブロック図、第3図はイメージセンサ11の画面A
の画像を示す図、第4図はその画面Bの画像を示す図で
ある。 11・・・イメージセンサ、12・・・中央処理装置、
14.15・・・ラッチ回路、18・・・演算回路代理
人 弁理士西教圭一部 第2図 グロック 第3図 4rIII 手続補正書 昭不1160年 2月18日 特許庁長官殿 2、発明の名称 検出位置補正方法 3、補正をする者 事件との関係 出願人 住所 名称(583)松下電工株式会社 代表者 電話(06)538−0263(代表)氏名弁理士−(
7555)西教圭一部 5、補正命令の日付 6、補正の対象 願書および明細書の発明の名称の欄、明細書の特許請求
の範囲の欄および発明の詳細な説明の欄正の内容 明の名称を下記のとおりに訂正する。 記 検出位置補正方法 (2、特許請求の範囲は別紙のとおり。 (3)明細書第1頁第17行目〜第18行目を下記のと
おりに訂正する。 記 する画像処理装置において、対象物の位置を検出昌位置
を補正する方法に関する。 1置県3頁第16行目において「位置検出あるを、 「
検出位置補正方法」に訂正す(5)明細書第4頁第13
行目において「2値化して」と゛あるを、 「2値化さ
れて」に訂正する。 (6)明細書第5頁第5行目において「参照符P」(7
)明細書!@7頁第11行目〜第13行目において[こ
こで標準物体01の・・・されているものとする。]と
あるを削除する。 (8)明細書第9頁第5行目〜第6行目において「この
処理は、・・・後でもよい。」とあるを削除する。 以 上 特許請求の範囲 撮像するイ〆−7センサを備え、 標準となる物体のある特定の位置をストアしておき、 被検出物体の画像内容に基づいて、標準物体と被検出物
体との対応する標準位置のずれを演算し、被検出物体の
検出すべき被検出位置を前記演算結果と、被検出位置に
対応した標準物体の位置とに基づいて演算することをv
f徴とする検出位置補正方法。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 撮像するイメージセンサを備え、 標準となる物体および被検出物体の画像をストアしてお
き、 そのストア内容に基づいて、標準物体と被検出物体との
対応する標準位置のずれを演算し、被検出物体の検出す
べき被検出位置を前記演算結果と、被検出位置に対応し
た標準物体の位置とに基づいて演算することを特徴とす
る位置検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8897584A JPS60233503A (ja) | 1984-05-02 | 1984-05-02 | 位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8897584A JPS60233503A (ja) | 1984-05-02 | 1984-05-02 | 位置検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60233503A true JPS60233503A (ja) | 1985-11-20 |
Family
ID=13957800
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8897584A Pending JPS60233503A (ja) | 1984-05-02 | 1984-05-02 | 位置検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60233503A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62240871A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-21 | Fujitsu Ltd | プリント板測定装置のプロービング方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5540987A (en) * | 1978-09-19 | 1980-03-22 | Sony Corp | Discriminating unit |
JPS57194304A (en) * | 1981-05-27 | 1982-11-29 | Hitachi Ltd | Inspecting method for circuit pattern |
-
1984
- 1984-05-02 JP JP8897584A patent/JPS60233503A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5540987A (en) * | 1978-09-19 | 1980-03-22 | Sony Corp | Discriminating unit |
JPS57194304A (en) * | 1981-05-27 | 1982-11-29 | Hitachi Ltd | Inspecting method for circuit pattern |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62240871A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-21 | Fujitsu Ltd | プリント板測定装置のプロービング方法 |
JPH0569390B2 (ja) * | 1986-04-14 | 1993-09-30 | Fujitsu Ltd |
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